CN112732502B - I2c信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 60
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims abstract description 19
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 10
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 6
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract
本发明公开了一种I2C信号的检测方法,通过获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑并将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上供测试人员进行选择,根据测试人员选择的待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,而后在示波器上运行配置后的示波器配置脚本调用示波器的用户函数对待测I2C通道进行触发,使得测试人员无需针对不同的待测I2C通道反复配置查询命令和触发命令,只需在人机交互界面上对待测I2C通道进行选择,该待测I2C通道将被自动触发,测试人员即可进行该待测I2C通道的点测,极大方便了测试人员的测试过程。本发明还公开了一种I2C信号的检测装置、检测设备及存储介质,具有上述有益效果。
Description
技术领域
本发明涉及服务器技术领域,特别是涉及一种I2C信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质。
背景技术
集成电路总线(Inter Integrated Circuit Bus,下文简称“I2C”)是一种两线式串行总线,主要应用于集成电路设计中,I2C总线包括串行数据线(Serial Data,SDA)与串行时钟线(Serial Clock,SCL)两根数据传输线,并通过串行数据线与串行时钟线在器件之间传输信息。作为服务器使用范围最广的总线,板载控制芯片(Baseboard ManagementController,BMC)主要通过I2C总线对I2C从设备进行管理。I2C从设备主要包括电源(PSU),I2C选路芯片(I2C Switch),现场可更换单元(Field Replace Unit,FRU),温度传感器(Thermal Sensor)等。
现有技术中,在对具有I2C协议的主板进行I2C总线测试时,需要测试人员手动输入测试参数,并根据测试得到的波形进行判断获得测试数据,这要求测试人员不仅对I2C协议具有一定的了解,还需要测试人员能够熟练的掌握测试数据的确定方式。具体来说,测试人员在获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑后,根据I2C从设备拓扑去选择需要测量的I2C通道,板载控制芯片ping通后利用命令可以查看到I2C总线下的寄存器,对于I2C选路芯片下的I2C通道,选中子总线的上一级寄存器地址的一半,利用命令查询到待测I2C通道,然后等扫描到该待测I2C通道后,控制板载控制芯片对待测I2C通道进行循环扫描,测试人员在示波器上用待测I2C通道的地址触发I2C触发器后,利用示波器探棒点测与待测I2C通道对应的引脚。
然而,虽然板载控制芯片仅包含14路I2C通路,但I2C从设备却不只有14个,一路板载控制芯片的I2C链路经常级联多个I2C从设备。在对每一条I2C通道进行测试时,需要在该I2C通道中不间断地传输数据,因此测试人员需要针对不同的待测I2C通道切换查询命令和触发命令等,容易出错。
提供一种方便高效的I2C信号的检测方案,是本领域技术人员需要解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种I2C信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质,用于简便高效地对I2C信号进行测试。
为解决上述技术问题,本发明提供一种I2C信号的检测方法,包括:
获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑;
将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上;
接收输入的待测I2C通道的信息;
根据所述待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本;
控制所述配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对所述待测I2C通道进行触发。
可选的,所述获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑,具体包括:
向所述板载控制芯片发送扫描命令;
接收所述板载控制芯片扫描得到当前时刻的I2C从设备拓扑。
可选的,将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上,具体包括:
按所述I2C从设备拓扑对各I2C从设备进行编号;
将各所述I2C从设备的编号与所述I2C从设备拓扑显示在所述人机交互界面上。
可选的,在所述得到配置后的示波器配置脚本之前,还包括:
获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置;
将所述示波器测试项的配置写入所述示波器配置脚本。
可选的,所述获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体为:
获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项默认值。
可选的,所述获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体为:
接收输入的所述示波器测试项的配置。
可选的,所述示波器测试项具体包括:时钟信号参数、数据信号参数以及时钟信号和数据信号之间的时序设定值。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种I2C信号的检测装置,包括:
获取单元,用于获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑;
显示单元,用于将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上;
输入单元,用于接收输入的待测I2C通道的信息;
配置单元,用于根据所述待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本;
