CN103197160A - 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 - Google Patents
一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103197160A CN103197160A CN2013100802525A CN201310080252A CN103197160A CN 103197160 A CN103197160 A CN 103197160A CN 2013100802525 A CN2013100802525 A CN 2013100802525A CN 201310080252 A CN201310080252 A CN 201310080252A CN 103197160 A CN103197160 A CN 103197160A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- electronic
- electronic signal
- mixing
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Noise Elimination (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
Abstract
一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置。方法:取N个电子信号源,将每个电子信号源的信号分成两个部分,其中的一部分合波,输到被测电子装置中,将被测电子装置的电子输出信号分成N路,与N个电子信号源的另一部分混频,再输入至互相关信号处理器,用互相关信号处理器进行分析,得残余相位噪声测量结果,互相关处理后得到功率谱,计算出残余相位噪声。装置含N个不同频率的电子信号源、N个混频器及互相关信号处理器,各电子信号源的输出端上连功分器,其第一输出信号输至混频器,各功分器的第二输出端上的输出信号耦合后输至被测电子装置,将各个功分器E的输出信号分别作为各个混频器的另一个输入信号,最后输出至互相关信号处理器。
Description
所属技术领域
本发明属于电子技术领域,具体涉及电子器件和链路的电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置。
背景技术
在电子技术领域中,传统的电子器件和链路的残余相位噪声检测系统的一般组成是:一个单频率的电子信号源通过功分器分成两路,一路通过被测电子装置,然后经电子放大器放大后连至混频器的一端;另一路则经过电子延迟线连至混频器的另一端,电子延迟线中可包括移相器、放大器和衰减器。混频器的输出经过低通滤波器后连至互相关信号处理器,就可以根据互相关信号处理器获得的功率谱计算出被测电子装置的残余相位噪声。这种检测方法的关键是同一信号源分出的两路信号通过混频器后,则信号源的相位噪声被相干抑制,混频器输出端测得的是被测电子装置的残余相位噪声。另外还有在传统方法上作出了改进的载波抑制法,即在传统检测装置的基础上采用多个相同频率的信号源,提升了残余相位噪声测量的灵敏度。然而这些方法均存在着局限性,在测量大延时的长链路以及长链路中的某一器件的残余相位噪声时,由于两路信号的延时差较大,导致信号源的相位噪声在混频器时不能充分被抑制,造成相位噪声测量的灵敏度随链路的延时增大而显著恶化。本发明使用了一种“多频法”,即在残余相位噪声的测量时采用多个(大于1个且小于10000个)不同频率的信号源,可以克服传统方法的弊端,在测量长链路以及长链路中某一器件的残余相位噪声时的灵敏度显著优于传统方法。
发明内容
为了克服现有残余相位噪声测试方法的局限性,解决长链路中长延时导致电子信号源相位噪声不能完全相干抑制的弊端,本发明提供一种准确性高的电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置。
本发明采用如下技术方案:
一种电子装置残余相位噪声的检测方法,包括以下步骤:
步骤1分别取N个不同频率的电子信号源,其中至少有两个电子信号源的频率差大于0.001赫兹,将每个电子信号源的电子信号分成两个部分,再将每个电子信号中的一部分进行合波,输入到被测电子装置中,N为大于1且小于10000的整数,
步骤2接收被测电子装置的电子输出信号并将被测电子装置的电子输出信号分成N路,
步骤2.1将N个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第一个移相器后与N路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第一个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第一电子信号,再将混频后的第一电子信号输入至互相关信号处理器,利用互相关信号处理器对混频后的第一电子信号进行分析,得到第一通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤2.2将剩余N-1个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第二个移相器后与剩余N-1路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第二个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第二电子信号,再将混频后的第二电子信号输入至互相关信号处理器,得到第二通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
以此类推,直到剩余最后一个电子信号源中的另一部分电子信号通过第N个移相器后与剩余最后一路输出信号与混频,混频时调节第N个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第N电子信号,再将混频后的第N电子信号输入至互相关信号处理器,得到第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤3用互相关信号处理器对第一至第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测试结果进行互相关处理,得到互相关后的功率谱,
步骤4根据互相关后的功率谱计算出被测电子装置最终的残余相位噪声。
