CN113418895A - 用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置 - Google Patents

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Abstract

一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置,能量出射分系统将生成的发射光发射至标准反射镜;能量采集分系统接收发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将第一反射光转换为第一图像数据;能量出射分系统再将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;能量采集分系统还用于接收发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将第二反射光转换为第二图像数据;电控分系统根据第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面的反射率,由此,本发明基于图像传感器光电转换工作原理,将能量值之比转换为采集图像的灰度值之比,从而确定望远镜的镜面反射率。

Description

用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置
技术领域
本发明涉及光学器件参数测量技术领域,具体涉及一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置。
背景技术
地基光学望远镜广泛应用于天文观测、航天测控、卫星导航等领域。望远镜的镜面反射率的性能直接影响望远镜的探测能力,望远镜的镜面往往根据需求镀膜,以提高其在使用波段的反射率。目前望远镜的镜面反射率测量的主要是以下两种方式:
(1)基于分光光度计的反射率测量。该方法通过将光源分束后,入射光和反射光同时测量,测量速度快,精度高,测量精度可达0.1%,但需将被测望远镜的镜面固定于测试台上,且镜面方向固定,同时需保证整个测试系统处于无杂光干扰状态,另外考虑到项目进度等因素,往往选择陪镀片代替望远镜的镜面的方式完成反射率测量,因此该方法仅适用于实验室条件下小尺寸镜面的反射率测量,难以满足外场对已装配望远镜的镜面反射率的测量需求;
(2)人员目视检查。望远镜部署在外场长期使用后,裸露在大气中的镜面因附着尘埃、鸟粪或膜层脱落,极易造成反射性能下降,导致望远镜的探测能力变差,该方法主观性强,受人员经验影响大,无法为望远镜的镜面反射率提供定量评价。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置,解决了在望远镜在外场使用时,无法准确测量其镜面反射率的问题。
根据第一方面,一种实施例中提供一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量装置,包括:
能量出射分系统,用于生成预设波长的发射光,并将所述发射光发射至标准反射镜;
能量采集分系统,用于接收所述发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将所述第一反射光转换为第一图像数据,输出所述第一图像数据;
所述能量出射分系统还用于将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;
所述能量采集分系统还用于接收所述发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将所述第二反射光转换为第二图像数据,输出所述第二图像数据;
电控分系统,用于接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在一实施例中,所述电控分系统还用于:
控制能量出射分系统生成预设波长的发射光;
设置能量采集分系统中的相机参数使其能够采集到图像数据,所述图像数据包括第一图像数据和第二图像数据。
在一实施例中,所述能量出射分系统包括:
焦面组件,用于生成预设波长的发射光,并发射所述发射光;
准直组件,用于调节所述发射光的发射方向,以使所述发射光按照预设光路进行发射。
在一实施例中,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据所述第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值;
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定所述发射光的能量值;
根据所述第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值;
根据所述发射光的能量值和所述第二反射光的能量值,确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在一实施例中,所述能量采集分系统包括:
成像镜头,用于接收入射光,并将所述入射光聚焦至COMS相机,所述入射光包括所述第一反射光和/或第二反射光;
CMOS相机,用于对所述成像镜头聚焦的入射光进行成像,得到图像数据,所述图像数据包括第一图像数据和/或第二图像数据。
在一实施例中,所述能量出射分系统还包括:
电源模块,用于对焦面组件、准直组件进行供电。
在一实施例中,还包括:
壳体,包括上壳体和下壳体,所述上壳体与下壳体匹配安装,形成一密闭腔体;
设于壳体端面的窗口;
所述焦面组件设置于壳体中的腔体中,所述焦面组件包括光源和星点靶标,所述光源与星点靶标连接,光源用于生成预设波长的发射光,所述发射光通过星点靶标发射至所述准直组件;
所述准直组件设置于壳体中的腔体中,所述准直组件包括镜筒座、镜头筒、平行光管和可调光阑,所述镜头座固定于所述壳体上,所述镜头筒安装在镜头座上,所述平行光管设于镜头筒中的腔体中,所述镜头筒的一个端面与焦面组件连接,另一端面与可调光阑连接,其中,所述发射光经过镜头筒中的平行光管后形成平行光束,平行光束经过可调光阑后通过壳体端面的窗口发射至标准反射镜或者望远镜的被测镜面。
