CN112614902A - 一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备方法,该透明导电薄膜包括依次连接的硅衬底、ITO薄膜L1层、BZO薄膜L2层、ITO薄膜L3层,其中,ITO薄膜L1层采用磁控溅射生长,BZO薄膜L2层采用LPCVD方法生长,ITO薄膜L3层采用磁控溅射生长。该透明导电薄膜层用于异质结太阳电池制备中,可以降低异质结电池的表面反射率,提高其短路电流密度,并保持良好的接触性能(不降低填充因子FF)。

Description

一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备 方法
技术领域
本发明属于新能源新材料领域,是一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备方法。
背景技术
硅异质结太阳电池是晶体硅太阳电池重要的发展方向,硅异质结太阳电池具有转化效率高、开路电压高、温度系数低、无光致衰减(LID)、无电致衰减(PID)、低制程工艺温度等优势。
硅异质结太阳电池与以PERC为代表的传统晶硅太阳相比,其最显著的区别在于由非晶硅于晶体硅形成的异质结PN结,而非晶硅的电导率显著低于晶体硅材料,因此在硅异质结太阳电池中,非晶硅层之上往往需要覆盖一层透明导电薄膜,用以提高载流子的收集效率。对比来看,由于非晶硅与透明导电薄膜的引入,硅异质结太阳电池的短路电流密度往往低于其他高效硅太阳电池。
本发明提出一种复合结构透明导电薄膜,通过采取ITO/BZO/ITO的复合三明治结构,降低了硅异质结电池表面反射率,提高了异质结太阳电池的短路电流密度。
发明内容
本发明解决的技术问题是:提供一种复合透明导电薄膜及其制备方法,可以降低异质结电池的表面反射率,提高其短路电流密度,并保持良好的接触性能。
本发明采用的技术方案如下:
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜,包括依次连接的硅衬底、ITO薄膜L1层、BZO薄膜L2层、ITO薄膜L3层。
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括如下步骤:
S1、在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L1层;
S2、在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长的40-60nm厚的BZO薄膜L2层;
S3、在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。
S4、将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。
优选的,所述步骤S1中,在金字塔绒面硅衬底上生长的ITO薄膜L1层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90。在金字塔单晶硅绒面衬底上生长ITO薄膜L1层的温度为室温。优选室温为25℃。磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60mW/cm2。磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
优选的,在所述步骤S1中,生长所述ITO薄膜L1层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间,O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
优选的,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的温度为170-190℃。气压为50-200Pa。
优选的,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的气氛为B2H6、DEZ以及H2O,且B2H6与H2O的流量比在介于1:2-1:6之间,DEZ与H2O的流量比在1:1-1:2之间。
优选的,在所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90。生长所述ITO薄膜L3层的温度为室温。优选室温为25℃。磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60 mW/cm2。磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
优选的,所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间。O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
优选的,生长所述ITO薄膜L3层的气氛中O2与Ar的流量比高于生长ITO薄膜L1层的O2与Ar的流量比。
优选的,所述步骤S4中,退火温度为180-200℃,退火气氛为大气气氛,退火时间为15-30min。
本发明的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备方法,采用以上方法制备得到的透明导电薄膜层用于异质结太阳电池制备中,可以降低异质结电池的表面反射率,提高其短路电流密度,并保持良好的接触性能(不降低填充因子FF)。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面结合具体实施方式对本发明作进一步的详细描述,但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于下述实施例。在不脱离本发明上述技术思想情况下,根据本领域普通技术知识和惯用手段,做出各种替换和变更,均应包括在本发明的范围内。
实施例1
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
步骤S1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L1层;其生长参数见表1所示,其中,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表1实施例1中ITO薄膜L1层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 5sccm 210sccm 0.5Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S2:在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长BZO薄膜L2层,其生长参数见表2所示。
表2实施例1中BZO薄膜L2层生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
180℃ 150sccm 450sccm 550sccm 100Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 40nm
步骤S3:在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。ITO薄膜L3层的生长参数见表3,其中采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表3实施例1中ITO薄膜L3层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 6sccm 210sccm 0.5Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S4:将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。退火参数见表4。
表4实施例1中复合透明导电薄膜的退火参数
Figure BDA0002802342240000041
