CN112511370A - 一种phy模式自主切换的信号测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种PHY模式自主切换的信号测试系统，包括：MDIO控制模块：用于切换待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式或光口模式；PHY芯片模块：用于构建电口测试通道和光口测试通道，并对待测试板进行信号测试；网络信号采集模块：用于对电口测试通道进行验证，获取电口测试结果；示波器测试模块：用于通过光口测试通道进行验证，获取光口测试结果；计算机操作终端：用于收集电口测试结果/口测试结果。本发明的有益效果为：本发明通过MDIO控制模块来控制光口测试和电口测试，并对电口测试通道和光口测试通道的连通性进行判断，实现对待测板卡的测试，实现了光口测试和电口测试的自主切换，提高了测试的速率以及测试的便利性。

Description

一种PHY模式自主切换的信号测试系统
技术领域
本发明涉及计算机通信领域，特别涉及一种PHY模式自主切换的信号测试系统。
背景技术
伴随云计算和大数据技术的发展，服务器系统资源需求随之提升，处理器供应商通过处理器计算能力提升及升级多路处理器平台的手段实现系统资源整体升级，极大地提高整个系统的数据处理能力，与日俱增的业务计算芯片电路需求不断挤压着网络芯片电路的板卡空间。在目前服务器主板卡中，通常使用BMC内部集成两个MAC，一路通过PHY连接到外部以太网交换板，方便与连接到以太网交换板的其他模块通信，另一路通过PHY作为板内调试网口便于信号处理板卡内部的网络加载。这种方法的缺点是，通常情况下布局布线空间比较紧张，单独提供一个网络资源给调试部分，造成了相应的板卡空间和计算资源浪费。另外，通用型服务器和整机柜服务器用于网络传输的接口分为电口和光口,如何实现光口和电口共存，并只使用1路MAC，成为硬件设计的难题。
另外，服务节点网络信号测试过程中常遇见网络无法PING通、信号质量差、数据帧丢包的问题，此时面临BMC到PHY，PHY到板间连接器，板间连接器到外部PHY无法分段定位测试的难题。因此急需一种可以做到在主板BMC MDIO接口故障时仍可测试PHY芯片的调测系统。
现有方案技术以CN201510416773.2-网口测试装置为例：
现有技术采用与电口与光口端口PIN定义相同的测试工装电口或工装光模块直连示波器完成信号质量及控制信号测试。
现有技术测试工装完成测试的前提是PHY配置工作正常，且PHY模式依赖待测单板端配置，当待测单板无法正常配置PHY时无法进行测试，且不具备问题定位能力，也无法对PHY的信号参数进行单独调试。另外，现有技术的测试工装为单体测试，多端口测试时需要逐一操作，增大测试难度及人力投入。
发明内容
本发明提供一种PHY模式自主切换的信号测试系统，用以解决接口故障时无法测试PHY芯片调测系统，及其上述有技术的测试工装为单体测试，多端口测试时需要逐一操作，增大测试难度及人力投入的问题。
一种PHY模式自主切换的信号测试系统，包括：
MDIO控制模块：用于切换待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式或光口模式；
PHY芯片模块：用于构建电口测试通道和光口测试通道，并对待测试板进行信号测试；
网络信号采集模块：用于对电口测试通道进行验证，获取电口测试结果；
示波器测试模块：用于通过光口测试通道进行验证，获取光口测试结果；
计算机操作终端：用于收集电口测试结果/口测试结果。
作为本发明的一种实施例，所述MDIO控制模块包括设置于所述测试板上的第一BMC芯片和设置于所述待测板卡上的第二BMC芯片；其中，
所述第一BMC芯片包括第一MDIO端口、I2C-CPLD端口和管理串口；其中，
所述管理串口连接所述计算机操作终端；
所述第一BMC芯片还用于外界大容量FLASH；
所述第二BMC芯片包括第二MDIO端口、MAC端口和MDC端口。
作为本发明的一种实施例，所述测试板上还设置有：SWITCH网络交换器、CPLD编辑器和接口匹配电路，所述SWITCH网络交换器和输入端和接口匹配电路输出端电连接；
所述第一MDIO端口与所述SWITCH网络交换器电连接；
所述I2C-CPLD端口与所述CPLD编辑器电连接；
所述待测网板卡上还设置有：SPDT SWITCH模块电路和PHY芯片，所述SPDT SWITCH模块电路的输出端与所述PHY芯片电连接，所述SPDT SWITCH模块电路的输入端还与所述CPLD编辑器电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路包括第一SPDT SWITCH模块电路和第二SPDT SWITCH模块电路；
