CN112595924B - 一种相位扰动检测装置 - Google Patents
一种相位扰动检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112595924B CN112595924B CN202011377365.8A CN202011377365A CN112595924B CN 112595924 B CN112595924 B CN 112595924B CN 202011377365 A CN202011377365 A CN 202011377365A CN 112595924 B CN112595924 B CN 112595924B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- port
- output
- circuit
- comparator
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
Abstract
本发明公开了一种相位扰动检测装置,将待测信号分成两路,其中两路的延时不同。两路延时不同的信号经过正交信号发生电路后,产生两路输出。这两路输出又送入反相器,产生另外两路输出。上述四路信号经过隔直电路和多路复用器,输出得到相位扰动。该相位扰动检测装置可以检测并反馈抑制振荡器的相位噪声,且该方案受输入信号幅度波动影响小,结构简单。
Description
技术领域
本发明涉及一种相位扰动检测装置,属于光电子和微波技术领域。
背景技术
相位扰动的测量电路可以用来解调通讯编码,基于相位扰动测量电路的调频信号的接收电路可以实现超宽带的性能。与此同时,相位扰动测量电路也可以用来反馈抑制振荡器的相位噪声,从而产生质量更高的参考源。因此对相位扰动测量电路的研究具有重要意义。
相位扰动提取技术一般采用延时的鉴频器结构。待测信号功分两路,一路延时而另一路不延时。移相器控制未延时输入信号的相位,使延时后的信号相位与未延时信号的相位正交。经过混频、滤波和放大以后,输出电压正比于相位扰动幅度。该技术需要额外的锁相环控制电路来保持正交的相位关系,增加了系统的复杂性。
而目前不需要稳定相位关系的相位扰动检测电路采用了正交解调电路和模拟乘法器。未延时和延时后的输入信号经过正交解调电路,得到相位正交的两路输出。再利用隔直电路和模拟乘法器,提取出输入信号的相位扰动。模拟乘法器噪声较高,功耗大。而且该方案容易受到输入信号幅度波动的影响,输出的电压正比于待测信号幅度的四次方,因而仅适用于幅度波动很小的待测信号。
发明内容
发明目的:针对上述现有技术,提出一种相位扰动检测装置,消除相位扰动测量电路对延时信号相位的要求,同时避免使用模拟乘法器导致的噪声高,功耗高,输出电压易受输入信号幅度波动影响的问题。
技术方案:一种相位扰动检测装置,包括功分延时模块、正交基带信号产生电路、第一反向器、第二反向器、第一隔直电路、第二隔直电路、第三隔直电路、第四隔直电路、多路复用器、第一比较器、第二比较器;
所述功分延时模块用于将测信号分成两路并经过不同延时后输入到正交基带信号产生电路的A输入端口和B输入端口,正交基带信号产生电路的I输出端口连接到第一反向器和第一隔直电路,第一反向器的输出连接到第二隔直电路;正交基带信号产生电路的Q输出端口连接到第二反向器和第四隔直电路,第二反向器的输出连接到第三隔直电路;
第一隔直电路、第二隔直电路、第三隔直电路以及第四隔直电路的输出分别对应连接到多路复用器的A、B、C、D输入端口,多路复用器选择其中一路输入电压,并通过S端口输出;
第一比较器的输出连接到多路复用器的控制位M,第二比较器的输出连接到多路复用器的控制位L;第一比较器和第二比较器的输入为正交基带信号产生电路的两路输出、第一反向器的输出、第二反向器输出的排列组合,使多路复用器输出电压的斜率随相位单调变化。
进一步的,所述功分延时模块中,功分单元采用电功分结构或光功分结构。
进一步的,所述正交基带信号产生电路采用I/Q混频电路,或采用耦合器和检波器的组合电路。
进一步的,所述功分延时模块包括功分单元、第一延时单元、第二延时单元;输入待测信号连接到功分单元的C端,功分单元的A输出端口经第一延时单元连接到正交基带信号产生电路的A输入端口,功分单元的B输出端口经第二延时单元连接到正交基带信号产生电路的B输入端口。
进一步的,所述功分延时模块包括激光器、光电调制器、第一光延时单元、第一光电探测器、第二光延时单元、第二光电探测器、光功分单元;激光器连接到光电调制器的A端口,输入待测信号连接到光电调制器的B端口,光电调制器的S端口输出光信号,并连接到光功分单元的S端口;光功分单元将光信号分为两路,其中一路经过端口A输出到第一光延时单元,另一路光信号经过端口B输出到第二光延时单元;第一光延时单元连接到第一光电探测器,第一光电探测器输出延时后的电信号,第二光延时单元连接到第二光电探测器,第二光电探测器输出另一路延时后的信号;第一光电探测器连接到正交基带信号产生电路的A输入端口,第二光电探测器连接到正交基带信号产生电路的B输入端口。
进一步的,所述正交基带信号产生电路采用I/Q混频电路,包括功分单元、第一混频器、第二混频器、正交耦合器、匹配电路;输入信号A连接到功分单元的S端,功分单元的A输出端连接到第一混频器的LO端;功分单元的B输出端连接到第二混频器的LO端;输入信号B连接到正交耦合器的S端,正交耦合器的的R端口与匹配电路连接,正交耦合器的I端口和Q端口输出相位相差90°的信号,正交耦合器的I端口连接到第一混频器的RF端,正交耦合器的Q端口连接到第二混频器的RF端;其中第一混频器的IF端与第二混频器的IF端输出相位相差90°的下变频信号。
