CN112642056A - 电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构及装置，其中植入电极通用连接结构用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，由于不同规格的植入电极结构不同、触点间距也不同，本发明提供的连接结构能够根据不同规格的植入电极的电极触点间距来调整导电端子在基座的安装导向结构中的位置，即根据植入电极的电极触点间距来移动导电端子并定位，从而使得导电端子间距与植入电极的电极触点间距一致，实现了与不同规格的植入电极的通用性电连接，在注入电压测试时针对不同规格的植入电极，无需另换测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。

Description

电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构及装置
技术领域
本发明涉及植入式医疗仪器技术领域，具体涉及一种电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构、具有该通用连接结构的装置，以及具有该装置的用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置。
背景技术
对有源植入式神经刺激器，要求进行电磁干扰防护测试，尤其是对于频率16.6Hz-80MHz电磁干扰防护的测试，考虑磁场和电场耦合对患者导线的影响，需要进行整机测试(不仅包括刺激器本身，还包括延长导线和电极等导线部分)。传统方式采用人工测试，测试效率低、准确率低。
为了解决测试效率低、准确率低的问题，中国专利文献CN 209728070 U公开了一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，通过注入电压测试电路板和测试工装的配合实现对整机测试，然而该注入电压测试装置中只能针对一种规格的植入电极进行测试，若要对多种规格植入电极测试则需要定制多套不同规格的注入电压测试装置，成本昂贵，且由于需要转换设备进行测试操作，测试效率也不高。
发明内容
因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置只能针对一种规格的植入电极进行测试，测试效率低的缺陷，从而提供一种可以针对不同规格植入电极进行测试的电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构及装置。
第一方面，本发明提供一种电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接结构包括：
基座，设有用于安装不同规格植入电极的安装导向结构；
若干导电端子，可移动且间隔地设置于所述安装导向结构内，所述若干导电端子被配置为在所述植入电极安装于所述安装导向结构时根据所述植入电极的电极触点间距在所述安装导向结构中移动定位，以与所述植入电极的若干电极触点电连接。
可选地，所述基座呈板状，所述安装导向结构为成型在板上表面的条形卡槽，用于安装不同规格的植入电极；所述若干导电端子为可移动地设置于所述条形卡槽中的若干金属弹片，所述金属弹片能够卡接所述植入电极的电极触点并建立电连接。
可选地，还包括用于驱动所述金属弹片在所述条形卡槽中移动位置的弹片移动机构。
可选地，所述弹片移动机构为连接于所述金属弹片一侧、方向与所述条形卡槽垂直的呈柱状的弹片拨动开关。
可选地，还包括限位卡槽，用于将所述金属弹片在所述条形卡槽内移动到指定的位置时进行固定。
可选地，还包括连接多个所述弹片拨动开关的弹片连接结构，用于实现多个所述金属弹片联动。
可选地，所述基座呈筒状，所述安装导向结构为成型在筒内壁上的轨道，用于安装不同规格的方向电极；所述若干导电端子为可沿所述筒的内壁轨道滑动的若干金属片，所述若干金属片被配置为与插入所述筒内的方向电极的若干电极触点相贴合并建立电连接。
第二方面，本发明提供一种植入电极通用连接装置，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接装置包括：
第二接插端，包括连接注入电压测试通道的若干连接触点；
若干连接导线，各条连接导线的材质、线径和长度一致，所述连接导线一端与所述连接触点相连接；
上述植入电极通用连接结构，所述通用连接结构的所述导电端子与所述连接导线的另一端相连接。
第三方面，本发明提供一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，包括上述植入电极通用连接装置。
本发明技术方案，具有如下优点：