在一实施例中,所述成像镜头和CMOS相机设于壳体中的腔体中,所述成像镜头与CMOS相机连接;
其中,所述成像镜头通过壳体端面的窗口接收入射光,并将所述入射光聚焦至COMS相机。
根据第二方面,一种实施例中提供一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法,包括:
能量出射分系统生成预设波长的发射光,并将所述发射光发射至标准反射镜;
能量采集分系统接收所述发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将所述第一反射光转换为第一图像数据,输出所述第一图像数据;
能量出射分系统将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;
能量采集分系统接收所述发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将所述第二反射光转换为第二图像数据,输出所述第二图像数据;
电控分系统接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在一实施例中,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据所述第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值;
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定所述发射光的能量值;
根据所述第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值;
根据所述发射光的能量值和所述第二反射光的能量值,确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
依据上述实施例的用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法和装置,能量出射分系统将生成的发射光发射至标准反射镜;能量采集分系统接收发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将第一反射光转换为第一图像数据;能量出射分系统再将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;能量采集分系统还用于接收发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将第二反射光转换为第二图像数据;电控分系统接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面的反射率,由此,本发明基于图像传感器光电转换工作原理,将能量值之比转换为采集图像的灰度值之比,从而确定望远镜的镜面反射率。
附图说明
图1为一种实施例的用于大口径望远镜的镜面反射率测量装置的结构框图;
图2为一种实施例的用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法的流程图;
图3为图1所示镜面反射率测量装置的一种具体结构示意图;
图4为图1所示镜面反射率测量装置的另一种具体结构示意图;
图5为大口径望远镜被测镜面与镜面反射率测量装置的结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中,很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而,本领域技术人员可以毫不费力的认识到,其中部分特征在不同情况下是可以省略的,或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下,本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述,这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没,而对于本领域技术人员而言,详细描述这些相关操作并不是必要的,他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
另外,说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时,方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此,说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例,并不意味着是必须的顺序,除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。
请参考图1,图1为一种实施例的用于大口径望远镜的镜面反射率测量装置的结构框图,镜面反射率测量装置包括:能量出射分系统10、能量采集分系统20和电控分系统30。
能量出射分系统10用于生成预设波长的发射光,并将该发射光发射至望远镜的标准反射镜41。本实施例中的标准反射镜41为其镜面反射率已知的反射镜。
能量出射分系统10还用于将所生成的预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面42。
在本实施例中,能量出射分系统生成的发射光的波长在400nm~1000nm波段内,其可以等间隔依次发射400nm~1000nm波段内的波长,例如,以400nm为起始,每间隔50nm生成对应波长的发射光。
本实施例中能量出射分系统10包括焦面组件101、准直组件102,其中:
焦面组件101用于生成预设波长的发射光,并发射所述发射光。在本实施例中,焦面组件101为准直组件提供照明和目标,焦面组件101包括卤钨灯光源搭配带通滤光片和星点靶标。其中,光源由卤钨灯搭配400nm~1000nm波段、间隔50nm带通滤光片构成,滤光片安装于光源箱内部的切换轮上进行自动切换,通过切换滤光片可提供预设不同波长的单色发射光,然后通过耦合至光纤后照射星点靶标,得到不同波长的单色发射光。
准直组件102用于调节发射光的发射方向,以使上述发射光按照预设光路进行发射。在本实施例中,准直组件102包括平行光管和可调光阑,焦面组件发射的发射光经过平行光管后得到平行光,通过可调光阑对平行光光束直径进行调整。
此外,本实施例提供的能量出射分系统还包括:电源模块,电源模块用于对焦面组件、准直组件进行供电。
请参考图3,图3为一种实施例的镜面反射率测量装置的结构示意图,
在本实施例中,为提高能量采集分系统所采集的光的准确性,能量出射分系统采用准直光学系统投射无穷远星点目标,同时为避免光束宽度大、未精确对准等因素造成部分准直光无法进入能量采集分系统的口径问题,在准直光学系统前设计有可调光阑,用于调节出射光束直径,可保证光束更容易进入能量采集机分系统的口径内。
能量采集分系统20用于接收发射光经标准反射镜41反射后返回的第一反射光,并将第一反射光转换为第一图像数据,输出第一图像数据。
能量采集分系统20还用于接收发射光经望远镜的被测镜面42反射后返回的第二反射光,并将第二反射光转换为第二图像数据,输出第二图像数据。
在一实施例中,可以先控制能量出射分系统10按照预设间隔依次发射多个预设波长的发射光至标准反射镜,发射光经标准反射镜反射返回的第一反射光传输至能量采集分系统20,可得到多个预设波长分别对应的第一图像数据。然后,控制能量出射分系统10同样按照预设间隔依次发射多个预设波长的发射光至望远镜的被测镜面,发射光经被测镜面反射返回的第二反射光传输至能量采集分系统20,可得到多个预设波长分别对应的第二图像数据。
在另一实施例中,先控制能量出射分系统10先发射一个预设波长的发射光至标准反射镜,然后,再发射同样预设波长的发射光至望远镜的被测镜面。等间隔调整能量出射分系统发射的发射光的预设波长,重复上述操作,最终也能得到每个预设波长对应的第一图像数据和第二图像数据。
本实施例中,在能量出射分系统10将发射光发射至标准反射镜41时,需将标准反射镜41设置在能量出射分系统发射光所在的预设光路上;在能量出射分系统10将发射光发射至望远镜的被测镜面42时,需将望远镜的被测镜面42设置在能量出射分系统10发射光所在的预设光路上。
在本实施例中,能量采集分系统20包括:成像镜头201和CMOS相机202,其中,成像镜头201用于接收入射光,并将入射光聚焦至COMS相机,入射光包括第一反射光和/或第二反射光。CMOS相机202用于对成像镜头聚焦的入射光进行成像,得到图像数据,其中,图像数据包括第一图像数据和/或第二图像数据。
在本实施例中,能量采集分系统采用远心光学镜头(成像镜头)搭配CMOS相机设计,成像镜头的远心光路设计可降低轴外环境杂光对计算采集光斑灰度的影响,减小图像数据分析的难度,提高反射率计算精度。
CMOS相机中包括光电转换探测器,根据光电转换探测器工作原理,在光电转换探测器的感光单元上,入射的光子会转化为电子,用量子效率QE=ne/np来表示光子到电子的转化效率,其中ne为电子的数量,np为光子的数量,量子效率的大小是由光电转换探测器的成像芯片决定的。由于光的能量值与光子数成正比,光电转换探测器将接收到的光子转换成的电子,输出图像数据的灰度值与电子数成正比,因此本实施例可以将光的能量值之比等效为图像数据的灰度值之比。
电控分系统30用于接收第一图像数据和第二图像数据,并确定第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在本实施例中,电控分系统30采用Canny算子、霍夫圆变换的提取方式,对第一图像数据和第二图像数据内的星点目标(发射光或反射光所形成的目标)进行判别,提取目标图像区域。再对采集到的目标图像区域进行多帧平均、去燥处理,获取目标图像区域的灰度值,即第一图像数据中目标图像区域对应的灰度值和第二图像数据中目标图像区域对应的灰度值。
在一实施例中,根据第二图像数据对应的灰度值和第一图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值I0r(λ)。
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定入射至标准反射镜的光的能量值,也就是发射光的能量值Ii(λ)。
根据所述第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值Ir(λ)。
根据所述发射光的能量值Ii(λ)和所述第二反射光的能量值Ir(λ),确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
根据以下公式得到被测镜面对于预设波长的光的反射率:
Figure BDA0003140911460000071
其中,Ii(λ)为波长为λ的发射光的能量值,Ir(λ)波长为λ的第二反射光的能量值,R(λ)为被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在本实施例中,第一图像数据中目标图像区域对应的灰度值与第一反射光的能量值呈正比,同理,第二图像数据中目标图像区域对应的灰度值与第二反射光的能量值呈正比。
最终完成望远镜的被测镜面反射率的测量后,电控分系统生成测量结果报告,并保存测量结果报告,生成预设格式的报告文件。
针对外场已装配的望远镜,现阶段尚无用于外场镜面反射率的测量仪器,本发明可以解决该问题。现有望远镜镜面反射率通常是在装配前在实验室条件下使用分光光度计对小尺寸镜面(陪镀片)进行测量,无法应用于已装配的望远镜,更难支持外场环境。本发明不仅在外场方面使用,也可以在前期研制过程中对已经装配的望远镜实时掌握镜面反射率情况。本发明具有质量轻、可灵活移动安装、占地面积小、成本低、对外界光环境要求小、使用方便的优点。
