CN112445637A - 测试和测量仪器中硬件设置的信号路径校准 - Google Patents

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Abstract

本公开针对与测试和测量系统相关的系统和方法,并且特别是针对测试和测量仪器中的信号路径校准。一种测试和测量仪器,包括:用户接口,被配置为接收指令,所述指令用以针对从用户接收的用户特定设置执行信号路径校准;存储器,被配置为存储信号路径校准数据;以及一个或多个处理器,其可以确定针对用户特定设置的实际信号路径硬件设置,确定用以将实际信号路径硬件设置调整到用户特定设置的调整,通过所述调整来调整实际信号路径硬件设置以精确地表示用户特定设置,并且将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中。

Description

测试和测量仪器中硬件设置的信号路径校准
优先权
本公开要求于2019年8月28日提交的题为“POINT SIGNAL PATH CALIBRATION IN ATEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT(测试和测量仪器中的点信号路径校准)”的美国临时申请No. 62/892,812的权益,该美国临时申请通过引用以其整体并入本文。
技术领域
本公开针对与测试和测量系统相关的系统和方法,并且特别是针对测试和测量仪器中的信号路径校准。
背景技术
测试和测量仪器中的信号路径校准(SPC)是表征测试和测量仪器的硬件设置如何影响通道特性的处理。测试和测量仪器中的常规信号路径校准包括使用硬件或寄存器设置的预先确定集合来校准每个通道。测试和测量仪器将针对每个预先确定的硬件或寄存器设置测量信号路径特性,以表征在这些设置处的通道。这些设置以及对在这些设置处的通道的表征可以保存在测试和测量仪器的存储器中。然而,预先确定的设置集合并不表征特定硬件设置的每个可用组合。当用户选择特定设置时,测试和测量仪器从所保存的设置和表征进行插补或外推,以确定要使用哪些设置来实现所请求的用户设置。
由于用户将几乎不会选取与被直接表征或校准的硬件设置准确对应的设置,因此插补会引起一些测量误差。进一步地,在常规的测试和测量仪器中,信号路径校准可能花费一段延长的时间,诸如30分钟或更长。通常,随着测试和测量仪器的输入带宽的增加,要求更大量的时间来执行仪器的信号路径校准。如果被测设备和/或测试和测量仪器的温度改变,或者如果测试和测量仪器在一段时间中未被校准,则用户可能不想等待30分钟或更长时间来再次运行校准,从而造成测量中的更多误差。
本公开的实施例解决了现有技术的这些和其它缺陷。
附图说明
从下面参照所附附图对实施例的描述中,本公开的实施例的各方面、特征和优点将变得显而易见,其中:
图1是根据本公开的实施例的测试和测量仪器的框图;
图2是图示根据本公开的实施例的用于基于用户指定的设置来校准信号路径的示例操作的流程图;
图3是图示根据本公开的实施例的用于在测试和测量仪器中发生温度改变的情况下提醒用户的示例操作的流程图;
图4是图示根据本公开的实施例的示例操作的流程图,该示例操作用于在测试和测量仪器中发生温度改变而导致预期误差大于阈值的情况下提醒用户。
具体实施方式
本公开的实施例允许用户针对用户选择的单个特定设置或用户选择的小的特定设置集执行信号路径校准。这可以允许在由用户选择和使用的特定设置处显著提高通道增益和偏移精度。进一步地,根据本公开的实施例执行的校准可以比常规的信号路径校准更快得多地运行——诸如,与常规SPC的30分钟或更长时间相比,在几秒钟内——因此用户可以是能够并且想要更经常地执行校准。该能力在被测设备具有迅速改变的温度的情形下特别有益,特别是在其中测试和测量仪器与被测设备一起经历环境温度改变的测试环境(诸如温度循环室)中,因为温度会影响硬件在测试和测量仪器中的表现。
