CN112762795B - 一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置 - Google Patents

一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置 Download PDF

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Abstract

本发明的目的在于提供一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置，包括底板、测量显微镜，环状夹具卡入环槽内，环槽固定安装在测量显微镜上，环状夹具分别连接第一水平伸缩杆和第二水平伸缩杆，第一水平伸缩杆连接第一竖直伸缩杆，第一竖直伸缩杆的端部连接第一磁性吸盘，第二水平伸缩杆连接第二竖直伸缩杆，第二竖直伸缩杆的端部连接第二磁性吸盘，底板上设置中心圆孔，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘设置在底板上。本发明解决了布氏压痕边部预留空间小的小尺寸零件容易在测量显微镜底座下方左右晃动的问题；解决了因人为的和零件的因素带来的测量显微镜与零件之间产生相对移动的问题；大大消除了因人为因素和零件材料、尺寸因素带来的测量误差。

Description

一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置
技术领域
本发明涉及的是一种测试装置，具体地说是硬度测试装置。
背景技术
在制造业中，金属材料的硬度检测是非常关键的，无论是金属材料的生产厂还是加工厂均会对金属材料的锻件、棒料进行布氏硬度检测，以控制金属材料的质量。金属材料布氏硬度测试方法为：对一定直径的硬质合金施加一定的试验力，压入试样件表面，经规定的保持时间后，卸去试验力，测量试样压痕直径，再通过查表和计算求得该试样件的布氏硬度值。在布氏硬度测量过程中，其测量时使用的读数显微镜在试样两个相互垂直的方向上分别测量压痕直径，取其平均值作为“压痕直径”，最后进行查表。在正常使用过程中，会经常遇到铁磁性材料、非铁磁性材料以及零件尺寸大小不一，导致在使用读数显微镜测量压痕直径时因人为因素、零件因素而测量不准确。
发明内容
本发明的目的在于提供既可以用于大尺寸零件的压痕直径测量，又可用于小尺寸零件压痕直径测量装置，同时不用考虑以往因零件是否具有铁磁性而带来的操作不便和人为因素造成的测量不准确问题的一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置。
本发明的目的是这样实现的：
本发明一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置，其特征是：包括底板、测量显微镜，环状夹具卡入环槽内，环槽固定安装在测量显微镜上，所述环状夹具带有角度刻度并可在环槽上旋转，环状夹具分别连接第一水平伸缩杆和第二水平伸缩杆，第一水平伸缩杆连接第一竖直伸缩杆，第一竖直伸缩杆的端部连接第一磁性吸盘，第二水平伸缩杆连接第二竖直伸缩杆，第二竖直伸缩杆的端部连接第二磁性吸盘，底板上设置中心圆孔，第一水平伸缩杆、第二水平伸缩杆、第一竖直伸缩杆、第二竖直伸缩杆上均设置有卡栓，通过卡栓的调节，调节测量显微镜在空间上的位置，使得测量显微镜和中心圆孔相对应，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘设置在底板上。
本发明还可以包括：
1、底板上设置凹槽和V型槽，凹槽位于中心圆孔纵向的两端，V型槽位于中心圆孔横向的两端。
2、当被测零件为小型零件时，被测零件位于V槽之间，并通过夹板紧固在底板上，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘分别位于两个凹槽里，所述小型零件为小于或等于测量显微镜底座直径的被测零件。
3、当被测零件为铁磁性大型零件时，直接将第一磁性吸盘和第二磁性吸盘吸附在被测零件上，通过调节卡栓使测量显微镜位于被测零件布氏压痕上方。
4、当被测零件为非磁性大型零件时，被测零件置于底板下方，被测零件的布氏压痕置于中心圆孔内，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘分别位于两个凹槽里，所述大型零件为大于测量显微镜底座直径的被测零件。
5、还包括照明部分，所述照明部分包括卡环、灯、电池，灯连接电池并安装在卡环上，卡环安装在测量显微镜上。
本发明的优势在于：通过照明装置组件、支撑杆组件和底板组件有效配合，解决以往测量显微镜因测量视野不明亮而带来的测量误差问题；解决了布氏压痕边部预留空间小的小尺寸零件容易在测量显微镜底座下方左右晃动的问题；解决了因人为的和零件的因素带来的测量显微镜与零件之间产生相对移动的问题；大大消除了因人为因素和零件材料、尺寸因素带来的测量误差，全方面提高了布氏压痕直径测量的准确性。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为支撑杆组件示意图；
图3为底板组件示意图；
图4为照明组件示意图。
具体实施方式
下面结合附图举例对本发明做更详细地描述：
结合图1-4，一种布氏硬度压痕直径辅助测量装置，装置中包含支撑杆组件、底板组件和照明装置组件。支撑杆组件图2中带角度刻度的环状夹具1卡入环槽2内，环槽2固定连接在测量显微镜镜筒22上，实现带角度刻度的环状夹具1在环槽2上360°旋转，带角度刻度的环状夹具1两端与水平伸缩杆3一端刚性连接，水平伸缩杆3另一端与竖直伸缩杆4一端套装连接，竖直伸缩杆4另一端与磁性吸盘5刚性连接，水平伸缩杆3和竖直伸缩杆4可通过水平伸缩杆卡栓6和竖直伸缩杆卡栓7调节测量显微镜在空间上的位置。照明装置组件图3中照明部分17与卡环16刚性连接，卡环16通过螺母21紧固在测量显微镜镜筒22上，照明部分17配有LED灯18、开关19、纽扣电池20，采用导线连接构成照明回路。底板组件图4中铁磁性底板8通过机械加工方式加工凹槽9、V形槽10、中心圆孔11、螺纹孔14；夹板12带有圆孔13并与铁磁性底板8上的螺纹孔14对应；长杆螺栓15通过夹板12上的圆孔13拧入底板8上的螺纹孔14上，使夹板12附于底板8上。
如图1和图2，支撑杆组件图2中的环槽2紧密套入测量显微镜镜筒22上，并进行固定连接，带角度刻度的环状夹具1卡入环槽2实现支撑杆组件沿着测量显微镜轴向方向旋转的功能，解决布氏硬度压痕在多个角度方向测量压痕直径时测量不准确的问题；同时，通过水平伸缩杆卡栓6和竖直伸缩杆卡栓7调节测量显微镜在空间上的位置，实现多种尺寸零件压痕直径的测量目的。
如图1和图3，照明装置组件图3通过卡环16夹在测量显微镜镜筒22上，并采用螺母21进行紧固；同时，照明部分17具有调节照明方向的功能，解决布氏硬度压痕测量视野不明亮导致压痕直径测量不准确的问题。
如图1和图4，底板组件图4和支撑杆组件图2组装配合，将支撑杆组件中磁性吸盘5吸附在底板组件中铁磁性底板8的凹槽9上，实现固定测量显微镜的目的，减小在使用测量显微镜测量布氏压痕直径时人为因素带来的左右晃动的问题。
使用时，将支撑杆组件、底板组件和照明装置组件进行组装以后，根据零件的情况决定布氏硬度压痕直径测量辅助装置的使用方法。针对小型零件(小于显微镜底座直径的零件)布氏硬度压痕直径的测量，将磁性吸盘5吸附在铁磁性底板8的凹槽9处，测量显微镜底座23对准铁磁性底板8中的中心圆孔11，将小型零件(小于显微镜底座直径的零件)放置在铁磁性底板8与测量显微镜底座23之间的V形槽10之间，且小型零件通过夹板12采用长杆螺栓15紧固在铁磁性底板8上，同时根据零件的稳定情况决定是否采用夹板12固定零件，并通过调节水平伸缩杆卡栓6和竖直伸缩杆卡栓7调节测量显微镜在空间的位置，使测量显微镜底座23在零件表面的布氏压痕上方，此方法解决了零件与测量显微镜容易产生左右晃动问题，解决了边部预留空间小造成测量显微镜放置不稳，测量不准确的问题；针对铁磁性大型零件，可直接将磁性吸盘5吸附在零件表面，并调节水平伸缩杆卡栓6和竖直伸缩杆卡栓7使测量显微镜置于零件表面布氏压痕上方，并进行布氏硬度压痕直径测量，消除人为因素造成测量显微镜晃动问题；针对非铁磁性大型零件，需将零件放置在铁磁性底板8下方，并将零件上的布氏硬度压痕置于铁磁性底板8的中心圆孔11内，通过调节水平伸缩杆卡栓6和竖直伸缩杆卡栓7使测量显微镜置于布氏压痕上方，进行布氏硬度压痕直径测量，解决大型非铁磁性材料零件与测量显微镜容易产生相对移动造成测量不准确的问题。通过此辅助装置实现了各种大小零件的布氏硬度压痕直径的测量，解决了测量显微镜的使用局限性问题。