1.本发明提供的植入电极通用连接结构，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，由于不同规格的植入电极结构不同、触点间距也不同，本发明提供的连接结构能够根据不同规格的植入电极的电极触点间距来调整导电端子在基座的安装导向结构中的位置，即根据植入电极的电极触点间距来移动导电端子并定位，从而使得导电端子间距与植入电极的电极触点间距一致，实现了与不同规格的植入电极的通用性电连接，在注入电压测试时针对不同规格的植入电极，无需另换测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。
2、本发明提供的植入电极通用连接结构，所述基座呈板状，所述安装导向结构为成型在板上表面的条形卡槽，条形卡槽能够适配于植入电极的柱状形状，条形卡槽内设置有可沿着条形卡槽进行移动的作为若干导电端子的若干金属弹片，金属弹片通过在条形卡槽中的移动调节间距从而与植入电极的电极触点一致，将植入电极装入条形卡槽中则金属弹片卡接对应的电极触点实现电连接。通过将植入电极通用连接结构设置为上述结构可以适配不同规格的植入电极。
3、本发明提供的植入电极通用连接结构，还包括用于驱动金属弹片在条形卡槽中移动位置的弹片移动机构。植入电极通常较细，电极触点间距也较小，因此条形卡槽的宽度和金属弹片的间距尺寸也较小，这种情况下通过手动调节金属弹片在条形卡槽中位置操作会非常不方便，而通过弹片移动机构可以有效解决操作不便的问题。
4、本发明提供的植入电极通用连接结构，进一步地,采用的弹片移动机构为连接于金属弹片一侧、方向与所述条形卡槽垂直的呈柱状的弹片拨动开关。该种结构简单容易制造，而且操作方便，使用时只要拨动弹片拨动开关即可以移动对应的金属弹片从而调节金属弹片间距。
5、本发明提供的植入电极通用连接结构，还包括用于将所述金属弹片在所述条形卡槽内移动到指定的位置时进行固定的限位卡槽。通过拨动弹片拨动开关可以移动金属弹片调节金属弹片间距，但是无法精准操作，使用时需要多次调节金属弹片位置才能与植入电极的间距一致，而通过限位卡槽的设计，可以实现金属弹片位置调节的精准操作，限位卡槽的设置位置是根据不同规格的植入电极的电极触点间距提前设置好的，在使用时，根据植入电极的规格，拨动弹片开关带动金属弹片移动，弹片拨动开关卡入到对应的限位卡槽中即能够实现金属弹片间距与植入电极的电极触点的间距对应，提升了操作精准性和效率。
6、本发明提供的植入电极通用连接结构，还包括弹片连接结构，弹片连接结构连接了各个金属弹片，目的是实现多弹片联动，同时能满足单个金属弹片自由调节的需求。通过采用弹片连接结构，进一步提升了操作效率。
7、本发明提供的植入电极通用连接结构，所述基座呈筒状，所述安装导向结构为成型在筒内壁上的轨道，用于安装不同规格的方向电极；所述若干导电端子为可沿所述筒的内壁轨道滑动的若干金属片，所述若干金属片被配置为与插入所述筒内的方向电极的若干电极触点相贴合并建立电连接。通过本发明提供的植入电极通用连接结构，可以满足不同规格的方向电极的使用。
8、本发明提供的植入电极通用连接装置，通过连接导线将第二接插端上的各连接触点与对应的导电端子连接，每条连接导线的材质、线径和长度一致，从而保证注入电压测试装置各测试通道电性能的一致性。因为注入电压频率范围在16.6Hz-80MHz，具有高频信号，在实现对植入式神经刺激器进行频率在频率范围在16.6Hz-80MHz的电磁干扰防护测试时，申请人发现需要重点满足第二接插端上各连接触点与对应的导电端子之间线路间阻抗匹配、阻抗连续且相互一致的需求。而本发明通过将每条连接导线的材质、线径和长度一致，从而保证注入电压测试装置各测试通道电性能的一致性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的实施例一提供的植入电极通用连接装置的结构示意图；
图2为本发明的实施例二提供的植入电极通用连接装置的结构示意图。
附图标记说明：
24-第二接插端，222-连接导线，252-条形卡槽，253-金属弹片，254-弹片拨动开关，255-限位卡槽，256-弹片连接结构；
212-圆柱型连接结构；258-金属片；4-方向电极。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
对有源植入式神经刺激器，要求进行电磁干扰防护测试，尤其是对于频率16.6Hz-80MHz电磁干扰防护的测试，考虑磁场和电场耦合对患者导线的影响，需要进行整机测试(不仅包括刺激器本身，还包括延长导线和电极等导线部分)。传统方式采用人工测试，测试效率低、准确率低。