触发单元,用于控制所述配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对所述待测I2C通道进行触发。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种I2C信号的检测设备,包括:
存储器,用于存储指令,所述指令包括上述任意一项所述I2C信号的检测方法的步骤;
处理器,用于执行所述指令。
为解决上述技术问题,本发明还提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任意一项所述I2C信号的检测方法的步骤。
本发明所提供的I2C信号的检测方法,通过获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑并将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上供测试人员进行选择,根据测试人员选择的待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,而后在示波器上运行配置后的示波器配置脚本调用示波器的用户函数对待测I2C通道进行触发,使得测试人员无需针对不同的待测I2C通道反复配置查询命令和触发命令,只需在人机交互界面上对待测I2C通道进行选择,该待测I2C通道将被自动触发,测试人员即可进行该待测I2C通道的点测,极大方便了测试人员的测试过程。
本发明还提供一种I2C信号的检测装置、检测设备及存储介质,具有上述有益效果,在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测方法的流程图;
图2为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测装置的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测设备的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种I2C信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质,用于简便高效地对I2C信号进行测试。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测方法的流程图。
如图1所示,本发明实施例提供的I2C信号的检测方法包括:
S101:获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑。
S102:将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上。
S103:接收输入的待测I2C通道的信息。
S104:根据待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本。
S105:控制配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对待测I2C通道进行触发。
在具体实施中,本发明实施例提供的I2C信号的检测方法基于测试主机实现,通过测试主机建立与待测主机的板载控制芯片的通信以及测试主机与示波器的通信后,在测试主机上运行预先编写的测试脚本以实现上述方法步骤。
对于步骤S101来说,可以根据待测主机的类型或者待测主机的出厂配置,获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑。为了保证测试可靠性,步骤S101具体可以包括:向板载控制芯片发送扫描命令;接收板载控制芯片扫描得到当前时刻的I2C从设备拓扑。I2C从设备拓扑包括板载控制芯片下挂的所有一级I2C从设备、一级I2C从设备的选路芯片下挂的二级I2C从设备等。则扫描命令具体可以为先扫描板载控制芯片下的14路I2C通道,根据得到的地址,对每一个地址的一级I2C从设备扫描子I2C总线下的I2C地址,再根据子I2C总线下的I2C地址扫描得到二级I2C从设备,以此类推。
对于步骤S102来说,将将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上,具体可以生成I2C从设备拓扑的树状图或I2C从设备拓扑的I2C通道树状列表以供测试人员进行点选或输入对应的I2C通道标号。为了便于测试人员进行输入,步骤S102:将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上,具体可以包括:按I2C从设备拓扑对各I2C从设备进行编号;将各I2C从设备的编号与I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上。其中,编号方法可以为对所有扫描到的地址,按照地址大小进行排列,排列号为其一级I2C从设备号,如“0-一级I2C从设备号”,对于一级I2C从设备下有子I2C总线的设备下,继续根据地址大小进行排列,排列号为其二级I2C从设备号,例如“0-一级I2C从设备号-子I2C总线号-二级I2C从设备号”,以此类推。此外,还可以直接将所有I2C通道均设置对应的简单编号,例如“I2C通道001”。在测试主机的人机交互界面上显示所有I2C通道及其地址和相应编号,以便测试人员查看。
对于步骤S103、S104和S105来说,接收测试人员在人机交互界面上输入的待测I2C通道的信息(待测I2C通道的地址或待测I2C通道的编号),转换为待测I2C通道的地址。示波器自带的软件可以存储设置文件(setup文件),即示波器配置脚本,在完成示波器配置脚本的配置后,将配置后的示波器配置脚本保存为setup文件,点击示波器的recall按键,选择该setup文件即可完成对示波器的设置。示波器运行配置后的示波器配置脚本即可调用相关的函数执行命令,实现对示波器不同按键的控制。因此在本发明实施例中,测试主机根据待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,控制将配置后的示波器配置脚本运行于示波器中,实现对待测I2C通道进行触发,从而在示波器的显示屏上显示待测I2C通道的信号波形,继而测试人员就可以持示波器对待测I2C通道对应的测点进行点测。
本发明实施例提供的I2C信号的检测方法,通过获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑并将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上供测试人员进行选择,根据测试人员选择的待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,而后在示波器上运行配置后的示波器配置脚本调用示波器的用户函数对待测I2C通道进行触发,使得测试人员无需针对不同的待测I2C通道反复配置查询命令和触发命令,只需在人机交互界面上对待测I2C通道进行选择,该待测I2C通道将被自动触发,测试人员即可进行该待测I2C通道的点测,极大方便了测试人员的测试过程。