进一步的,所述正交基带信号产生电路采用耦合器和检波器实现,包括功分单元、第一正交耦合器、第二正交耦合器、第三正交耦合器、第一检波电路、第二检波电路、第三检波电路、第四检波电路、第一减法单元、第二减法单元;
输入信号A连接到功分单元的S端口,功分单元的A输出端口与第一正交耦合器的R端口连接,功分单元的B输出端口与第二正交耦合器的S端口连接;
输入信号B连接到第三正交耦合器的S端口,第三正交耦合器的R端口与匹配电路连接,第三正交耦合器的R端口与匹配电路连接,第三正交耦合器的I端口与第一正交耦合器的S端口连接,第三正交耦合器的Q端口与第二正交耦合器的R端口连接;
第一正交耦合器的Q端口连接到第一检波电路,第一检波电路的输出连接到第一减法单元的A端口;第一正交耦合器的I端口连接到第二检波电路,第二检波电路的输出连接到第一减法单元的B端口,第一减法单元的S端口输出基频信号;
第二正交耦合器的I端口连接到第三检波电路,第三检波电路的输出连接到第二减法单元的B端口;第二正交耦合器的Q端口连接到第四检波电路,第四检波电路的输出连接到第二减法单元的A端口,第二减法单元的S端口输出基频信号;
第一减法单元的S端口输出的基频信号与第二减法单元的S端口输出的基频信号正交。
进一步的,定义:
①是正交基带信号产生电路的I输出端口;
②第一反向器的输出;
④是正交基带信号产生电路的Q输出端口;
③是第二反向器的输出;
输入到所述第一比较器和第二比较器的组合方式为:
第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到①、④、②、④;
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到④、①、④、②;
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、①;
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到②、③、①、③;
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到①、④、③、①。
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到④、①、①、③。
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、④。
或:第一比较器的(+)端、(-)端、第二比较器的(+)端、(-)端分别连接到②、③、②、④。
一种含相位扰动检测的振荡器,包括可调谐振荡器、环路滤波器以及所述的相位扰动检测装置;可调谐振荡器的输出连接到相位扰动检测装置,相位扰动检测装置的输出经过环路滤波器后连接到振荡器中的频率调谐端口。
有益效果:1、本发明提出了一种新型相位扰动检测方法与装置,无需对正交基带信号产生电路中A和B端输入信号的相位进行控制,简化了电路结构。
2、通过开关,选择4路中的一路进行输出,可以避免复杂的相位解调运算,因此功耗低,噪声低,速度快。
3、相较于已有的乘法器结构,该结构受输入信号幅度波动的影响较低。
附图说明
图1是实施例的相位扰动检测装置结构示意图;
图2是相位扰动检测装置的一种开关控制策略;
图3是分延时模块采用光延时的功分结构示意图;
图4是正交基带信号产生电路的混频器与耦合器实现的结构示意图;
图5是正交基带信号产生电路的检波器与耦合器实现的结构示意图;
图6是一种含相位扰动检测装置的振荡器。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做更进一步的解释。
实施例1
如图1所示,一种相位扰动检测装置,包括功分延时模块、正交基带信号产生电路4、第一反向器5、第二反向器6、第一隔直电路7、第二隔直电路8、第三隔直电路9、第四隔直电路10、多路复用器11、第一比较器12、第二比较器13。
其中,功分延时模块采用电功分结构,包括功分单元1、第一延时单元2、第二延时单元3。输入待测信号连接到功分单元1的C端,功分单元1的A输出端口经第一延时单元2连接到正交基带信号产生电路4的A输入端口,功分单元1的B输出端口经第二延时单元3连接到正交基带信号产生电路4的B输入端口。正交基带信号产生电路4的I输出端口连接到第一反向器5和第一隔直电路7,第一反向器5的输出连接到第二隔直电路8。正交基带信号产生电路4的Q输出端口连接到第二反向器6和第四隔直电路10,第二反向器6的输出连接到第三隔直电路9。第一隔直电路7、第二隔直电路8、第三隔直电路9以及第四隔直电路10的输出分别对应连接到多路复用器11的A、B、C、D输入端口,多路复用器11选择其中一路输入电压,并通过S端口输出。