MDC端口与所述SPDT SWITCH模块电路的输入端电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路还包括SEL端口、B1端口和B2端口；
所述MAC端口与所述PHY芯片的输入端电连接。
作为本发明的一种实施例，所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述SEL端口接地，并控制所述SPDT SWITCH模块电路的B1端口连通所述MDIO端口和MDC端口时，所述PHY芯片的MDI接口连通，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式。
作为本发明的一种实施例，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式时，
所述MDI接口连接待测板卡的隔离电压器，所述隔离电压器的RJ45接口连通所述测试板的RJ45端口，所述RJ45端口接通所述接口匹配电路；其中，
所述RJ45端口还用于检验所述电口测试通道是否PING通，当能够PING通时，执行电口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
作为本发明的一种实施例，所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述MDC端口发出的RGMII信号转SGMII信号，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式。
作为本发明的一种实施例，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述PHY芯片通过SGMII信号连通所述待测板卡的高密连接器，所述高密连接器与所述示波器测试模块的示波器连接，并进行基于所述示波器的SGMII眼图模板测试；其中，
所述GMII眼图模板测试用于判断所述光口测试通道是否连通，并在所述光口测试通道连通时，执行光口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
作为本发明的一种实施例，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述高密连接器还用于外接可插式板卡；其中，
所述可插式板卡包括业务处理板卡和外出端口；
所述可插式板卡与所述待测板卡可组成平行防止的组合插卡形态。
作为本发明的一种实施例，所述PHY芯片模块进行信号测试包括常规测试和DEBUG测试；
所述常规测试包括电口测试通道连通时的电口测试或光口测试通道连通的光口测试；
当所述电口测试通道和光口测试通道均不连通时，执行DEBUG测试。
作为本发明的一种实施例，所述PHY芯片模块执行DEBUG测试时，所述SPDT SWITCH模块电路的SEL端口被拉高，所述SPDT SWITCH模块电路的B2端口与所述CPLD编辑器电连接，并根据所述电口测试通道和光口测试通道的通断，执行DEBUG测试下的电口测试/光口测试。
本发明的有益效果为：本发明通过MDIO控制模块来控制光口测试和电口测试，并对电口测试通道和光口测试通道的连通性进行判断，实现对待测板卡的测试，最后将测试结果发送到计算机操作终端。计算机操作终端还用于控制整个测试的流程，实现了光口测试和电口测试的自主切换，提高了测试的速率以及测试的便利性。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明实施例中一种实现自主切换管理PHY模式并实现信号测试系统的系统组成图；
图2为本发明实施例中一种实现自主切换管理PHY模式并实现信号测试的原理拓扑图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
因为服务器插卡跨版网络信号业务交互中断时，难以定位是BMC软件配置、PHY配置还是连接器连接不良信号质量问题。为了解决BMC MDIO配置错误导致PHY无法正常工作或信号不良的可能性以及无法分段、批量测试网络信号总线信号质量的问题。本发明提出一种PHY模式自主切换的信号测试系统，以独立设计的测试板卡以及模块化的主板网络芯片配置电路设计，实现测试板可获取主板PHY芯片配置权限，根据测试内容灵活配置PHY的光口或电口模式，另外提供多端口测试能力，减少交换机资源和测试人力投入。
本发明中：
(BMC＝Baseboard Management Controller)表示基板管理控制器；(MDIO＝Management Data Input/Output)表示管理数据输入输出总线；(SPDT SWITCH＝Single-Pole Double-Throw SWITCH)表示单刀双掷开关；(PHY＝Physical Layer)表示端口物理层。
本发明具体的技术方案如下：
如附图1所示，本发明为一种PHY模式自主切换的信号测试系统，包括：
MDIO控制模块：用于切换待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式或光口模式；MDIO表示串行通信总线，用于管理数据输入输出，而本发明的MDIO控制模块包括测试板的BMC芯片MDIO口、CPLD(CPLD表示复杂可编程逻辑器件)和管理串口；待测板卡的BMC芯片(BMC，执行伺服器远端管理控制器，英文全称为Baseboard Management ControIIer.为基板管理控制器。BMC属于IPMI的一部分，而IPMI是远程管理物理服务器用的，比如可以远程开机,关机，挂载iso镜像安装系统等。)MDIO口和MAC口(MAC表示器件的唯一地址，即器件的标示)和SPDT SWITCH电路(标示集成的单刀双掷开关)。
PHY芯片模块：用于构建电口测试通道和光口测试通道，并对待测试板进行信号测试；
网络信号采集模块：用于对电口测试通道进行验证，获取电口测试结果；
示波器测试模块：用于通过光口测试通道进行验证，获取光口测试结果；
计算机操作终端：用于收集电口测试结果/口测试结果。
在本发明中：
MAC端口：BMC与PHY之间通过RGMII接口连接。
MDIO端口：控制网络PHY的工作模式，根据使用场景需要配置是电口输出还是光口输出，与之对应的PHY的工作模式为RGMII转MDI，以及RGMII转SGMII。RGMII(ReducedGigabit Media Independent Interface)是Reduced GMII(吉比特介质独立接口)。RGMII均采用4位数据接口，工作时钟125MHz，并且在上升沿和下降沿同时传输数据，因此传输速率可达1000Mbps。MDI提供终端到网络中继设备物理和电路连接，主机、路由器等的网卡接口类型为MDI。SGMII是PHY与MAC之间的接口，类似与GMII和RGMII，只不过GMII和RGMII都是并行的，而且需要随路时钟，PCB布线相对麻烦，而且不适应背板应用。而SGMII是串行的，不需要提供另外的时钟，MAC和PHY都需要CDR去恢复时钟。另外SGMII是有8B/10b编码的，速率是1.25G。
电口：PHY与隔离变压器之间通过MDI接口连接，外接端口为RJ45。RJ45端口是一种内置端口，该类型的端口可用于数据中心中服务器接入、LAN、以及台式机交换机的上行链路或千兆到桌面的带宽应用。
光口：PHY与外部PHY之间通过SGMII接口连接，经由外部光口PHY转成SFP接口。SFP端口(小型可热插拔接口)也称为mini-GBIC端口，传输速率为1G，可以支持铜链路或光链路(在以太网中，SFP端口速率为1Gbit/s，在光纤通道系统中，SFP端口速率可达4Gbit/s)。当把电口模块插入SFP端口时，通常用网线(Cat5/Cat5e/Cat6)与之相连来进行数据传输。当光口模块插入SFP端口，则需要使用LC跳线来传输，以实现更长的距离传输。此外，在数据中心、局域网(LAN)等应用中，交换机的SFP端口还具有100/1000Mbps自适应功能。
上述技术方案的有益效果为：本发明通过MDIO控制模块来控制光口测试和电口测试，并对电口测试通道和光口测试通道的连通性进行判断，实现对待测板卡的测试，最后将测试结果发送到计算机操作终端。计算机操作终端还用于控制整个测试的流程，实现了光口测试和电口测试的自主切换，提高了测试的速率以及测试的便利性。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述MDIO控制模块包括设置于所述测试板上的第一BMC芯片和设置于所述待测板卡上的第二BMC芯片；其中，
所述第一BMC芯片包括第一MDIO端口、I2C-CPLD端口和管理串口；其中，
所述管理串口连接所述计算机操作终端；
所述第一BMC芯片还用于外界大容量FLASH；
所述第二BMC芯片包括第二MDIO端口、MAC端口和MDC端口。
上述技术方案的原理和有益效果在于：本发明采用1路MAC口同时支持光口和调试电口。本发明的BMC芯片包括待测板卡上的第二BMC芯片和测试板上的第一BMC芯片，所述BMC芯片的输入端通过一个UART管理口(管理串口)与所述计算机操作终端的输出端连接，并接收所述计算机终端所下达的测试任务指令，根据测试任务指令实现光口测试/电口测试，并接收测试结果。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述测试板上还设置有：SWITCH网络交换器、CPLD编辑器和接口匹配电路，所述SWITCH网络交换器和输入端和接口匹配电路输出端电连接；
所述第一MDIO端口与所述SWITCH网络交换器电连接；
所述I2C-CPLD端口与所述CPLD编辑器电连接；
所述待测网板卡上还设置有：SPDT SWITCH模块电路和PHY芯片，所述SPDT SWITCH模块电路的输出端与所述PHY芯片电连接，所述SPDT SWITCH模块电路的输入端还与所述CPLD编辑器电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路包括第一SPDT SWITCH模块电路和第二SPDT SWITCH模块电路；
MDC端口与所述SPDT SWITCH模块电路的输入端电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路还包括SEL端口、B1端口和B2端口；
所述MAC端口与所述PHY芯片的输入端电连接。
上述技术方案的原理和有益效果在于：本发明中接口匹配电路为多个，并且与测试板RJ45端口对应，进而实现同时时刻进行大量信号的电口测试。
本发明通过测试板上的第一BMC芯片实现DEBUG测试模式的信号测试，在信号测试时，网络交换交换机的连通，控制测试结果发送至计算机操作终端。SWITCH网络交换器和输入端和接口匹配电路输出端电连接，实现控制测试结果发送至计算机操作终端；CPLD编辑器的输入端与第一BMC芯片的I2C-CPLD端口连接，接收所述第一BMC芯片的控制指令，并根据这个控制指令生成进行信号测试；所述SPDT SWITCH模块电路的输出端与所述PHY芯片电连接，用于向PHY芯片发出光口测试或者电口测试的切换指令。所述SPDT SWITCH模块电路的输入端还与所述CPLD编辑器电连接，用于接收第一BMC芯片发出DEBUG测试指令。MDC端口与所述SPDT SWITCH模块电路的输入端电连接，用于接收第二BMC芯片的控制指令，实现对信号进行光口测试或者电口测试。所述MAC端口与所述PHY芯片的输入端电连接，实现采用1路MAC口同时支持光口和调试电口。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述SEL端口接地，并控制所述SPDT SWITCH模块电路的B1端口连通所述MDIO端口和MDC端口时，所述PHY芯片的MDI接口连通，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式。
上述技术方案额原理和有益效果在于：本发明在常规测试的电口测试时，测试的主板(待测板卡将加载固件(程序)以及将内核镜像到BMC存储器(第二BMC芯片的BMC存储器中)，SPDT SWITCH模块电路的两个B1端口与第二BMC芯片连通，第二BMC芯片的MDIO口BMC_MDC_1和BMC_MDIO_1切换网络PHY的工作模式为RGMII转MDI模式，即电口模式。BMC_MDC_1和BMC_MDIO_1为第二BMC芯片的外接端口，分别于与两个SPDT SWITCH模块电路B1端口连接，实现电口模式的转换。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式时，
所述MDI接口连接待测板卡的隔离电压器，所述隔离电压器的RJ45接口连通所述测试板的RJ45端口，所述RJ45端口接通所述接口匹配电路；其中，
所述RJ45端口还用于检验所述电口测试通道是否PING通，当能够PING通时，执行电口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
上述技术方案的原理在于：本发明的PHY芯片设有MDI外接的接口，与待测板卡隔离变压器之间通过MDI接口连接，待测板卡的RJ45通过网线连接到测试板的RJ45-1端口，经过测试治具板上的接口匹配电路及网络交换芯片分配的RJ45(网络端口)可以和计算机网口连接，以检验该通道是否可以PING通(PING标示连通协议，用于判断网络是否连通)。若可以PING通，电口测试完毕；本发明根据网络是否连通判断是否测试完成，提高了测试的效率，也使得测试状态可以快速显示。
作为本发明的一种实施例，所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述MDC端口发出的RGMII信号转SGMII信号，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式。
上述技术方案的原理和有益效果在于：在电口测试不能使用的情况下，本发明会自主选择光口测试，此时电口测试通路上的RJ45端口作为调试网口使用，而第二BMC芯片将MDIO口BMC_MDC_1和BMC_MDIO_1切换网络PHY的工作模式为RGMII转SGMII模式，即实现了光口模式。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述PHY芯片通过SGMII信号连通所述待测板卡的高密连接器，所述高密连接器与所述示波器测试模块的示波器连接，并进行基于所述示波器的SGMII眼图模板测试；其中，
所述GMII眼图模板测试用于判断所述光口测试通道是否连通，并在所述光口测试通道连通时，执行光口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
上述技术方案的原理在于：在光口模式的情况下，实现对待板卡的裸测，待测板卡的高密连接器接收到SGMII信号后直接连通示波器，高迷恋机器的通过2PIN插针之间跨接100nf电容装配到高速差分探头上，高速差分探头和示波器进行SGMII眼图模板测试，若不压眼图模板，即为测试pass(光口测试失败)，计算机可由网口获取测试结果，光口测试完毕，将光口测试结果发送至计算机操作终端，实现自主的光口测试。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述高密连接器还用于外接可插式板卡；其中，
所述可插式板卡包括业务处理板卡和外出端口；
所述可插式板卡与所述待测板卡可组成平行防止的组合插卡形态。
上述技术方案的原理在于：在本发明处于光口测试的情况下，还能够实现连接外接的可插式板卡，可插式板卡上也存在高密连接器，实现互连，组成待测主板与可插式板卡的平行放置的组合插卡形态，这样可以集大程度的减小整体板卡尺寸，可以作为外接的网络插卡用于本发明待测板卡对应的服务器PCIE插槽中。可插式板卡主要进行业务处理和外出端口，其中包括外部PHY将SGMII接口转成SFP接口。这样可由现有技术光模块工装对光口性能进行测试，双层板卡用高速连接器对接来实现业务处理和控制节点合一的插卡方案，极大地缩小了板卡尺寸。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述PHY芯片模块进行信号测试包括常规测试和DEBUG测试；
所述常规测试包括电口测试通道连通时的电口测试或光口测试通道连通的光口测试；
当所述电口测试通道和光口测试通道均不连通时，执行DEBUG测试。
上述技术方案的原理和有益效果在于：本发明PHY芯片模块进行信号测试包括常规测试和DEBUG测试两种，不能进行常规测试时，可以进行DEBUG测试，而在进行DEBUG测试时，可以同步实现常规测试。而且在待测板卡故障时，或者怀疑故障时，都可以进行DEBUG测试，防止因为常规测试失效，或者待测板卡故障导致无法测试。
作为本发明的一种实施例，如附图2所示，所述PHY芯片模块执行DEBUG测试时，所述SPDT SWITCH模块电路的SEL端口被拉高，所述SPDT SWITCH模块电路的B2端口与所述CPLD编辑器电连接，并根据所述电口测试通道和光口测试通道的通断，执行DEBUG测试下的电口测试/光口测试。
上述技术方案的原理在于：本发明在执行DEBUG测试时，第一BMC芯片通过CPLD编辑器连接CPLD编辑器的B2端口，测试板富人第一BMC芯片控制MDIO口的CPLD_MDC和CPLD_MDIO可以通过线缆连接到SPDT SWITCH模块电路的TESTBOARD_CPLD_MDC和TESTBOARD_CPLD_MDIO。实现控制网络PHY模式的转变，根据场景需要配置电口模式或者光口模式。此时，PHY芯片的工作模式为RGMII转MDI，以及RGMII转SGMII。由于测试板MDIO口是成熟可靠的线路，当可正常调测PHY芯片输出网络信号，可以判断出是待测板卡的BMC MDIO口故障(第二BMC芯片的端口故障)。本发明为一种兼容本板和测试治具板单独调试PHY模式的问题定位方案，测试板还可采用大容量FLASH提供冗余丰富的固件配置库直接对待测PHY进行信号调优，待参数调试稳定后可将固件用于待测单板，节省新开发板卡阶段不断修改固件造成开发、测试及项目进度上的开销。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于，包括：
MDIO控制模块：用于切换待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式或光口模式；
PHY芯片模块：用于构建电口测试通道和光口测试通道，并对待测试板进行信号测试；
网络信号采集模块：用于对电口测试通道进行验证，获取电口测试结果；
示波器测试模块：用于通过光口测试通道进行验证，获取光口测试结果；
计算机操作终端：用于收集电口测试结果/口测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：所述MDIO控制模块包括设置于所述测试板上的第一BMC芯片和设置于所述待测板卡上的第二BMC芯片；其中，
所述第一BMC芯片包括第一MDIO端口、I2C-CPLD端口和管理串口；其中，
所述管理串口连接所述计算机操作终端；
所述第一BMC芯片还用于外界大容量FLASH；
所述第二BMC芯片包括第二MDIO端口、MAC端口和MDC端口。
3.根据权利要求2所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述测试板上还设置有：SWITCH网络交换器、CPLD编辑器和接口匹配电路，所述SWITCH网络交换器和输入端和接口匹配电路输出端电连接；
所述第一MDIO端口与所述SWITCH网络交换器电连接；
所述I2C-CPLD端口与所述CPLD编辑器电连接；
所述待测网板卡上还设置有：SPDT SWITCH模块电路和PHY芯片，所述SPDT SWITCH模块电路的输出端与所述PHY芯片电连接，所述SPDT SWITCH模块电路的输入端还与所述CPLD编辑器电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路包括第一SPDT SWITCH模块电路和第二SPDT SWITCH模块电路；
MDC端口与所述SPDT SWITCH模块电路的输入端电连接；其中，
所述SPDT SWITCH模块电路还包括SEL端口、B1端口和B2端口；
所述MAC端口与所述PHY芯片的输入端电连接。
4.根据权利要求3所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述SEL端口接地，并控制所述SPDTSWITCH模块电路的B1端口连通所述MDIO端口和MDC端口时，所述PHY芯片的MDI接口连通，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式。
5.根据权利要求3所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述待测板卡的网络PHY的工作模式为电口模式时，
所述MDI接口连接待测板卡的隔离电压器，所述隔离电压器的RJ45接口连通所述测试板的RJ45端口，所述RJ45端口接通所述接口匹配电路；其中，
所述RJ45端口还用于检验所述电口测试通道是否PING通，当能够PING通时，执行电口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
6.根据权利要求3所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述MDIO控制模块通过所述第二BMC芯片控制所述MDC端口发出的RGMII信号转SGMII信号，所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式。
7.根据权利要求6所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述PHY芯片通过SGMII信号连通所述待测板卡的高密连接器，所述高密连接器与所述示波器测试模块的示波器连接，并进行基于所述示波器的SGMII眼图模板测试；其中，
所述GMII眼图模板测试用于判断所述光口测试通道是否连通，并在所述光口测试通道连通时，执行光口测试，并将测试结果发送至计算机操作终端。
8.根据权利要求6所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：所述待测板卡的网络PHY的工作模式为光口模式时，所述高密连接器还用于外接可插式板卡；其中，
所述可插式板卡包括业务处理板卡和外出端口；
所述可插式板卡与所述待测板卡可组成平行防止的组合插卡形态。
9.根据权利要求3所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：
所述PHY芯片模块进行信号测试包括常规测试和DEBUG测试；
所述常规测试包括电口测试通道连通时的电口测试或光口测试通道连通的光口测试；
当所述电口测试通道和光口测试通道均不连通时，执行DEBUG测试。
10.根据权利要求9所述的一种PHY模式自主切换的信号测试系统，其特征在于：所述PHY芯片模块执行DEBUG测试时，所述SPDT SWITCH模块电路的SEL端口被拉高，所述SPDTSWITCH模块电路的B2端口与所述CPLD编辑器电连接，并根据所述电口测试通道和光口测试通道的通断，执行DEBUG测试下的电口测试/光口测试。
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