在对待测I2C通道的信号进行测试时,需要配置示波器的测试项以显示所需的测试参数,为方便测试进行,在上述实施例的基础上,在步骤S104中得到配置后的示波器配置脚本之前,本发明实施例提供的I2C信号的检测方法还包括:
获取针对待测I2C通道的示波器测试项的配置;
将示波器测试项的配置写入示波器配置脚本。
在具体实施中,示波器测试项具体可以包括:时钟信号参数、数据信号参数以及时钟信号和数据信号之间的时序设定值。其中,时钟信号(clock)参数具体可以包括时钟信号参数的输入高电平(VIH)、输入低电平(VIL)、电压最大值(Vmax)、电压最小值(Vmin)这些电平信号和频率(freq)、占空比(DTC)、正半周期(Pos Wid)、负半周期(Neg wid)、上升时间、下降时间等。数据信号(data)参数具体可以包括:输入高电平(VIH)、输入低电平(VIL)、电压最大值(Vmax)、电压最小值(Vmin)这些电平信号和上升时间、下降时间等。
获取针对待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体可以为:接收输入的示波器测试项的配置。如果测试人员未设置示波器测试项,获取针对待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体可以为:获取针对待测I2C通道的示波器测试项默认值。针对不同的示波器测试项,若测试人员进行了配置,则采用测试人员的配置,若测试人员未配置,则采用示波器测试项默认值。
此外,示波器配置脚本中还可以包括示波器配置项如示波器的存储深度、采样率、电压偏置(offset)、刻度(scale)等,均可以采用上述方式进行填写,实现对示波器的自动化控制。
上文详述了I2C信号的检测方法对应的各个实施例,在此基础上,本发明还公开了与上述方法对应的I2C信号的检测装置、检测设备及存储介质。
图2为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测装置的结构示意图。
如图2所示,本发明实施例提供的I2C信号的检测装置包括:
获取单元201,用于获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑;
显示单元202,用于将I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上;
输入单元203,用于接收输入的待测I2C通道的信息;
配置单元204,用于根据待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本;
触发单元205,用于控制配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对待测I2C通道进行触发。
进一步的,本发明实施例提供的I2C信号的检测装置还可以包括:
测试配置单元,用于在得到配置后的示波器配置脚本之前,获取针对待测I2C通道的示波器测试项的配置;将示波器测试项的配置写入示波器配置脚本。
由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应,因此装置部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述,这里暂不赘述。
图3为本发明实施例提供的一种I2C信号的检测设备的结构示意图。
如图3所示,本发明实施例提供的I2C信号的检测设备包括:
存储器310,用于存储指令,所述指令包括上述任意一项实施例所述的I2C信号的检测方法的步骤;
处理器320,用于执行所述指令。
其中,处理器320可以包括一个或多个处理核心,比如3核心处理器、8核心处理器等。处理器320可以采用数字信号处理DSP(Digital Signal Processing)、现场可编程门阵列FPGA(Field-Programmable Gate Array)、可编程逻辑阵列PLA(Programmable LogicArray)中的至少一种硬件形式来实现。处理器320也可以包括主处理器和协处理器,主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器,也称中央处理器CPU(CentralProcessing Unit);协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中,处理器320可以集成有图像处理器GPU(Graphics Processing Unit),GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中,处理器320还可以包括人工智能AI(Artificial Intelligence)处理器,该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器310可以包括一个或多个存储介质,该存储介质可以是非暂态的。存储器310还可包括高速随机存取存储器,以及非易失性存储器,比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中,存储器310至少用于存储以下计算机程序311,其中,该计算机程序311被处理器320加载并执行之后,能够实现前述任一实施例公开的I2C信号的检测方法中的相关步骤。另外,存储器310所存储的资源还可以包括操作系统312和数据313等,存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中,操作系统312可以为Windows。数据313可以包括但不限于上述方法所涉及到的数据。
在一些实施例中,I2C信号的检测设备还可包括有显示屏330、电源340、通信接口350、输入输出接口360、传感器370以及通信总线380。
本领域技术人员可以理解,图3中示出的结构并不构成对I2C信号的检测设备的限定,可以包括比图示更多或更少的组件。
本申请实施例提供的I2C信号的检测设备,包括存储器和处理器,处理器在执行存储器存储的程序时,能够实现如上所述的I2C信号的检测方法,效果同上。
需要说明的是,以上所描述的装置、设备实施例仅仅是示意性的,例如,模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。
集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
为此,本发明实施例还提供一种存储介质,该存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如I2C信号的检测方法的步骤。
该存储介质可以包括:U盘、移动硬盘、只读存储器ROM(Read-Only Memory)、随机存取存储器RAM(Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本实施例中提供的存储介质所包含的计算机程序能够在被处理器执行时实现如上所述的I2C信号的检测方法的步骤,效果同上。
