CN112577456B - 测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：获取若干级判定物料组；获取判定物料组的每一判定物料的测量值；将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；若第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率；根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。通过本发明的测量设备点检方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。

Description

测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及电池PACK制造领域，特别涉及一种测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质。

背景技术

传统的判定方式是定做一个完全模仿锂离子电池的外形尺寸来加工制作的标定块，尺寸精准，经专业检测机构鉴定，具备尺寸标准值，测量设备在测量标定块之后，比较测量值与标定值之间的差异，从而判定测量设备的稳定性。

但是在实际情况中，由于产品的结构形状、光泽度等因素，制作标定块的难度非常大，成本极高，甚至无法制作；仿形标定块极其难以加工，耗费大量人力，时间和资金去验证，实际结果不理想，不能实现测量设备的准确点检。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种测量设备点检方法，直接对实际产品进行点检，无需定制标定块，减少成本，同时能够符合点检要求。

根据本发明第一方面实施例的测量设备点检方法，包括以下步骤：

获取若干级判定物料组，其中，所述判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；

获取判定物料使用频次最高对应的所述判定物料组的每一判定物料的测量值；

将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一所述判定物料的单点偏差率；

根据每一所述判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；

根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；

若所述第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；

根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。

根据本发明实施例的测量设备准确性判定方法，至少具有如下技术效果：通过本发明的测量设备准确性判定方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。

根据本发明的一些实施例，在所述获取每一所述判定物料的单点偏差率之后，所述测量设备点检方法包括以下步骤：

若所述单点偏差率小于第一预设值，则判定为合格，进行下一个单点偏差率的判定；或，

若所述单点偏差率大于所述第一预设值，则判定为不合格，重新获取当前所述单点偏差率，再次对重新获取的单点偏差率进行判定。

根据本发明的一些实施例，所述根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性，包括：

若所述第一平均偏差率小于第二预设值，则确定测量设备准确性合格。

根据本发明的一些实施例，所述若所述第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，还包括：

若所述第一平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前所述第一平均偏差率；

将重新获取的第一平均偏差率与所述第二预设值进行比较；

若重新获取的第一平均偏差率大于所述第二预设值，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率。

根据本发明的一些实施例，所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，包括：

若所述第二平均偏差率小于所述第二预设值，则确定所述测量设备准确性合格。

根据本发明的一些实施例，还包括以下步骤：所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，还包括以下步骤：

若所述第二平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第三平均偏差率；

根据所述第三平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。

根据本发明的一些实施例，还包括以下步骤：

存储所述单点偏差率与所述第一平均偏差率；

根据所述单点偏差率，输出单点偏差结果；

根据所述第一平均偏差率，输出平均偏差结果。

根据本发明的一些实施例，所述将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，包括：

将所述判定物料组的每一判定物料与初测值数据库进行匹配，获取所述判定物料组的每一判定物料对应的初测值；

根据每一所述测量值、所述初测值与公差，计算得到每一所述判定物料的单点偏差率。

根据本发明第二方面实施例的运行控制装置，包括：至少一个控制处理器，以及与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器；

其中，所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个控制处理器执行，以使所述至少一个控制处理器能够执行上述第一方面所述的测量设备点检方法。

根据本发明第三方面实施例的计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行上述第一方面所述的测量设备点检方法。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明；