如图4所示,正交基带信号产生电路4采用I/Q混频电路,包括功分单元401、第一混频器402、第二混频器403、正交耦合器404、匹配电路405。输入信号A连接到功分单元401的S端,功分单元401的A输出端连接到第一混频器402的LO端。功分单元401的B输出端连接到第二混频器403的LO端;输入信号B连接到正交耦合器404的S端,正交耦合器404的的R端口与匹配电路405连接,正交耦合器404的I端口和Q端口输出相位相差90°的信号,正交耦合器404的I端口连接到第一混频器402的RF端,正交耦合器404的Q端口连接到第二混频器403的RF端。其中第一混频器402的IF端与第二混频器403的IF端输出相位相差90°的下变频信号。
本实施例中,待测信号连接到功分单元1的C端口,将待测信号分成两路,功分后两路的功率可以是相同的也可以是不同的。功分单元1的A端口连接到第一延时单元2,功分单元1的B端口连接到第二延时单元3,第一延时单元2和第二延时单元3的延时时间不同。第一延时单元2的输出连接到正交基带信号产生电路4的A端口,第二延时单元3的输出连接到正交基带信号产生电路4的B端口。正交基带信号产生电路4对输入的信号进行移相、耦合、混频或检波处理。
正交基带信号产生电路4产生相位正交的两路输出,正交基带信号产生电路4的I端口输出连接到第一反向器5,产生反相的输出;正交基带信号产生电路4的Q端口输出连接到第二反向器6,也产生反相的输出。正交基带信号产生电路4的I端口输出、正交基带信号产生电路4的Q端口输出、第一反向器5的输出、第二反向器6的输出一共4路信号,构成了0°、90°、180°、270°的输出信号。这4路信号分别通过第一隔直电路7、第四隔直电路10、第二隔直电路8和第三隔直电路9产生隔离直流后的信号。被隔离直流后的信号通过开关进行选择,选择合适的信号进行输出,选择方式为4选1开关。
第一比较器12的输出连接到多路复用器11的控制位M,第二比较器13的输出连接到多路复用器11的控制位L。第一比较器12和第二比较器13的输入可以是①,②,③,④的某些排列组合方式。
其中:
①是正交基带信号产生电路4的I输出端口;
②是第一反向器5的输出;
④是正交基带信号产生电路4的Q输出端口;
③是第二反向器6的输出;
本实施例中,正交基带信号产生电路4的I端口输出连接到第一比较器12的(+)端,正交基带信号产生电路4的Q端口输出连接到第一比较器12的(-)端和第二比较器13的(-)端。第一反向器5的输出连接到第二比较器13的(+)端。第一比较器12的输出连接到多路复用器11的控制位M,第二比较器13的输出连接到多路复用器11的控制位L。
①、②、③、④对应的输出电压随正交基带信号产生电路4的A端口与B端口输入端信号的相位差的关系如图2所示。随着相位差的增加,①,②,③,④的斜率也随之变化。选取4条线中斜率最接近于1的信号,如图2中实线所示,经过隔直器和开关,作为最终输出。其中④通过第四隔直电路10连接到多路复用器11的D端口;①通过第一隔直电路7连接到多路复用器11的A端口;③通过第三隔直电路9连接到多路复用器11的C端口;②通过第二隔直电路8连接到多路复用器11的B端口。
开关的选择方式为:第一比较器12对①和④进行比较。当①>④时输出1,当①≤④时输出0。第一比较器12的输出结果连接到多路复用器11的M端口进行开关控制。第二比较器13对②和④进行比较。当②>④时输出1,当②≤④时输出0。第二比较器13的输出结果连接到多路复用器11的L端口进行开关控制。
当M=1,L=1时,多路复用器11的输出S端口与A端口相连,其他输入开路。
当M=0,L=0时,多路复用器11的输出S端口与B端口相连,其他输入开路。
当M=0,L=1时,多路复用器11的输出S端口与C端口相连,其他输入开路。
当M=1,L=0时,多路复用器11的输出S端口与D端口相连,其他输入开路。
在以上基础上,可以通过类似的方式,改变开关连接顺序,来选择①,②,③,④中斜率最接近于1或-1的信号,从而提取相位扰动。
实施例2
与实施例1的区别在于:功分延时模块中,功分单元采用光功分结构,如图3所示,包括激光器201、光电调制器202、第一光延时单元203、一光电探测器204、第二光延时单元205、第二光电探测器206、光功分单元207。激光器201连接到光电调制器202的A端口,输入待测信号连接到光电调制器202的B端口,光电调制器202的S端口输出光信号,并连接到光功分单元207的S端口。光功分单元207将光信号分为两路,其中一路经过端口A输出到第一光延时单元203,另一路光信号经过端口B输出到第二光延时单元205。第一光延时单元203连接到第一光电探测器204,第一光电探测器204输出延时后的电信号,第二光延时单元205连接到第二光电探测器206,第二光电探测器206输出另一路延时后的信号。第一光电探测器204连接到正交基带信号产生电路4的A输入端口,第二光电探测器206连接到正交基带信号产生电路4的B输入端口。
利用光延时可以实现低损耗,高延时的特点。相较于电延时方案,光延时的相位扰动测量灵敏度更高。
第一比较器12和第二比较器13的输入还可以是以下方式:
第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到④、①、④、②;
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、①;
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到②、③、①、③;
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到①、④、③、①。