以上对本发明所提供的一种I2C信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备及存储介质而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (10)
1.一种I2C信号的检测方法,其特征在于,包括:
获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑;
将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上;
接收输入的待测I2C通道的信息;
根据所述待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本;
控制所述配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对所述待测I2C通道进行触发。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑,具体包括:
向所述板载控制芯片发送扫描命令;
接收所述板载控制芯片扫描得到当前时刻的I2C从设备拓扑。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上,具体包括:
按所述I2C从设备拓扑对各I2C从设备进行编号;
将各所述I2C从设备的编号与所述I2C从设备拓扑显示在所述人机交互界面上。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,在所述得到配置后的示波器配置脚本之前,还包括:
获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置;
将所述示波器测试项的配置写入所述示波器配置脚本。
5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体为:
获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项默认值。
6.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述获取针对所述待测I2C通道的示波器测试项的配置,具体为:
接收输入的所述示波器测试项的配置。
7.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述示波器测试项具体包括:时钟信号参数、数据信号参数以及时钟信号和数据信号之间的时序设定值。
8.一种I2C信号的检测装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取待测主机的板载控制芯片下的I2C从设备拓扑;
显示单元,用于将所述I2C从设备拓扑显示在人机交互界面上;
输入单元,用于接收输入的待测I2C通道的信息;
配置单元,用于根据所述待测I2C通道的信息填写示波器配置脚本的触发器地址,得到配置后的示波器配置脚本;
触发单元,用于控制所述配置后的示波器配置脚本运行于示波器,调用示波器的用户函数对所述待测I2C通道进行触发。
9.一种I2C信号的检测设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储指令,所述指令包括权利要求1至7任意一项所述I2C信号的检测方法的步骤;
处理器,用于执行所述指令。
10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任意一项所述I2C信号的检测方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110019411.5A CN112732502B (zh) | 2021-01-07 | 2021-01-07 | I2c信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110019411.5A CN112732502B (zh) | 2021-01-07 | 2021-01-07 | I2c信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112732502A CN112732502A (zh) | 2021-04-30 |
CN112732502B true CN112732502B (zh) | 2022-07-22 |
Family
ID=75589600
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110019411.5A Active CN112732502B (zh) | 2021-01-07 | 2021-01-07 | I2c信号的检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112732502B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114090351A (zh) * | 2021-10-26 | 2022-02-25 | 中科可控信息产业有限公司 | 信号测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN114138701B (zh) * | 2022-01-29 | 2022-04-22 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种i2c信号调整方法、装置、设备及可读存储介质 |
CN117271246A (zh) * | 2023-11-22 | 2023-12-22 | 深圳市蓝鲸智联科技股份有限公司 | 一种i2c设备调试方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111181801B (zh) * | 2019-12-04 | 2021-11-09 | 腾讯云计算(北京)有限责任公司 | 节点集群测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
-
2021
- 2021-01-07 CN CN202110019411.5A patent/CN112732502B/zh active Active
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Publication number | Publication date |
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CN112732502A (zh) | 2021-04-30 |
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