CN112577958A - 量子点检测装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种量子点检测装置和方法，量子点检测装置包括：光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、待测品台、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；所述透射光采集光路用于获取光线的亮度信息，所述光谱采集光路用于获取光线的光谱信息；还包括输出单元，用于根据所述亮度信息和所述光谱信息计算并输出所述光线的光子数信息。本发明能够解决透射光外量子效率难以直接测量的技术问题，实现了对量子点膜激发的透射光外量子效率的检测，检测精度高。

Description

量子点检测装置和方法

技术领域

本发明涉及一种量子点检测装置和方法，属于有机发光显示技术领域。

背景技术

Micro-led显示技术具备高亮度、低功耗、高解析度、高色彩饱和度，以及更长的使用寿命等优点，因而被应用在了越来越多的显示面板中。量子点膜是实现Micro-led彩色化的方案之一，其可以通过使用单色的蓝光二极管或者紫外发光二极管结合量子点材料实现高色域的显示效果。

量子点膜的外量子效率会影响Micro-led的显示效果，因此，可以通过外量子效率来评估量子点膜的质量。现有技术中，通常采用荧光光谱仪来评估量子点膜的外量子效率。

然而，荧光光谱仪多用于测量反射光量子效率，而量子点膜需要测量的是透射光外量子效率，这也使得荧光光谱仪的测量结果不能很好地反映量子点膜激发的透射光外量子效率，导致量子点膜的性能评估结果不准确。

发明内容

本发明提供一种量子点检测装置和方法，以解决透射光外量子效率难以直接测量问题，提高对量子点膜激发的透射光外量子效率的检测精度。

本发明提供一种量子点检测装置，包括光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜之后分别经过所述透射光采集光路和所述光谱采集光路；所述透射光采集光路用于获取光线的亮度信息，所述光谱采集光路用于获取光线的光谱信息；还包括输出单元，用于根据所述亮度信息和所述光谱信息计算并输出所述光线的光子数信息。实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

如上所述的装置，可选地，还包括：安装有反光镜的光路切换机构；所述光路切换机构用于对所述透射光采集光路和所述光谱采集光路的切换。实现光路的自由切换，简化装置结构和操作流程。

如上所述的装置，可选地，所述透射光采集光路包括：后置透镜和图像传感器；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜、所述后置透镜之后被所述图像传感器接收；所述图像传感器获取光线的亮度信息。通过透射光采集光路获取光线的亮度信息。

如上所述的装置，可选地，还包括：距离调节机构；所述前置透镜安装在所述距离调节机构上，所述前置透镜通过所述距离调节机构调整与所述图像传感器之间的距离。实现成像焦距的调整，使得图像传感器能够拍摄到清晰的图像。

如上所述的装置，可选地，所述光谱采集光路包括：会聚透镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜之后被所述光路切换机构中的反光镜反射，形成反射光，所述反射光经过所述会聚透镜之后被所述光谱仪接收；所述光谱仪获取光线的光谱信息。可以通过光谱仪直接采集不同波长的光线的光谱信息。

如上所述的装置，可选地，所述光源为积分标准光源或者LED阵列光源。通过设置标准光源可以使其发出的光线更加稳定均匀，保证测量结果的准确性。

如上所述的装置，可选地，所述待测品台的位置与所述图像传感器的位置为共轭关系，保证图像传感器获取的图像的质量。

如上所述的装置，可选地，所述前置透镜和所述后置透镜相同，保证图像传感器采集到的图像质量，以便于获取图像的亮度信息。

本发明还提供一种量子点检测方法，应用于上述任一所述的量子点检测装置，所述方法包括：

将待检测量子点膜置于所述待测品台；

通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息；

通过光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；

根据所述光线经过量子点膜后的亮度信息和所述光线经过量子点膜后的光谱信息，获取光线经过量子点膜后的光子数；

将所述光线经过量子点膜后的光子数除以光源激发的光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。直接用透射光发射光谱的光子数除以标准光源激发光光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率，方法简单，实用性强。