本发明所述的一种用于实现所述电子装置残余相位噪声的检测方法的装置,包括:N个不同频率的电子信号源、N个混频器M1,M2,...,MN-1,MN及互相关信号处理器,其中至少有两个信号源的频率差大于0.001赫兹,N为大于1且小于10000的整数,在各个电子信号源的输出端上分别连接有1×2功分器A1,A2,…,AN-1,AN,各个1×2功分器的第一输出端上的输出信号分别经移相器P1,P2...,PN-1,PN移相后作为各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第一输入端口的输入信号,各个1×2功分器的第二输出端上的输出信号经由耦合器耦合后形成的耦合信号作为被测电子装置的输入信号,被测电子装置的输出信号经多路功分器E形成N个功分器E的输出信号,各个功分器E的输出信号分别与各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第一输入端口的输入信号进行配对并将配对后的各个功分器E的输出信号分别作为各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第二输入端口的输入信号,各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的输出信号分别经低通滤波器L1,L2,...,LN-1,LN滤波后分别输出至互相关信号处理器的各个输入端。
本发明的有益效果是,当测量长链路以及长链路中某一器件的残余相位噪声时,通过使用不同频率的电子信号源且其中至少有两个电子信号源的频率差大于0.001赫兹,最后混频出来的直流信号项包含了各个电子信号源的相位噪声,并且它们是不相关的,因此可以通过互相关把电子信号源的相位噪声抑制掉,同时也可以降低测量系统中其它非被测电子装置的噪声对测量结果的影响。而使用单个电子信号源来作为被测电子装置的输入信号,即使分成多路,由于其相位噪声是相关的,因此无法利用不同测量通路之间的互相关处理来抑制信号源的相位噪声。而使用同一频率或频率差较小(其中任意两个的频率差小于0.001赫兹)的不同电子信号源来作为被测电子装置的输入信号,由于无法有效分离不同电子信号源下被测电子装置的残余相位噪声信息,因此即使用了互相关之后也无法有效抑制电子信号源的相位噪声对测量结果的影响。因此,通过使用不同频率的电子信号源可以显著提高被测电子装置残余相位噪声测量的灵敏度,使测试结果更接近被测电子装置真实的残余相位噪声。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是传统检测系统的系统原理图。
图2是本发明的第一个实施例的系统原理图。
图3是本发明多于两个频率源情况的系统原理图。
图4是第一个实施例与传统方法的测试结果对比图。
图5是本发明的基本方法流程图。
图1中f是一个单一频率的电子信号源,A是功分器,P是移相器,它有控制端,输入端和输出端三个端口,K是移相器的控制端,1是电子放大器,M是混频器,L是低通滤波器,F是互相关信号处理器,D是待测电子装置。图2中f1和f2是两个不同频率的电子信号源,A是功分器,B是耦合器,P是移相器,K是移相器P的控制端,1是电子放大器,M是混频器,L是低通滤波器,F是互相关信号处理器,D是待测电子装置,它可以是单独一个电子器件,比如电子放大器等;它也可以是链路中的某一器件,比如光电探测器等;它也可以是一个短链路或短延时模块,比如级联放大器模块等;它也可以是一个长链路,比如有长光纤的微波光链路等。图3中f1,f2...fN-1,fN(1<N<10000且N为整数)是频率各不相同的电子信号源,A1,A2,…,AN-1,AN是两路功分器,C是多路耦合器,D是被测电子装置,E是多路功分器,P1,P2...PN-1,PN是移相器,K1,K2...KN-1,KN分别对应P1,P2...PN-1,PN的控制端,M1,M2,...,MN-1,MN是混频器,L1,L2,...,LN-1,LN是低通滤波器,F是互相关信号处理器。
具体实施方式
一种电子装置残余相位噪声的检测方法,包括以下步骤:
步骤1分别取N个不同频率的电子信号源,其中至少有两个电子信号源的频率差大于0.001赫兹,将每个电子信号源的电子信号分成两个部分,再将每个电子信号中的一部分进行合波,输入到被测电子装置中,N为大于1且小于10000的整数,
步骤2接收被测电子装置的电子输出信号并将被测电子装置的电子输出信号分成N路,
步骤2.1将N个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第一个移相器后与N路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第一个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第一电子信号,再将混频后的第一电子信号输入至互相关信号处理器,利用互相关信号处理器对混频后的第一电子信号进行分析,得到第一通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤2.2将剩余N-1个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第二个移相器后与剩余N-1路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第二个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第二电子信号,再将混频后的第二电子信号输入至互相关信号处理器,得到第二通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
以此类推,直到剩余最后一个电子信号源中的另一部分电子信号通过第N个移相器后与剩余最后一路输出信号与混频,混频时调节第N个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第N电子信号,再将混频后的第N电子信号输入至互相关信号处理器,得到第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤3用互相关信号处理器对第一至第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测试结果进行互相关处理,得到互相关后的功率谱,
步骤4根据互相关后的功率谱计算出被测电子装置最终的残余相位噪声。
在图2所示实施例中,选取两个电子信号源频率分别为9Hz和9.5GHz,功率均为8dBm,待测电子装置D为一个电子光链路,链路中使用的DFB(Distributed Feedback)激光器功率为80mW,波长为1550nm,链路中光纤使用的是SMF-28单模光纤,长度为1米。移相器使用的是Sage公司的机械移相器,型号为6705-2,有控制端,输入端和输出端三个端口,调节它的控制端可以使经过该移相器的信号相位发生改变。系统运行时,保证两个混频器M两端的输入功率均为10dBm(使混频器工作在饱和状态)并调节移相器的控制端使每个混频器两端相同频率的信号相位差为90度,两个低通滤波器L的3dB带宽均为50MHz,远小于两个电子信号源频率差的绝对值。当系统达到稳定状态时,读取互相关信号处理器上的两个通道(Channel1和Channel2)的功率谱,经过校准后得到单通道的单边带残余相位噪声如图4虚线所示(即可以认为是用传统方法测得的相位噪声),在1kHz频偏相位噪声为-127dBc/Hz和-128dBc/Hz,在10kHz频偏相位噪声为-128dBc/Hz和-130dBc/Hz。设置互相关信号处理器的通道1和通道2进行互相关(Cross-correlation),经过校准后得到互相关后的残余相位噪声如图7实线所示,在1kHz频偏相位噪声为-140dBc/Hz,在10kHz频偏相位噪声为-145dBc/Hz。可以看到,使用本发明所测得的残余相位噪声比单通道(传统方法)要低得多,因为本发明很大程度上抑制了电子信号源的相位噪声对测量结果的影响,也可以认为,本发明测得的残余相位噪声更接近被测电子装置的真实残余相位噪声。