请参考图2,图2为一种实施例的用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法的流程图,所述的镜面反射率测量方法包括以下步骤:
步骤100,能量出射分系统生成预设波长的发射光,并将发射光发射至标准反射镜。
步骤200,能量采集分系统接收发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将第一反射光转换为第一图像数据,输出第一图像数据。
步骤300,能量出射分系统将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面。
步骤400,能量采集分系统接收所述发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将第二反射光转换为第二图像数据,输出第二图像数据。
步骤500,电控分系统接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
在一实施例中,根据第二图像数据对应的灰度值和第一图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值。
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定发射光的能量值。
根据第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值。
根据发射光的能量值和所述第二反射光的能量值,确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
需要说明的是,本实施例提供的镜面反射率测量方法为上述实施例提供的镜面反射率测量装置对应的方法,其具体实施方式已在上述实施例中进行了详细说明,此处不再赘述。
请参考图3和图4,图3为图1所示镜面反射率测量装置的一种具体结构示意图,图4为图1所示镜面反射率测量装置的另一种具体结构示意图,所述的镜面反射率测量装置包括壳体301、窗口302、焦面组件303、准直组件304、成像镜头305和CMOS相机306。
其中,壳体301包括上壳体3011和下壳体3012,上壳体3011与下壳体3012匹配安装,形成一密闭腔体。
窗口302设于壳体端面。
焦面组件303设置于壳体中的腔体中,焦面组件303包括光源和星点靶标,光源与星点靶标连接,光源用于生成预设波长的发射光,发射光通过星点靶标发射至准直组件304。
准直组件304设置于壳体301中的腔体中,准直组件304包括镜筒座3041、镜头筒3042、平行光管和可调光阑3043,镜头座3041固定于壳体301上,镜头筒3042安装在镜头座3041上,平行光管设于镜头筒3042中的腔体中,镜头筒3042的一个端面与焦面组件303连接,另一端面与可调光阑3043连接,其中,发射光经过镜头筒中的平行光管后形成平行光束,平行光束经过可调光阑后3043通过壳体端面的窗口发射至标准反射镜或者望远镜的被测镜面。
成像镜头305和CMOS相机306设于壳体301中的腔体中,成像镜头305与CMOS相机306连接。
其中,成像镜头305通过壳体端面的窗口302接收入射光,并将入射光聚焦至COMS相机306。
由于本实施例所提供的镜面反射率测量装置用于大口径望远镜,因此镜面反射率测量装置的尺寸相比于大口径望远镜较小,需通过人为手持镜面反射率测量装置在大口径望远镜中移动位置来调整镜面反射率测量装置的位置信息。请参考图5,图5为大口径望远镜被测镜面与镜面反射率测量装置的结构示意图,其中大口径望远镜包括望远镜次镜401、望远镜主镜402和望远镜镜筒403,镜面反射率测量装置404由操作人员手持放入大口径望远镜中,根据测量需求,调整镜面反射率测量装置404在大口径望远镜中的位置。
以上应用了具体个例对本发明进行阐述,只是用于帮助理解本发明,并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员,依据本发明的思想,还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (10)

1.一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量装置,其特征在于,包括:
能量出射分系统,用于生成预设波长的发射光,并将所述发射光发射至标准反射镜;
能量采集分系统,用于接收所述发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将所述第一反射光转换为第一图像数据,输出所述第一图像数据;
所述能量出射分系统还用于将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;
所述能量采集分系统还用于接收所述发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将所述第二反射光转换为第二图像数据,输出所述第二图像数据;
电控分系统,用于接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
2.如权利要求1所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,所述电控分系统还用于:
控制能量出射分系统生成预设波长的发射光;
设置能量采集分系统中的相机参数使其能够采集到图像数据,所述图像数据包括第一图像数据和第二图像数据。
3.如权利要求1所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,所述能量出射分系统包括:
焦面组件,用于生成预设波长的发射光,并发射所述发射光;
准直组件,用于调节所述发射光的发射方向,以使所述发射光按照预设光路进行发射。
4.如权利要求1所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据所述第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值;