Figure BDA0002802342240000051
实施例2:
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
步骤S1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L1层;其生长参数见表5所示,其中,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表5实施例2中ITO薄膜L1层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 3sccm 5sccm 280sccm 0.5Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S2:在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长BZO薄膜L2层,其生长参数见表6所示。
表6实施例2中BZO薄膜L2层生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
190℃ 215sccm 450sccm 550sccm 100Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 40nm
步骤S3:在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。ITO薄膜L3层的生长参数见表7,其中采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表7实施例2中ITO薄膜L3层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 3sccm 6sccm 280sccm 0.5Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S4:将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。退火参数见表8。
表8实施例2中复合透明导电薄膜的退火参数
温度 气压 时间
190℃ 1atm 20min
实施例3:
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
步骤S1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L1层;其生长参数见表9所示,其中,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表9实施例3中ITO薄膜L1层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 3sccm 5sccm 280sccm 0.4Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S2:在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长BZO薄膜L2层,其生长参数见表10所示。
表10实施例3中BZO薄膜L2层生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
170℃ 215sccm 450sccm 550sccm 150Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 40nm
步骤S3:在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。ITO薄膜L3层的生长参数见表11,其中采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表11实施例3中ITO薄膜L3层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 3sccm 6sccm 280sccm 0.4Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 20nm
步骤S4:将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。退火参数见表12。
表12实施例3中复合透明导电薄膜的退火参数
温度 气压 时间
190℃ 1atm 20min
实施例4
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
步骤S1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L1层;其生长参数见表13所示,其中,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为10:90。
表13实施例4中ITO薄膜L1层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 5sccm 250sccm 0.4Pa 60mW/cm<sup>2</sup> 10nm
步骤S2:在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长BZO薄膜L2层,其生长参数见表14所示。
表14实施例4中BZO薄膜L2层生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
180℃ 120sccm 380sccm 650sccm 200Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 60nm
步骤S3:在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。ITO薄膜L3层的生长参数见表15,其中采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为10:90。
表15实施例4中ITO薄膜L3层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 6sccm 250sccm 0.4Pa 60mW/cm<sup>2</sup> 10nm
步骤S4:将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。退火参数见表16。
表16实施例4中复合透明导电薄膜的退火参数
温度 气压 时间
180℃ 1atm 30min
实施例5
一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,包括以下步骤:
步骤S1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L1层;其生长参数见表17所示,其中,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表17实施例5中ITO薄膜L1层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 5sccm 250sccm 0.6Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 15nm
步骤S2:在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长BZO薄膜L2层,其生长参数见表18所示。
表18实施例5中BZO薄膜L2层生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
180℃ 120sccm 380sccm 650sccm 50Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 50nm