常规信号路径校准包括表征硬件设置(诸如增益和偏移寄存器)如何影响通道特性,通道特性包括例如通道的测量增益和偏移。如上所述,在常规信号路径校准期间,在预先确定的寄存器设置集合下表征通道。预先确定的寄存器设置集合是由仪器制造商预先确定的,并且不可被用户改变。然后,在正常操作中,当用户选取特定设置时,测试和测量仪器可以从所表征的设置进行插补或外推,以确定用以实现所请求的用户设置的设置。然而,插补和外推可能引起误差。进一步地,如果测试和测量仪器的温度完全改变,则信号路径校准可能是不精确的。如在下面更详细讨论的,本公开的实施例允许在单个设置或小的特定设置集处执行信号路径校准。在单个设置或小的特定设置集处执行信号路径校准在本公开中可以被称为“点SPC”。
图1是用于实现本文公开的实施例的示例测试和测量仪器100(诸如示波器)的框图。测试和测量仪器100包括一个或多个端口102,所述端口102也可以被称为信号路径,其可以是任何电信号媒介。端口102可以包括多个硬件组件,诸如但不限于接收器、发射器、增益和偏移寄存器、调节电路、模数转换器和/或用于将所接收的信号转换成波形以用于进一步分析的其它电路。每个端口102是测试和测量仪器100的通道。端口102与一个或多个处理器116耦合,以处理在端口102处从一个或多个被测设备接收的信号和/或波形。尽管为了便于说明,在图1中仅示出了一个处理器116,但是如本领域技术人员应当理解的,可以组合使用不同类型的多个处理器116,而不是单个处理器116。测试和测量仪器100还可以包括温度传感器104,诸如温度计、热敏电阻、热电偶等,以用于确定测试和测量设备100的内部温度。在一些实施例中,测试和测量仪器100可以包括多个温度传感器104。通常,一个或多个温度传感器104物理上定位在接近于信号路径中的硬件组件的地方,所述硬件组件的特性受温度改变的影响最大。
端口102还可以连接到测试仪器100中的测量单元,为了便于说明,未示出该测量单元。这样的测量单元可以包括能够测量经由端口102接收的信号的各方面(例如,电压、安培数、幅度等)的任何组件。所得到的波形然后可以存储在存储器110中,以及显示在显示器112上。端口102也可以选择性地连接到参考信号源118。参考信号源118可以是例如提供校准电压参考信号的信号发生器。参考信号118可以被施加到端口,并用于在信号路径校准期间表征通道特性。
一个或多个处理器116可以被配置为执行来自存储器110的指令,并且可以执行由这样的指令指示的任何方法和/或相关联的步骤,诸如对端口102进行校准。存储器110可以实现为处理器高速缓存、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、固态存储器、(一个或多个)硬盘驱动器或任何其它存储器类型。存储器110充当用于存储数据、计算机程序产品和其它指令的媒介。
用户输入114耦合到所述一个或多个处理器116。用户输入114可以包括键盘、鼠标、轨迹球、触摸屏和/或用户可使用来与显示器112上的GUI交互的任何其它控件。显示器112可以是数字屏幕、基于阴极射线管的显示器或向用户显示波形、测量值和其它数据的任何其它监视器。虽然测试仪器100的组件被描绘为被集成在测试和测量仪器100内,但是本领域普通技术人员应当理解,这些组件中的任何一个都可以在测试仪器100的外部,并且可以以任何常规方式(例如,有线和/或无线通信介质和/或机制)耦合到测试仪器100。例如,在一些实施例中,显示器112可以远离测试和测量仪器100。
图2图示了测试和测量仪器100的示例操作。在操作200中,用户通过用户输入114将测试和测量仪器设置为特定设置。该设置可以是例如垂直标度和偏移。在操作202中,使用用户输入114,用户可以选择针对该特别的特定设置执行信号路径校准(SPC)。这可以在例如测试和测量仪器100的显示器112上被标记为“点SPC”,因为用户正在选择单个点或设置来执行SPC。在一些实施例中,用户可以选择小的设置集,而不是单个点。
在一些实施例中,用户可以使用多个不同的设置来测试设备。替代对每个设置单独执行点SPC,用户可以通过用户输入114选择一小组设置来执行点SPC。所述设置可以是由用户选择的多个不同的设置,或者所述设置可以包括由用户选择的设置的范围。在一些实施例中,用户可以通过用户输入114输入可接受的校准时间。用户可接受的校准时间(例如,10秒、30秒、1分钟等)比用于用户指定设置的点SPC所需的时间(例如,在几秒内)更长,并且可以比常规或完整SPC所需的时间(例如,30分钟或更多)更短。然后,处理器116可以修改用户指定的(一个或多个)设置,以包括附加设置,从而针对该组经修改的设置执行点SPC。处理器116可以基于可接受的校准时间和用户特定设置来确定附加设置的数量。这些附加设置可以在用户选择的范围内,或者可替代地在用户选择的(一个或多个)设置附近。