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到④、①、①、③。
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、④。
或:第一比较器12的(+)端、(-)端、第二比较器13的(+)端、(-)端分别连接到②、③、②、④。
实施例3
与实施例1的区别在于:正交基带信号产生电路4采用耦合器和检波管实现,如图5所示。包括功分单元501、第一正交耦合器504、第二正交耦合器505、第三正交耦合器502、第一检波电路506、第二检波电路507、第三检波电路508、第四检波电路509、第一减法单元510、第二减法单元511。
输入信号A连接到功分单元501的S端口,功分单元501的A输出端口与第一正交耦合器504的R端口连接,功分单元501的B输出端口与第二正交耦合器505的S端口连接。输入信号B连接到第三正交耦合器502的S端口,第三正交耦合器502的R端口与匹配电路503连接,第三正交耦合器502的R端口与匹配电路503连接,第三正交耦合器502的I端口与第一正交耦合器504的S端口连接,第三正交耦合器502的Q端口与第二正交耦合器505的R端口连接。第一正交耦合器504的Q端口连接到第一检波电路506,第一检波电路506的输出连接到第一减法单元510的A端口。第一正交耦合器504的I端口连接到第二检波电路507,第二检波电路507的输出连接到第一减法单元510的B端口,第一减法单元510的S端口输出基频信号。第二正交耦合器505的I端口连接到第三检波电路508,第三检波电路508的输出连接到第二减法单元511的B端口;第二正交耦合器505的Q端口连接到第四检波电路509,第四检波电路509的输出连接到第二减法单元511的A端口,第二减法单元511的S端口输出基频信号。第一减法单元510的S端口输出的基频信号与第二减法单元511的S端口输出的基频信号正交。
实施例4
一种含相位扰动检测的振荡器,包括可调谐振荡器601、环路滤波器602以及相位扰动检测装置603。其中,相位扰动检测装置603为实施例1-3所述结构。可调谐振荡器601的输出连接到相位扰动检测装置603,相位扰动检测装置603的输出经过环路滤波器602以后连接到振荡器601中的频率调谐端口,用于控制振荡器601的频率或相位。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种相位扰动检测装置,其特征在于,包括功分延时模块、正交基带信号产生电路(4)、第一反向器(5)、第二反向器(6)、第一隔直电路(7)、第二隔直电路(8)、第三隔直电路(9)、第四隔直电路(10)、多路复用器(11)、第一比较器(12)、第二比较器(13);
所述功分延时模块用于将待测信号分成两路并经过不同延时后输入到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口和B输入端口,正交基带信号产生电路(4)的I输出端口连接到第一反向器(5)和第一隔直电路(7),第一反向器(5)的输出连接到第二隔直电路(8);正交基带信号产生电路(4)的Q输出端口连接到第二反向器(6)和第四隔直电路(10),第二反向器(6)的输出连接到第三隔直电路(9);
第一隔直电路(7)、第二隔直电路(8)、第三隔直电路(9)以及第四隔直电路(10)的输出分别对应连接到多路复用器(11)的A、B、C、D输入端口,多路复用器(11)选择其中一路输入电压,并通过S端口输出;
第一比较器(12)的输出连接到多路复用器(11)的控制位M,第二比较器(13)的输出连接到多路复用器(11)的控制位L;第一比较器(12)和第二比较器(13)的输入为正交基带信号产生电路(4)的两路输出、第一反向器(5)的输出、第二反向器(6)输出的排列组合,使多路复用器(11)输出电压的斜率随相位单调变化。
2.根据权利要求1所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块中,功分单元采用电功分结构或光功分结构。
3.根据权利要求1所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述正交基带信号产生电路(4)采用I/Q混频电路,或采用耦合器和检波器的组合电路。
4.根据权利要求2所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块包括功分单元(1)、第一延时单元(2)、第二延时单元(3);输入待测信号连接到功分单元(1)的C端,功分单元(1)的A输出端口经第一延时单元(2)连接到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口,功分单元(1)的B输出端口经第二延时单元(3)连接到正交基带信号产生电路(4)的B输入端口。