步骤S3:在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。ITO薄膜L3层的生长参数见表19,其中采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表19实施例5中ITO薄膜L3层生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 2sccm 6sccm 250sccm 0.6Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 15nm
步骤S4:将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。退火参数见表20。
表20实施例5中复合透明导电薄膜的退火参数
温度 气压 时间
180℃ 1atm 30min
对比例1:
单层ITO薄膜
步骤1:在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长单层ITO薄膜,生长参数见表21,采用ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95。
表21对比例1单层ITO薄膜生长参数
温度 H<sub>2</sub>流量 O<sub>2</sub>流量 Ar流量 压强 溅射功率 厚度
常温 3sccm 5sccm 280sccm 0.4Pa 30mW/cm<sup>2</sup> 80nm
步骤S2:将上述单层ITO薄膜进行高温退火。退火参数见表22。
表22对比例1中单层ITO薄膜的退火参数
温度 气压 时间
190℃ 1atm 20min
对比例2:
单层BZO薄膜
步骤1:在金字塔绒面硅衬底上采用LPCVD方法生长单层BZO薄膜,其生长参数见表23所示。
表23对比例2单层BZO薄膜生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
180℃ 215sccm 450sccm 550sccm 150Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 80nm
步骤S2:将上述单层BZO薄膜进行高温退火。退火参数见表24。
表24对比例2中单层BZO薄膜的退火参数
温度 气压 时间
190℃ 1atm 20min
对比例3:
单层BZO薄膜
步骤1:在金字塔绒面硅衬底上采用LPCVD方法生长单层BZO薄膜,其生长参数见表25所示。
表25对比例3单层BZO薄膜生长参数
温度 B<sub>2</sub>H<sub>6</sub>流量 DEZ流量 H<sub>2</sub>O流量 压强 功率密度 厚度
180℃ 215sccm 450sccm 550sccm 150Pa 40mW/cm<sup>2</sup> 80nm
测试:将上述实施例1-5制备的复合透明导电薄膜以及对比例1制备的单层ITO薄膜,对比例2-3所制备的单层BZO薄膜应用于异质结太阳电池的制备中。
太阳能电池的制备工艺:包括如下步骤:清洗、制绒、制备非晶硅钝化膜、制备发射极及背场、制备TCO、印刷并烘干电极。上述太阳电池的制备工艺除TCO(透明导电薄膜)工艺采用本发明的实施例和对比例工艺制备,其余工艺相同且同一炉进行制备。上述太阳能电池除TCO(透明导电薄膜)工艺采用本发明的实施例和对比例工艺制备,其余工艺步骤皆为现有太阳能电池制备工艺,为本领域技术人员所熟知,因此,在这里不再进行详细的阐述。实施例1-5和对比例1-3所制备的太阳能电池的性能结果如表26所示:
表26实施例1-3和对比例1-2的薄膜制备的太阳能电池的性能参数
试验组 V<sub>OC</sub>(mV) J<sub>SC</sub>(mA/cm<sup>2</sup>) FF(%) Eta(%)
实施例1 740.2 38.90 80.1 23.06
实施例2 739.5 38.88 79.9 22.97
实施例3 740.7 38.93 80.4 23.18
实施例4 740.1 39.16 79.8 23.12
实施例5 740.0 38.99 80.5 23.22
对比例1 739.4 38.52 80.2 22.84
对比例2 720.1 38.59 70.2 19.69
对比例3 740.5 38.96 77.6 22.39
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明。本领域普通技术人员显然可知,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜,其特征在于,包括依次连接的硅衬底、ITO薄膜L1层、BZO薄膜L2层、ITO薄膜L3层。
2.权利要求1所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L1层;
S2、在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长的40-60nm厚的BZO薄膜L2层;
S3、在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。
S4、将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。
3.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤S1中,在金字塔绒面硅衬底上生长的ITO薄膜L1层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90;在金字塔单晶硅绒面衬底上生长ITO薄膜L1层的温度为室温;磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60mW/cm2;磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
4.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S1中,生长所述ITO薄膜L1层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间,O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
5.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的温度为170-190℃;气压为50-200Pa。
6.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的气氛为B2H6、DEZ以及H2O,且B2H6与H2O的流量比在介于1:2-1:6之间,DEZ与H2O的流量比在1:1-1:2之间。
7.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90;生长所述ITO薄膜L3层的温度为室温;磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60mW/cm2;磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
8.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间。O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
9.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,生长所述ITO薄膜L3层的气氛中O2与Ar的流量比高于生长ITO薄膜L1层的O2与Ar的流量比。
10.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,所述步骤S4中,退火温度为180-200℃,退火气氛为大气气氛,退火时间为15-30min。
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