如上所述的方法，可选地，在通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息之前，还包括：

获取光源激发的光子数；

优选地，所述获取光源激发的光子数包括：

通过透射光采集光路获取未放置量子点膜时，光源的亮度信息；

通过光谱采集光路获取未放置量子点膜时，光源的光谱信息；

根据所述光源的亮度信息和所述光源的光谱信息，获取光源的光子数。可以通过将量子点膜移出光路、前后调节前置透镜位置，保证了数值孔径保持不变，简化了计算过程。

本发明提供的量子点检测装置和方法，通过在光源、滤色片、待测品台、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、待测品台、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线的亮度信息，光谱采集光路获取光线的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对光线的亮度信息和光谱信息的采集，并通过输出单元根据采集到的亮度信息和光谱信息计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。此外，这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本发明构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本发明的概念。

图1为本发明实施例中量子点检测装置的另一种实施方式的结构示意图；

图2为本发明实施例中量子点检测装置的还一种实施方式的结构示意图；

图3为本发明实施例中量子点检测装置的一种光路示意图；

图4为本发明实施例中量子点检测装置的另一种光路示意图；

图5为本发明实施例提供的量子点检测方法的流程图。

附图标记说明：

100-光源；

110-滤色片；

120-量子点膜(待测品台)；

130-前置透镜；

140-后置透镜；

150-图像传感器；

160-会聚透镜；

170-光谱仪；

180-反光镜；

190-光路切换机构。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

实施例一

本发明提供一种量子点检测装置，该量子点检测装置包括光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路。光源发出的光线依次经过滤色片、待测品台、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路。其中，待测品台用于放置待测量子点膜。当未设置待测量子点膜时，光线可以直接穿过待测品台。透射光采集光路用于获取光线的亮度信息，光谱采集光路用于获取光线的光谱信息。该量子点检测装置还包括输出单元，该输出单元用于根据亮度信息和光谱信息计算并输出光线的光子数信息，亮度信息和光谱信息反映了光线的光子数，光线的光子数与量子点膜的透射光外量子效率相关，此装置实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。同时通过一套装置的两个光路实现对亮度信息和光谱信息的采集，该装置简单、方便，易于推广使用。

在一种可能的实施方式中，该量子点检测装置还包括安装有反光镜的光路切换机构，该光路切换机构用于对透射光采集光路和光谱采集光路的切换。本实施例中的这种设计方式，可以实现光路的自由切换，简化了装置结构和操作流程。

在一种可能的实施方式中，透射光采集光路包括后置透镜和图像传感器，光源发出的光线依次经过滤色片、待测品台、前置透镜、后置透镜之后被图像传感器接收，该图像传感器获取光线的亮度信息。

在一种可能的实施方式中，该量子点检测装置还包括距离调节机构，前置透镜安装在距离调节机构上，前置透镜通过距离调节机构调整与图像传感器之间的距离。进一步的，后置透镜的位置和图像传感器的位置固定，从而可以轻松实现成像焦距的调整，使得图像传感器能够拍摄到清晰的图像。

在一种可能的实施方式中，光谱采集光路包括：会聚透镜和光谱仪，光源发出的光线依次经过滤色片、待测品台、前置透镜之后被光路切换机构中的反光镜反射，形成反射光，反射光经过会聚透镜之后被光谱仪接收；光谱仪获取光线的光谱信息。可以通过光谱仪直接采集不同波长的光线的光谱信息。

在一种可能的实施方式中，光源为积分标准光源或者LED阵列光源。通过设置标准光源可以使其发出的光线更加稳定均匀，保证测量结果的准确性。

在一种可能的实施方式中，前置透镜和后置透镜相同，可保证图像传感器采集到的图像质量，以便于获取图像的亮度信息。

本实施例中，由于亮度信息和光谱信息反映了光子数，光子数与量子点膜的透射光外量子效率相关。通过在光源、滤色片、待测品台、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；通过一套装置的两个光路实现对光线的亮度信息和光谱信息的采集，从而可以通过输出单元根据亮度信息和光谱信息计算出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

