CN220511133U - 以太网测试装置及以太网测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种以太网测试装置及以太网测试系统,能降低多样件多以太网端口测试的软、硬件成本,使设备的端口类型统一化,便于测试系统的调用和集成,并能提高测试系统的执行效率。该以太网测试装置用于根据上位机的控制对待测样件进行测试,包括:被配置成用于与待测样件相连接的至少一个第一类型的第一样件端口;被配置成用于与待测样件相连接的至少一个第二类型的第二样件端口;被配置成用于与上位机相连接的上位机端口;以及经由第一样件端口和第二样件端口中的至少任意一个,通过虚拟局域网与待测样件进行数据收发,并经由上位机端口,通过数据链路层与上位机进行数据收发的芯片级以太网交换机。
Description
技术领域
本实用新型涉及以太网测试装置及以太网测试系统,特别涉及多样件多以太网端口的耐久试验用的以太网测试装置及以太网测试系统。
背景技术
近年来,为满足车载网络对高带宽、低线束成本、新电气架构的要求,车载以太网技术正越来越受到人们的重视。而随着汽车智能化、网联化以及自动驾驶技术的发展,随之而来的是ADAS技术的不断革新、高品质车载娱乐影音系统的开发、以及OTA远程升级、V2X、大数据、云计算等一系列技术的发展,这些都推动了车载网络容量需求的爆发式增长。
随着车载网络容量需求的增长,如何执行以太网相关的测试成为一个重要的课题。尤其是在产品开发的DV/PV阶段的有效性验证测试阶段,需要比较大的样本量,存在需要同时对多个样件的多个以太网端口进行测试的需求。
以往,通常采用第三方制造商所提供的介质转换器、以太网交换机等设备来完成这样的多样件以太网测试。例如,采用多台Vector公司或Technica engineering公司生产的介质转换器、以太网交换机等设备,将来自计算机的测试指令等信号经介质转换后转发至ECU(Electronic Control Unit:电子控制单元)等待测样件的DUT port(Device UnderTesting port:待测件端口),并将来自ECU的测试结果等信号经介质转换后转发至计算机等上位机,从而完成测试。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题
然而,由于现有的产品都在快速朝着融合的方向发展,例如计算中心、域控制器等产品,都有着惊人的以太网总线数量,加之DV、PV等测试需要较大的样本量,需要同时对多个样件进行测试,因此,按照传统的测试方法,必然会面临复杂的网络拓扑结构和高昂的设备投入成本。
以ECU在DV阶段的测试为例,目前主流的单个ECU大致具有近10个左右的以太网端口,若在DV阶段需要测试30个样件,则需要同时对近300个以太网端口进行测试。而采用目前市场上主流的以太网测试设备,一台测试设备所能提供的端口数非常有限,因此,需要同时使用多台测试设备来完成测试,这就大大增加了设备投入的成本。
另外,由于现有的介质转换器、以太网交换机等设备的端口类型并不统一,因此,在连接DUT时,通常需要采用多种类型的线束、接插件及适配/转换插头。以Technicaengineering的设备为例,就需要采用H-MTD插接件线束、MATEnet插接件线束、H-MTD和MATEnet适配/转换插头等多种插件和插头。由此,会导致试验环境的复杂化,增加发生接触不良和误操作等问题的风险。
另外,由于现有的介质转换器、以太网交换机等设备严重依赖供应商所开发的软件环境,而这些软件环境又均属于相对封闭的软件生态环境,对于其他上位机软件集成不友好,尤其是针对多样件多端口的DV测试实验,需要完全重新开发特殊用途的测试脚本,因此,会进一步增加了软件开发的人力成本和时间成本。
此外,对于环境验证试验来说,通讯测试仅是众多测试指标中的一项,还有许多电特性测试、采集、分析,以及图像识别,图像处理等更复杂的测试需要执行,因此,需要在原有的软件生态环境下再集成另外一套用于现有的介质转换器、以太网交换机等设备的封闭的软件系统。这就大大增加了整个系统的复杂程度,同时也降低了系统的可靠性和稳定性。尤其对于以太网这样的高速信号网络来说,会造成一定程度的系统延迟。这些延迟来源于两个方面,即软件环境方面的冗余和信号的软解析,这点在进行大数据传输时变得尤为突出。
本实用新型是鉴于上述问题而完成的,其目的在于,提供一种以太网测试装置及以太网测试系统,能降低多样件多以太网端口测试的软、硬件成本,使设备的端口类型统一化,便于测试系统的调用和集成,并能提高测试系统的执行效率。
解决技术问题的技术方案