图1为本发明实施例的测量设备点检方法的流程示意图；

图2为本发明实施例的判定单点偏差率的流程示意图；

图3为本发明实施例的确定测量设备的准确性的流程示意图；

图4为本发明实施例的根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性的流程示意图；

图5为本发明实施例的获取每一判定物料的单点偏差率的流程示意图；

图6为本发明另一实施例的运行控制装置的示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

下面参考附图描述根据本发明实施例的测量设备点检方法。

如图1所示，根据本发明实施例的测量设备点检方法，包括以下步骤：

S100：获取若干级判定物料组，其中，判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；

S200：获取判定物料使用频次最高对应的判定物料组的每一判定物料的测量值；

S300：将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；

S400：根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；

S500：根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；

S600：若第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；

S700：根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。

判定物料来自生产方与客户均进行过相关性测量并被双方认可的物料，且该物料从实际产品中选取。在本具体实施例中，判定物料组有三组，分别为一级判定物料组、二级判定物料组、三级判定物料组。一级判定物料组即工作物料组，在以下情况使用：每日点检测量设备准确性时使用；在测量设备发生故障并完成修复后使用；使用频次为每班一次。二级判定物料组即校准物料组，在以下情况使用：在需要鉴定测量设备准确性以及校准测量设备时使用；在一级判定物料组无法判定测量设备准确性时使用；使用频次相较一级判定物料组中的物料使用频次低。三级判定物料组即鉴定物料组，在以下情况使用：在需要鉴定测量设备准确性和与客户方的相关性时使用；在第二判定物料组无法判定测量设备准确性时使用；使用频次最低。每组判定物料组包括八个判定物料，每个判定物料的测量值包含17个尺寸。

通过获取一级判定物料组、二级判定物料组和三级判定物料组并区分各自的使用场景，保证点检的准确性，防止因使用频次较高的判定物料组的判定物料在多次点检中产生损坏或形变而对测量设备的点检结果错误判定。在上述及后续的步骤中，在无特别说明的情况下，默认先采用一级判定物料组进行系统点检。

将各级判定物料组的第一次测量的原始测量值存储在初测值数据库中，在点检时，将所用的判定物料组的测量值与初测值数据库进行匹配，得到对应的判定物料组的初测值。通过初测值数据库，可以将各类不同的判定物料组的初测值存储在其中，在点检时，通过匹配调取对应判定物料组的初测值，实现兼容多种不同设备的点检。

判定物料组除了可以为三组，且分别为一级判定物料组、二级判定物料组和三级判定物料组外，在本发明的其他实施例中，判定物料组还可以设置为四组、五组、六组等。以四组判定物料组为例：判定物料组设置有四组时，判定物料组分别为一级判定物料组、二级判定物料组、三级判定物料组和四级判定物料组，并且从一级判定物料组至四级判定物料组的使用频次逐渐降低；其中，一级判定物料组的使用频次最高，为工作物料组，四级判定物料组的使用频次最低，在需要鉴定测量设备准确性和与客户方的相关性时使用；若当前级别的判定物料组无法判定测量设备准确性时，则更换下一级别的判定物料组进行测量设备点检。判定物料组设置的组数越多，则点检的准确度越高。在具有不同组数的判定物料组的各实施例中，判定物料组的使用频次随着级别的升高而逐渐降低，最低级的判定物料组为工作物料组，使用频次最高，用于每日点检测量设备准确性时使用及在测量设备发生故障并完成修复后使用；中间级别的判定物料组在上一级判定物料组无法判定测量设备准确性时使用，使用频次相较上一级判定物料组中的物料使用频次低；最高级的判定物料组为鉴定物料组，使用频次最低，在需要鉴定测量设备准确性和与客户方的相关性时使用，或者在上一级判定物料组无法判定测量设备准确性时使用。

根据本发明实施例的测量设备点检方法，通过本发明的测量设备准确性判定方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。

如图2所示，在本发明的一些具体实施例中，获取每一判定物料的单点偏差率之后，至少包括以下步骤之一：

S330：若单点偏差率小于第一预设值，则判定为合格，进行下一个单点偏差率的判定；或，

S340：若单点偏差率大于第一预设值，则判定为不合格，重新获取当前单点偏差率，再次对重新获取的单点偏差率进行判定。

偶发性单点偏差率大于第一预设值时，一般情况下可能是物料被损坏或者机械手定位不准等非设备准确性问题的原因，可对当前的判定物料再次进行测量，重新获取当前单点偏差率，再次进行判定，合格则进行下一个单点偏差率的获取与判定。

若持续性单点偏差率大于第一预设值时，则对测量设备进行调试，调试后重新进行单点偏差率判定。其中，上述第一预设值在本发明实施例中为20％，根据不同需要，还可以设置为其他数值。

