CN112561810B - 显示屏的去混光方法、装置、存储介质和处理器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示屏的去混光方法、装置、存储介质和处理器。其中，该方法包括：在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据；基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。本发明解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题。

Description

显示屏的去混光方法、装置、存储介质和处理器

技术领域

本发明涉及显示屏领域，具体而言，涉及一种显示屏的去混光方法、装置、存储介质和处理器。

背景技术

目前，随着显示屏制造工艺的持续进步，显示屏上的发光器件之间的间距及器件本身尺寸不断减小，但这为亮色度数据测量带来困难，并且由于特殊的封装技术，在同一基板表面放置多个发光器件，降低了小型化的显示难度，但同时不可避免地带来了新的问题，相邻发光器件的发光互相干扰、产生混叠，从而对亮色度数据的精准测量带来极大挑战。

在相关技术中，通常是从封装技术上解决显示屏上相邻发光器件之间的混光干扰问题，比如，通过对相邻发光器件封装保护层，通过该保护层包裹住发光器件，还可以对显示屏在注胶后形成一种遮光层，利用遮光层阻隔相邻发光器件。但是，该方法增加了对显示屏的封装成本，进而增加了封装流程的复杂度。

针对上述现有技术对显示屏去混光的成本大的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示屏的去混光方法、装置、存储介质和处理器，以至少解决对显示屏去混光的成本大的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种显示屏的去混光方法。该方法可以包括：在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据；基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。

可选地，目标显示状态包括：第一显示状态或第二显示状态，其中，第一显示状态用于指示在逐个对显示屏上的多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件正常显示，第二显示状态用于指示在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮。

可选地，基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，包括：在目标显示状态为第一显示状态的情况下，在原始图像数据中选取与显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据；获取显示屏的像素点尺寸，其中，像素点尺寸由显示屏所在的区域尺寸和显示屏的发光器件的行列数确定；基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型。

可选地，基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型，包括：在第一子图像数据中确定第一值，并基于第一值在第一子图像数据中按照目标方向查找第二值，其中，第一值为第一子图像数据中的最大值，第二值为在目标方向上位于波谷点的值；基于第一值和第二值确定显示屏的发光器件的发光扩散值，其中，发光扩散值用于指示发光器件的发光扩散程度；基于显示屏的像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型。

可选地，基于像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型，包括：基于像素点尺寸和发光扩散值确定第一目标矩阵对应的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围；基于横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围确定第一目标矩阵对应的中心点坐标；对像素点尺寸、横坐标、纵坐标和中心点坐标构建第一目标矩阵，并将构建好的第一目标矩阵确定为混光模型。

可选地，在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取原始图像数据中与每个发光器件对应的光通量数据；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据。

可选地，将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：将频域上的光通量数据输入至频域上的混光模型进行分析，得到目标图像数据。

可选地，基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，包括：在目标显示状态为第二显示状态的情况下，在原始图像数据中获取多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据；基于第二子图像数据建立混光模型。

可选地，基于第二子图像数据建立混光模型，包括：基于第二子图像数据确定第二目标矩阵；对第二目标矩阵进行插值或多项式拟合，得到混光模型。

可选地，在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个发光器件对应的第一光通量数据；基于第一光通量数据确定第三目标矩阵；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于混光模型对第三目标矩阵进行分析，得到第一混光矩阵；利用第一混光矩阵对第三目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

可选地，在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个像素对应的第二光通量数据；基于第二光通量数据确定第四目标矩阵；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于混光模型对第四目标矩阵进行分析，得到第二混光矩阵；利用第二混光矩阵对第四目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

可选地，显示屏以COB封装方式或COG封装方式进行封装。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种显示屏的去混光装置。该装置可以包括：采集单元，用于在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据；建立单元，用于基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程；分析单元，用于将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在程序被处理器运行时控制存储介质所在设备执行本发明实施例的显示屏的去混光方法。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种处理器。该处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行本发明实施例的显示屏的去混光方法。

在本发明实施例中，在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据；基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。也就是说，本申请在不增加任何硬件成本的情况下，采集显示屏的原始图像数据，将该原始图像数据输入至已建立好的混光模型中进行分析，得到已去除混光值的图像数据，从而从算法层面避免了相邻发光器件发光混叠，解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题，达到了降低显示屏去混光的成本的技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光方法的流程图；

图2是根据相关技术中的一种相邻发光器件发光时互相叠加和干扰的示意图；

图3是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光方法的流程图；

图4是根据本发明实施例的一种COB屏上点亮的一个灯点的示意图；

图5是根据本发明实施例的一种由相机采集到的数据的示意图；

图6是根据本发明实施例的一种灯点数据的示意图；

图7是根据本发明实施例的一种与灯点数据对应的高斯曲面拟合的示意图；

图8是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光装置的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种显示屏的去混光方法的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光方法的流程图。如图1所示，该方法可以包括：

步骤S102，在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据。

在本发明上述步骤S102提供的技术方案中，待检测的显示屏也即被测显示屏，可以为发光二级管(Light-Emitting Diode，简称为LED)，可以是小间距显示屏、miniLED、microLED、P1.5、P1.0甚至是P1.0以下的显示屏，其中，P1.5、P1.0用于表示点间距，P用于表示像素间距，后面的数值表示两个像素点之间的距离，数值越小，单位像素点越高，显示画面越清晰，比如，P1.5用于表示像素间距为1.5mm，P1.0用于表示像素间距为1.0mm。

该实施例的目标显示状态可以为显示屏的点亮状态，可以是在逐个对显示屏上的多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件正常显示的显示状态，也可以是在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮的状态，其中，逐个对显示屏上的多个发光器件进行点亮操作也即逐点点亮的操作，间隔对多个发光器件进行点亮操作也即隔点点亮的操作，发光器件可以为显示屏上的灯点(显示像素)，可以点亮显示屏上的红色灯点、绿色灯点、蓝色灯点，目标区域也即灯点区域。