为了解决上述问题,本实用新型的第一方面所涉及的以太网测试装置用于根据上位机的控制对待测样件进行测试,其特征在于,包括:至少一个第一类型的第一样件端口,该第一样件端口被配置成用于与所述待测样件相连接;至少一个第二类型的第二样件端口,该第二样件端口被配置成用于与所述待测样件相连接;上位机端口,该上位机端口被配置成用于与所述上位机相连接;以及芯片级以太网交换机,该芯片级以太网交换机经由所述第一样件端口和所述第二样件端口中的至少任意一个,通过虚拟局域网与所述待测样件进行数据收发,并经由所述上位机端口,通过数据链路层与所述上位机进行数据收发。
另外,本实用新型的第二方面所涉及的以太网测试系统的特征在于,包括:本实用新型的第一方面所述的以太网测试装置;以及所述上位机,该上位机包括处理器,所述处理器通过所述上位机端口对所述芯片级以太网交换机进行控制,使得在所述第一样件端口与所述待测样件之间、以及所述第二样件端口与所述待测样件之间进行虚拟局域网端口配置。
实用新型效果
根据本实用新型所涉及的以太网测试装置及以太网测试系统,能降低多样件多以太网端口测试的软、硬件成本,使设备的端口类型统一化,便于测试系统的调用和集成,并能提高测试系统的执行效率。
附图说明
图1是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置及以太网测试系统的核心功能的框图。
图2是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置的一个结构例的主视图。
图3是表示图2中的单面板结构的示意图。
图4是表示本实用新型所涉及的VLAN功能流程的示意图。
图5是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置针对相同VLAN Tag或者不带VLANTag场景下的数据处理的示例的示意图。
图6是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置针对不同VLAN Tag场景下的数据处理的示例的示意图。
图7是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置的端口级联扩展场景的示例的示意图。
图8是表示本实用新型所涉及的上位机的处理器中所执行的与待测样件进行数据收发的流程的示意图。
图9是表示本实用新型所涉及的上位机的处理器对待测样件进行测试的程序的一个示例的图。
图10是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的部分端口的属性配置的一个示例的图。
图11是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的一个端口的TX属性配置工具的一个示例的图。
图12是表示本实用新型所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的一个端口的RX属性配置工具的一个示例的图。
具体实施方式
实施方式1
下面参照附图,对本实用新型的优选实施方式进行说明。
图1是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置10及包括该以太网测试装置10的以太网测试系统的核心功能的框图。
如图1所示,以太网测试装置10用于根据上位机20的控制对待测样件30进行测试。作为上位机20的具体示例,例如可以是PC(Personal Computer:个人计算机),其中包含有CPU(Central Processing Unit:中央处理器)等处理器,用于调取存储于存储器的程序并执行。作为所述程序,可以是市场上易于获得的windows开放性Library,例如Libpcap、WinPcap和PCAPng等多种PCAP格式的网络抓包软件等。此外,上位机20还可以包括ARM(Advanced RISC Machine:进阶精简指令集机器)或其他实时系统等。
作为待测样件30的示例,例如可以是ECU等所有基于以太网T1的待测物品。在图1中示出了同时对三台待测样件进行测试的示例,但本实用新型的以太网测试装置10所能测试的待测样件的数量并不局限于此,可以是一台以上的任意数量。
如图1所示,以太网测试装置10具有多个样件端口DUT port1~DUT port 10,其中,包括两个第一类型的第一样件端口1(即DUT port1和DUT port2)、以及八个第二类型的第二样件端口2(即DUT port3~DUT port10),该第一样件端口1和第二样件端口2分别被配置成用于与待测样件30相连接。作为具体的连接方式,第一样件端口1、第二样件端口2可分别经由如双绞线等未图示的连接线,与待测样件30相连接。该连接线的与以太网测试装置10相连接的一端设有分别与第一样件端口1或第二样件端口2相匹配的第一类型或第二类型的接口,另一端设有与待测样件30(即DUT1~DUT3)相连接的接口。通过该连接线,在以太网测试装置10与待测样件30之间进行数据收发。
如图1所示,以太网测试装置10还具有上位机端口3(图中为TX端口),该上位机端口3被配置成用于与上位机20相连接。作为具体的连接方式,上位机端口3可经由如双绞线、同轴电缆、光纤电缆等网线,与上位机20中的网卡等相连接,从而在以太网测试装置10与上位机20之间进行数据收发。
以太网测试装置10还包括芯片级以太网交换机4。不同于目前市场上主流的成品化和封闭式的介质转换器或以太网交换机等以太网测试设备,该芯片级以太网交换机4的软硬件环境更为开放,从而更有利于测试端口的统一化以及测试环境的二次开发。下面对该芯片级以太网交换机4的核心功能进行详细说明。
如图1所示,首先,芯片级以太网交换机4的待测样件侧的端口P0~P9分别经由第一样件端口1和第二样件端口2中的至少任意一个,通过VLAN(Virtual Local AreaNetwork:虚拟局域网)与待测样件30进行数据收发。
VLAN是在数据链路层(OSI 2层)的计算机网络中分区和隔离的任何广播域,其中,虚拟指的是通过附加逻辑重新创建和更改的物理对象。VLAN通过将VLAN Tag(标签)应用于网络分组并在网络系统中处理这些标签来工作。通过这种方式,尽管VLAN连接到同一物理网络,而且不需要部署多组布线和网络设备,但VLAN可以保持网络应用程序的分离。VLAN允许网络管理员将主机分组在一起,即使主机未直接连接到同一网络交换机。因为VLAN成员可以动态配置,因此,能大大简化网络设计和部署。若没有VLAN,则根据主机的资源需求对主机进行分组需要重新定位节点或重新连接数据链路。VLAN允许网络和设备保持分开,以共享相同的物理布线,而无需交互,从而提高了简单性、安全性、流量管理或经济性。例如,VLAN可用于分离业务内由于用户、网络管理员或不同类型的流量而产生的流量,从而用户或低优先级流量不会直接影响网络的其余功能。
具体到本实施方式,如图1所示,芯片级以太网交换机4可分别对各待测样件侧端口P0~P9赋予VLAN Tag1~VLAN Tag10,并通过这些VLAN标签来耦合至各第一样件端口1(DUT port 1、DUT port2)和第二样件端口2(DUT port3~DUT port10)。通过这样的结构,能将各应用程序的数据包进行隔离,从而能避免因通过交换机后的信号形成环路所导致的网络风暴而造成系统瘫痪。
对于芯片级以太网交换机4,经由第一样件端口1和第二样件端口2中的至少任意一个端口所接收到的来自待测样件30的数据包被转发至上位机端口3,并且,从上位机端口3所接收到的来自上位机20的数据包被转发至指定的第一样件端口1或第二样件端口2,从而输出至待测样件30的相应端口。
作为本实施方式所涉及的芯片级以太网交换机4的一个具体示例,例如可采用瑞昱半导体公司的RTL9075AAD芯片。该芯片可提供以下功能:支持基于端口和基于标记的VLAN;支持VLAN标签解析、插入和删除;支持4096条目VLAN表;支持双重标记;支持基于VLAN标签状态的灵活入口数据包过滤;支持IEEE 802.1Q入口过滤和出口过滤功能;支持灵活的VLAN重新标记功能。
其次,芯片级以太网交换机4经由上位机端口3,通过数据链路层与上位机20进行数据收发。
如上所述,上位机20的处理器可以执行各种PCAP格式的网络抓包软件,从而通过OSI模型的第2~7层来捕获实时网络数据包数据。特别是在本实施方式中,上位机20通过数据链路层(OSI 2层),从芯片级以太网交换机4的上位机端口3捕获数据包,并通过数据链路层,将要发送给待测样件30的数据发送至上位机端口3。