5.根据权利要求2所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块包括激光器(201)、光电调制器(202)、第一光延时单元(203)、第一光电探测器(204)、第二光延时单元(205)、第二光电探测器(206)、光功分单元(207);激光器(201)连接到光电调制器(202)的A端口,输入待测信号连接到光电调制器(202)的B端口,光电调制器(202)的S端口输出光信号,并连接到光功分单元(207)的S端口;光功分单元(207)将光信号分为两路,其中一路经过端口A输出到第一光延时单元(203),另一路光信号经过端口B输出到第二光延时单元(205);第一光延时单元(203)连接到第一光电探测器(204),第一光电探测器(204)输出延时后的电信号,第二光延时单元(205)连接到第二光电探测器(206),第二光电探测器(206)输出另一路延时后的信号;第一光电探测器(204)连接到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口,第二光电探测器(206)连接到正交基带信号产生电路(4)的B输入端口。
6.根据权利要求3所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述正交基带信号产生电路(4)采用I/Q混频电路,包括功分单元(401)、第一混频器(402)、第二混频器(403)、正交耦合器(404)、匹配电路(405);输入信号A连接到功分单元(401)的S端,功分单元(401)的A输出端连接到第一混频器(402)的LO端;功分单元(401)的B输出端连接到第二混频器(403)的LO端;输入信号B连接到正交耦合器(404)的S端,正交耦合器(404)的R端口与匹配电路(405)连接,正交耦合器(404)的I端口和Q端口输出相位相差90°的信号,正交耦合器(404)的I端口连接到第一混频器(402)的RF端,正交耦合器(404)的Q端口连接到第二混频器(403)的RF端;其中第一混频器(402)的IF端与第二混频器(403)的IF端输出相位相差90°的下变频信号。
7.根据权利要求3所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述正交基带信号产生电路(4)采用耦合器和检波器实现,包括功分单元(501)、第一正交耦合器(504)、第二正交耦合器(505)、第三正交耦合器(502)、第一检波电路(506)、第二检波电路(507)、第三检波电路(508)、第四检波电路(509)、第一减法单元(510)、第二减法单元(511);
输入信号A连接到功分单元(501)的S端口,功分单元(501)的A输出端口与第一正交耦合器(504)的R端口连接,功分单元(501)的B输出端口与第二正交耦合器(505)的S端口连接;
输入信号B连接到第三正交耦合器(502)的S端口,第三正交耦合器(502)的R端口与匹配电路(503)连接,第三正交耦合器(502)的I端口与第一正交耦合器(504)的S端口连接,第三正交耦合器(502)的Q端口与第二正交耦合器(505)的R端口连接;
第一正交耦合器(504)的Q端口连接到第一检波电路(506),第一检波电路(506)的输出连接到第一减法单元(510)的A端口;第一正交耦合器(504)的I端口连接到第二检波电路(507),第二检波电路(507)的输出连接到第一减法单元(510)的B端口,第一减法单元(510)的S端口输出基频信号;
第二正交耦合器(505)的I端口连接到第三检波电路(508),第三检波电路(508)的输出连接到第二减法单元(511)的B端口;第二正交耦合器(505)的Q端口连接到第四检波电路(509),第四检波电路(509)的输出连接到第二减法单元(511)的A端口,第二减法单元(511)的S端口输出基频信号;
第一减法单元(510)的S端口输出的基频信号与第二减法单元(511)的S端口输出的基频信号正交。
8.根据权利要求1-7任一所述的相位扰动检测装置,其特征在于,定义:
①是正交基带信号产生电路(4)的I输出端口;
②是第一反向器(5)的输出;
④是正交基带信号产生电路(4)的Q输出端口;
③是第二反向器(6)的输出;
输入到所述第一比较器(12)和第二比较器(13)的组合方式为:
第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到①、④、②、④;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到④、①、④、②;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、①;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到②、③、①、③;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到①、④、③、①;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到④、①、①、③;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到③、②、②、④;
或:第一比较器(12)的(+)端、(-)端、第二比较器(13)的(+)端、(-)端分别连接到②、③、②、④。
9.一种含相位扰动检测的振荡器,其特征在于,包括可调谐振荡器(601)、环路滤波器(602)以及如权利要求1-7任一所述的相位扰动检测装置(603);可调谐振荡器(601)的输出连接到相位扰动检测装置(603),相位扰动检测装置(603)的输出经过环路滤波器(602)后连接到振荡器(601)中的频率调谐端口。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011377365.8A CN112595924B (zh) | 2020-11-30 | 2020-11-30 | 一种相位扰动检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011377365.8A CN112595924B (zh) | 2020-11-30 | 2020-11-30 | 一种相位扰动检测装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112595924A CN112595924A (zh) | 2021-04-02 |
CN112595924B true CN112595924B (zh) | 2022-06-17 |
Family
ID=75187345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011377365.8A Active CN112595924B (zh) | 2020-11-30 | 2020-11-30 | 一种相位扰动检测装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112595924B (zh) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1147318A (zh) * | 1994-04-05 | 1997-04-09 | 亚特兰大科研公司 | 同步检波器以及用于同步检波的方法 |
US5786733A (en) * | 1995-12-04 | 1998-07-28 | Nec Corporation | Phase-locked oscillating circuit with a frequency fluctuation detecting circuit |
EP1600806A2 (en) * | 1995-08-01 | 2005-11-30 | California Institute Of Technology | Novel opto-electronic oscillators |
CN103197160A (zh) * | 2013-03-14 | 2013-07-10 | 东南大学 | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 |
CN107835055A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-03-23 | 北京大学 | 一种微波源相位噪声测量方法及系统 |
CN108964797A (zh) * | 2018-06-15 | 2018-12-07 | 浙江大学 | 一种基于鉴频法的微波信号源相位噪声自动化测量系统及方法 |
CN108957123A (zh) * | 2018-08-21 | 2018-12-07 | 南京航空航天大学 | 基于频率—相位斜率映射的微波频率测量方法及装置 |
CN109141490A (zh) * | 2018-09-20 | 2019-01-04 | 天津理工大学 | 一种扰动波形和位置同时测量的光纤传感装置和解调方法 |
CN111030684A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-04-17 | 东南大学 | 带有数字锁相环与数控振荡器的测量相位噪声与幅度噪声的装置与方法 |
CN111953342A (zh) * | 2020-08-10 | 2020-11-17 | 东南大学 | 一种带有主动抑制相位噪声电路的双环光电振荡器 |
-
2020
- 2020-11-30 CN CN202011377365.8A patent/CN112595924B/zh active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1147318A (zh) * | 1994-04-05 | 1997-04-09 | 亚特兰大科研公司 | 同步检波器以及用于同步检波的方法 |
EP1600806A2 (en) * | 1995-08-01 | 2005-11-30 | California Institute Of Technology | Novel opto-electronic oscillators |
US5786733A (en) * | 1995-12-04 | 1998-07-28 | Nec Corporation | Phase-locked oscillating circuit with a frequency fluctuation detecting circuit |
CN103197160A (zh) * | 2013-03-14 | 2013-07-10 | 东南大学 | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 |
CN107835055A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-03-23 | 北京大学 | 一种微波源相位噪声测量方法及系统 |