在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，利用图像采集设备采集显示屏的原始图像数据，比如，图像采集设备为工业相机、数码相机等。该实施例通过图像采集设备对处于目标显示状态的显示屏进行拍摄，得到原始图像数据，该原始图像数据可以为显示屏上每个发光器件的数据，比如，为每个发光器件的数据，可以包括亮色度数据、亮度数据，此处并不限制，以矩阵表示为RAW，大小为row*col，其中，row、col分别用于表示相机分辨率的行、列数。

步骤S104，基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程。

在本发明上述步骤S104提供的技术方案中，在采集处于目标显示状态的显示屏的原始图像数据之后，可以基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，该混光模型可以称为混光扩散模型，可以是通过曲面方程构建的用于去除原始图像数据中的混光值的模型。

可选地，该实施例对显示屏在处于逐点点亮或隔点点亮，点亮的发光器件正常显示的显示状态时进行拍摄得到的原始图像数据进行处理，从而建立混光模型；还可以对显示屏在处于逐点点亮或隔点点亮，部分灯点未点亮的显示状态时拍摄到的原始图像数据进行处理，通过处理后的原始图像数据建立混光模型；还可以对显示屏在处于逐点点亮或隔点点亮，部分区域未点亮时拍摄到的原始图像数据进行处理，通过处理后的原始图像数据建立混光模型，该混光模型用于去除原始图像数据中的混光值，该混光值可以用于指示显示屏相邻发光器件发光混叠的程度，从而实现了对显示屏的发光器件的发光扩散情况进行建模的目的。

步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。

在本发明上述步骤S106提供的技术方案中，在基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型之后，可以将原始图像数据输入至混光模型进行分析，可以是对显示屏在进行逐点点亮或隔点点亮时拍摄得到的图像数据进行逐像素去除混光值，还可以是对显示屏在进行逐点点亮或隔点点亮时拍摄得到的图像数据，通过提取每个灯点的光通量值，来去除混光值，从而实现去除显示屏的相邻发光器件的混光的影响的目的，以获得显示屏更准确的亮色度数据。

本申请通过上述步骤S102至步骤S106，在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据；基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。也就是说，该实施例在不增加任何硬件成本的情况下，采集显示屏的原始图像数据，将该原始图像数据输入至已建立好的混光模型中进行分析，得到已去除混光值的图像数据，从而从算法层面避免了相邻发光器件发光混叠，解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题，达到了降低显示屏去混光的成本的技术效果。

作为一种可选的实施方式，目标显示状态包括：第一显示状态或第二显示状态，其中，第一显示状态用于指示在逐个对显示屏上的多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件正常显示，第二显示状态用于指示在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮。

在该实施例中，待检测的显示屏的目标显示状态可以包括第一显示状态，该第一显示状态也即在对显示屏进行逐点点亮或隔点点亮时，多个发光器件正常显示的状态，在显示屏处于第一显示状态时，对显示屏进行拍摄，得到原始图像数据；待检测的显示屏的目标显示状态还可以包括第二显示状态，该第二显示状态也即在对显示屏进行逐点点亮或隔点点亮时，显示屏上具有特殊画面的状态(特殊打屏画面)，比如，显示屏上的部分发光器件未点亮，或者部分区域未点亮，则对显示屏进行拍摄，得到原始图像数据，其中，部分发光器件可以根据具体情况在显示屏上分布，其可以是待测的显示屏上的一个随机发光器件或多个随机发光器件，还可以是连续的一列、一行或多列、多行发光器件，此处不做具体限制，部分区域可以是待测的显示屏上的一个随机区域或多个随机区域，还可以是连续的一列、一行或多列、多行区域，此处不做具体限制。

下面对该实施例的目标显示状态为第一显示状态下的显示屏的去混光方法进行进一步介绍。

在该实施例中，在显示屏处于第一显示状态时，采集显示屏的原始图像数据，利用该原始图像数据建立混光模型，并对该原始图像数据进行去混光，以得到最终的目标数据。下面对该方法进行进一步介绍。

作为一种可选的实施方式，步骤S104，基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，包括：在目标显示状态为第一显示状态的情况下，在原始图像数据中选取与显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据；获取显示屏的像素点尺寸，其中，像素点尺寸由显示屏所在的区域尺寸和显示屏的发光器件的行列数确定；基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型。

在该实施例中，在目标显示状态为第一显示状态的情况下，在原始图像数据中选取与显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据，该第一子图像数据可以为处于目标区域的发光器件在工作时的图像数据，也可以称为显示像素数据，其可以构成一矩阵M1，其中，目标区域可以为以原始图像数据对应的图片的几何中心为中心，在该中心处所选取的一块矩形区域，该矩形区域大小可以为a*a，其中，a＝k*psize，k可以为任意大于0的整数，psize用于表示像素点尺寸，也可以称为显示像素尺寸，从而得到与矩形区域对应的第一子图像数据。

在该实施例中，上述像素点尺寸psize的计算和被拍摄的显示屏在图像中的区域大小以及显示屏的行列数有关，在目标显示状态为第一显示状态的情况下，r可以用于表示点亮的发光器件的行数，c可以用于表示点亮的发光器件的列数，已知显示屏在图像中的区域大小，W可以用于表示图像中显示屏的宽，H可以用于表示图像中显示屏的高，则可以计算出像素点尺寸psize＝max(W/r，H/c)。

在原始图像数据中选取与显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据，以及获取显示屏的像素点尺寸之后，可以基于第一子图像数据和像素点尺寸来建立混光模型，下面对其进行进一步介绍。