如图3所示，在本发明的一些具体实施例中，根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性，包括：

S510：若第一平均偏差率小于第二预设值，则确定测量设备准确性合格。

第一平均偏差小于第二预设值，确定测量设备准确性合格后，测量设备便可开始对生产的产品进行测量。其中，第二预设值为10％，根据不同需要，还可以设置为其他数值。

如图3所示，在本发明的一些具体实施例中，若第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，还包括：

S610：若第一平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前第一平均偏差率；

S620：将重新获取的第一平均偏差率与第二预设值进行比较；

S630：若重新获取的第一平均偏差率大于第二预设值，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率。

第一平均偏差率大于第二预设值10％，则测量设备不合格，程序触发停机；对测量设备进行调试，并重新进行判定。

第一平均偏差率与第二预设值相差过大时，则可能是判定物料被损坏或者测量设备漂移，重新测试第一判定物料组，再次对测量设备进行判定。

若上述两种重新判定结果仍不合格，则选用二级判定物料组进行点检，获取二级判定物料组的第二平均偏差率，对测量设备的准确性进行判定。

如图4所示，在本发明的一些具体实施例中，根据第二平均偏差率，确定测量系统的准确性，包括：

S710：若第二平均偏差率小于第二预设值，则确定测量系统准确性合格。

第二平均偏差率小于第二预设值，确定测量设备准确性合格后，测量设备便可开始对生产的产品进行测量。若第二平均偏差大于第二预设值，则测量设备不合格，对测量设备进行调试。

如图4所示，在本发明的一些具体实施例中，根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性，还包括以下步骤：

S720：若第二平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第三平均偏差率；

S730：根据第三平均偏差率，确定测量设备的准确性。

步骤S720包括：若第二平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前第二平均偏差率；

将重新获取的第二平均偏差率与第二预设值进行比较；

若重新获取的第二平均偏差率大于第二预设值，则获取下一级判定物料组的第三平均偏差率。

当二级判定物料组的第二平均偏差率与第二预设值明显差距过大，偏差严重，无法正常用于判定测量系统的准确性时，则使用三级判定物料组对测量系统准确性进行判定。可以想到的是，在本发明的其他实施例中，若干级判定物料组除了可以为一级、二级、三级这三组判定物料组外，还可以再增加四级判定物料组、五级判定物料组等满足本级判定物料组比上一级判定物料组的使用频次更低的要求的判定物料组。

在本发明的一些具体实施例中，还包括以下步骤：

S800：存储单点偏差率与第一平均偏差率；

S900：根据单点偏差率，输出单点偏差结果；

S1000：根据第一平均偏差率，输出平均偏差结果。

将每次点检的单点偏差率与第一平均偏差率进行存储，从而可以进行数据追溯，便于分析短期和长期以来的测量设备的准确性。

根据单点偏差结果和平均偏差结果，获取数据差异图表，在点检时，现场工程师可以从图表上直观的了解各个数值的变化情况，对点检测量设备的结果和过程均能进行分析判断。

如图5所示，在本发明的一些具体实施例中，将每一测量值与初测值数据库进行匹配，包括：

S310：将判定物料组的每一判定物料与初测值数据库进行匹配，获取判定物料组的每一判定物料对应的初测值；

S320：根据每一测量值、初测值与公差，计算得到每一判定物料的单点偏差率。

单点偏差率指的是单个判定物料的本次测量值与初测值之间的差值与公差的比值的百分数。

以本发明实施例为例，第一判定物料组有八个判定物料，每个判定物料的测量值包括17个尺寸，记为：FAI1～FAI17，即第一尺寸到第十七尺寸。判定物料的初测值记为：FAI1(0)～FAI17(0)。