为了解决测试效率低，准确率低的问题，申请人申请了一件实用新型专利，授权公告号为CN 209728070 U，发明名称为“用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置”，该专利文献公开了一套可以实现植入式神经刺激器整机测试的自动测试工装，该专利文献公开的技术方案只是针对一种规格的植入电极进行电磁兼容测试，然而应用于神经刺激器的植入电极有多种规格，比如柱状电极、方向电极4，柱状电极的触点间距又分为1mm、1.5mm、4mm、6mm等。而为了实现对这些不同规格的植入电极进行测试，该专利文件公开的技术方案必须定制多套不同规格的测试工装，成本昂贵，并且在对不同规格电极进行测试时还需要转换设备进行测试操作，测试效率降低。
实施例一
为了解决现有技术中只能测试一种规格植入电极所导致的测试效率低的缺陷，如图1所示，本实施例提供了一种电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接结构包括基座和若干导电端子。其中，
基座设有用于安装不同规格植入电极的安装导向结构。优选地，安装导向结构的形状尺寸按照不同规格的植入电极进行设计。若干导电端子，可移动且间隔地设置于所述安装导向结构内，所述若干导电端子被配置为在所述植入电极安装于所述安装导向结构时根据所述植入电极的电极触点间距在所述安装导向结构中移动定位，以与所述植入电极的若干电极触点电连接。
由于不同规格的植入电极结构不同、触点间距也不同，本实施例提供的连接结构能够根据不同规格的植入电极的电极触点间距来调整导电端子在基座的安装导向结构中的位置，即根据植入电极的电极触点间距来移动导电端子并定位，从而使得导电端子间距与植入电极的电极触点间距一致，实现了与不同规格的植入电极的通用性电连接，在注入电压测试时针对不同规格的植入电极，无需另换测试设备，降低了测试成本，提高了测试效率。
本实施例提供了一种植入电极通用连接结构，实质上是一种通用柱状电极触点可配置连接结构，如图1所示，所述基座呈板状，所述安装导向结构为成型在板上表面的条形卡槽252，条形卡槽252能够适配于植入电极的柱状形状，条形卡槽252内设置有可沿着条形卡槽252进行移动的作为若干导电端子的若干金属弹片253，金属弹片253通过在条形卡槽252中的移动调节间距从而与植入电极的电极触点一致，将植入电极装入条形卡槽252中则金属弹片253卡接对应的电极触点实现电连接。通过将植入电极通用连接结构设置为上述结构可以适配不同规格的植入电极。
进一步地，本实施例提供的连接结构还包括用于驱动所述金属弹片253在所述条形卡槽252中移动位置的弹片移动机构。植入电极通常较细，电极触点间距也较小，因此条形卡槽252的宽度和金属弹片253的间距尺寸也较小，这种情况下通过手动调节金属弹片253在条形卡槽252中位置操作会非常不方便，而通过弹片移动机构可以有效解决操作不便的问题。优选地，所述弹片移动机构为连接于所述金属弹片253一侧、方向与所述条形卡槽252垂直的呈柱状的弹片拨动开关254。该种结构简单容易制造，而且操作方便，使用时只要拨动弹片拨动开关254即可以移动对应的金属弹片253从而调节金属弹片253间距。
本实施例提供的连接结构还包括限位卡槽255，用于将所述金属弹片253在所述条形卡槽252内移动到指定的位置时进行固定。还包括用于将所述金属弹片253在所述条形卡槽252内移动到指定的位置时进行固定的限位卡槽255。通过拨动弹片拨动开关254可以移动金属弹片253调节金属弹片253间距，但是无法精准操作，使用时需要多次调节金属弹片253位置才能与植入电极的间距一致，而通过限位卡槽255的设计，可以实现金属弹片253位置调节的精准操作，限位卡槽255的设置位置是根据不同规格的植入电极的电极触点间距提前设置好的，在使用时，根据植入电极的规格，拨动弹片开关带动金属弹片253移动，弹片拨动开关254卡入到对应的限位卡槽255中即能够实现金属弹片253间距与植入电极的电极触点的间距对应，提升了操作精准性和效率。本实施例提供的连接结构还包括连接多个所述弹片拨动开关254的弹片连接结构256，用于实现多个所述金属弹片253联动。还包括弹片连接结构256，弹片连接结构256连接了各个金属弹片253，目的是实现多弹片联动，同时能满足单个金属弹片253自由调节的需求。通过采用弹片连接结构256，进一步提升了操作效率。
本实施例的使用方法为：
测试时根据被测电极的规格，统一或单独拨动弹片拨动开关254，使金属弹片253在条形卡槽252内沿着卡槽移动到指定的限位卡槽255位置，进行固定，此时金属弹片253的间距与被测电极的触点间距一致，每个金属弹片253均能与对应的电极触点实现可靠的电连接。
实施例二
本实施例提供了一种植入电极通用连接结构，实质上是一种用于方向电极4的圆柱形连接结构212，本实施例提供的连接结构与实施例一的连接结构的区别在于：
所述基座呈筒状，所述安装导向结构为成型在筒内壁上的轨道，用于安装不同规格的方向电极4；所述若干导电端子为可沿所述筒的内壁轨道滑动的若干金属片258，所述若干金属片258被配置为与插入所述筒内的方向电极4的若干电极触点相贴合并建立电连接。方向电极4插入到圆柱形连接结构中，金属片258与方向电极4的电极触点接触，实现电连接。每个金属片258通过连接导线222与第二接插端24实现电连接，从而与测试通道导通。金属片258可沿内壁轨道滑动，满足不同规格方向电极4的使用。