实施例二

图1为本发明实施例中量子点检测装置的一种实施方式的结构示意图。如图1所示，本实施例提供一种量子点检测装置，包括光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路。本实施例中以待测品台中放置待测量子点膜为例进行说明。透射光采集光路用于获取光线经过量子点膜后的亮度信息；光谱采集光路用于获取光线经过量子点膜后的光谱信息。该装置还包括输出单元(图中未示出)，用于根据亮度信息和光谱信息计算并输出光线的光子数信息。经过量子点膜后的亮度信息和经过量子点膜后的光谱信息反映了经过量子点膜后的光子数，经过量子点膜后的光子数与量子点膜的透射光外量子效率相关。

本实施例中，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；通过一套装置的两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，从而可以根据亮度信息和光谱信息计算出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

在一种可能的实施方式中，还包括：安装有反光镜的光路切换机构；光路切换机构用于执行对透射光采集光路和光谱采集光路的切换。

本实施例中的这种设计方式，可以实现光路的自由切换，简化了装置结构和操作流程。

可选地，光路切换机构可以是带限位的磁性装置，反光镜只有在光谱采集时旋入透射光采集光路，其余时间旋出。当检测透射光亮度时，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后，最后进入透射光采集光路，得到光线经过量子点膜后的亮度信息。当检测光谱信息时，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后被光路切换机构中的反光镜反射，形成反射光，反射光进入光谱采集光路，得到光线经过量子点膜后的光谱信息。

在一种可能的实施方式中，光源为积分标准光源或者LED阵列光源。

本实施例中，通过设置标准光源可以使其发出的光线更加稳定均匀，保证测量结果的准确性。

具体地，由于量子点膜和光源都为朗伯体光源，两者进入光路的数值孔径角相同，所以可以直接用透射光发射光谱的光子数除以标准光源激发光光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。另外，本实施例还可以根据不同的激发光选择不同透过光谱的滤色片。

本实施例，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息，光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，并根据采集到的亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

实施例三

图2为本发明实施例中量子点检测装置的还一种实施方式的结构示意图。如图2所示，本实施例提供一种量子点检测装置，包括光源、滤色片、待测品台、前置透镜、后置透镜、图像传感器、会聚透镜和光谱仪。本实施例中以待测品台中放置待测量子点膜为例进行说明。其中，后置透镜和图像传感器构成透射光采集光路，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜、后置透镜之后被图像传感器接收，用于获取光线经过量子点膜后的亮度信息。其中，会聚透镜和光谱仪构成光谱采集光路，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜、后置透镜之后被光谱仪接收，用于获取光线经过量子点膜后的光谱信息。该装置还包括输出单元(图中未示出)，用于根据亮度信息和光谱信息计算并输出光线的光子数信息。经过量子点膜后的亮度信息和经过量子点膜后的光谱信息反映了经过量子点膜后的光子数，经过量子点膜后的光子数与量子点膜的透射光外量子效率相关。

本实施例中，通过图像传感器和后置透镜组成的透射光采集光路获取光经过量子点膜后的亮度信息；通过会聚透镜和光谱仪构成的光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息。从而可以通过一套装置的两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，从而可以根据亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

在一种可能的实施方式中，还包括：距离调节机构。前置透镜安装在距离调节机构上，可以前后移动。其中，前置透镜和后置透镜相同，且对称放置。进一步的，后置透镜的位置和图像传感器的位置固定。量子点膜(待测品台)的位置与图像传感器的位置为共轭关系，形成一对物象关系，前置透镜通过距离调节机构的前后移动调整与图像传感器之间的距离，用于调焦。

本实施例中，将后置透镜的位置和图像传感器的位置固定，通过距离调节机构调整前置透镜与图像传感器之间的距离，从而可以实现成像焦距的调整，使得图像传感器能够拍摄到清晰的图像。

在一种可能的实施方式中，还包括：安装有反光镜的光路切换机构；光路切换机构用于执行对透射光采集光路和光谱采集光路的切换。

本实施例中，通过光路切换机构实现光路的自由切换，简化了装置结构和操作流程。

可选地，光路切换机构可以是带限位的磁性装置，反光镜只有在光谱采集时旋入透射光采集光路，其余时间旋出。当检测透射光亮度时，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜、后置透镜之后被图像传感器接收，用于获取光线经过量子点膜后的亮度信息。当检测光谱信息时，光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后被光路切换机构中的反光镜反射，形成反射光，反射光经过会聚透镜之后，最后进入光谱仪，得到光线经过量子点膜后的光谱信息。