实施例2
一种用于实现所述电子装置残余相位噪声的检测方法的装置,包括:N个不同频率的电子信号源、N个混频器M1,M2,...,MN-1,MN及互相关信号处理器,其中至少有两个信号源的频率差大于0.001赫兹,N为大于1且小于10000的整数,在各个电子信号源的输出端上分别连接有1×2功分器A1,A2,…,AN-1,AN,各个1×2功分器的第一输出端上的输出信号分别经移相器P1,P2...PN-1,PN移相后作为各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第一输入端口的输入信号,各个1×2功分器的第二输出端上的输出信号经由多路耦合器(C)耦合后形成的耦合信号作为被测电子装置(D)的输入信号,被测电子装置的输出信号经多路功分器E形成N个功分器(E)的输出信号,各个功分器(E)的输出信号分别与各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第一输入端口的输入信号进行配对并将配对后的各个功分器(E)的输出信号分别作为各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的第二输入端口的输入信号,各个混频器M1,M2,...,MN-1,MN的输出信号分别经低通滤波器L1,L2,...,LN-1,LN滤波后分别输出至互相关信号处理器(F)的各个输入端。
Claims (2)
1.一种电子装置残余相位噪声的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1分别取N个不同频率的电子信号源,其中至少有两个电子信号源的频率差大于0.001赫兹,将每个电子信号源的电子信号分成两个部分,再将每个电子信号中的一部分进行合波,输入到被测电子装置中,N为大于1且小于10000的整数,
步骤2接收被测电子装置的电子输出信号并将被测电子装置的电子输出信号分成N路,
步骤2.1将N个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第一个移相器后与N路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第一个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第一电子信号,再将混频后的第一电子信号输入至互相关信号处理器,利用互相关信号处理器对混频后的第一电子信号进行分析,得到第一通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤2.2将剩余N-1个电子信号源中的任意一个电子信号源的另一部分电子信号通过第二个移相器后与剩余N-1路输出信号中的任意一路电子输出信号混频,混频时调节第二个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第二电子信号,再将混频后的第二电子信号输入至互相关信号处理器,得到第二通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
以此类推,直到剩余最后一个电子信号源中的另一部分电子信号通过第N个移相器后与剩余最后一路输出信号与混频,混频时调节第N个移相器使混频器两个输入端的电子信号中相同频率的电子信号相位差为90度,形成混频后的第N电子信号,再将混频后的第N电子信号输入至互相关信号处理器,得到第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测量结果,
步骤3用互相关信号处理器对第一至第N通道的被测电子装置的残余相位噪声测试结果进行互相关处理,得到互相关后的功率谱,
步骤4根据互相关后的功率谱计算出被测电子装置最终的残余相位噪声。
2.一种用于实现权利要求1所述电子装置残余相位噪声的检测方法的装置,其特征在于,包括:N个不同频率的电子信号源、N个混频器M1,M2...MN-1,MN及互相关信号处理器,其中至少有两个信号源的频率差大于0.001赫兹,N为大于1且小于10000的整数,在各个电子信号源的输出端上分别连接有1×2功分器A1,A2,…,AN-1,AN,各个1×2功分器的第一输出端上的输出信号分别经移相器P1,P2...PN-1,PN移相后作为各个混频器M1,M2...MN-1,MN的第一输入端口的输入信号,各个1×2功分器的第二输出端上的输出信号经由多路耦合器(C)耦合后形成的耦合信号作为被测电子装置(D)的输入信号,被测电子装置的输出信号经多路功分器E形成N个功分器(E)的输出信号,各个功分器(E)的输出信号分别与各个混频器M1,M2...MN-1,MN的第一输入端口的输入信号进行配对并将配对后的各个功分器(E)的输出信号分别作为各个混频器M1,M2...MN-1,MN的第二输入端口的输入信号,各个混频器M1,M2...MN-1,MN的输出信号分别经低通滤波器L1,L2...LN-1,LN滤波后分别输出至互相关信号处理器(F)的各个输入端。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310080252.5A CN103197160B (zh) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310080252.5A CN103197160B (zh) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103197160A true CN103197160A (zh) | 2013-07-10 |
CN103197160B CN103197160B (zh) | 2015-09-16 |
Family
ID=48719844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310080252.5A Expired - Fee Related CN103197160B (zh) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN103197160B (zh) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104777375A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-07-15 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种互相关相位噪声检测装置 |