如图1所示,以WinPcap为例,利用该PC端软件的多个功能,能合理匹配本实施方式的以太网测试装置10与上位机20,从而能灵活运用VLAN来隔离以太网各个端口,以满足各种应用场景。具体而言,可利用WinPcap的多个功能函数,如Find all devices、Getinterface、Packet send、Packet recieive、Close、Free all devices等,来控制芯片级以太网交换机4建立各待测样件侧端口(P0~P9)与待测样件DUT的各端口之间的连接并收发数据。另外,针对多待测样件多个以太网通道已有不同VLAN的情况,在单以太网卡对应单待测样件的前提下,可设置VLAN路由表,用以通过所有以太网通道来进行数据传输。另外,针对多待测样件多个以太网通道已有相同VLAN或者都没有VLAN的情况,可设置VLAN路由表,并且VLAN Mode选择Port-Based用于RX更改固定VLAN ID,TX激活Re-tag和Un-tag属性。另外,还支持级联扩展以满足更多以太网通道的复杂样件的验证测试,将两张板卡的各一个通道作为公共通道,第二张卡的以太网通道级联且隔离并入第一张卡。关于上述几种具体情况,将在下文中进行详细说明。
根据本实施方式所涉及的以太网测试装置,不同于目前市场上将软件环境集成在设备内部而通过网络层(OSI 3层)来与上位机进行通信的介质转换器或以太网交换机等以太网测试设备,本实施方式的芯片级以太网交换机是通过数据链路层(OSI 2层)来与上位机进行通信。因此,能利用Windows自带的WinPcap library来对数据包进行二次封装从而实现以太网消息的收发,并打包成库。
此外,以太网的不同协议林林总总有很多,由于本实施方式芯片级以太网交换机与上位机之间的通信是走在数据链路层,因此,能针对不同的协议做专门的函数接口定义,从而能便于Windows环境中各种开发软件的调用和集成。
此外,由于本实施方式的芯片级以太网交换机与上位机之间是通过数据链路层来进行通信,因此,不需要复杂的协议支持和软件解析,基本上是一个高速硬解的过程,因此,相比于现有方案,能大幅节约通信时间。
下面对本实施方式所涉及的以太网测试装置的硬件结构进行说明。
图2是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置10的一个结构例的主视图。如图2所示,以太网测试装置10包括框架5,该框架5中设有卡槽。在本实施方式中,示出了框架5中设有12个卡槽的情况,但本实用新型所涉及的以太网测试装置的结构并不局限于此,框架中只要设有至少一个卡槽即可。另外,如图2所示,在每个卡槽中分别设有面板6。各个面板6例如通过图中上下两端的两个螺钉等紧固件分别安装于框架5的各卡槽。当然,除了螺钉紧固外,也可以采用其他方式来安装面板6,例如焊接、铆接等。此外,如图2所示,各个面板6的端口配置和结构基本相同,即,本实用新型采用了统一规格的集成式的栈结构,因此,与现有技术相比,能大幅减少多样件多以太网端口测试系统的整体占用空间,并大幅减少各种转接头、转接线的使用,从而大幅简化接线操作。
图3是表示图2中的单面板结构的示意图。如图3所示,在一块面板6上设有两个1000Base-T1端口和八个100Base-T1。在本实施方式中,将1000Base-T1端口作为第一样件端口1,将100Base-T1端口作为第二样件端口2。另外,如图3所示,作为1000Base-T1端口的一个示例,例如可以采用TE接口,并且,作为100Base-T1端口的一个示例,例如可以将八个100Base-T1端口集成为一个Molex接口。当然,图3只是本实用新型所涉及的面板的一个示例,第一样件端口1和第二样件端口2的端口类型、配置位置和配置数量并不局限于此,可以任意进行增减和变更。
另外,在一块面板6上设有一个TX端口。在本实施方式中,将该TX端口作为上位机端口3。作为该TX端口的一个示例,例如可以采用RJ45接口,但本实用新型的上位机端口3的类型并不局限于此,只要是能与上位机进行通信的接口即可。
另外,如图3所示,面板6上还可以设置状态指示灯7,可以采用LED模块作为该状态指示灯。在本实施方式中,状态指示灯7包括一个用于显示其所在的面板6的电源状态的电源指示灯7a、两个用于显示其所在面板6上所设的两个第一样件端口(1000Base-T1端口)1的状态的1000Base-T1状态指示灯7b、以及八个用于显示其所在面板6上所设的八个第二样件端口(100Base-T1端口)2的状态的100Base-T1状态指示灯7c。另外,在状态指示灯7还包括一个预留指示灯7d。
另外,如图3所示,面板6上还可以设置复位按钮8,该复位按钮8与未图示的芯片级以太网交换机4相连接,对该芯片级以太网交换机4进行复位。具体而言,通过按压该复位按钮8,来完成一次硬件电平切换,从而实现芯片级以太网交换机4的软件重置功能。
另外,如图3所示,面板6上还可以设置集成电路总线端口9,该集成电路总线端口9与未图示的芯片级以太网交换机4相连接,被配置成用于以太网通信中断时的备用通信调试。集成电路总线端口9例如可以采用I IC航空头,该航空头上的信号是另一种与芯片的通信方式。当以太网通信因某种原因而中断时,可将该集成电路总线端口9用于备用通信调试方案,起到类似于debug口的作用。