确定针对用户指定的设置的硬件设置可以包括确定针对所请求的垂直标度的特定增益,或者包括确定增益和偏移这二者。在一些实施例中,如果仅对垂直标度进行校准,则偏移控制可以与垂直标度的增益设置分别地被表征。这可以允许将点SPC应用于垂直标度,而不管由用户设置的偏移。例如,如果垂直标度被设置为50mV/等分(div),则可以针对该特定增益来表征硬件设置,以及表征增益和偏移如何相互作用,并且这将适用于使用50mV/等分的任何时间,而无论偏移设置如何。
在其它实施例中,可以针对准确的增益和偏移设置执行点SPC。这可能对用户造成更大的限制,因为它要求测试和测量仪器被设置为特定的垂直标度和偏移,诸如点SPC设置适用的例如50mV/等分和500mV的偏移。如果用户将测试和测量仪器设置为50mV/等分和不同的偏移,例如100mV的偏移,则点SPC设置将不适用,并且将使用基于常规SPC的插补硬件设置,或者需要在该新的偏移处执行新的点SPC。
为了在操作204中确定针对用户特定设置的硬件设置,处理器116可以首先表征当前硬件设置。处理器116可以通过使用参考信号118来表征当前硬件设置。例如,如果用户已经选择了50 mV/等分的垂直标度,并且通过用户输入114选择执行点SPC,则处理器116可以将经校准的电压参考信号118施加到被表征的端口102,并且确定当前硬件设置造成50.5mV/等分的实际增益。
处理器116然后可以确定增益寄存器需要什么调整或实际设置来实现由用户设置的增益。在一些实施例中,处理器116可以具有存储在存储器110中的关于硬件增益控制的斜率的信息,该信息可以从所执行的常规SPC中来确定。基于该已知斜率,处理器116可以通过由硬件增益控制的斜率决定的量来调整增益。在操作206中,精确的硬件设置然后可以被存储在校准表中。
在其它实施例中,替代地,处理器116可以调整如基于硬件增益控制的斜率而确定的增益的量,并且然后重新测量硬件设置的特性,以确认已经实现了实际的用户指定的设置。如果未实现,则处理器116可以继续迭代,直到实现期望的精度。可替代地,替代使用诸如硬件增益控制的斜率之类的已知值,处理器116可以基于硬件设置当前偏离多远来估计将增益调整多少。处理器116然后可以继续迭代,直到实现期望的精度。
也可以使用相同类型的操作来表征偏移。也就是说,可以表征当前硬件设置,并且可以通过使用已知的硬件偏移控制斜率或者通过估计调整的量来对偏移进行调整。处理器116然后可以迭代地测量和调整硬件设置,直到以期望的精度设置通道。尽管以上讨论使用了表征垂直增益和/或偏移的示例,但是本公开的实施例不限于仅仅表征针对增益和偏移设置的通道特性。相反,本公开的实施例包括使用点SPC来表征多种通道特性中的任何一种,诸如定时对准、交织对准、失真校正、频率响应校正和许多其它特性。
一旦确定了调整和硬件设置,在操作206中,就可以将硬件设置和/或调整存储在存储器110中。存储器110可以存储信号路径校准表。处理器116可以指示存储器110将针对用户特定设置的特定硬件设置存储在信号路径校准表中。因此,如果用户再次选择该设置以用于进行测量,则处理器116可以直接从存储器116中的信号路径校准表中提取硬件设置和/或调整。在一些实施例中,处理器116可以指示显示器112指示点SPC值被存储在存储器中并且被用于该设置,以提醒用户该设置的增强的精度。在一些实施例中,处理器116可以将特定硬件设置存储在存储器110中。在其它实施例中,存储器110可以存储针对硬件设置的调整值。在其它实施例中,存储器110可以存储对硬件设置的调整因子,诸如比例因子。一些实施例可以在存储器110中存储特定硬件设置、调整值和调整因子的组合,在本公开中,每个组合可以被称为“经调整的信号路径硬件设置”。
在一些实施例中,处理器116可以指示显示器112显示校准表内存。这可以允许用户看到哪些特定设置已经被校准,以及哪些设置是通过插补或外推来确定的。用户还可以是能够通过用户输入114来选择校准表内存中的一个或多个特定设置的,并指示处理器116针对所选择的设置执行点SPC。如果不再需要数据,则用户也可以从存储在存储器110中的校准表中删除设置。
在一些实施例中,当执行点SPC时,处理器116可以登记测试和测量仪器的温度,如图2中的可选操作208所示。然后,存储在存储器中的硬件设置可以标出或存储测试和测量仪器100在该设置处在校准信号路径期间所处的温度。也就是说,可以针对特定温度下的给定设置执行点SPC。在这样的实施例中,只有当在给定的设置和温度加上或减去设置的阈值处时,才应用点SPC。
在一些实施例中,当用户针对给定设置执行点SPC时,每当选择该设置或者每当测试和测量温度增加或降低超过阈值时,测试和测量仪器100就可以通过处理器116自动周期性地重复点SPC。例如,如果测试和测量仪器100上的内部温度传感器指示温度已经改变了10度,则测试和测量仪器100可以再次自动执行点SPC。然而,本公开的实施例不限于10度的阈值,并且可以设置任何阈值。阈值可以被预先确定并存储在存储器110中,或者阈值可以由用户通过用户输入114来设置。
图3图示了用于提醒用户测试和测量仪器100中的温度从上次执行点SPC时起已经改变的示例操作。在操作300中,从温度传感器104接收测试和测量仪器100的温度。在操作302中,处理器116确定在存储器110中的点SPC设置的情况下标出或保存的温度。
在操作304中,处理器116确定温度改变是否已经超过了针对给定点SPC设置的预定阈值。也就是说,处理器116确定温度是否已经升高或降低超过阈值。换句话说,处理器116确定温度中的改变是否大于阈值。如果是,则在操作306中,处理器116可以在显示器112上向用户显示提醒,以通知用户。如果否,则处理器116返回到操作300以监控温度。
尽管在图3中未示出,但是在一些实施例中,如果温度改变已经超过阈值,则处理器116可以自动重复点SPC,如上面所提到的。这可以诸如在操作306中向用户进行提醒,或者这可以在测试和测量仪器100的背景中执行。在一些实施例中,用户可以确定如果发生了温度改变,是否自动重复点SPC,或者是否仅接收提醒。
图4图示了用于基于所测量的温度提醒用户和/或自动重复点SPC的替代示例操作。在图4中,操作400和402类似于图3中的操作300和302,并且将不进一步进行讨论。在操作403中,处理器116计算将由温度中的改变引起的预期误差。处理器116可以通过使用信号路径中组件的已知温度性能数据和特性来计算由温度中的改变引起的预期误差,例如增益误差。然后,在操作404中,处理器116确定预期误差是否大于阈值。在一些实施例中,阈值可以是用户可配置的。如果否,则处理器116返回操作400。如果是,则在操作406中,处理器可以向用户显示提醒和/或可选地自动重复点SPC,如以上针对操作306所讨论的。因此,在图4的实施例中,提醒用户和/或自动重复点SPC是基于由温度改变引起的测量信号中的预期误差的,而不仅仅是基于所设置的温度改变阈值。
本公开的各方面可以在特别创建的硬件、固件、数字信号处理器上操作,或者在包括根据编程指令操作的处理器的特别编程的计算机上操作。本文使用的术语控制器或处理器旨在包括微处理器、微型计算机、专用集成电路(ASIC)和专用硬件控制器。本公开的一个或多个方面可以体现在计算机可用数据和计算机可执行指令中,诸如体现在由一个或多个计算机(包括监控模块)或其它设备执行的一个或多个程序模块中。通常,程序模块包括例程、程序、对象、组件、数据结构等,其在由计算机或其它设备中的处理器执行时执行特定的任务或实现特定的抽象数据类型。计算机可执行指令可以被存储在计算机可读存储媒介上,所述计算机可读存储媒介诸如硬盘、光盘、可移动存储介质、固态存储器、随机存取存储器(RAM)等。如本领域技术人员应当领会的,程序模块的功能可以如在各种方面中期望的那样被组合或分布。此外,所述功能可以全部或部分体现在诸如集成电路、FPGA等的固件或硬件等同物中。特定的数据结构可以用于更有效地实现本公开的一个或多个方面,并且这样的数据结构被设想在本文描述的计算机可执行指令和计算机可用数据的范围内。
在一些情况下,所公开的方面可以在硬件、固件、软件或其任何组合中实现。所公开的方面也可以被实现为由一个或多个或计算机可读存储介质携带或存储在其上的指令,所述指令可以由一个或多个处理器读取和执行。这样的指令可以被称为计算机程序产品。如本文所讨论的,计算机可读介质是指可以由计算设备访问的任何介质。作为示例而非限制,计算机可读介质可以包括计算机存储介质和通信介质。
计算机存储介质是指可以用于存储计算机可读信息的任何媒介。作为示例而非限制,计算机存储介质可以包括RAM、ROM、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器或其它存储器技术、压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字视频盘(DVD)或其它光盘存储装置、盒式磁带、磁带、磁盘存储装置或其它磁存储设备,以及以任何技术实现的任何其它易失性或非易失性、可移动或不可移动介质。计算机存储介质不包括信号本身和信号传输的暂时形式。
通信介质是指可以用于计算机可读信息的通信的任何介质。作为示例而非限制,通信介质可以包括同轴电缆、光纤线缆、空气或适合于电、光、射频(RF)、红外、声学或其它类型信号的通信的任何其它介质。
示例
下面提供了本文公开的技术的说明性示例。所述技术的实施例可以包括下面描述的示例中的任何一个或多个以及它们的任何组合。
示例1,一种测试和测量仪器,包括用户接口,所述用户接口被配置为接收指令,以针对从用户接收的用户特定设置执行信号路径校准;存储器,被配置为存储信号路径校准数据;以及一个或多个处理器,被配置为确定针对用户特定设置的实际信号路径硬件设置,确定用以调整实际信号路径硬件设置的调整,以精确地表示用户特定设置,通过所述调整来调整实际信号路径硬件设置,并且将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中。
示例2是示例1的测试和测量仪器,其中实际信号路径硬件设置包括增益寄存器,并且所述调整包括针对增益寄存器的增益调整。
示例3是示例1或2中任一项的测试和测量仪器,其中实际信号路径硬件设置包括偏移寄存器,并且所述调整包括针对偏移寄存器的偏移调整。
示例4是示例1-3中任一项的测试和测量仪器,进一步包括用以确定测试和测量仪器的温度的温度传感器,其中所述一个或多个处理器被进一步配置为存储当将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中时的温度。
示例5是示例4的测试和测量仪器,其中所述温度是第一温度,并且在将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中之后,所述一个或多个处理器被进一步配置为:确定测试和测量仪器的第二温度,确定第一温度和第二温度之间的差值是否大于阈值,并且当第一温度和第二温度之间的差值大于阈值时,在显示器上显示提醒。
示例6是示例4的测试和测量,其中所述温度是第一温度,并且在将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中之后,一个或多个处理器被进一步配置为:确定测试和测量仪器的第二温度,确定第一温度和第二温度之间的差值是否大于阈值,并且如果差值大于阈值,则:确定当前硬件设置,如果当前硬件设置不再以预先确定的精度对应于用户特定设置,则确定对当前硬件设置的第二调整,通过第二调整来调整当前硬件设置,以精确地表示用户特定设置,并且将用户特定设置、新调整的信号路径硬件设置和第二温度存储在信号路径校准数据中。
示例7是示例1-6中任一项的测试和测量仪器,其中所述信号路径校准数据包括存储在存储器中的表,所述表包括已经被校准的每个设置。
示例8是示例7的测试和测量仪器,其中用户可以选择所述表中的设置来更新信号路径校准。
示例9是示例1-8中任一项的测试和测量仪器,其中用户特定设置包括多于一个的设置。
示例10是示例1-9中任一项的测试和测量仪器,其中用户特定设置包括设置的范围。
示例11是用于针对用户指定设置执行信号路径校准的方法,包括在用户输入处接收用户指定的设置;确定针对用户特定设置的实际信号路径硬件设置;确定将实际信号路径硬件设置设置为用户特定设置的调整;通过所述调整来调整实际信号路径硬件设置,以精确地实现用户特定设置;以及将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在存储器中的信号路径校准数据中。
示例12是示例11的方法,其中实际信号路径硬件设置包括增益寄存器,并且所述调整包括针对增益寄存器的增益调整。
示例13是示例10或11中任一项的方法,其中实际信号路径硬件设置包括偏移寄存器,并且所述调整包括针对偏移寄存器的偏移调整。
示例14是示例11-13中任一项的方法,进一步包括测量测试和测量仪器的温度,并且存储当将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中时的温度。
示例15是示例11-14中任一项的方法,其中所述信号路径校准数据包括存储在存储器中的表,所述表包括已经被校准的每个设置。
示例16是示例11-15中任一项的方法,其中用户特定设置包括多于一个的设置。
示例17是示例11-16中任一项的方法,其中用户特定设置包括设置的范围。
示例18是包括指令的一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,所述指令在由测试和测量仪器的一个或多个处理器执行时,使测试和测量仪器针对用户特定设置确定信号路径的实际信号路径硬件设置;确定将实际信号路径硬件设置设置为用户特定设置的调整;通过所述调整来调整所述实际信号路径硬件设置,以精确地表示用户特定设置。
示例19是示例18的一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,进一步包括使得进行如下操作的指令:使测试和测量仪器确定经调整的信号路径硬件设置是否精确地表示用户特定设置,以及当经调整的信号路径硬件设置并未精确地表示用户特定设置时,通过另一调整来调整所述经调整的信号路径硬件设置,以精确地表示用户特定设置。
示例20是示例18或19中任一项的一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,进一步包括使得进行如下操作的指令:使测试和测量仪器将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在存储器中的信号路径校准数据中。
所公开主题的先前描述的版本具有许多优点,这些优点或者已经被描述过,或者对于普通技术人员是显而易见的。即便如此,并非在所公开的装置、系统或方法的所有版本中都要求这些优点或特征。
此外,该书面描述参考了特定特征。应当理解,本说明书中的公开内容包括这些特定特征的所有可能组合。在特定方面或示例的上下文中公开了特定特征的情况下,也可以尽可能地在其它方面和示例的上下文中使用该特征。
此外,当在本申请中提及具有两个或更多个所定义的步骤或操作的方法时,所定义的步骤或操作可以以任何顺序或同时执行,除非上下文不包括那些可能性。
虽然出于说明的目的已经说明和描述了本发明的具体示例,但是应当理解,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可以进行各种修改。因此,除了所附权利要求之外,本发明不应受到限制。

Claims (20)

1.一种测试和测量仪器,包括:
用户接口,被配置为接收指令,以针对从用户接收的用户特定设置执行信号路径校准;
存储器,被配置为存储信号路径校准数据;和
一个或多个处理器,配置为:
确定针对所述用户特定设置的实际信号路径硬件设置,
确定用以调整所述实际信号路径硬件设置的调整,以精确地表示所述用户特定设置,
通过所述调整来调整所述实际信号路径硬件设置,以及
将所述用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在信号路径校准数据中。
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述实际信号路径硬件设置包括增益寄存器,并且所述调整包括针对所述增益寄存器的增益调整。
3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述实际信号路径硬件设置包括偏移寄存器,并且所述调整包括针对所述偏移寄存器的偏移调整。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,进一步包括用于确定所述测试和测量仪器的温度的温度传感器,其中所述一个或多个处理器进一步被配置为存储当将所述用户特定设置和所述经调整的信号路径硬件设置存储在所述信号路径校准数据中时的温度。
5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器,其中所述温度是第一温度,并且在将所述用户特定设置和所述经调整的信号路径硬件设置存储在所述信号路径校准数据中之后,所述一个或多个处理器进一步被配置为:
确定所述测试和测量仪器的第二温度,
确定第一温度和第二温度之间的差值是否大于阈值,以及
当第一温度和第二温度之间的差值大于所述阈值时,在显示器上显示提醒。
6.根据权利要求4所述的测试和测量仪器,其中所述温度是第一温度,并且在将所述用户特定设置和所述经调整的信号路径硬件设置存储在所述信号路径校准数据中之后,所述一个或多个处理器进一步被配置为:
确定测试和测量仪器的第二温度,
确定第一温度和第二温度之间的差值是否大于阈值,以及
如果所述差值大于阈值:
则确定当前硬件设置,
如果当前硬件设置不再以预先确定的精度对应于用户特定设置,则确定对当前硬件设置的第二调整,
通过第二调整来调整当前硬件设置,以精确地表示用户特定设置,以及
将用户特定设置、新调整的信号路径硬件设置和第二温度存储在信号路径校准数据中。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中信号路径校准数据包括存储在存储器中的表,所述表包括已经被校准的每个设置。
8.根据权利要求7所述的测试和测量仪器,其中用户可以选择表中的设置来更新信号路径校准。
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述用户特定设置包括多于一个的设置。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述用户特定设置包括设置的范围。
11.一种用于针对用户指定设置执行信号路径校准的方法,包括:
在用户输入处接收用户指定的设置;
确定针对用户特定设置的实际信号路径硬件设置;
确定将实际信号路径硬件设置设置为用户特定设置的调整;
通过所述调整来调整实际信号路径硬件设置,以精确地实现用户特定设置;和
将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在存储器中的信号路径校准数据中。
12.根据权利要求11所述的方法,其中所述实际信号路径硬件设置包括增益寄存器,并且所述调整包括针对所述增益寄存器的增益调整。
13.根据权利要求11所述的方法,其中所述实际信号路径硬件设置包括偏移寄存器,并且所述调整包括针对所述偏移寄存器的偏移调整。
14.根据权利要求11所述的方法,进一步包括测量所述测试和测量仪器的温度,并且当将所述用户特定设置和所述经调整的信号路径硬件设置存储在所述信号路径校准数据中时,存储所述温度。
15.根据权利要求11所述的方法,其中所述信号路径校准数据包括存储在存储器中的表,所述表包括已经被校准的每个设置。
16.根据权利要求11所述的方法,其中所述用户特定设置包括多于一个的设置。
17.根据权利要求11所述的方法,其中所述用户特定设置包括设置的范围。
18.一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,包括指令,所述指令在由测试和测量仪器的一个或多个处理器执行时,使得所述测试和测量仪器:
针对用户特定设置确定信号路径的实际信号路径硬件设置;
确定用以将实际信号路径硬件设置设置为用户特定设置的调整;
通过所述调整来调整实际信号路径硬件设置,以精确地表示用户特定设置。
19.根据权利要求18所述的一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,进一步包括执行如下操作的指令:使所述测试和测量仪器确定所述经调整的信号路径硬件设置是否精确地表示所述用户特定设置,并且当所述经调整的信号路径硬件设置并未精确地表示所述用户特定设置时,通过另一调整来调整所述经调整的信号路径硬件设置,以精确地表示所述用户特定设置。
20.根据权利要求18所述的一个或多个非暂时性计算机可读存储介质,进一步包括使所述测试和测量仪器将用户特定设置和经调整的信号路径硬件设置存储在存储器中的信号路径校准数据中的指令。
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