CN112495767A - 一种硅微粉粒度测试样品的制备装置和制备方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种硅微粉粒度测试样品的制备装置,属于硅微粉生产技术领域。该装置包括振动机构、限位机构和筛分机构;振动机构包括振动电机、振动托盘和竖直固定的振动弹簧,振动弹簧均与振动电机相连,振动托盘通过连接件水平安装在振动弹簧的上部;限位机构包括顶盖和螺杆,螺杆竖直安装在振动托盘上,顶盖上设置有供螺杆穿过的安装孔;筛分机构包括初筛网筛、精筛网筛和样品盘,样品盘与精筛网筛上设置有凹槽,样品盘、精筛网筛和初筛网筛从下至上依次叠落,并通过顶盖定位压紧在振动托盘上。本发明还公开了一种硅微粉粒度测试样品的制备方法。本发明的设计合理、结构简单,实现机筛分硅微粉样品,提高了生产效率,减轻了工人的劳动量。

Description

一种硅微粉粒度测试样品的制备装置和制备方法
技术领域
本发明涉及硅微粉生产技术领域,具体是一种硅微粉粒度测试样品的制备装置和制备方法。
背景技术
目前,硅微粉的生产方法主要是干法研磨生产工艺,其中批量式研磨工艺是将定量原料放进球磨机中研磨,在产品筛分前需要提前确定研磨产品粒度分布,方便进行工艺调整得到技术规范要求的粒度分布,其中最重要的是球磨机内样品制备,目前仍然是人工取样称量,人工手动振动筛分,这种人工样品制备方法制备复杂、样品差异大,无法满足生产需求,急需一种合理、准确的制备方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对现有技术的不足,提供一种结构合理,使用方便,操作简单的硅微粉粒度测试样品的制备装置和制备方法。
本发明所要解决的技术问题是通过以下的技术方案来实现的,本发明是一种硅微粉粒度测试样品的制备装置,包括振动机构、限位机构和筛分机构;
所述的振动机构包括振动电机、振动托盘和若干根竖直固定的振动弹簧,每个振动弹簧均与振动电机相连,振动托盘通过连接件水平安装在振动弹簧的上部;
所述的限位机构包括顶盖和若干根螺杆,螺杆竖直安装在振动托盘上,顶盖上设置有供螺杆穿过的安装孔;
所述的筛分机构包括可供更换的多个初筛网筛、精筛网筛和样品盘,样品盘与精筛网筛上部均设置有凹槽,样品盘、精筛网筛和初筛网筛从下至上依次叠落,并通过顶盖定位压紧在振动托盘上。
本发明所要解决的技术问题,其进一步的优选技术方案是:所述的振动弹簧和振动电机均安装在箱体中,振动弹簧的一端通过固定块固定在箱体底部,另一端通过连接件与箱体上方的振动托盘相连,箱体上还安装有控制振动电机的开关和定时器。
本发明所要解决的技术问题,其进一步的优选技术方案是:所述的连接件包括连动杆和支撑板,连动杆的一端安装在振动弹簧上,另一端穿出箱体安装在振动托盘上,支撑板横向安装在连动杆上,振动电机固定安装在支撑板上。
本发明所要解决的技术问题,其进一步的优选技术方案是:所述的振动弹簧有4个,且两两对称的安装在箱体中。
本发明所要解决的技术问题,其进一步的优选技术方案是:所述的螺杆有2个,且对称安装在振动托盘上,每个螺杆上还螺接有固定顶盖用的螺母手柄。
本发明所要解决的另一技术问题是提供一种操作简便、筛分效率高的硅微粉粒度测试样品的制备方法,该方法使用以上任一项所述的制备装置,其特点是,其步骤如下:
(1)选取需要目数的一组初筛网筛和精筛网筛,用顶盖将其和样品盘压紧在振动托盘上;
(2)从球磨机中取出一定量硅微粉进行计时筛分;
(3)筛分结束后收集样品盘中的样品,用于粒度测试。
本发明所要解决的技术问题,其进一步的优选技术方案是:步骤(1)中,硅微粉的取出体积为400ml-600ml,筛分时间为4-6min。
与现有技术相比,本发明的有益技术效果是:本发明的制备装置能够将硅微粉进行层层筛分,初筛网筛能够将较大块的硅微粉截留,精筛网筛确保得到的样品符合测试要求,多组筛网可以根据不同需要进行更换;通过螺杆可以对筛分机构进行调节与更换,使用方便;使用本装置能够进行对硅微粉进行机器筛分,不仅提高了工作效率,也降低了工人的劳动强度。
附图说明
图1是本发明制备装置的一种结构示意图;
图2是本发明中精筛筛网的结构示意图;
图3是本发明中样品盘的结构示意图;
图4是本发明配套的取样器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1,参照图1,一种硅微粉粒度测试样品的制备装置,包括箱体1,所述的箱体1中设置有振动机构,所述的箱体上设置有限位机构和筛分机构;
所述的振动机构包括振动电机3、振动托盘6和四根振动弹簧2,四个振动弹簧2通过固定块21两两对称的固定安装在箱体1的底部,振动弹簧2的和振动电机3相连,振动弹簧2通过连动杆22与水平放置在箱体外的振动托盘6相连;
所述的限位机构包括顶盖10和两根螺杆61,螺杆61竖直安装在振动托盘6上,顶盖上设置有供螺杆6穿过的安装孔13;
所述的筛分机构包括初筛网筛9、精筛网筛8和样品盘7,样品盘7上设置有凹槽71,精筛网筛8上部均设置有凹槽81,样品盘7、精筛网筛8和初筛网筛9从下至上依次叠落,并通过顶盖10定位压紧在振动托盘6上;
所述的箱体1上还安装有控制振动电机工作的开关4和定时器5。
所述的连动杆22上安装有支撑板23,支撑板23横向安装在连动杆22上,所述的振动电机3固定安装在连接板23上。
实施例2,实施例1所述的硅微粉粒度测试制备装置中,振动托盘6上竖向对称安装有两根螺杆61,螺杆61上安装有顶盖10,初筛网筛9、精筛网筛8和样品盘7被依次夹紧固定在顶盖10和振动托盘6之间;每个调节螺杆61上还设置有用来限位顶盖10用的螺母手柄62,螺母手柄62螺接在调节螺杆61上。
实施例3,一种硅微粉粒度测试样品的制备方法,该方法采用以上任一项实施例所述的制备装置,其步骤如下:
(1)选取需要目数的一组初筛网筛9和精筛网筛8,用顶盖10将其和样品盘7压紧在振动托盘6上;
(2)从球磨机中取出一定量硅微粉进行计时筛分;
(3)筛分结束后收集样品盘7中的样品,用于粒度测试。
本实施例中,每次取出的硅微粉的体积优选取500ml,每次的筛分振动时间最好设定为5min,以此保证硅微粉经过充分的筛分;
如图4所示,本实施例中,所使用的取样器为内壁半径8cm,深度10cm的柱状取样头12和安装在取样头上的手柄11;取样器、取样盘7、筛网等为了满足欧盟有毒有害物质管理标准,全部采用304不锈钢材质,为了保持不锈钢所固有的耐腐蚀性,钢必须含有18%以上的铬,8%以上的镍含量,表面粗糙度可以保持在10-15μm,避免材料过多地残留在取样器内壁,导致不同生产批次之间严重的混料现象发生。表面粗糙度越小,表面张力越小,物料附着的几率就大大减小,清理也更为方便。