在一种可能的实施方式中，光源为积分标准光源或者LED阵列光源。

本实施例中，通过设置标准光源可以使其发出的光线更加稳定均匀，保证测量结果的准确性。由于量子点膜和光源都为朗伯体光源，两者进入光路的数值孔径角相同，所以可以直接用透射光发射光谱的光子数除以标准光源激发光光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。另外，本实施例还可以根据不同的激发光选择不同透过光谱的滤色片。

本实施例，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息，光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，并根据采集到的亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

实施例四

本实施例中以待测品台中放置待测量子点膜为例进行说明。图3为本发明实施例中量子点检测装置的一种光路示意图；如图3所示，本实施例提供一种量子点检测装置，包括光源100、滤色片110、量子点膜120、前置透镜130、后置透镜140、图像传感器150、会聚透镜160、光谱仪170、安装有反光镜180的光路切换机构190。后置透镜140和图像传感器150构成透射光采集光路，用于获取光线经过量子点膜后的亮度信息。会聚透镜160和光谱仪170构成光谱采集光路用于获取光线经过量子点膜后的光谱信息。如图3所示，当检测透射光亮度时，光路切换机构190驱动反光镜180旋转出透射光采集光路，前后调节前置透镜130位置，使量子点膜120与图像传感器150共轭。因此，光源100发出的光线依次经过滤色片110、量子点膜120、前置透镜130、后置透镜140之后被图像传感器150接收，用于获取光线经过量子点膜120后的亮度信息。

本实施例，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息，光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，并根据采集到的亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

实施例五

本实施例中以待测品台中放置待测量子点膜为例进行说明。图4为本发明实施例中量子点检测装置的另一种光路示意图；如图4所示，本实施例提供一种量子点检测装置，包括光源100、滤色片110、量子点膜120、前置透镜130、后置透镜140、图像传感器150、会聚透镜160、光谱仪170、安装有反光镜180的光路切换机构190。后置透镜140和图像传感器150构成透射光采集光路，用于获取光线经过量子点膜后的亮度信息。会聚透镜160和光谱仪170构成光谱采集光路用于获取光线经过量子点膜后的光谱信息。如图4所示，当检测光谱信息时，光路切换机构190驱动反光镜180旋转入透射光采集光路。因此，光源100发出的光线依次经过滤色片110、量子点膜120、前置透镜130之后被光路切换机构190中的反光镜180反射，形成反射光，反射光经过会聚透镜160之后，最后进入光谱采集光路，得到光线经过量子点膜120后的光谱信息。

此外，根据光谱信息和图像传感器上不同颜色通道的亮度信息，可以计算出标准光源经量子点膜后的不同波长的光子数。由于量子点膜和积分标准光源都为朗伯体光源，两者进入光路的数值孔径角相同，所以可以直接用透射光发射光谱的光子数除以标准光源激发光光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。

本实施例，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息，光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，并根据采集到的亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

实施例六

图5为本发明实施例提供的量子点检测方法的流程图。

请参见图5，本发明实施例还提供一种量子点检测方法，采用上述图1～图4中所示的量子点检测装置，该方法可以包括：

S101、通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息。

本实施例中，可以构建如图3所示的光路，将待检测量子点膜120置于待测品台(滤色片110和前置透镜130之间)，将光路切换机构190驱动反光镜180旋转出透射光采集光路，前后调节前置透镜130位置，使量子点膜120与图像传感器150共轭。因此，光源100发出的光线依次经过滤色片110、量子点膜120、前置透镜130、后置透镜140之后被图像传感器150接收，用于获取光线经过量子点膜120后的亮度信息。

S102、通过光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息。

本实施例中，可以构建如图4所示的光路，将光路切换机构190驱动反光镜180旋转入透射光采集光路。因此，光源100发出的光线依次经过滤色片110、量子点膜120、前置透镜130之后被光路切换机构190中的反光镜180反射，形成反射光，反射光经过会聚透镜160之后，最后进入光谱采集光路，得到光线经过量子点膜120后的光谱信息。