CN105467229A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-04-06 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种基于光学自混频和互相关的相位噪声测量装置 |
CN105467228A (zh) * | 2015-11-11 | 2016-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于滑动互相关和余晖技术的相位噪声测量数据处理和显示装置及方法 |
CN110187197A (zh) * | 2019-04-11 | 2019-08-30 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
CN110716092A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-01-21 | 上海交通大学 | 基于激光鉴频和互相关处理的相位噪声测量装置和测量方法 |
CN110837009A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-02-25 | 上海交通大学 | 基于激光鉴相互相关算法的相位噪声测量装置和测量方法 |
CN111130660A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-05-08 | 天津津航计算技术研究所 | 一种相位噪声测量探头电路 |
CN112595924A (zh) * | 2020-11-30 | 2021-04-02 | 东南大学 | 一种相位扰动检测装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5053714A (en) * | 1989-05-19 | 1991-10-01 | Thomson-Csf | Measuring circuit of the additive phase noise characteristic of a component in the vicinity of a carrier frequency |
US20050238094A1 (en) * | 2004-04-21 | 2005-10-27 | Agilent Technologies, Inc. | Method and an apparatus for measuring phase noise |
JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
US7227346B1 (en) * | 2005-08-23 | 2007-06-05 | Timing Solutions Corporation | Two channel digital phase detector |
US20100048143A1 (en) * | 2007-03-13 | 2010-02-25 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co., Kg | Method and Device for Measuring Phase Noise |
CN102768302A (zh) * | 2012-07-18 | 2012-11-07 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种双通道数字化相位噪声检测装置及相位噪声检测方法 |
-
2013
- 2013-03-14 CN CN201310080252.5A patent/CN103197160B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5053714A (en) * | 1989-05-19 | 1991-10-01 | Thomson-Csf | Measuring circuit of the additive phase noise characteristic of a component in the vicinity of a carrier frequency |
US20050238094A1 (en) * | 2004-04-21 | 2005-10-27 | Agilent Technologies, Inc. | Method and an apparatus for measuring phase noise |
JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
US7227346B1 (en) * | 2005-08-23 | 2007-06-05 | Timing Solutions Corporation | Two channel digital phase detector |
US20100048143A1 (en) * | 2007-03-13 | 2010-02-25 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co., Kg | Method and Device for Measuring Phase Noise |
CN102768302A (zh) * | 2012-07-18 | 2012-11-07 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种双通道数字化相位噪声检测装置及相位噪声检测方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
夏飞飞 等: "相位噪声及其测量方法的探讨", 《电视工程》 * |
安捷伦科技(中国)有限公司: "安捷伦相位噪声测量解决方案", 《百度文库》 * |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104777375A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-07-15 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种互相关相位噪声检测装置 |
CN105467229A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-04-06 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种基于光学自混频和互相关的相位噪声测量装置 |