下面,参照图4~图6,对芯片级以太网交换机4通过虚拟局域网进行数据传输的具体方式进行说明。
图4是表示本实施方式涉及的VLAN功能流程的示意图。如图4所示,当输入数据包(Incoming Packet)进入芯片级以太网交换机4的某个端口时,首先,经过VLAN标签状态滤波器(VLAN Tag Status Filter)后,给数据包进行VLAN赋值(VLAN Assignment)。接着,对入口重新赋予VLAN标签(Ingress VLAN Retagging),并查询VLAN表(VLAN Table Lookup)。然后,经过入口VLAN滤波器(Ingress VLAN Filter)后,查询L2表(L2 Table Lookup)。之后,决定出口标签状态(Egress Tag Status Decision)。最后,经过出口VLAN滤波器(Egress VLAN Filter)后,对出口重新赋予VLAN标签(Egress VLAN Retagging),并向输出端口发送输出数据包(Outgoing Packet)。
图5是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置针对相同VLAN Tag或者不带VLANTag场景下的数据处理的示例的示意图。图中,上部表示芯片级以太网交换机通过端口P0、P1从待测样件接收数据包时的数据处理,下部表示芯片级以太网交换机通过端口P0、P1向待测样件发送数据包时的数据处理。
如图5上部所示,当不带VLAN Tag的1祯数据从待测样件经由端口P1被发送至芯片级以太网交换机时,芯片级以太网交换机将VLAN2的虚拟局域网标签(VLAN2 Tag)插入该数据帧。当带有相同VLAN Tag(图中为VLAN10 Tag)的1祯数据从待测样件经由端口P0被发送至芯片级以太网交换机时,芯片级以太网交换机对VLAN10的虚拟局域网标签(VLAN Tag10)重新赋予VLAN3的虚拟局域网标签(VLAN Tag3)。
另一方面,如图5下部所示,当带有相同VLAN Tag(即,VLAN3 Tag)的1祯数据从芯片级以太网交换机经由端口P0被发送至待测样件时,芯片级以太网交换机对VLAN3的虚拟局域网标签(VLAN Tag3)重新赋予VLAN10的虚拟局域网标签(VLAN Tag10)。当带有VLAN2的虚拟局域网标签(VLAN2 Tag)的1祯数据从芯片级以太网交换机经由端口P1被发送至待测样件时,芯片级以太网交换机从该祯数据中删除VLAN2的虚拟局域网标签(VLAN2 Tag)。
通过采用上述结构,芯片级以太网交换机与待测样件之间通过VLAN来实现了数据收发,从而能避免因不带VLAN Tag或带有相同VLAN Tag而导致数据被在各不同端口之间无限循环地收发,由此,能避免信号形成环路而导致网络风暴。
图6是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置针对不同VLAN Tag场景下的数据处理的示例的示意图。如图6所示,芯片级以太网交换机4也可以分别对端口(P1~P9)赋予不同虚拟局域网的VLAN标签(VLAN2 Tag~VLAN11 Tag),从而可实现通过各端口传输的数据包的隔离。
下面对样件端口的级联扩展的实现方式进行说明。
图7是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置的端口级联扩展场景的示例的示意图。图中示出了A、B两组样件端口,两组样件端口例如分别与图2中的两块不同的面板6上的样件端口相对应。从A组样件端口(0~9)和B组样件端口(0~9)中分别选择一个样件端口(例如,样件端口9),作为公共端口。将两个公共端口相连接,并通过这两个公共端口,来实现样件端口的级联扩展。
具体而言,利用经由上位机端口(RJ45)与以太网测试装置相连接的上位机(PC),来对该以太网测试装置的A、B两组样件端口中的两个公共端口9进行配置,使得超出A组的样件端口数的信息从A组的公共端口9转发至B组的公共端口9,进而从B组的公共端口9转发至B组中的某个剩余的样件端口(即,样件端口0~8)。由此,能分别对两组样件端口中剩余的样件端口赋予不同的VLAN ID(即,VLAN2~VLAN10、VLAN12~VLAN20),从而实现了两组样件端口的级联扩展。
对于公共端口的类型并没有特别限制,例如,可以是一对相同类型的样件端口(由两个第一样件端口或两个第二样件端口所组成的一对样件端口),也可以是一对不同类型的样件端口(由一个第一样件端口和一个第二样件端口所组成的一对样件端口)。
根据上述结构,本实施方式所涉及的以太网测试装置能支持级联扩展,从而能满足更多以太网通道的复杂样件的验证测试,并且级联扩展后的多个样件端口仍能通过不同VLAN保持隔离。
如上所述,上位机20所具备的处理器通过上位机端口3对芯片级以太网交换机4进行控制,使得在样件端口与待测样件30之间进行虚拟局域网端口配置。并且,处理器通过以太网测试装置10与待测样件30之间进行数据收发,从而对待测样件30进行测试。关于处理器中所执行端口配置和待测样件测试的具体方式,下面参照图8~图12来进行详细说明。
图8是表示本实施方式所涉及的上位机的处理器中所执行的与待测样件进行数据收发的流程的示意图。如图8所示,处理器通过调用WinPcap中的Pcap_findalldevs、Pcap_get interface、Pcap_open_live、Pcap_Packet_Send、Pcap_Packet_receive、Pcap_Close、Pcap_freealldevs等一系列函数,来完成搜索网络接口、匹配各网络接口和NPF值、根据已配置NPF属性来搜索相应待测样件的网络接口、打开网络接口并组包与样件进行交互通信、通信结束关闭Pcap并释放所有网络接口等一系列操作。
图9是表示本实施方式所涉及的上位机的处理器对待测样件进行测试的程序的一个示例的图。如图9所示,处理器基于Labview的网络数据交互程序来开发样件测试软件,并将在以太网测试装置与待测样件之间进行收发的数据运用于开发出的样件测试软件,由此,来实现对待测样件的测试。
图10是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的部分端口的属性配置的一个示例的图,图11是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的一个端口的TX属性配置工具的一个示例的图,图12是表示本实施方式所涉及的以太网测试装置的与待测样件之间的一个端口的RX属性配置工具的一个示例的图。上位机的处理器例如可通过这些软件配置工具,来对各种使用场景需要的属性进行配置,并对每个以太网端口的TX、RX属性进行配置。这些配置工具所涉及到的主要参数有主从模式、千兆百兆模式、VLAN划分、VLAN成员关系、端口VLAN属性(port based or not)、端口VLAN操作等功能。这些功能将基本满足所有验证测试中需要用到的网络报文隔离需求。
另外,上述虚拟局域网端口配置是通过对芯片级以太网交换机的寄存器的地址进行相应操作而实现的。由于本实施方式采用了芯片级以太网交换机来代替现有的成品化和封闭式的介质转换器或以太网交换机等以太网测试设备,因此,使得该寄存器操作变得可能。进一步,由于本实施方式是采用了图10~图12的配置工具来实现寄存器操作,因此,能避免繁琐的地址操作,更有利于降低上位机中测试软件的开发成本并减少出错率,使得操作人员能更容易地对虚拟局域网端口进行配置。
目前,针对不同客户实验的不同需求及汽车日渐丰富的车载以太网数据量,以太网测试系统对于端口数量的需求越来越大。并且,现阶段一些汽车电子控制器,有多路以太网通道需要验证。根据本实用新型所涉及的以太网测试装置和以太网测试系统,由于采用了芯片级以太网交换机,其经由第一样件端口和第二样件端口中的至少任意一个,通过虚拟局域网与待测样件进行数据收发,并经由上位机端口,通过数据链路层与上位机进行数据收发,因此,不仅能满足上述多待测件及多通道产品的测试需求,而且,能降低测试成本,减少软件开发成本。
另外,根据本实用新型所涉及的以太网测试装置和以太网测试系统,由于将样件端口的类型固定为了两种类型(例如,Molex 100M Base T1及TE 1000M Base T1),因此,能实现连接器的统一化,非常有助于测试平台的开发。并且,简化了测试系统的硬件链路,减轻了安装维护以及测试人员的工作量,提升了实验室项目的执行效率,
另外,根据本实用新型所涉及的以太网测试装置和以太网测试系统,由于通信走在数据链路层,因此,便于测试系统的调用集成,支持二次开发,并能提高测试执行的效率。
以上对本实用新型的具体实施方式进行了说明,应当认为本次披露的实施方式的所有方面仅是举例表示,并非是限制性的。本实用新型的范围由权利要求书来表示,而并非由上述实施方式来表示,本实用新型的范围还包括与权利要求书等同的含义及范围内的所有的修正和变形。
工业上的实用性