作为一种可选的实施方式，基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型，包括：在第一子图像数据中确定第一值，并基于第一值在第一子图像数据中按照目标方向查找第二值，其中，第一值为第一子图像数据中的最大值，第二值为在目标方向上位于波谷点的值；基于第一值和第二值确定显示屏的发光器件的发光扩散值，其中，发光扩散值用于指示发光器件的发光扩散程度；基于显示屏的像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型。

在该实施例中，在实现基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型时，可以在第一子图像数据中确定第一值，该第一值也即第一子图像数据中的最大值，可以表示为maxv，以该第一值在第一子图像数据中为起点，可以按照目标方向查找第二值，该目标方向可以为y方向，在y方向上向上或者向下搜索，找到第二值，该第二值为在y方向上位于波谷点的值，可以表示为minv。

在该实施例中，上述第二值的查找方式可以为：以第一值所在位置行列(i，j)为起点，向下(也可为向上，可以依据最大值的位置而定)搜索，找到M1(i-1，j)，比较M1(i-1，j)是否小于M1(i，j)，若M1(i-1，j)小于M1(i，j)，则可以以M1(i-1，j)为起点，继续向下搜索，直到出现M1(i-1，j)>M(i，j)时停止，此时的M1(i，j)为波谷点对应的第二值，也即，minv＝M(i，j)。

该实施例可以基于上述第一值和第二值确定显示屏的发光器件的发光扩散值，该发光扩散值用于指示发光器件的发光扩散程度，可以是将第一值和第二值二者之间的商确定为上述发光扩散值，比如，发光扩散值D＝maxv/minv，进而基于显示屏的像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型，下面对其进行进一步介绍。

作为一种可选的实施方式，基于像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型，包括：基于像素点尺寸和发光扩散值确定第一目标矩阵对应的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围；基于横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围确定第一目标矩阵对应的中心点坐标；对像素点尺寸、横坐标、纵坐标和中心点坐标构建第一目标矩阵，并将构建好的第一目标矩阵确定为混光模型。

在该实施例中，在实现基于像素点尺寸和发光扩散值构建混光模型时，可以是基于像素点尺寸和发光扩散值确定第一目标矩阵h对应的横坐标x的取值范围和纵坐标y的取值范围，比如，上述x，y的取值范围可以为m，可以分别表示为[1,2,3,…,m]。

可选地，该实施例的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围相同，在实现基于像素点尺寸和发光扩散值确定第一目标矩阵对应的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围时，可以基于发光扩散值确定一预定值，比如，当发光扩散值处于不同的阈值范围时，对应的预定值不同，然后基于像素点尺寸和上述预定值确定上述横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围，可以将像素点尺寸的2倍和上述预定值之间的和，确定为上述取值范围。

举例而言，上述取值范围用m进行表示，像素点尺寸用psize表示，预定值用setoff表示，发光扩散值用D表示，则m＝2*psize+setoff，存在阈值threshold，当D＞threshold时，setoff＝2，当D≤threshold时，setoff＝4。需要说明的是，该实施例的上述阈值和setoff的取值可以为经验值，根据不同的显示屏或相机，该取值可以不同。

在确定出横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围之后，可以基于横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围确定第一目标矩阵对应的中心点坐标，比如，该中心点坐标为(cx，cy)。在该实施例中，可以对显示屏上单个显示像素数据进行建模，其分布可用高斯曲面拟合，可选地，该实施例对上述像素点尺寸、横坐标、纵坐标和中心点坐标构建第一目标矩阵，可以对上述像素点尺寸、横坐标、纵坐标和中心点坐标利用高斯曲面构建第一目标矩阵，比如，第一目标矩阵为h＝k*exp[-((x-cx).^2+(y-cy).^2)/sigma]，其中，sigma＝psize*coef，显示屏像素尺寸为psize＝max(W/r，H/c)，coef＝0.8为经验值，coef范围可以为[0.5，1.5]，k＝1/(sigma*PI)，x，y可以分别为[1，2，3，…，m]，中心点坐标为(cx，cy)，h也可以成为点扩散模型，进而将其确定为混光模型，从而实现了用高斯曲面构建混光模型的目的。

需要说明的是，该实施例使用高斯曲面构建第一目标矩阵仅为本发明实施例的一种优选实施方式，并不局限于仅使用高斯曲面构建第一目标矩阵，任何可以实现构建第一目标矩阵，以用于对原始图像数据进行去混光处理的方法都在该实施例的范围之内，此处不再一一举例说明。

作为一种可选的实施方式，步骤S106，在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取原始图像数据中与每个发光器件对应的光通量数据；步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据。

在该实施例中，当显示屏处于逐点点亮或隔点点亮的显示状态时，可以获取原始图像数据中与每个发光器件对应的光通量数据，得到矩阵A，可以将该矩阵A输入至混光模型中进行分析，以得到目标图像数据，该目标图像数据为混光去除之后的光通量数据(矩阵)。

作为一种可选的实施方式，将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：将频域上的光通量数据输入至频域上的混光模型进行分析，得到目标图像数据。

在该实施例中，在实现将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据时，可以是将光通量数据对应的光通量矩阵A转换至频域上，得到FA，将光通量模型h也转换至频域上，得到H，其中，频域转换公式为：

其中，f(x，y)用于表示M3*N大小的矩阵；x＝0，1，2…，M3-1；y＝0，1，2…，N-1；F(u，v)为f(x，y)的傅里叶变换；u＝0，1，2…，M3-1；v＝0，1，2…，N-1。该实施例将频域上的光通量数据输入至频域上的混光模型进行分析，可以利用图像复原的方法，获取混光去除后的目标图像数据，其中，图像复用的方法可以为逆滤波、维纳滤波等方式。

下面对该实施例的目标显示状态包括第二显示状态和第一显示状态时的显示屏的去混光方法进行进一步介绍。

在该实施例中，在目标显示状态包括第一显示状态和第二显示状态的情况下，均需要采集对应的显示状态下的原始图像数据，可以利用第二显示状态下的原始图像数据建立混光模型，对第一显示状态下的原始图像数据的光通量数据矩阵进行去混光，以得到对应的目标数据。

作为一种可选的实施方式，步骤S104，基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，包括：在目标显示状态为第二显示状态的情况下，在原始图像数据中获取多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据；基于第二子图像数据建立混光模型。

在该实施例中，在实现基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型时，可以当目标显示状态为第二显示状态时，也即，当显示屏上的多个发光器件逐点点亮或隔点点亮的同时，使部分灯点未点亮，或部分区域未点亮的状态时，可以利用多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据建立混光模型，其中，第二子图像数据可以为部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮处的光通量数据，从而实现了对特殊画面打屏拍摄的原始图像数据，获取未点亮灯点或灯点区域的图像数据，进而通过其来建立混光模型的目的。

作为一种可选的实施方式，基于第二子图像数据建立混光模型，包括：基于第二子图像数据确定第二目标矩阵；对第二目标矩阵进行插值或多项式拟合，得到混光模型。

在该实施例中，可以在被测显示屏上随机地使一些灯点未点亮，其余灯点正常点亮，对于该第二显示状态下的显示屏进行拍摄，得到原始图像数据，对该原始图像数据中未点亮灯点处或未点亮灯点的灯点区域的第二子图像数据进行计算，比如，对未点亮灯点处或未点亮灯点的灯点区域处的光通量数据进行计算，得到第二目标矩阵M2。可选地，假设未点亮的灯点数为k*k，则第二目标矩阵M2大小为k*k，利用第二目标矩阵M2通过插值或多项式拟合的方法得到曲面方程，该曲面方程可以表示被测显示屏的混光模型：y＝f(x)。

在该实施例中，在利用显示屏处于第二显示状态下所采集到的原始图像数据建立混光模型之后，可以进一步利用该混光模型对显示屏处于第一显示状态下所采集到的原始图像数据的光通量数据矩阵进行去混光，以得到最终的目标数据。下面对该方法进行进一步介绍。

作为一种可选的实施方式，在步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个发光器件对应的第一光通量数据；基于第一光通量数据确定第三目标矩阵；步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于混光模型对第三目标矩阵进行分析，得到第一混光矩阵；利用第一混光矩阵对第三目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

在该实施例中，在实现混光处理时，对于逐灯点的去除，可以在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，先获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个发光器件对应的第一光通量数据，然后基于第一光通量数据确定第三目标矩阵A，其大小可以为m*n，其中，m，n可以分别用于表示灯点的行数和列数。该实施例根据第三目标矩阵得到第一混光矩阵C1(光通量数据矩阵)，可以通过混光模型对第三目标矩阵进行分析，从而得到上述第一混光矩阵C1，其中，根据已知的混光模型，对于x＝1,2,…n,y＝1,2,…,m，可以得到大小为m*n的第一混光矩阵C1。在得到上述第三目标矩阵A和第一混光矩阵C1之后，可以根据第三目标矩阵A和第一混光矩阵C1得到去混光数据，可以是利用第一混光矩阵对第三目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据，该目标图像数据也即去混光数据。可选地，该实施例将第三目标矩阵与第一混光矩阵二者之间的差确定为上述目标图像数据，比如，目标图像数据B＝A-C1。

作为另一种可选的实施方式，在步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，该方法还包括：获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个像素对应的第二光通量数据；基于第二光通量数据确定第四目标矩阵；步骤S106，将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于混光模型对第四目标矩阵进行分析，得到第二混光矩阵；利用第二混光矩阵对第四目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

在该实施例中，在实现混光处理时，对于逐像素的去除，在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，可以获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个像素对应的第二光通量数据，然后基于第二光通量数据确定第四目标矩阵RAW，该实施例根据第四目标矩阵得到第二混光矩阵C2(光通量数据矩阵)，该实施例可以通过混光模型对第四目标矩阵进行分析，从而得到上述第二混光矩阵C2，其中，根据已知的混光模型，对于x＝1，2，…，col，y＝1，2，…，row，第二混光矩阵C2的大小可以为row*col。在得到上述第二混光矩阵和第四目标矩阵之后，可以利用第一混光矩阵对第三目标矩阵进行混光处理，从而得到目标图像数据，该目标图像数据也即去混光数据。可选地，该实施例将第四目标矩阵与第二混光矩阵二者之间的差确定为上述目标图像数据，比如，目标图像数据将第二混光矩阵输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，去除混光后的数据可以为RAW1＝RAW-C2。

作为一种可选的实施方式，显示屏以COB封装方式或COG封装方式进行封装。

在该实施例中，显示屏可以以COB(Chips On Board)封装方式进行封装，该COB封装方式为一种芯片直接贴装技术，是一种LED芯片的封装方式，可以是LED芯片固晶、焊线在PCB板上，再用封装胶直接封装，从而待检测的显示屏也可以称为COB显示屏；COG(Chips OnGlass)封装方式与上述COB封装方式类似，将LED芯片固定在玻璃基板上，并用封装胶进行封装，从而该显示屏也可以称为COG显示屏。该实施例的COB封装方式和COG封装方式实现了在同一基板表面放置多个发光器件，利用板上线路互联，很大程度上降低了小型化显示的集成难度。但是，在COB封装方式、COG封装方式下，相邻灯点的发光互相干扰、产生混叠，对测量的准确性和精度带来极大挑战。此外，COB、COG封装技术由于其特性，往往带来灯板与灯板之间或者灯板内的块状差异，人眼对这种不一致性格外敏感，进而对显示屏的校正效果产生很大影响。

在该实施例中，混光问题是COB封装方式和COG封装方式所特有的，该实施例正是针对这种封装技术所带来的问题的解决方案。该实施例在不增加任何硬件成本的情况下，采集显示屏的原始图像数据，将该原始图像数据输入至已建立好的混光模型中进行分析，得到已去除混光值的图像数据，进而获得更准确的亮色度数据，从而从算法层面避免了相邻发光器件发光混叠，并且还解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题，进而达到了降低显示屏去混光的成本的技术效果。

实施例2

下面结合优选的实施方式对本发明实施例的技术方案进行举例说明。

随着LED显示制造工艺持续进步，从小间距到miniLED、microLED等技术不断兴起，P1.5、P1.0甚至是P1.0以下的显示屏已经开始应用，发光器件的间距、尺寸越来越小，同时整屏上的发光器件数量越来越多是显示领域的发展趋势。COB、COG封装技术的出现，实现了在同一基板的表面放置多个发光器件，利用板上线路互联，很大程度上降低了小型化显示的集成难度。

与此同时，间距变小以及COB、COG封装也带来了新的问题。首先，灯点间距过小，为灯点的亮色度数据测量带来困难；其次，在COB、COG封装技术下，相邻灯点的发光互相干扰、产生混叠，对亮色度数据的精准测量带来极大挑战。此外，COB、COG封装技术由于其特性，往往带来灯板与灯板之间或者灯板内的块状差异，人眼对这种不一致性格外敏感，这对校正技术提出了更高的要求。

例如，对于显示屏校正技术而言，需要逐点获取发光器件的亮色度数据，对显示屏上发光器件亮度和色度数据的精准测量，是生成校正系数、对显示屏进行均匀性校正的重要前提。然而，相邻灯点的发光混叠，势必造成测量精度的下降，无法准确地提取信息。

图2是根据相关技术中的一种相邻发光器件发光时互相叠加和干扰的示意图。如图2所示，小间距显示屏上相邻的LED发光器件21在发光时互相叠加和干扰，测量设备22进行测量时，无法获取到每个LED发光器件21本身的亮色度数据的精确值。

在相关技术中，从封装技术上可以解决显示屏相邻发光器件之间的混光干扰问题，可以通过对相邻LED发光器件封装保护层，通过该保护层包裹住发光器件，还可以在对发光器件注胶后形成一种遮光层，利用遮光层来阻隔相邻发光器件，但是该方法增加了封装成本，并且增加了封装流程的复杂度。

对于当前显示领域，小间距、miniLED、microLED带来的发光器件之间距离越来越小，COB、COG等封装技术带来的相邻发光器件在发光时互相干扰。在相关技术中，通常是点亮显示屏上一个区域进行拍摄，并获取该区域的每个发光器件的亮色度数据，过小的点间距和高PPI的发展趋势下，传统方法本身已经很难准确地、高效地分离出每个发光器件的数据。再加上COB、COG等封装技术带来的相邻发光混叠问题，直接获取的亮色度数据必然受到混光影响，从而无法保证其准确性。

该实施例可以在不影响效率的情况下，在不增加任何硬件成本的情况下，解决相邻发光器件的混光干扰的问题。

图3是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光方法的流程图。如图3所示，该方法可以包括以下步骤：

步骤S301，采集待检测的显示屏的原始图像数据。

该实施例可以利用图像采集设备拍摄待检测的显示屏，对所采集到的原始图像数据进行后续处理。

在该实施例中，对待检测的显示屏进行点亮可以为逐点点亮或隔点点亮的方式，原始图像数据采集可以包含两部分：一部分为待测显示屏逐点点亮或隔点点亮时，对待检测的显示屏进行拍摄所采集的原始图像数据，另一部分为在特殊打屏画面时，对待检测显示屏进行拍摄所采集的原始图像数据。其中，特殊打屏画面可以是在显示屏逐点点亮或隔点点亮灯点时，部分灯点未点亮，或者部分灯点区域未点亮。

步骤S302，利用采集到的原始图像数据建立混光模型。

利用采集的原始图像数据，比如，在显示屏逐点点亮或隔点点亮时采集到的原始图像数据，或在特殊打屏画面时拍摄的原始图像数据，来构建混光模型(灯点的混光扩散模型)。

可选地，该实施例对待测显示屏逐点或隔点点亮时拍摄的原始图像数据进行处理，建立混光模型。

可选地，实施例对待测显示屏上部分灯点未点亮时拍摄的原始图像数据进行处理，建立混光模型。

可选地，该实施例对待测显示屏上部分区域未点亮时拍摄的原始图像数据进行处理，建立混光模型。

步骤S303，通过混光模型去除混光。

该实施例根据建立的混光模型，对显示屏在逐点或隔点点亮时拍摄的原始图像数据，进行混光去除操作，可以是对显示屏在逐点点亮或隔点点亮时拍摄的原始图像数据，逐像素去除混光值；或，对显示屏在逐点点亮或隔点点亮时拍摄的原始图像数据，提取每个灯点的光通量值，对提取光通量后的逐灯点数据去除混光值。

下面对该实施例的显示屏的显示状态包括需要进行打屏特殊画面和不需要进行打屏特殊画面这两种显示状态下的方案进行介绍。

在该实施例中，采集待测的显示屏的原始图像数据，将待测的显示屏点亮，可以以逐点点亮或者隔点点亮方式来点亮待测的显示屏，对其进行拍摄，得到原始图像数据，将其可以以矩阵表示为RAW，其大小可以为row*col，其中，row、col分别用于表示相机分辨率的行数、列数。

该实施例在显示屏上打屏特殊画面，比如，在对显示屏进行逐点点亮或隔点点亮的同时，使部分灯点未点亮，部分灯点可以根据具体情况分布。或者，部分区域未点亮，部分区域可以是待测的显示屏上的一个或多个随机区域，或者连续的一列、一行或多列、多行灯点，对其进行拍摄，得到原始图像数据。

在该实施例中，可以利用在对显示屏进行逐点点亮或隔点点亮时，拍摄得到的图像数据进行光通量数据的提取，获取每个灯点的光通量数据，得到矩阵A，其大小可以为m*n，其中，m，n可以分别为灯点的行数、列数。该实施例针对打屏特殊画面，获取未点亮灯点或灯点区域的原始图像数据，通过其建立混光模型。

在该实施例中，可以在待测的显示屏上随机的使一些灯点未点亮，其余灯点正常点亮，对其进行拍摄，得到原始图像数据。该实施例可以对未点亮灯点处的光通量数据进行计算，得到矩阵M2，假设未点亮的灯点数为k*k，则M2的大小为k*k，可以利用矩阵M2通过插值或多项式拟合的方法得到曲面方程，该曲面方程可以表示待测显示屏的混光模型：y＝f(x)。

该实施例在得到混光模型之后，可以对不需要进行打屏特殊画面时的原始图像数据的光通量数据矩阵进行逐灯点数据去除，比如，可以根据已知的混光模型曲面方程，对于x＝1，2，…n，y＝1，2，…，m，可以得到大小为m*n的混光矩阵C1，则去除混光后的图像数据为B，B＝A-C1；该实施例也可以对对不需要进行打屏特殊画面时采集的原始图像数据进行逐像素进行去除，比如，根据已知的混光模型曲面方程，对于x＝1，2，…，col，y＝1，2，…，row，可以得到大小为row*col的混光矩阵C2，则去除混光后的图像数据为RAW1＝RAW-C2。

下面对该实施例的显示状态为不需要进行打屏特殊画面的方案进行介绍。

该实施例采集待测的显示屏的原始图像数据，可以是采用工业相机、数码相机等对点亮的LED屏进行拍摄，LED屏的点亮可以为逐点点亮方式或者隔点点亮方式，可以在显示屏上分别点亮红色、绿色、蓝色对应的灯点，对其进行拍摄。

图4是根据本发明实施例的一种COB屏上点亮的一个灯点的示意图。如图4所示，COB屏上点亮的一个灯点为X。图5是根据本发明实施例的一种由相机采集到的数据的示意图，如图5所示，由相机采集到的数据为Y。

在该实施例中，在构建混光模型时，已知待检测的显示屏上点亮的发光器件的个数：r用于表示点亮的发光器件行数，c用于表示点亮的发光器件列数，已知被拍摄的显示屏在图像中的区域大小：W用于表示图像中显示屏的宽，H用于表示图像中显示屏的高，可计算出单个发光器件的尺寸：psize＝max(W/r，H/c)。

在该实施例中，选取部分区域数据，可以以图片的几何中心为中心，选取中心处一块矩形区域，该矩形区域大小可以为a*a，a＝k*psize，得到矩阵M1，其中，k可以为任意大于0的整数。

该实施例在矩阵M1中找到最大值maxv，以该最大值maxv的位置为起点，在y方向上向上或者向下搜索，找到波谷点minv。

在该实施例中，波谷点的寻找方式可以为：以maxv所在位置行列(i，j)为起点，向下(也可为向上，依据最大值的位置而定)搜索，找到M1(i-1，j)，比较M1(i-1，j)是否小于M1(i，j)，若小于，则以M1(i-1，j)为起点，继续向下搜索，直到出现M1(i-1，j)>M1(i，j)时停止，此时的M1(i，j)为波谷点，minv＝M(i，j)。

该实施例在计算发光器件的发光扩散程度D＝maxv/minv，该数值越小，表示发光扩散程度越高。

该实施例可以根据D和psize，构建混光模型。可选地，该实施例根据对显示屏上单个发光器件数据的建模，其分布可用高斯曲面拟合。图6是根据本发明实施例的一种灯点数据的示意图。图7是根据本发明实施例的一种与灯点数据对应的高斯曲面拟合的示意图。因此，该实施例用高斯曲面构建模型：h＝k*exp[-((x-cx).^2+(y-cy).^2)/sigma]，其中，(cx，cy)为矩阵的中心点坐标，cx＝m/2，cy＝m/2，sigma＝psize*coef，此处coef＝0.8为经验值，coef范围可以为[0.5，1.5]，k＝1/(sigma*PI)，x，y可以分别为[1，2，3，…，m]。其中，m＝2*psize+setoff，存在阈值threshold，当上述D＞threshold时，setoff＝2，当D≤threshold时，setoff＝4。需要说明的是，该实施例的上述threshold和setoff的取值可以为经验值，根据不同的显示屏或相机，该取值可以不同。

该实施例在实现混光去除处理时，可以对显示屏在逐点点亮或隔点点亮时所采集到的原始图像数据，获取每个灯点的光通量数据(光通量矩阵A)，将h和A转换到频域，得到H和FA，频域转换公式为：

其中，f(x，y)用于表示M3*N大小的矩阵；x＝0，1，2…，M3-1；y＝0，1，2…，N-1；F(u，v)为f(x，y)的傅里叶变换；u＝0，1，2…，M3-1；v＝0，1，2…，N-1。该实施例可以利用图像复原的方法，比如，利用逆滤波、维纳滤波等方式，获取混光去除后的光通量数据(矩阵)。

举例而言，m＝9，h＝0.0455*exp[-((x-5).^2+(y-5).^2)/7]，混光去除后的光通量数据可以如表1所示。

表1混光去除后的光通量数据

0.00047	0.001278	0.002612	0.004009	0.004625	0.004009	0.002612	0.001278	0.00047
									0.001278	0.003475	0.007099	0.010898	0.012571	0.010898	0.007099	0.003475	0.001278
0.002612	0.007099	0.014502	0.022261	0.025679	0.022261	0.014502	0.007099	0.002612
									0.004009	0.010898	0.022261	0.034172	0.039419	0.034172	0.022261	0.010898	0.004009
0.004625	0.012571	0.025679	0.039419	0.045473	0.039419	0.025679	0.012571	0.004625
									0.004009	0.010898	0.022261	0.034172	0.039419	0.034172	0.022261	0.010898	0.004009
0.002612	0.007099	0.014502	0.022261	0.025679	0.022261	0.014502	0.007099	0.002612
									0.001278	0.003475	0.007099	0.010898	0.012571	0.010898	0.007099	0.003475	0.001278
0.00047	0.001278	0.002612	0.004009	0.004625	0.004009	0.002612	0.001278	0.00047

在该实施例中，在显示领域的小间距、miniLED、microLED的发展趋势下，COB封装技术、COG封装技术等带来的相邻发光器件的发光互相干扰、混叠的问题，影响了对亮色度数据测量的准确性和精度，进而对显示屏的校正效果产生了很大影响。该实施例提出了对混光问题的解决方法，通过对发光器件的发光扩散情况进行建模，去除相邻混光的影响，以获取更准确的亮色度数据，从而该实施例在不增加额外硬件成本的情况下，从算法角度，对相机采集的屏体数据进行处理，以提高对亮色度数据的测量精度。

该实施例的COB显示屏/COG显示屏的去除混光干扰的方法，可以在对COB或COG屏进行测量时，通过辅助在显示屏上显示一些特殊画面并对其进行拍摄，对混光进行表征并去除的方法，特殊画面可以包含但不限于：部分灯点未点亮、部分区域未点亮等。

而该实施例在不增加任何硬件成本的情况下，采集显示屏的原始图像数据，将该原始图像数据输入至已建立好的混光模型中进行分析，得到已去除混光值的图像数据，进而获得更准确的亮色度数据，从而从算法层面避免了相邻发光器件发光混叠，并且还解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题，进而达到了降低显示屏去混光的成本的技术效果。

实施例3

本发明实施例还提供了一种显示屏的去混光装置。需要说明的是，该实施例的显示屏的去混光装置可以用于执行本发明实施例的显示屏的去混光方法。

图8是根据本发明实施例的一种显示屏的去混光装置的示意图。如图8所示，该显示屏的去混光装置80可以包括：采集单元81、建立单元82和分析单元83。

采集单元81，用于在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集显示屏的原始图像数据。

建立单元82，用于基于目标显示状态和原始图像数据建立混光模型，其中，混光模型为用于去除原始图像数据中的混光值的曲面方程。

分析单元83，用于将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，目标图像数据为已去除混光值的图像数据。

可选地，目标显示状态包括：第一显示状态或第二显示状态，其中，第一显示状态用于指示在逐个对显示屏上的多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件正常显示，第二显示状态用于指示在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对多个发光器件进行点亮操作的情况下，多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮。

可选地，建立单元82包括：选取模块，用于在目标显示状态为第一显示状态的情况下，在原始图像数据中选取与显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据；第一获取模块，用于获取显示屏的像素点尺寸，其中，像素点尺寸由显示屏所在的区域尺寸和显示屏的发光器件的行列数确定；第一建立模块，用于基于第一子图像数据和像素点尺寸建立混光模型。

可选地，第一建立模块包括：第一确定子模块，用于在第一子图像数据中确定第一值，并基于第一值在第一子图像数据中按照目标方向查找第二值，其中，第一值为第一子图像数据中的最大值，第二值为在目标方向上位于波谷点的值；第二确定子模块，用于基于第一值和第二值确定显示屏的发光器件的发光扩散值，其中，发光扩散值用于指示发光器件的发光扩散程度；建立子模块，用于基于像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型。

可选地，建立子模块用于通过以下步骤来基于像素点尺寸和发光扩散值，建立混光模型：基于像素点尺寸和发光扩散值确定第一目标矩阵对应的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围；基于横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围确定第一目标矩阵对应的中心点坐标；根据像素点尺寸、横坐标、纵坐标和中心点坐标构建第一目标矩阵，并将构建好的第一目标矩阵确定为混光模型。

可选地，该装置还包括：第一获取单元，用于在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，获取原始图像数据中与每个发光器件对应的光通量数据；分析单元83包括：第一分析模块，用于将光通量数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据。

可选地，第一分析模块包括：分析子模块，用于将频域上的光通量数据输入至频域上的混光模型进行分析，得到目标图像数据。

可选地，建立单元82包括：第二获取模块，用于在目标显示状态为第二显示状态的情况下，在原始图像数据中获取多个发光器件中的部分发光器件未点亮或显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据；第二建立模块，用于基于第二子图像数据建立混光模型。

可选地，第二建立模块包括：第三确定子模块，用于基于第二子图像数据确定第二目标矩阵；处理子模块，用于对第二目标矩阵进行插值或多项式拟合，得到混光模型。

可选地，第二获取单元，用于在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个发光器件对应的第一光通量数据；第一确定单元，用于基于第一光通量数据确定第三目标矩阵；将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于混光模型对第三目标矩阵进行分析，得到第一混光矩阵；利用第一混光矩阵对第三目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

可选地，该装置还包括：第三获取单元，用于在将原始图像数据输入至混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，获取显示屏处于第一显示状态下的原始图像数据中与每个像素对应的第二光通量数据；第二确定单元，用于基于第二光通量数据确定第四目标矩阵；分析单元83包括：第二分析模块，用于基于混光模型对第四目标矩阵进行分析，得到第二混光矩阵；混光处理模块，用于利用第二混光矩阵对第四目标矩阵进行混光处理，得到目标图像数据。

可选地，显示屏以COB封装方式或COG封装方式进行封装。

在该实施例的显示屏的去混光装置中，在不增加任何硬件成本的情况下，采集显示屏的原始图像数据，将该原始图像数据输入至已建立好的混光模型中进行分析，得到已去除混光值的图像数据，从而从算法层面避免了相邻发光器件发光混叠，解决了对显示屏去混光的成本大的技术问题，达到了降低显示屏去混光的成本的技术效果。

实施例4

根据本发明实施例，还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在程序被处理器运行时控制存储介质所在设备执行本发明实施例的显示屏的去混光方法。

实施例5

根据本发明实施例，还提供了一种处理器，该处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行本发明实施例的显示屏的去混光方法。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示屏的去混光方法，其特征在于，包括：

在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集所述显示屏的原始图像数据；

基于所述目标显示状态和所述原始图像数据建立混光模型，其中，所述混光模型为用于去除所述原始图像数据中的混光值的曲面方程；

将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，所述目标图像数据为已去除所述混光值的图像数据；

其中，所述目标显示状态包括：第二显示状态，其中，所述第二显示状态用于指示在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对所述多个发光器件进行点亮操作的情况下，所述多个发光器件中的部分发光器件未点亮或所述显示屏的部分区域未点亮；

基于所述目标显示状态和所述原始图像数据建立混光模型，包括：在所述目标显示状态为所述第二显示状态的情况下，在所述原始图像数据中获取所述多个发光器件中的部分发光器件未点亮或所述显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据；基于所述第二子图像数据确定第二目标矩阵；对所述第二目标矩阵进行插值或多项式拟合，得到所述混光模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标显示状态还包括：第一显示状态，其中，所述第一显示状态用于指示在逐个对所述显示屏上的多个发光器件进行点亮操作或间隔对所述多个发光器件进行点亮操作的情况下，所述多个发光器件正常显示，基于所述目标显示状态和所述原始图像数据建立混光模型，包括：

在所述目标显示状态为所述第一显示状态的情况下，在所述原始图像数据中选取与所述显示屏上的目标区域对应的第一子图像数据；

获取所述显示屏的像素点尺寸，其中，所述像素点尺寸由所述显示屏所在的区域尺寸和所述显示屏的发光器件的行列数确定；

基于所述第一子图像数据和所述像素点尺寸建立所述混光模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述第一子图像数据和所述像素点尺寸建立所述混光模型，包括：

在所述第一子图像数据中确定第一值，并基于所述第一值在所述第一子图像数据中按照目标方向查找第二值，其中，所述第一值为所述第一子图像数据中的最大值，所述第二值为在所述目标方向上位于波谷点的值；

基于所述第一值和所述第二值确定所述显示屏的发光器件的发光扩散值，其中，所述发光扩散值用于指示所述发光器件的发光扩散程度；

基于所述像素点尺寸和所述发光扩散值，建立所述混光模型。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述像素点尺寸和所述发光扩散值，建立所述混光模型，包括：

基于所述像素点尺寸和所述发光扩散值确定第一目标矩阵对应的横坐标的取值范围和纵坐标的取值范围；

基于所述横坐标的取值范围和所述纵坐标的取值范围确定所述第一目标矩阵对应的中心点坐标；

根据所述像素点尺寸、所述横坐标、所述纵坐标和所述中心点坐标构建所述第一目标矩阵，并将构建好的所述第一目标矩阵确定为所述混光模型。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

在将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，所述方法还包括：获取所述原始图像数据中与每个所述发光器件对应的光通量数据；

将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：将所述光通量数据输入至所述混光模型进行分析，得到所述目标图像数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，将所述光通量数据输入至所述混光模型进行分析，得到所述目标图像数据，包括：

将频域上的所述光通量数据输入至频域上的所述混光模型进行分析，得到所述目标图像数据。

7. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

在将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，所述方法还包括：获取所述显示屏处于所述第一显示状态下的所述原始图像数据中与每个所述发光器件对应的第一光通量数据；基于所述第一光通量数据确定第三目标矩阵；将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于所述混光模型对所述第三目标矩阵进行分析，得到第一混光矩阵；利用所述第一混光矩阵对所述第三目标矩阵进行混光处理，得到所述目标图像数据；或者

在将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据之前，所述方法还包括：获取所述显示屏处于所述第一显示状态下的所述原始图像数据中与每个像素对应的第二光通量数据；基于所述第二光通量数据确定第四目标矩阵；将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据，包括：基于所述混光模型对所述第四目标矩阵进行分析，得到第二混光矩阵；利用所述第二混光矩阵对所述第四目标矩阵进行混光处理，得到所述目标图像数据。

8.一种显示屏的去混光装置，其特征在于，包括：

采集单元，用于在待检测的显示屏处于目标显示状态的情况下，采集所述显示屏的原始图像数据；

建立单元，用于基于所述目标显示状态和所述原始图像数据建立混光模型，其中，所述混光模型为用于去除所述原始图像数据中的混光值的曲面方程；

分析单元，用于将所述原始图像数据输入至所述混光模型进行分析，得到目标图像数据，其中，所述目标图像数据为已去除所述混光值的图像数据；

其中，所述目标显示状态包括：第二显示状态，其中，所述第二显示状态用于指示在逐个对多个发光器件进行点亮操作或间隔对所述多个发光器件进行点亮操作的情况下，所述多个发光器件中的部分发光器件未点亮或所述显示屏的部分区域未点亮；

所述建立单元还通过以下步骤执行基于所述目标显示状态和所述原始图像数据建立混光模型：在所述目标显示状态为所述第二显示状态的情况下，在所述原始图像数据中获取所述多个发光器件中的部分发光器件未点亮或所述显示屏的部分区域未点亮所对应的第二子图像数据；基于所述第二子图像数据确定第二目标矩阵；对所述第二目标矩阵进行插值或多项式拟合，得到所述混光模型。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序被处理器运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至7中任意一项所述的方法。

10.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至7中任意一项所述的方法。