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定所述发射光的能量值;
根据所述第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值;
根据所述发射光的能量值和所述第二反射光的能量值,确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
5.如权利要求3所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,所述能量采集分系统包括:
成像镜头,用于接收入射光,并将所述入射光聚焦至COMS相机,所述入射光包括所述第一反射光和/或第二反射光;
CMOS相机,用于对所述成像镜头聚焦的入射光进行成像,得到图像数据,所述图像数据包括第一图像数据和/或第二图像数据。
6.如权利要求3所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,所述能量出射分系统还包括:
电源模块,用于对焦面组件、准直组件进行供电。
7.如权利要求5所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,还包括:
壳体,包括上壳体和下壳体,所述上壳体与下壳体匹配安装,形成一密闭腔体;
设于壳体端面的窗口;
所述焦面组件设置于壳体中的腔体中,所述焦面组件包括光源和星点靶标,所述光源与星点靶标连接,光源用于生成预设波长的发射光,所述发射光通过星点靶标发射至所述准直组件;
所述准直组件设置于壳体中的腔体中,所述准直组件包括镜筒座、镜头筒、平行光管和可调光阑,所述镜头座固定于所述壳体上,所述镜头筒安装在镜头座上,所述平行光管设于镜头筒中的腔体中,所述镜头筒的一个端面与焦面组件连接,另一端面与可调光阑连接,其中,所述发射光经过镜头筒中的平行光管后形成平行光束,平行光束经过可调光阑后通过壳体端面的窗口发射至标准反射镜或者望远镜的被测镜面。
8.如权利要求7所述的镜面反射率测量装置,其特征在于,所述成像镜头和CMOS相机设于壳体中的腔体中,所述成像镜头与CMOS相机连接;
其中,所述成像镜头通过壳体端面的窗口接收入射光,并将所述入射光聚焦至COMS相机。
9.一种用于大口径望远镜的镜面反射率测量方法,其特征在于,包括:
能量出射分系统生成预设波长的发射光,并将所述发射光发射至标准反射镜;
能量采集分系统接收所述发射光经标准反射镜反射后返回的第一反射光,并将所述第一反射光转换为第一图像数据,输出所述第一图像数据;
能量出射分系统将预设波长的发射光发射至望远镜的被测镜面;
能量采集分系统接收所述发射光经被测镜面反射后返回的第二反射光,并将所述第二反射光转换为第二图像数据,输出所述第二图像数据;
电控分系统接收第一图像数据和第二图像数据,并确定所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
10.如权利要求9所述的镜面反射率测量方法,其特征在于,根据所述第一图像数据对应的灰度值和第二图像数据对应的灰度值确定被测镜面对于预设波长的光的反射率,包括:
根据所述第一图像数据对应的灰度值,确定第一反射光的能量值;
根据第一反射光的能量值和标准反射镜的反射率,确定所述发射光的能量值;
根据所述第二图像数据对应的灰度值,确定第二反射光的能量值;
根据所述发射光的能量值和所述第二反射光的能量值,确定被测镜面对于预设波长的光的反射率。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114047593A (zh) * 2022-01-14 2022-02-15 中国人民解放军63921部队 光学测量设备的轻量化SiC主镜支撑机构

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106124162A (zh) * 2016-06-13 2016-11-16 首航节能光热技术股份有限公司 一种便携式镜面反射率测试仪
EP3489665A1 (fr) * 2017-11-22 2019-05-29 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Système de surveillance de la dégradation et de l'encrassement d'un miroir
CN112834462A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 反射镜反射率的测量方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106124162A (zh) * 2016-06-13 2016-11-16 首航节能光热技术股份有限公司 一种便携式镜面反射率测试仪
EP3489665A1 (fr) * 2017-11-22 2019-05-29 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Système de surveillance de la dégradation et de l'encrassement d'un miroir
CN112834462A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 反射镜反射率的测量方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114047593A (zh) * 2022-01-14 2022-02-15 中国人民解放军63921部队 光学测量设备的轻量化SiC主镜支撑机构
CN114047593B (zh) * 2022-01-14 2022-04-08 中国人民解放军63921部队 光学测量设备的轻量化SiC主镜支撑机构

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