本实用新型的以太网测试装置及以太网测试系统对于汽车以太网的测试,尤其是像DV、PV那样的中大型实验批量监控测试等多样件、多以太网端口测试的应用场景是有用的。
标号说明
1 第一样件端口
2 第二样件端口
3 上位机端口
4 芯片级以太网交换机
5 框架
6 面板
7 状态指示灯
7a 电源指示灯
7b 1000Base-T1状态指示灯
7c 100Base-T1状态指示灯
7d 预留指示灯
8 复位按钮
9 集成电路总线端口
10 以太网测试装置
20 上位机
30 待测样件
Claims (10)
1.一种以太网测试装置(10),该以太网测试装置(10)用于根据上位机(20)的控制对待测样件(30)进行测试,其特征在于,包括:
至少一个第一类型的第一样件端口(1),该第一样件端口(1)被配置成用于与所述待测样件(30)相连接;
至少一个第二类型的第二样件端口(2),该第二样件端口(2)被配置成用于与所述待测样件(30)相连接;
上位机端口(3),该上位机端口(3)被配置成用于与所述上位机(20)相连接;以及
芯片级以太网交换机(4),该芯片级以太网交换机(4)经由所述第一样件端口(1)和所述第二样件端口(2)中的至少任意一个,通过虚拟局域网与所述待测样件(30)进行数据收发,并经由所述上位机端口(3),通过数据链路层与所述上位机(20)进行数据收发。
2.如权利要求1所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
所述第一类型的第一样件端口(1)是1000Base-T1端口,
所述第二类型的第二样件端口(2)是100Base-T1端口,
所述上位机端口(3)是TX端口。
3.如权利要求1或2所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
还包括框架(5),该框架(5)中设有至少一个卡槽,各所述卡槽中分别设有面板(6),
各所述面板(6)上分别设有至少一个所述第一样件端口(1)、至少一个所述第二样件端口(2)和所述上位机端口(3)。
4.如权利要求3所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
还包括状态指示灯(7),该状态指示灯(7)包括电源指示灯(7a)、至少一个1000Base-T1状态指示灯(7b)和至少一个100Base-T1状态指示灯(7c),所述1000Base-T1状态指示灯(7b)与所述第一样件端口(1)相对应,所述100Base-T1状态指示灯(7c)与所述第二样件端口(2)相对应,
各所述面板(6)上分别设有所述状态指示灯(7)。
5.如权利要求3所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
还包括复位按钮(8),该复位按钮(8)被配置成与所述芯片级以太网交换机(4)相连接,对所述芯片级以太网交换机(4)进行复位,
各所述面板(6)上分别设有所述复位按钮(8)。
6.如权利要求3所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
还包括集成电路总线端口(9),该集成电路总线端口(9)与所述芯片级以太网交换机(4)相连接,被配置成用于以太网通信中断时的备用通信调试,
各所述面板(6)上分别设有所述集成电路总线端口(9)。
7.如权利要求3所述的以太网测试装置(10),其特征在于,
所述面板(6)上的所述第一样件端口(1)和所述第二样件端口(2)中的任意一个与另一个所述面板(6)上的所述第一样件端口(1)和所述第二样件端口(2)中的任意一个相连接,从而形成一组公共端口,
所述以太网测试装置(10)通过所述公共端口,来实现所述第一样件端口(1)和所述第二样件端口(2)的级联扩展。
8.一种以太网测试系统,其特征在于,包括:
如权利要求1至7的任一项所述的以太网测试装置(10);以及
所述上位机(20),该上位机(20)包括处理器,所述处理器通过所述上位机端口(3)对所述芯片级以太网交换机(4)进行控制,使得在所述第一样件端口(1)与所述待测样件(30)之间、以及所述第二样件端口(2)与所述待测样件(30)之间进行虚拟局域网端口配置。
9.如权利要求8所述的以太网测试系统,其特征在于,
所述处理器通过所述以太网测试装置(10)与所述待测样件(30)进行数据收发,从而对所述待测样件(30)进行测试。
10.如权利要求8所述的以太网测试系统,其特征在于,
所述上位机(20)是计算机。
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