CN112408776B - 一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法 - Google Patents

一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用摄像头监控VAD法沉积过程，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比、△、△‑的波动数据，调控沉积原料、锗及四氟化碳流量。本发明提供的提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用两种控制方案，一是根据系统给定目标，二是根据实际测试值，控制器系统实时接收包芯比、△、△‑参数波动数据并处理，实时调控气体流量，使得沉积过程中工艺参数得到更为精准的控制，在连续生产过程中，系统在大数据的作用下将实现每根芯棒数据的往复“训练”与“验证”，各沉积机台之间的数据共享使用、共同优化，提高工作效率和准确性，实现光纤预制棒参数的均匀、准确控制。

Description

一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法
技术领域
本发明属于光纤预制棒制造技术领域，具体涉及一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法。
背景技术
中国发明专利，公开号CN105347667B，公开了一种光纤预制棒光学参数稳定性控制方法及其设备，通过优化沉积腔体的进排风改善光纤预制棒的参数稳定性，但无法得知沉积过程中参数均匀性是否发生变化，且无法实时进行调整参数改善均匀性。
当前，制造光纤预制棒的方法有VAD、OVD、MCVD、PCVD，其中，VAD法以沉积效率高、低成本等优势获得很多制造厂商的青睐。VAD法制造光纤预制棒，棒中参数存在波动，一般通过参数分段去优化棒中参数的均匀性(如亨通、富通、康宁、中天、长飞等主流公司)。控制光纤预制棒的参数均匀性是通过技术工程师等待测试结果，一般需要24h或者更多时间，根据测试结果再去调整沉积工艺参数，且调整的参数是否到位无法立即得知，同样需要等待测试结果。由于存在长时间的滞后性和对技术人员的依赖性，比如夜班或节假日就没有技术人员调整参数，但生产线仍然保持着常规运转，因此在批量生产时，很容易带来批量芯棒参数不均匀，而光纤的核心是光纤预制棒，因此芯棒参数不均匀将导致光纤产品出现截止波长、零色散、衰减等异常，不仅存在很大的质量隐患，且容易引起客户端抱怨，尤其是制造光缆的成品或埋入地下的产品，造成的损失无法估量。
由于腔体温度较高，摄像头工作时需要考虑到隔热防护，避免摄像头长时间处于高温下导致获取的数据失真。
发明内容
为解决现有技术中存在的技术问题，本发明的目的在于提供一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法。
为实现上述目的，达到上述技术效果，本发明采用的技术方案为：
一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，包括以下步骤：
通过VAD法生产光纤预制棒，使用摄像头监控VAD法沉积过程并上传至控制器系统，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比波动数据，沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节；
控制器系统反馈包芯比偏离给定目标，调整疏松体长度；此时若包层直径和芯层直径出现同步波动，对沉积原料流量进行调整；
控制器系统反馈△波动数据，并根据△波动数据调整锗流量；此时若芯层直径出现波动，需同步调整锗流量；
控制器系统反馈△-波动数据，并根据△-波动数据调整四氟化碳流量。
进一步的，所述沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节的步骤包括：
包芯比给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新包芯比给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体包芯比大小立即进行反馈，调整沉积原料流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整沉积原料流量。
进一步的，包芯比波动大小为0-0.1时，沉积原料流量调整大小为0.3L；包芯比波动大小为0.1-0.2时，沉积原料流量调整大小为0.6L；包芯比波动大小为0.2-0.3时，沉积原料流量调整大小为1.0L；包芯比波动大小大于0.3时，沉积原料流量进行手动调整。
进一步的，所述疏松体长度按照如下公式计算得到：
d＝a×c/b
式中：
a为生产长度，b为延伸长度，c为需要调整的延伸长度，d为需要调整的疏松体长度。
进一步的，若包层直径和芯层直径出现同步波动，对沉积原料流量进行调整的步骤包括：
包层直径波动大小为5mm，且芯层直径波动大小为1mm，沉积原料流量调整大小为0.3L；包层直径波动大小为10mm，且芯层直径波动大小为2mm，沉积原料流量调整大小为0.6L；包层直径波动大小为15mm，且芯层直径波动大小为3mm，沉积原料流量调整大小为1.0L；包层直径波动大小大于15mm，且芯层直径波动大小大于3mm，沉积原料流量进行手动调整。
进一步的，根据△波动数据调整锗流量的步骤包括：
△给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体△大小立即进行反馈，调整锗流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整锗流量。