Claims (7)

1.一种硅微粉粒度测试样品的制备装置,其特征在于:包括振动机构、限位机构和筛分机构;
所述的振动机构包括振动电机、振动托盘和若干根竖直固定的振动弹簧,每个振动弹簧均与振动电机相连,振动托盘通过连接件水平安装在振动弹簧的上部;
所述的限位机构包括顶盖和若干根螺杆,螺杆竖直安装在振动托盘上,顶盖上设置有供螺杆穿过的安装孔;
所述的筛分机构包括可供更换的多个初筛网筛、精筛网筛和样品盘,样品盘与精筛网筛上部均设置有凹槽,样品盘、精筛网筛和初筛网筛从下至上依次叠落,并通过顶盖定位压紧在振动托盘上。
2.根据权利要求1所述的硅微粉粒度测试样品的制备装置,其特征在于:所述的振动弹簧和振动电机均安装在箱体中,振动弹簧的一端通过固定块固定在箱体底部,另一端通过连接件与箱体上方的振动托盘相连,箱体上还安装有控制振动电机的开关和定时器。
3.根据权利要求2所述的硅微粉粒度测试样品的制备装置,其特征在于:所述的连接件包括连动杆和支撑板,连动杆的一端安装在振动弹簧上,另一端穿出箱体安装在振动托盘上,支撑板横向安装在连动杆上,振动电机固定安装在支撑板上。
4.根据权利要求1或2所述的硅微粉粒度测试样品的制备装置,其特征在于:所述的振动弹簧有4个,且两两对称的安装在箱体中。
5.根据权利要求1所述的硅微粉粒度测试样品的制备装置,其特征在于:所述的螺杆有2个,且对称安装在振动托盘上,每个螺杆上还螺接有固定顶盖用的螺母手柄。
6.一种硅微粉粒度测试样品的制备方法,其特征在于:该方法采用如权利要求1-5中任一项所述的装置,其步骤如下:
(1)选取需要目数的一组初筛网筛和精筛网筛,用顶盖将其和样品盘压紧在振动托盘上;
(2)从球磨机中取出一定量硅微粉进行计时筛分;
(3)筛分结束后收集样品盘中的样品,用于粒度测试。
7.根据权利要求6所述的硅微粉粒度测试样品的制备方法,其特征在于:步骤(2)中,硅微粉的取出体积为400ml-600ml,筛分计时时长为4-6min。
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