CN108964797A (zh) * | 2018-06-15 | 2018-12-07 | 浙江大学 | 一种基于鉴频法的微波信号源相位噪声自动化测量系统及方法 |
CN108957123A (zh) * | 2018-08-21 | 2018-12-07 | 南京航空航天大学 | 基于频率—相位斜率映射的微波频率测量方法及装置 |
CN109141490A (zh) * | 2018-09-20 | 2019-01-04 | 天津理工大学 | 一种扰动波形和位置同时测量的光纤传感装置和解调方法 |
CN111030684A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-04-17 | 东南大学 | 带有数字锁相环与数控振荡器的测量相位噪声与幅度噪声的装置与方法 |
CN111953342A (zh) * | 2020-08-10 | 2020-11-17 | 东南大学 | 一种带有主动抑制相位噪声电路的双环光电振荡器 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
Wang Ziye 等.Laser Phase Noise to Electronic Phase Noise Conversion in Optical Links Comprising Optical Resonators.《Current Optics and Photonics》.2018,第2卷(第5期), * |
曹哲玮 等.微波光链路和光电探测器残余相位噪声的测量.《红外与激光工程》.2016,第45卷(第7期), * |
贺梦婷 等.基于IQ解调的相位敏感OTDR的研究.《光通信技术》.2016,(第09期),27-30. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112595924A (zh) | 2021-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108614162B (zh) | 微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法 | |
CN110031832B (zh) | 一种微波光子多普勒频移测量系统及其调节方法 | |
KR100299281B1 (ko) | Fsk수신기에서의자동주파수제어 | |
CN103684611B (zh) | 一种相位稳定的毫米波生成系统 | |
CN104849629B (zh) | 微放电效应检测双路微波信号自动调零装置与方法 | |
CN110798212B (zh) | 一种时域交织波形合成时序失配校准装置及方法 | |
CN109842450B (zh) | 光子型可切换微波分频方法及装置 | |
CN110926511B (zh) | 一种宽带高分辨率光谱响应测量方法 | |
CN110535527B (zh) | 相干光接收机的频谱响应测量方法及装置 | |
CN112595924B (zh) | 一种相位扰动检测装置 | |
CN110149151B (zh) | 一种微波信号的二次变频光正交解调方法及系统 | |
US4321549A (en) | Switching quadrature detector | |
CN107733525B (zh) | 光电混合振荡锁相环 | |
CN104020386A (zh) | 最小时间信号泄漏检测器 | |
CN115327225A (zh) | 全光型微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数测量方法 | |
US7058377B1 (en) | Dual channel downconverter for pulsed radio frequency measurements | |
CN113055004A (zh) | 锁频电路、切换电路及切换方法 | |
KR100215296B1 (ko) | 한 개의 주파수혼합기를 사용하는 iq복조장치 및 방법 | |
SU1247783A1 (ru) | Устройство дл измерени парциальных продуктов модул ции | |
CN215340084U (zh) | 噪声系数测试电路及装置 | |
Grzegrzółka et al. | MTCA. 4 RTM Module for direct sampling based applications | |
SU951722A1 (ru) | Сверхвысокочастотный балансный смеситель | |
KR100307885B1 (ko) | 광 위상 동기 루프 회로 | |
RU2013008C1 (ru) | Устройство для контроля работоспособности супергетеродинного приемника | |
SU439766A1 (ru) | Устройство дл поверки фазометров |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |