CN112748265A - 自动pim矩阵测试夹具和方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种自动PIM矩阵测试夹具和方法。一种测试夹具,包括:第一主体,其包括分别被配置成容纳多个天线连接器的多个槽;第二主体,其与所述第一主体相对并且包括被配置成容纳测试连接器的槽;以及横向定位部件,其被配置成使所述第二主体相对于所述第一主体移动,以将所述测试连接器定位在所述多个天线连接器中的一个的对面。所述第二主体进一步被配置成将所述测试连接器推入到所述测试连接器对面的所述多个天线连接器中的所述一个中,以使所述测试连接器与所述多个天线连接器中的所述一个匹配。
Description
相关申请的交叉参考
本申请主张2019年10月30日提交的第62/927,886号美国临时专利申请的优先权,所述美国临时专利申请的全部内容如同全文阐述一样以引用的方式并入本文中。
技术领域
背景技术
无源互调失真(PIM)是电干扰/信号传输退化的一种形式,在不能形成对称互连的情况下和/或当机电互连随时间推移而移位或退化时可能发生。互连可能会因机械应力、振动、热循环和/或材料退化而移位。PIM可以是重要的互连质量特性,因为由单个低质量互连产生的PIM可能会降低整个RF系统的电气性能。
基站天线可以是PIM源,其可能降低蜂窝系统的可靠性、容量和数据速率。其通过限制接收器的灵敏性来降低。在一些应用中,工程师可以选择在接收频带中产生较少PIM的信道频率。但是当频谱变得较拥挤时,通过信道频率选择降低PIM的能力可能会变得更加困难。此外,老化的天线系统和基础设施可能会增加PIM。因此,为了维持天线的可靠性,通常需要确保将PIM降低到可接受的水平。在天线上可以常规地执行测试以确定其PIM性能是否在可接受的范围内。这种测试可以在现场进行,也可以在例如消声室之类的更可控的环境中进行。典型的天线可以具有需要PIM测试的多个端口。
图1示出常规天线PIM测试设备10。测试管理系统100通过连接105与分析器101进行通信。分析器100连接到受测试的天线102的单个端口。天线在消声室103内部,以避免反射和外部噪声源。将分析器连接到天线端口的电缆106通过管道107进入测试腔室103。
通常在消声室中执行PIM测试,以减少来自反射或其它辐射源的干扰。操作员可以将天线放置在测试腔室中并且将天线端口之一连接到处于测试腔室外部的分析器。电缆通过管道从腔室内部通到腔室外部。为了测试不同的端口,操作员需要进入腔室并且手动更换连接。当天线上有多个端口需要测试时,这整个过程可能会导致测试时间过长。
发明内容
在本发明概念的一些实施例中,一种测试夹具包括:第一主体,其包括分别被配置成容纳多个天线连接器的多个槽;第二主体,其与所述第一主体相对并且包括被配置成容纳测试连接器的槽;以及横向定位部件,其被配置成使所述第二主体相对于所述第一主体移动,以将所述测试连接器定位在所述多个天线连接器中的一个的对面。所述第二主体进一步被配置成将所述测试连接器推入到所述测试连接器对面的所述多个天线连接器中的所述一个中,以使所述测试连接器与所述多个天线连接器中的所述一个匹配。
在其它实施例中,多个天线连接器包括多个盲插连接器。
在另外其它实施例中,多个天线连接器中的每一个包括凸缘部分,并且多个槽分别被配置成在其中容纳多个天线连接器的多个凸缘部分。
在另外其它实施例中,凸缘部分包括黄铜。
在另外其它实施例中,多个天线连接器中的每一个包括斜面沉头孔开口,所述斜面沉头孔开口被配置成在其中容纳测试连接器。
在另外其它实施例中,多个天线连接器分别联接到多个偏置弹簧,所述弹簧被配置成将多个天线连接器推向第二主体。
在另外其它实施例中,第一主体包括不锈钢。
在另外其它实施例中,横向定位部件包括:蜗杆传动,其联接到第二主体;以及电动机,其连接到蜗杆传动,并且被配置成使蜗杆传动旋转以使第二主体相对于第一主体移动。
在另外其它实施例中,电动机被配置成响应于由测试控制器生成的电动机操作信号来使蜗杆传动旋转。
在另外其它实施例中,测试控制器被配置成对测试连接器已匹配到多个连接器中的一个的次数进行计数。
在另外其它实施例中,第二主体中的槽是第一槽,并且测试连接器是第一测试连接器,并且第二主体进一步包括第二槽,所述第二槽被配置成容纳第二测试连接器。
在另外其它实施例中,当第一测试连接器与多个天线测试连接器中的一个匹配时,第二测试连接器不与多个天线连接器中的任一个匹配。
在另外其它实施例中,测试连接器和多个天线连接器中的每一个包括4.3-10盲插连接器。
在本发明概念的一些实施例中,一种测量多个天线端口属性的方法包括:响应于测试序列的启动,自动地将测试连接器匹配到第一天线连接器,使用分析器进行第一测量,自动地将测试连接器与第一天线连接器解除匹配,自动地将测试连接器匹配到第二天线连接器;以及使用第一分析器进行第二测量。
在另外的实施例中,所述方法进一步包括对每个电缆匹配的次数进行计数。
在另外的实施例中,在初始命令之后,在没有操作员干预的情况下执行控制测试夹具和进行测量。
在另外的实施例中,所述方法进一步包括响应于启动测试序列:自动地将第二测试连接器匹配到第三天线连接器,以及使用第二分析器进行第三测量。
在另外的实施例中,第一分析器被配置成测量与第二分析器不同的频率范围。
在本发明概念的一些实施例中,一种天线系统包括:测试腔室;测试夹具,其在所述测试腔室内部;天线,其在所述测试腔室内部;分析器,其在所述测试腔室外部;多个跳线电缆,其从多个天线端口连接到所述测试夹具;至少一个测试电缆,其通过管道从所述测试夹具连接到所述分析器;以及计算机。计算机被配置成将命令发送到测试夹具;测试夹具被配置成响应于命令而将至少一个测试电缆匹配到多个跳线电缆中的一个。测试夹具进一步被配置成响应于来自计算机的至少一个后续命令而将至少一个测试电缆匹配到多个跳线电缆中的第二个,无需操作员进入测试腔室。
在其它实施例中,测试夹具被配置成使至少一个测试电缆的第一连接器沿着线性轨道移动,以与跳线电缆的所选第二连接器对准。
在另外其它实施例中,测试夹具被配置成使第一连接器朝向第二连接器移动,以将第一连接器匹配到第二连接器。
在另外其它实施例中,分析器是第一分析器,并且至少一个测试电缆是第一测试电缆,所述系统进一步包括:第二分析器;以及第二测试电缆。第二测试电缆通过管道从测试夹具连接到第二分析器。第一分析器被配置成在第一频率范围内操作。第二分析器被配置成在第二频率范围内操作。
在另外其它实施例中,第一频率范围和第二频率范围不重叠。
在审阅以下附图和详细描述之后,根据本发明概念的实施例的其它设备、系统、组件和/或制品对于本领域的技术人员而言将是显而易见的或变得显而易见的。希望所有此类额外设备、系统、组件和/或制品包括在本说明书内、在本发明概念的范围内并且受所附权利要求书的保护。
附图说明
图1是典型天线测试设备的框图。
图2-4是根据本发明概念的一些实施例的测试设备的框图。
图3是包括测试夹具和两个分析器的天线测试设备的框图。
图4是包括两个测试夹具和两个分析器的天线测试设备的框图。
图5是根据本发明概念的一些实施例的测试夹具的框图。
图6是根据本发明概念的一些实施例的图5的测试夹具被围封在外壳中的透视图。
图7A和7B是示出根据本发明概念的一些实施例的可用作天线连接器或测试连接器的连接器的正视图。
图8是根据本发明概念的一些实施例的测试连接器匹配到天线连接器的透视图。
图9-11是示出根据本发明概念的一些实施例的测试设备的操作的流程图。
图12是根据本发明概念的一些实施例的测试管理系统的框图。
具体实施方式
在以下详细描述中,阐述许多具体细节以提供对本公开的实施例的透彻理解。然而,本领域的技术人员应理解,可在没有这些具体细节的情况下实践本发明的实施例。在一些情况下,没有详细描述众所周知的方法、程序、部件和电路,以免混淆本公开。尽管没有相对于不同的实施例具体描述,但关于一个实施例描述的各方面可以并入不同的实施例中。也就是说,可以以任何方式和/或组合来组合所有实施例和/或任何实施例的特征。
本发明概念的一些实施例源于这样的认识,即由于无源互调失真(PIM)测量的灵敏性,测试操作员必须单独地连接受测试装置的每个端口。这使得操作员在单个天线的测试期间多次进出消声PIM腔室,这可能既费时又低效。PIM测试的自动化可能会引入其它技术考虑,因为现有的电气开关和继电器可能自身会引入PIM,因此不能可靠地用于PIM测试。
本发明概念的一些实施例提供用于天线的自动PIM测试的系统和方法。所描述的实施例可以通过减少操作员手动更换电缆所需的时间量来提供更快的测试时间。当前实施例的其它益处包括能使更少的操作员监督更多数量的并发测试,这样可以降低用户错误的风险。虽然本发明的实施例可以用于多种测试情境,但它们可能特别适合于PIM测试,因为所提供的测试夹具提供了在不增加大量PIM失真的情况下更换电缆连接的方式。