Claims (2)

1.一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置，其特征是：包括底板、测量显微镜，环状夹具卡入环槽内，环槽固定安装在测量显微镜上，所述环状夹具带有角度刻度并可在环槽上旋转，环状夹具分别连接第一水平伸缩杆和第二水平伸缩杆，第一水平伸缩杆连接第一竖直伸缩杆，第一竖直伸缩杆的端部连接第一磁性吸盘，第二水平伸缩杆连接第二竖直伸缩杆，第二竖直伸缩杆的端部连接第二磁性吸盘，底板上设置中心圆孔，第一水平伸缩杆、第二水平伸缩杆、第一竖直伸缩杆、第二竖直伸缩杆上均设置有卡栓，通过卡栓的调节，调节测量显微镜在空间上的位置，使得测量显微镜和中心圆孔相对应，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘设置在底板上；
底板上设置凹槽和V型槽，凹槽位于中心圆孔纵向的两端，V型槽位于中心圆孔横向的两端；
当被测零件为小型零件时，被测零件位于V槽之间，并通过夹板紧固在底板上，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘分别位于两个凹槽里，所述小型零件为小于或等于测量显微镜底座直径的被测零件；
当被测零件为铁磁性大型零件时，直接将第一磁性吸盘和第二磁性吸盘吸附在被测零件上，通过调节卡栓使测量显微镜位于被测零件布氏压痕上方；
当被测零件为非磁性大型零件时，被测零件置于底板下方，被测零件的布氏压痕置于中心圆孔内，第一磁性吸盘和第二磁性吸盘分别位于两个凹槽里，所述大型零件为大于测量显微镜底座直径的被测零件。
2.根据权利要求1所述的一种布氏硬度压痕直径测量辅助装置，其特征是：还包括照明部分，所述照明部分包括卡环、灯、电池，灯连接电池并安装在卡环上，卡环安装在测量显微镜上。
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