其中，T为公差，T(FAI1)～T(FAI17)为17个尺寸分别对应的公差。同理可得全部17个尺寸对应的单点偏差率。

平均偏差率指的是八个判定物料即整个判定物料组的本次测量值与初测值之间的差值之和与公差的比值的百分数，公式如下：

其中，X1为第一个判定物料的FAI1-FAI1(0)，X2为第二个判定物料的FAI1-FAI1(0)，以此类推。同理可得全部17个尺寸对应的平均偏差率。

本发明实施例的第二方面，提供了一种运行控制装置，该运行控制装置6000可以是任意类型的智能终端，如手机、平板电脑、个人计算机等。

如图6所示，根据本发明的一些实施例，该运行控制装置6000包括：一个或多个控制处理器6001和存储器6002，图6中以一个控制处理器6001为例。

控制处理器6001和存储器6002可以通过总线或其他方式连接，图6以通过总线连接为例。

存储器6002作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态性计算机可执行程序以及单元，如本发明实施例中的运行控制装置6000对应的程序指令/单元。控制处理器6001通过运行存储在存储器6002中的非暂态软件程序、指令以及单元，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例的测量设备点检方法。

存储器6002可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据程序指令/单元创建的数据等。此外，存储器6002可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器6002可选包括相对于控制处理器6001远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该运行控制装置6000。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

一个或者多个单元存储在存储器6002中，当被一个或者多个控制处理器6001执行时，执行上述任意方法实施例中的测量设备点检方法。例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至S400，图2中的方法步骤S200至S240，图3中的方法步骤S300至S450，图4中的方法步骤S451，图5中的方法步骤S210至S220。

本发明实施例的第三方面，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个控制处理器6001执行，例如，被图6中的一个控制处理器6001执行，可使得上述一个或多个控制处理器6001执行上述方法实施例中的测量设备点检方法，例如，执行以上描述的图1中的方法步骤S100至S400，图2中的方法步骤S200至S240，图3中的方法步骤S300至S450，图4中的方法步骤S451，图5中的方法步骤S210至S220。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

通过以上的实施方式的描述，本领域普通技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下对这些实施例进行的多种变化、修改、替换和变型，均包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取若干级判定物料组，其中，所述判定物料组的等级序列根据判定物料的使用频次确定；

获取判定物料使用频次最高对应的所述判定物料组的每一判定物料的测量值；

将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一所述判定物料的单点偏差率；

根据每一所述判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；

根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；

若所述第一平均偏差率不在预设范围，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，其中该下一级判定物料组的判定物料使用频次相较前一次使用的判定物料组的使用频次低；

根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。

2.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，在所述获取每一所述判定物料的单点偏差率之后，所述测量设备点检方法包括以下步骤：

若所述单点偏差率小于第一预设值，则判定为合格，进行下一个单点偏差率的判定；或，

若所述单点偏差率大于所述第一预设值，则判定为不合格，重新获取当前所述单点偏差率，再次对重新获取的单点偏差率进行判定。

3.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述根据所述第一平均偏差率，确定测量设备的准确性，包括：

若所述第一平均偏差率小于第二预设值，则确定测量设备准确性合格。

4.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述若所述第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率，还包括：

若所述第一平均偏差率大于第二预设值，则重新获取当前所述第一平均偏差率；

将重新获取的第一平均偏差率与所述第二预设值进行比较；

若重新获取的第一平均偏差率大于所述第二预设值，则获取下一级判定物料组的第二平均偏差率。

5.根据权利要求4所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，包括：

若所述第二平均偏差率小于所述第二预设值，则确定所述测量设备准确性合格。

6.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述根据所述第二平均偏差率，确定所述测量设备的准确性，还包括以下步骤：

若所述第二平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第三平均偏差率；

根据所述第三平均偏差率，确定所述测量设备的准确性。

7.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，还包括以下步骤：

存储所述单点偏差率与所述第一平均偏差率；

根据所述单点偏差率，输出单点偏差结果；

根据所述第一平均偏差率，输出平均偏差结果。

8.根据权利要求1所述的测量设备点检方法，其特征在于，所述将每一所述测量值与初测值数据库进行匹配，包括：

将所述判定物料组的每一判定物料与初测值数据库进行匹配，获取所述判定物料组的每一判定物料对应的初测值；

根据每一所述测量值、所述初测值与公差，计算得到每一所述判定物料的单点偏差率。

9.一种运行控制装置，其特征在于，包括：

至少一个控制处理器，以及与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器；

其中，所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个控制处理器执行，以使所述至少一个控制处理器能够执行如权利要求1至8任一项所述的测量设备点检方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至8任一项所述的测量设备点检方法。

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