执行PIM测试的主要方法有两种。第一种是反射或反向PIM测试。这种测试方法涉及将两个RF信号发送到天线,并且使用同一端口来测量反射信号。通常,选择两个固定频率,或者其中一个频率是固定的,而另一个频率是跨一定范围的扫频。PIM测试的另一主要方法是前向PIM测试。天线的前向PIM测试并不测量反射信号,而是使用滤波器网络或外部天线测量传播信号。由于外部天线容易受其它来源的噪声影响,所以通常在消声室中执行这种类型的测试。
根据本发明概念的实施例的测试夹具包括用于天线连接器的多个槽,以及用于测试连接器的相对的槽。夹具能够使测试连接器沿着一排天线连接器移动,使得测试连接器可定位成与所述一排天线连接器中的任一个匹配。这允许操作员在不需要手动更换电缆的情况下对多个天线端口执行测试。通常,在消声测试腔室中执行PIM测试。这意味着任何手动更换电缆都需要操作员停止测试,使得操作员可以进入腔室,进行更换并退出腔室。通过提供如本文实施例中所描述的测试夹具,就时间和手动重新配置而言,可以减少此类开销。
在一些实施例中,测试夹具包括可以执行若干功能的控制器。控制器可以接收来自测试管理系统(例如,计算机)的通信。响应于来自测试管理系统的命令,控制器可以使测试连接器按需要移动以与所需天线连接器匹配。控制器还可以对每个连接器的匹配循环的次数进行计数,以进行预防性维护。
测试管理系统可以被配置成运行包括多个端口的测试的测试序列,而无需任何操作员干预。在一些实施例中,测试夹具可以从多个分析器接收多个测试连接器。以此方式,可以跨不同频率对多个端口执行测试。通过使用多个测试夹具,可以在单次测试运行中测试更多数量的天线端口。
在一些实施例中,由于连接器通过容纳于槽中而保持在适当位置,可以在不需要任何工具的情况下释放电缆,因此可容易地实现出于预防性维护或任何其它原因而更换夹具中的连接器。
现将参考附图更详细地论述本发明的实施例。
图2示出根据本发明概念的一些实施例的测试设备20。如图2所示,用于例如在天线上执行PIM测试的测试设备可以包括测试夹具208A。测试夹具208A在具有天线的测试腔室203的内部。测试夹具208A接收来自测试管理系统200、分析器201A和天线端口204A-204H的连接。测试管理系统200经由通信电缆210A与测试夹具208A进行通信。从测试腔室203外部到内部的电缆可以穿过管道或波导管207。
提供测试夹具可允许来自分析器201A的连接与连接到测试夹具208A的天线端口中的任一个匹配。可以借助于在连接器204A-204H中终止的天线电缆209A-209H来访问天线端口。可以通过从测试管理系统200发送到测试夹具208A的命令来实现控制测试夹具208A的哪些连接器与天线电缆209A-209H匹配。通过使用测试夹具208A来更换匹配的连接器,不需要操作员进入腔室并手动更换连接。由于在PIM分析器201A与受测试单元(即天线202)之间仅添加了一个额外连接,因此测试夹具208A仅将非常少量的PIM引入到测量中。结果,测量准确地反映了天线的性能。测试管理系统200还与分析器201A进行通信,使得可以执行测量并将数据报告回测试管理系统,其中所述数据可以与在测量时连接的端口相关。
在本发明概念的一些实施例中,分析器201A是PIM分析器。在一些实施例中,分析器201A可以被配置成执行反射PIM测试。此类分析器在测试端口上发射RF信号,并测量反射信号。将理解,根据本发明概念的其它实施例,可以使用同一测试设备来进行各种其它类型的测量。例如,电涌测试、电快速瞬变脉冲群(EFT)测试、传导发射测试、传导抗扰性测试等等。在这些测试中,由测试夹具进行的直接连接也可比电气开关或继电器更有优势。
如图2所示,天线202具有多个端口。在此实施例中,示出了八个端口,但可以支持不同数量的端口的天线。同样,示出了具有八个天线端口的测试夹具,但是本领域的普通技术人员将理解,不同数量的端口可以符合本发明概念的其它实施例。另外,测试操作员并不一定总是测试天线的每个端口;因此,在测试期间可能会有保持断开状态的天线端口和/或测试夹具端口。
图3示出根据本发明概念的一些实施例的测试设备30。参考图3,在测试设备中可以包括额外分析器201B。在此实施例中,分析器201A和201B分别通过电缆206A和206B连接到测试夹具208A。根据图3的实施例的测试夹具208A可以通过在连接器204A-204H中终止的天线电缆209A-209H将分析器电缆206A、206B中的任何一个与连接到测试夹具208A的任何天线端口匹配。以此方式,每个分析器201A、201B可以被配置成在不同频率范围内进行PIM测量。根据本发明概念的不同实施例,这些频率范围可以是相同、重叠或不重叠的范围。使用此设备的测试程序可以在单次测试运行中使用分析器中的一个或两个来测试多个天线端口。通过使用连接到同一测试夹具208A的多个分析器201A、201B,相比可能需要在每次测试之间手动更换连接的其它方法,可以减少测试时间。应理解,虽然示出了两个分析器201A、201B,但根据本发明概念的其它实施例,可以包括额外分析器。
图4示出根据本发明概念的一些实施例的测试设备40。参考图4,与图3的测试设备30进行比较,还可以使用额外测试夹具208B。由于单个测试夹具的容量,通过使用超过一个测试夹具208A、208B,在单次测试运行中可以测试的天线端口比使用单个测试夹具测试的天线端口要多。如图4所示,测试夹具208A和208B各自可以与测试管理系统200进行通信,并且与相应的分析器201A或201B进行通信。然而,将理解,包括连接到测试夹具208A,208B中的一个或两个的多个分析器的不同组合是可能的。另外,在本发明概念的其它实施例中,可以将更多数量的测试夹具添加到测试设备40。通过以此方式组合不同的分析器和测试夹具,可以测试具有不同数量的端口和测试要求的多个不同天线。
图5示出根据本发明概念的一些实施例的测试夹具208A。如图5所示,存在两组相对的电缆,其中连接器面向彼此。测试电缆206A和206B终止于连接器503A和503B;天线电缆209A-209H终止于连接器504A-504H。这些连接器中的每一个都固持在槽508或505A-505H中的夹具中的适当位置。保持槽505A-505H的结构506可固定在适当位置,而保持槽508的结构509可在横向于相对的连接器504A-504H的方向上线性移动。结构509和506可由不锈钢构造而成,并且连接器503A-503B和连接器504A-504H的部分也可由不锈钢构造。
搁置在结构509上的结构508可朝向和远离连接器504A-504H移动。以此方式,当期望将一对连接器(即,测试连接器503A、503B和天线连接器504A-504H)连接在一起时,首先通过横向移动结构509使它们在第一方向上对准,然后通过朝向相对组连接器移动结构508来连接它们,从而使所述对连接器连接。在例如图5所示的实施例中,其中存在两个测试连接器503A、503B,它们的间隔方式使得其中一个或另一个可以连接到天线连接器504A-504H中的任何一个而不受另一个干扰。
结构509可借助于蜗杆传动502横向地移动。将理解,在本发明概念的其它实施例中可使用其它传动机构。蜗杆传动502由电动机501驱动,电动机501由测试夹具控制器507直接控制。测试连接器503A、503B的前向运动也可由测试夹具控制器507直接控制。控制器507又通过电缆210A与测试管理系统200进行通信。以此方式,测试管理系统200可以向控制器发送命令,例如对准特定一对连接器(即测试连接器和天线连接器)的命令,并且测试夹具控制器507可以与电动机501进行通信以执行所述任务。
结构508可朝向和远离相对的连接器504A-504H线性地移动。在一些实施例中,运动是电动机驱动的,并且电动机由测试夹具控制器507控制。电动机可以转动蜗杆传动或任何其它类型的线性传动。
图6是图5的测试夹具被围封在外壳中的透视图。参考图6,根据本发明概念的一些实施例,测试夹具208A的部件被围封在具有用于电缆穿过的开口的外壳600内。
图7A和7B是示出根据本发明概念的一些实施例的可用作天线连接器或测试连接器的连接器的正视图。参考图7A和7B,示出了可用于天线连接器504A-504H或测试连接器503A-503B的连接器700。连接器700的某些特征可以有利于在测试夹具208A中使用。连接器700可以是盲插连接器,其允许在不需要旋转连接器的情况下匹配连接器。这意味着当测试夹具使连接器向前移动时,连接器可以匹配,而当连接器移开时,它将断开连接,无需旋拧或闩锁之类的任何进一步的动作。另外,凸缘702可有助于将连接器保持到结构505A-505H和508上设置的槽中。根据本发明概念的一些实施例,凸缘702可以由黄铜构造,其中连接器700的主体是不锈钢。连接器700中的开口可以是斜面形703,以允许通过匹配连接器响应于与斜面形边缘703的接触而横向滑动来校正匹配连接器的轻微错位。因此,凹形连接器的开口可以是斜面形703以形成沉头孔,从而有助于将凸形连接器容纳于其中。当例如通过测试夹具朝向连接到天线端口的连接器的移动来向前推动连接器700时,偏置弹簧701可以通过向前推动连接器700来实现良好连接。在一些实施例中,连接器700可以是凸缘安装件的4.3-10盲插连接器。将理解,用作天线连接器504A-504H的连接器可以是沉头孔连接器,用于容纳凸形测试连接器503A-503B,反之亦然。在一些实施例中,测试连接器503A-503B可以被配置成通过安装有测试连接器503A-503B的测试夹具朝着天线连接器504A-504H向前推动以接合测试连接器504A-504H,然后脱离并线性地移动到下一组要测试的天线端口。然后可以向前推动测试连接器503A-503B以接合与下一组要测试的天线端口相关联的天线连接器504A-504H。
图8是根据本发明概念的一些实施例的测试连接器匹配到天线连接器的透视图。如图8所示,凸形测试连接器503A与凹形连接器504A接合。测试连接器(例如503A)和天线连接器(例如504A)都可以搁置在如图8所示的槽中。图8所示的结构508的实施例包含两个槽800A、800B,每个槽都能够保持测试连接器。应理解,根据本发明概念的各种实施例,可以在结构506或508中制造更多或更少的槽,分别用于保持天线连接器或测试连接器。凸缘702可以被配置成容易滑入槽800A或800B中。凸缘和槽的设计可以有助于轻松地将连接器插入到测试夹具208A、208B以及从测试夹具208A、208B移除连接器。无论是作为初始设置、日常维护的一部分,还是更换不良电缆,能够轻松地拆卸和更换电缆和连接器有助于减少维护测试设备所需的时间量。槽800A和800B另外可不需要使用任何工具来插入新的连接器。最后,由于没有任何螺钉安装硬件,因此可以消除插入新连接器时可能施加的扭矩差异。
图9-11是示出根据本发明概念的一些实施例的测试设备的操作的流程图。参考图9,操作员可以在测试管理系统上启动测试序列(框900)。测试序列可以是操作员先前配置以执行所有必要步骤来测试多个天线端口的序列。在开始测试序列之后,测试管理系统能够独立控制测试夹具和分析器以测试端口。这包括通过以下步骤将测试连接器匹配到天线连接器(框905):使测试连接器沿着线性轨道移动,然后使其向前移动以与所选天线连接器匹配。一旦连接,测试管理系统就可以向分析器发送信号以进行测量(框910)。一旦进行了测量,测试管理系统便可以从分析器中检取数据,并将数据与当前正在测试的端口相关联。然后,测试管理系统可以将测试夹具与连接器解除匹配(框915),并且使不同对连接器匹配(框920)以执行另一测量(框925)。
其它方法要求操作员在每次需要测试不同天线端口时进入测试腔室。这可能需要额外的时间,并且在需要更换端口时,操作员需随时待命。这还会带来操作员错误的可能性。本发明概念的实施例可提供自动化测试方法,其可因测试设备减少了可能引入PIM的区域而提高测试效率和测试准确性。
图10类似于图9,但除执行如上文所描述的测试序列之外,测试夹具还可以递增计数器,以跟踪每个连接器已经经历了多少连接循环(框917)。连接器可能在多次连接循环之后退化,这可能会将错误引入到测量中。为了减少或防止这些错误,可能需要在电缆和/或连接器退化到导致错误测量的点之前更换电缆和/或连接器。跟踪连接器已经历多少循环可向操作员指示何时更换电缆和/或连接器。根据本发明概念的各种实施例,操作员可以自行确定应基于循环计数来更换连接器,或者测试管理系统可以在已超过阈值时提供警报。
图11类似于图9,但是可以使用额外的天线连接器来执行测试操作,以测试额外的天线端口。图11的实施例包括三个天线连接器,其中第二测试连接器匹配到第三天线连接器(框930),但应理解,根据本发明概念的各种实施例,可以包括更多连接器。图11的实施例还包括使用第二分析器进行测量(框935)。这可以允许在同一测试序列期间测试不同的频率范围。将理解,可以使用额外分析器来进一步扩展测试的频率范围。
在一些实施例中,可以在测试设备中包括多个测试夹具,使得可以在单个测试序列中测试更多数量的天线端口。测试夹具可以并联连接到不同的分析器,或测试夹具可以菊链。当菊链时,与使用单个测试夹具相比,可以使用单个分析器测试更多数量的天线端口。
参考图12,测试管理系统200可以包括用于控制测试设备的多个模块。测试管理系统200可以包括一个或多个处理器电路和一个或多个存储器电路。处理器电路可以被配置成执行计算机可读程序代码以执行本文所描述的至少一些操作。下文所描述的测试管理系统200的模块可以实施为存储在计算机可读介质中以供一个或多个处理器执行的计算机可读代码,和/或可以实施为被配置成执行本文所描述的至少一些操作的一个或多个电路。
分析器通信模块1200可以被配置成与分析器201A进行通信。这种通信可以包括对分析器的命令,例如选择频率范围、校准或开始测量。从分析器201A到分析器通信模块1200的通信可以包括来自测量值、识别信息等的数据。
测试夹具通信模块1201可以被配置成与测试夹具控制器507进行通信。与测试夹具控制器507的通信可以包括使指定位置中的一对连接器匹配、重置连接计数器等的命令。从测试夹具控制器507到测试夹具通信模块1201的通信可以包括关于连接器位置的信息,以及对于连接器中的每一个的连接循环计数等。
用户界面模块1202可以被配置成为操作员提供界面来配置和运行测试。配置测试可以包括指示哪些天线端口插入到哪些测试夹具槽中,哪些分析器插入到测试连接器槽中,哪些端口需要使用哪些分析器测试等。一旦配置了测试,只需按一下按钮即可运行测试。然而,应理解,根据一些实施例,可能有在测试序列期间需要用户交互的测试序列。
用户界面模块1202还可以向操作员指示每个连接器已经历的连接循环的次数。用户界面模块1202可以在需要更换连接器和/或电缆时提供警报。还可以提供错误消息,例如,如果预期的连接缺失,或分析器未能通信等。
用户界面模块1202可以额外显示测试序列的参数。操作员能够配置多个不同的测试序列。用户界面模块1202可以允许操作员选择要重新配置或运行哪个测试。
用户界面模块1202可以在执行测量时或在执行整个测试序列之后或同时在这两种情况显示测试序列的结果。如果测量值低于或高于指定阈值,则测试结果可能包括原始测量数据、数据的曲线图和通过/失败指示符。
测试序列模块1203可以被配置成提供当前被配置和/或执行的测试序列。
其它定义和实施例:
本文所使用的术语仅出于描述特定方面的目的,而并不旨在限制本公开。如本文所使用,除非上下文另外明确地指示,否则单数形式“一(a)”、“一(an)”和“所述”还意图包括复数形式。还将理解,当在本说明书中使用时,术语“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”指定存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件,但是不排除一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。如本文所使用,术语“和/或”包括相关联所列项目中的一个或多个的任何和所有组合。在整个附图的描述中,相同的附图标记表示相同的元件。
应理解,虽然本文中可使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件,但这些元件不应受这些术语限制。这些术语仅用以将一个元件与另一元件区分开来。因此,在不脱离本发明主题的教示的情况下,第一元件可被称为第二元件。
将理解,当元件被描述为在另一元件“上”、“附接”到另一元件、“连接”到另一元件、与另一元件“联接”、“接触”另一元件等时,其可直接在所述另一元件上、直接附加到所述另一元件、直接连接到所述另一元件、直接与所述另一元件联接或直接接触所述另一元件,或者也可以存在中间元件。相反,例如当元件被描述“直接地”在另一元件上、“直接地附接”到、“直接地连接”到、“直接地联接”到或“直接地接触”另一元件时,则不存在插入元件。本领域的技术人员还将理解,对“邻近”另一特征安置的结构或特征的引用可以具有叠覆或位于邻近特征之下的部分。
除非另外限定,否则本文中所使用的所有术语(包括技术术语和科技术语)具有本发明概念所属领域的一般技术人员通常所理解的相同含义。将进一步理解的是,例如在常用词典中定义的那些术语应被解释为具有与其在本说明书的上下文和相关领域中的含义一致的含义,并且除非本文明确定义,否则不应在理想化或过度正式的意义上解释。
在本公开的各种实施例的以上描述中,本公开的各方面可以在本文中以若干可获专利的类别或包括任何新型且有用的工艺、机器、制造或物质组成或其任何新型且有用的改进的上下文的任一者中说明和描述。因此,本公开的各方面可完全实施硬件、完全实施软件(包括固件、驻存软件、微码等)或组合软件和硬件实施方案,这些实施方案在本文中通常被统称作“电路”、“模块”、“部件”、或“系统”。此外,本公开的各方面可采取计算机程序产品的形式,所述计算机程序产品包括具有实施于其上的计算机可读程序代码的一个或多个计算机可读介质。