需要说明的是，本实施例不限定步骤S101、步骤S102的执行顺序；步骤S101、步骤S102的执行顺序不影响本实施例方法的实施。

S103、根据光线经过量子点膜后的亮度信息和光线经过量子点膜后的光谱信息，获取光线经过量子点膜后的光子数。

本实施例中，可以根据光谱信息和图像传感器上不同颜色通道的亮度信息，可以通过输出单元计算并输出标准光源经量子点膜后的不同波长的光子数。

S104、将光线经过量子点膜后的光子数除以光源激发的光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。

本实施例中，由于量子点膜和积分标准光源都为朗伯体光源，两者进入光路的数值孔径角相同，所以可以直接用透射光发射光谱的光子数除以标准光源激发光光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。

在一种可能的实施方式中，在通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息之前，还包括：获取光源激发的光子数。获取光源激发的光子数，包括：

通过透射光采集光路获取未放置量子点膜时，光源的亮度信息；

通过光谱采集光路获取未放置量子点膜时，光源的光谱信息；

根据光源的亮度信息和光源的光谱信息，获取光源的光子数。

具体地，只需要将量子点膜移出光路，并进行光源的亮度信息、光源的光谱信息检测，即可得到光源的光子数，具体过程可参照S101～S103，此处不再赘述。本实施，可以通过将量子点膜移出光路、前后调节前置透镜位置，保证了数值孔径保持不变，简化了计算过程。

本实施例，通过在光源、滤色片、量子点膜、前置透镜之后设置透射光采集光路和光谱采集光路，使得光源发出的光线依次经过滤色片、量子点膜、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；其中，透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息，光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；从而能够通过两个光路实现对量子点膜激发的透射光的亮度信息和光谱信息的采集，并根据采集到的亮度信息和光谱信息通过输出单元计算并输出光子数，最后通过光子数计算出透射光外量子效率，实现了对透射光外量子效率的直接检测，测量精度高。

此外，在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“层叠”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种量子点检测装置，其特征在于，包括光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜之后分别经过所述透射光采集光路和所述光谱采集光路；所述透射光采集光路用于获取光线的亮度信息，所述光谱采集光路用于获取光线的光谱信息；还包括输出单元，用于根据所述亮度信息和所述光谱信息计算并输出所述光线的光子数信息。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：安装有反光镜的光路切换机构；所述光路切换机构用于对所述透射光采集光路和所述光谱采集光路的切换。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述透射光采集光路包括：后置透镜和图像传感器；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜、所述后置透镜之后被所述图像传感器接收；所述图像传感器获取光线的亮度信息。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，还包括：距离调节机构；所述前置透镜安装在所述距离调节机构上，所述前置透镜通过所述距离调节机构调整与所述图像传感器之间的距离。

5.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述光谱采集光路包括：会聚透镜和光谱仪，所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、所述待测品台、所述前置透镜之后被所述光路切换机构中的反光镜反射，形成反射光，所述反射光经过所述会聚透镜之后被所述光谱仪接收；所述光谱仪获取光线的光谱信息。

6.根据权利要求1-4任一所述的装置，其特征在于，所述光源为积分标准光源或者LED阵列光源。

7.根据权利要求1-6任一所述的装置，其特征在于，所述待测品台的位置与所述图像传感器的位置为共轭关系。

8.根据权利要求3-7任一项所述的装置，其特征在于，所述前置透镜和所述后置透镜相同。

9.一种量子点检测方法，其特征在于，应用在如权利要求1-8中任一项所述的装置中，所述方法包括：将待检测量子点膜置于所述待测品台；

通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息；

通过光谱采集光路获取光线经过量子点膜后的光谱信息；

根据所述光线经过量子点膜后的亮度信息和所述光线经过量子点膜后的光谱信息，获取光线经过量子点膜后的光子数；

将所述光线经过量子点膜后的光子数除以光源激发的光子数，得到量子点膜的透射光外量子效率。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，在通过透射光采集光路获取光线经过量子点膜后的亮度信息之前，还包括：

获取光源激发的光子数；

优选地，所述获取光源激发的光子数包括：

通过透射光采集光路获取未放置量子点膜时，光源的亮度信息；

通过光谱采集光路获取未放置量子点膜时，光源的光谱信息；

根据所述光源的亮度信息和所述光源的光谱信息，获取光源的光子数。

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