进一步的，△波动大小为0-0.05时，锗流量调整大小为3mL；△波动大小为0.05-0.1时，锗流量调整大小为6mL；△波动大小为0.1-0.15时，锗流量调整大小为10mL；△波动大小大于0.15时，锗流量手动调整。
进一步的，△-给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△-给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体△-大小立即进行反馈，调整四氟化碳流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整四氟化碳流量。
进一步的，△-波动大小为0-0.00001时，四氟化碳流量调整大小为40mL；△-波动大小为0.00001-0.000015时，四氟化碳流量调整大小为80mL；△-波动大小为0.000015-0.00002时，四氟化碳流量调整大小为120mL；△-波动大小＞0.00002时，四氟化碳流量进行手动调整。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
本发明公开了一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用摄像头监控VAD法沉积过程，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比、△、△-的波动数据，调控沉积原料流量、锗流量及四氟化碳流量。本发明提供的提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用两种控制方案，一是根据系统给定目标，二是根据实际测试值，控制器系统实时接收包芯比、△、△-参数波动数据并处理，实时调控沉积原料流量、锗流量和四氟化碳流量，使得沉积过程中工艺参数得到更为精准的控制，同时，在连续生产过程中，系统在大数据的作用下将实现每根芯棒数据的往复“训练”与“验证”，并且各沉积机台之间的数据将共享使用、共同优化，提高工作效率和准确性，从而实现光纤预制棒参数的均匀、准确控制。
具体实施方式
下面对本发明进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
名词解释：
包芯比：光纤预制棒包层直径与芯层直径之比；
△：芯层折射率；
△-：包层折射率；
一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，控制参数主要包括包芯比、芯层折射率△和包层折射率△-三个参数，对于任一参数而言，都具备两种控制方案，方案一是根据各参数给定目标进行响应和反馈，方案二是对各参数数据采用现有产品中阿诺德PK2600折射率测试设备进行实时监测得到测试值(芯棒的包芯比、折射率等)并进行响应和反馈，下面将具体介绍三个参数的两种控制方案。
1)包芯比参数控制
方案一：系统给定的包芯比给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新包芯比给定目标并上传至控制器系统，此时沉积机台的控制器系统接收到包芯比变更信号，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体包芯比大小立即进行反馈，通过质量流量计MFC调整沉积原料流量，调整规则如下表1所示。
表1
Figure BDA0002795112710000041
若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整沉积原料流量，规则同上。
方案二：实时监测包芯比数据，并上传至控制器系统，控制器系统将实时包芯比测试数据与包芯比给定目标进行比对，反馈包芯比偏离给定目标，此时给到沉积机台控制器系统的数据是延伸芯棒测试数据组，系统匹配生产长度调整沉积原料流量，需要调整的疏松体长度位置公式为：
d＝a×c/b
式中：a为生产长度，b为延伸长度，c为需要调整的延伸长度，d为需要调整的疏松体长度，调整规则同上表1。
同时，沉积过程因不重复导致直径波动时(即在未主动修改参数的情况下，连续10min测试出的包层或芯层直径较上根出现偏差)，此时需要进行同时调整，调整方案如下表2，如果包层和芯层出现同步波动，需要累积调整。
表2
Figure BDA0002795112710000042
Figure BDA0002795112710000051
2)△参数控制
方案一：系统给定的芯层折射率△给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△给定目标，此时沉积机台的控制器系统接收到△变更信号，如果生产长度小于100mm，立即进行反馈，通过质量流量计MFC调整锗流量，即根据上一根△大小进行调整，调整规则如下表3所示。
表3
Figure BDA0002795112710000052
如果生产长度大于100mm则下一根进行调整，规则同上表3。
方案二：实时监测芯层折射率△数据，并上传至控制器系统，控制器系统将实时△数据与给定的△目标进行比对，反馈实时△偏离给定目标，此时给到机台控制器系统的是延伸芯棒测试数据组，系统匹配生产长度调整锗流量，调整规则同上表3。同时，沉积过程因不重复导致直径波动时(即在未主动修改参数的情况下，连续10min测试出的芯层直径较上根出现偏差)，此时需要进行同时调整，调整方案如下表4。
表4
Figure BDA0002795112710000053
3)△-参数控制