可使用一个或多个计算机可读介质的任何组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或计算机可读存储介质。计算机可读存储介质可以是例如但不限于电子、磁性、光学、电磁或半导体系统、设备或装置,或前述的任何合适的组合。计算机可读存储介质的更具体实例(非详尽列表)将包括以下各项:便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、具有中继器的适当光纤、便携式压缩光盘只读存储器(CD-ROM)、光学存储装置、磁性存储装置,或前述的任何合适的组合。在本文档的上下文中,计算机可读存储介质可以是任何有形介质,其可以包含或存储用于由指令执行系统、设备或装置使用或者结合指令执行系统、设备或装置使用的程序。
本文参考根据本公开的实施例的方法、设备(系统)和计算机程序产品的流程图图示和/或框图描述了本公开的各方面。应理解,可以通过计算机程序指令实施流程图图示和/或框图中的每一框以及流程图图示和/或框图中的框的组合。这些计算机程序指令可以提供到通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理设备的处理器以产生机器,使得经由计算机或其它可编程指令执行设备的处理器执行的指令创建用于实施流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作的机制。
这些计算机程序指令也可以存储于计算机可读介质中,当这些计算机程序指令被执行时可引导计算机、其它可编程数据处理设备或其它装置以特定方式起作用,以使得指令当存储于计算机可读介质中时产生包括指令的制品,所述指令当被执行时使计算机实施流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作。计算机程序指令还可加载到计算机、其它可编程指令执行设备或其它装置上,以使在计算机、其它可编程设备或其它装置上执行一系列操作步骤,以产生计算机实施的过程,使得在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供用于实施流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作的过程。
附图中的流程图和框图示出了根据本公开的各种方面的系统、方法和计算机程序产品的可能实施方案的架构、功能和操作。就此而言,流程图或框图中的每个框可以表示模块、片段或代码部分,其包括用于实施指定逻辑功能的一个或多个可执行指令。还应该注意的是,在一些替代性实施方案中,框中标注的功能可以不按附图中标注的顺序发生。例如,取决于所涉及的功能,连续示出的两个框可以实际上基本同时执行,或所述框有时可以按相反次序执行。还将注意到,框图和/或流程图图示中的每个框以及框图和/或流程图图示中的框的组合可以通过专用的基于硬件的系统实施,所述系统执行指定功能或动作或专用硬件和计算机指令的组合。
已出于说明和描述的目的呈现本公开的描述,但本公开的描述不希望是详尽的或限于所公开形式的公开内容。在不脱离本公开的范围和精神的情况下,许多修改和变化对于本领域的一般技术人员而言将是显而易见的。选择并描述本公开的各方面以便最好地阐释本公开的原理及其实际应用,并且使得本领域的其它一般技术人员能够理解本公开的各种修改,这些修改适合于所预期的特定用途。
前述内容是对本发明的说明,而不应理解为对本发明的限制。尽管已经描述了本发明的几个示例实施例,但是本领域技术人员将容易理解,在实质上不脱离本发明的新颖教示和优点的情况下,可以对示范性实施例进行许多修改。因此,所有此类修改旨在包括在如权利要求书中所限定的本发明的范围内。本发明由所附权利要求书限定,其中权利要求书的等效物将包括在其中。
Claims (23)
1.一种测试夹具,包括:
第一主体,其包括分别被配置成容纳多个天线连接器的多个槽;
第二主体,其与所述第一主体相对并且包括被配置成容纳测试连接器的槽;以及
横向定位部件,其被配置成使所述第二主体相对于所述第一主体移动,以将所述测试连接器定位在所述多个天线连接器中的一个的对面;
其中,所述第二主体进一步被配置成将所述测试连接器推入到所述测试连接器对面的所述多个天线连接器中的所述一个中,以使所述测试连接器与所述多个天线连接器中的所述一个匹配。
2.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述多个天线连接器包括多个盲插连接器。
3.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述多个天线连接器中的每一个包括凸缘部分;并且
其中所述多个槽分别被配置成在其中容纳所述多个天线连接器的所述多个凸缘部分。
4.根据权利要求3所述的测试夹具,其中所述凸缘部分包括黄铜。
5.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述多个天线连接器中的每一个包括斜面沉头孔开口,所述斜面沉头孔开口被配置成在其中容纳所述测试连接器。
6.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述多个天线连接器分别联接到多个偏置弹簧,所述多个偏置弹簧被配置成将所述多个天线连接器推向所述第二主体。
7.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述第一主体包括不锈钢。
8.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述横向定位部件包括:
蜗杆传动,其联接到所述第二主体;以及
电动机,其连接到所述蜗杆传动,并且被配置成使所述蜗杆传动旋转以使所述第二主体相对于所述第一主体移动。
9.根据权利要求8所述的测试夹具,其中所述电动机被配置成响应于由测试控制器生成的电动机操作信号来使所述蜗杆传动旋转。
10.根据权利要求9所述的测试夹具,其中所述测试控制器被配置成对所述测试连接器已匹配到所述多个连接器中的一个的次数进行计数。
11.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述第二主体中的所述槽是第一槽,并且所述测试连接器是第一测试连接器;并且
其中所述第二主体进一步包括第二槽,所述第二槽被配置成容纳第二测试连接器。
12.根据权利要求11所述的测试夹具,其中当所述第一测试连接器与所述多个天线测试连接器中的所述一个匹配时,所述第二测试连接器不与所述多个天线连接器中的任一个匹配。
13.根据权利要求1所述的测试夹具,其中所述测试连接器和所述多个天线连接器中的每一个包括4.3-10盲插连接器。
14.一种测量多个天线端口属性的方法,包括:
响应于测试序列的启动,自动地将测试连接器匹配到第一天线连接器;
使用分析器进行第一测量;
自动地将所述测试连接器与所述第一天线连接器解除匹配;
自动地将所述测试连接器匹配到第二天线连接器;以及
使用第一分析器进行第二测量。
15.根据权利要求14所述的方法,进一步包括对每个电缆匹配的次数进行计数。
16.根据权利要求14所述的方法,其中,在初始命令之后,在没有操作员干预的情况下执行控制测试夹具和进行测量。
17.根据权利要求14所述的方法,进一步包括响应于启动所述测试序列:
自动地将第二测试连接器匹配到第三天线连接器;以及
使用第二分析器进行第三测量。
18.根据权利要求17所述的方法,其中所述第一分析器被配置成测量与所述第二分析器不同的频率范围。
19.一种天线测试系统,包括:
测试腔室;
测试夹具,其在所述测试腔室内部;
天线,其在所述测试腔室内部;
分析器,其在所述测试腔室外部;
多个跳线电缆,其从多个天线端口连接到所述测试夹具;
至少一个测试电缆,其通过管道从所述测试夹具连接到所述分析器;以及
计算机;
其中所述计算机被配置成将命令发送到所述测试夹具;
其中所述测试夹具被配置成响应于所述命令而将所述至少一个测试电缆匹配到所述多个跳线电缆中的一个;
其中所述测试夹具进一步被配置成响应于来自所述计算机的至少一个后续命令而将所述至少一个测试电缆匹配到所述多个跳线电缆中的第二个,无需操作员进入所述测试腔室。
20.根据权利要求19所述的天线测试系统,其中所述测试夹具被配置成使所述至少一个测试电缆的第一连接器沿着线性轨道移动,以与所述跳线电缆的所选第二连接器对准。
21.根据权利要求17所述的天线测试系统,其中所述测试夹具被配置成使所述第一连接器朝向所述第二连接器移动,以将所述第一连接器匹配到所述第二连接器。
22.根据权利要求19所述的天线测试系统,其中所述分析器是第一分析器,并且所述至少一个测试电缆是第一测试电缆,所述系统进一步包括:
第二分析器;以及
第二测试电缆,所述第二测试电缆通过管道从所述测试夹具连接到所述第二分析器;
其中所述第一分析器被配置成在第一频率范围内操作;并且
其中所述第二分析器被配置成在第二频率范围内操作。
23.根据权利要求22所述的天线测试系统,其中所述第一频率范围和所述第二频率范围不重叠。
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