根据方向电极4的规格，沿着连接结构内壁轨道，移动金属片258，使之与每个电极触点实现电连接。
实施例三
一种植入电极通用连接装置，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接装置包括：第二接插端24、若干连接导线222和植入电极通用连接结构。其中，
第二接插端24结构可以参考CN209728070U中公开的第二接插端24结构。第二接插端24包括连接注入电压测试通道的若干连接触点。若干连接导线222，各条连接导线222的材质、线径和长度一致，所述连接导线222一端与所述连接触点相连接。本实施例采用的植入电极通用连接结构为实施例一或实施例二提供的连接结构，其中连接结构的导电端子与连接导线222的另一端相连接。
由于本实施例的植入电极通用连接装置包括实施例一或实施例二提供的植入电极通用连接结构，因此实施例一和实施例二所具有的优点，本实施例也具备，在此不再赘述。
实施例四
本实施例提供一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，包括实施例三提供的植入电极通用连接装置。
由于本实施例的注入电压测试装置包括实施例三提供的植入电极通用连接装置，因此实施例三所具有的优点，本实施例也具备，在此不再赘述。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种电磁兼容注入电压测试用植入电极通用连接结构，其特征在于，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接结构包括：
基座，设有用于安装不同规格植入电极的安装导向结构；
若干导电端子，可移动且间隔地设置于所述安装导向结构内，所述若干导电端子被配置为在所述植入电极安装于所述安装导向结构时根据所述植入电极的电极触点间距在所述安装导向结构中移动定位，以与所述植入电极的若干电极触点电连接。
2.根据权利要求1所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，所述基座呈板状，所述安装导向结构为成型在板上表面的条形卡槽(252)，用于安装不同规格的植入电极；所述若干导电端子为可移动地设置于所述条形卡槽(252)中的若干金属弹片(253)，所述金属弹片(253)能够卡接所述植入电极的电极触点并建立电连接。
3.根据权利要求2所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，还包括用于驱动所述金属弹片(253)在所述条形卡槽(252)中移动位置的弹片移动机构。
4.根据权利要求3所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，所述弹片移动机构为连接于所述金属弹片(253)一侧、方向与所述条形卡槽(252)垂直的呈柱状的弹片拨动开关(254)。
5.根据权利要求3或4所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，还包括限位卡槽(255)，用于将所述金属弹片(253)在所述条形卡槽(252)内移动到指定的位置时进行固定。
6.根据权利要求4或5所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，还包括连接多个所述弹片拨动开关(254)的弹片连接结构(256)，用于实现多个所述金属弹片(253)联动。
7.根据权利要求1所述的植入电极通用连接结构，其特征在于，所述基座呈筒状，所述安装导向结构为成型在筒内壁上的轨道，用于安装不同规格的方向电极(4)；所述若干导电端子为可沿所述筒的内壁轨道滑动的若干金属片(258)，所述若干金属片(258)被配置为与插入所述筒内的方向电极(4)的若干电极触点相贴合并建立电连接。
8.一种植入电极通用连接装置，用于将植入电极电连接到植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，该通用连接装置包括：
第二接插端(24)，包括连接注入电压测试通道的若干连接触点；
若干连接导线(222)，各条连接导线(222)的材质、线径和长度一致，所述连接导线(222)一端与所述连接触点相连接；
根据权利要求1-7中任一项所述的植入电极通用连接结构，所述导电端子与所述连接导线(222)的另一端相连接。
9.一种用于植入式神经刺激器电磁兼容测试的注入电压测试装置，其特征在于，包括权利要求8所述的植入电极通用连接装置。
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