方案一：系统给定的△-目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△-给定目标，此时沉积机台的控制器系统接收到△-变更信号，如果生产长度小于100mm的立即进行反馈，通过质量控制计MFC调整四氟化碳流量，即根据上一根△-大小进行调整，调整规则如下表5所示。
表5
Figure BDA0002795112710000061
如果生产长度大于100mm则下一根进行调整，规则同上表5。
方案二：实时监测△-数据并上传至控制器系统，控制器系统将实时△-数据与△-给定目标进行比对，反馈△-偏离给定目标，此时给到沉积机台的是延伸芯棒测试数据组，系统匹配生产长度调整四氟化碳流量，调整规则同上表5。
本发明未具体描述的部分采用现有技术即可，在此不做赘述。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
通过VAD法生产光纤预制棒，使用摄像头监控VAD法沉积过程并上传至控制器系统，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比波动数据，沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节；
控制器系统反馈包芯比偏离给定目标，调整疏松体长度；此时若包层直径和芯层直径出现同步波动，对沉积原料流量进行调整；
控制器系统反馈△波动数据，并根据△波动数据调整锗流量；此时若芯层直径出现波动，需同步调整锗流量；
控制器系统反馈△-波动数据，并根据△-波动数据调整四氟化碳流量。
2.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，所述沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节的步骤包括：
包芯比给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新包芯比给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体包芯比大小立即进行反馈，调整沉积原料流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整沉积原料流量。
3.根据权利要求2所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，包芯比波动大小为0-0.1时，沉积原料流量调整大小为0.3L；包芯比波动大小为0.1-0.2时，沉积原料流量调整大小为0.6L；包芯比波动大小为0.2-0.3时，沉积原料流量调整大小为1.0L；包芯比波动大小大于0.3时，沉积原料流量进行手动调整。
4.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，所述疏松体长度按照如下公式计算得到：
d＝a×c/b
式中：
a为生产长度，b为延伸长度，c为需要调整的延伸长度，d为需要调整的疏松体长度。
5.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，若包层直径和芯层直径出现同步波动，对沉积原料流量进行调整的步骤包括：
包层直径波动大小为5mm，且芯层直径波动大小为1mm，沉积原料流量调整大小为0.3L；包层直径波动大小为10mm，且芯层直径波动大小为2mm，沉积原料流量调整大小为0.6L；包层直径波动大小为15mm，且芯层直径波动大小为3mm，沉积原料流量调整大小为1.0L；包层直径波动大小大于15mm，且芯层直径波动大小大于3mm，沉积原料流量进行手动调整。
6.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，根据△波动数据调整锗流量的步骤包括：
△给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体△大小立即进行反馈，调整锗流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整锗流量。
7.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，△波动大小为0-0.05时，锗流量调整大小为3mL；△波动大小为0.05-0.1时，锗流量调整大小为6mL；△波动大小为0.1-0.15时，锗流量调整大小为10mL；△波动大小大于0.15时，锗流量手动调整。
8.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，△-给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新△-给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体△-大小立即进行反馈，调整四氟化碳流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整四氟化碳流量。
9.根据权利要求1所述的一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，其特征在于，△-波动大小为0-0.00001时，四氟化碳流量调整大小为40mL；△-波动大小为0.00001-0.000015时，四氟化碳流量调整大小为80mL；△-波动大小为0.000015-0.00002时，四氟化碳流量调整大小为120mL；△-波动大小＞0.00002时，四氟化碳流量进行手动调整。
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