CN105467228A (zh) * | 2015-11-11 | 2016-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于滑动互相关和余晖技术的相位噪声测量数据处理和显示装置及方法 |
CN105467228B (zh) * | 2015-11-11 | 2019-02-26 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于滑动互相关和余晖技术的相位噪声测量数据处理和显示装置及方法 |
CN110187197B (zh) * | 2019-04-11 | 2021-07-27 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
CN110187197A (zh) * | 2019-04-11 | 2019-08-30 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
CN110716092A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-01-21 | 上海交通大学 | 基于激光鉴频和互相关处理的相位噪声测量装置和测量方法 |
CN110837009A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-02-25 | 上海交通大学 | 基于激光鉴相互相关算法的相位噪声测量装置和测量方法 |
CN110716092B (zh) * | 2019-10-22 | 2021-09-07 | 上海交通大学 | 基于激光鉴频和互相关处理的相位噪声测量装置和测量方法 |
CN111130660A (zh) * | 2019-12-16 | 2020-05-08 | 天津津航计算技术研究所 | 一种相位噪声测量探头电路 |
CN111130660B (zh) * | 2019-12-16 | 2022-04-19 | 天津津航计算技术研究所 | 一种相位噪声测量探头电路 |
CN112595924A (zh) * | 2020-11-30 | 2021-04-02 | 东南大学 | 一种相位扰动检测装置 |
CN112595924B (zh) * | 2020-11-30 | 2022-06-17 | 东南大学 | 一种相位扰动检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103197160B (zh) | 2015-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103197160A (zh) | 一种电子装置残余相位噪声的检测方法及其装置 | |
US8009983B2 (en) | High loss loop back for long repeater span | |
CN102201864B (zh) | 一种多通道光器件的损耗测试装置 | |
CN102156139B (zh) | 用电磁波相位测量微波器件无源互调发生点的方法和系统 | |
CN106850066B (zh) | 基于双偏振调制器实现多普勒频移测量的方法 | |
US8929731B2 (en) | Apparatus for measuring performance of coherent optical receiver | |
CN102589586B (zh) | 一种同步多通道光纤光栅传感解调系统 | |
CN107782993B (zh) | 一种数字相关器的测试系统及方法 | |
CN102778663B (zh) | 一种基于光电融合技术的相位噪声校准装置 | |
CN104917042B (zh) | 应用于光纤时频传递的低噪声高对称性的双向光放大器 | |
WO2016010528A1 (en) | Ultra-compact wavelength meter | |
CN107749777A (zh) | 一种光纤故障定位装置及故障定位方法 | |
CN113138065B (zh) | 一种基于多模式传输反射分析少模光纤故障的装置及方法 | |
CN109286124A (zh) | 激光线宽压缩方法及系统 | |
CN104363047A (zh) | 基于双通道马赫曾德尔调制器的光矢量网络分析仪系统 | |
CN105136909A (zh) | 一种基于阵列波导光栅的多通道声发射传感解调系统 | |
CN107271769A (zh) | 基波对消技术无源互调测试系统及其测试方法 | |
CN104243019B (zh) | 一种光信噪比测试方法和装置 | |
KR20040054122A (ko) | 광신호대잡음비 감시장치 | |
CN202562496U (zh) | 一种同步多通道光纤光栅传感解调系统 | |
CN105910728B (zh) | 高空间分辨率拉曼测温传感器及测温方法 | |
CN104753591A (zh) | 一种监测光信噪比的方法及装置 | |
EP3399646A1 (en) | Amplifier arrangement and method | |
CN108024162B (zh) | 一种实现全分布式光纤传感网络的光交换路由结构及其方法 | |
US9335221B2 (en) | Device for processing an optical pulse to measure the contrast of this pulse, and contrast measurement system using the device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C53 | Correction of patent of invention or patent application | ||
CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Yang Chun Inventor after: Cao Zhewei Inventor before: Yang Chun |
|
COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: INVENTOR; FROM: YANG CHUN TO: YANG CHUN CAO ZHEWEI |
|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20150916 Termination date: 20190314 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |