CN116589180A - 一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法 - Google Patents

一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法 Download PDF

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CN116589180A CN202310568522.0A CN202310568522A CN116589180A CN 116589180 A CN116589180 A CN 116589180A CN 202310568522 A CN202310568522 A CN 202310568522A CN 116589180 A CN116589180 A CN 116589180A
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Abstract

本发明公开了一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法,属于光纤制造领域。本发明所述的光纤截止波长自动控制的拉丝方法,将光纤测试仪器测量光纤的截止波长传送到拉丝生产线控制器,并通过将预制棒芯棒测试数据传输到拉丝生产线控制器增设了芯棒轴向各个位置的芯层直径和芯包层相对折射率差参与光纤拉丝控制的环节,并配备了相应的拉丝炉炉温自动控制系统的控制方法,弥补了目前通过生产工人的经验进行调节的不足,同时减少了拉丝过程中对光纤截止波长调整滞后的现象,实现了光纤截止波长的稳定自动控制,保证了生产效率和光纤的质量。

Description

一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法
技术领域
本发明属于光纤制造领域,尤其是一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法。
背景技术
目前,生产光纤预制棒的工艺主要采用两步法,即先制造预制棒芯棒,然后再制造预制棒包层。芯棒制造技术主要有以下四种:改进的化学汽相沉积法(MCVD)、微波等离子体化学汽相沉积(PCVD)、外部气相沉积法(OVD)和轴向气相沉积法(VAD),外包层制造技术主要包括外部气相沉积法(OVD),套管法,等离子体喷涂法。
芯棒的制造技术往往决定了拉制光纤的性能,外包层制备技术决定了拉制光纤的成本。在芯棒制备过程中,由于沉积原料气体的流量、引杆旋转的速度、抽风风压、激光等原因都会造成芯棒轴向的直径、折射率参数均匀性变差,从而影响光纤的截止波长、模场直径、零色散波长等光学参数。而在光纤预制棒拉丝过程中,传统的拉丝方法都是通过控制拉丝炉的炉温来控制光纤的截止波长,但随着工艺技术水平和设备制造水平的不断提高,光纤拉丝的速度越来越快,光纤下大盘的长度越来越长,最新的金属大盘可以缠绕1000km光纤,仅仅根据上一个拉制大盘光纤测试的参数来调整拉丝炉的炉温还是会造成一定的滞后性,尤其光纤预制棒中芯棒轴向的参数并不是稳定的,一旦调整不及时很容易造成光纤参数不合格导致光纤报废。
专利CN103030272A提供了一种截止波长自动控制的拉丝方法,通过光纤测试的截止波长数据反馈至拉丝生产线控制器,采用模糊控制理论自动控制拉丝炉加热功率,实现光纤截止波长自动控制的目的。但是通过拉丝炉功率控制并不能达到精确控制拉丝炉炉温的效果,其次该方法仍然存在明显的调节炉温的滞后性,未充分考虑预制棒中芯棒参数的变化引起的光纤参数变化,还是容易造成光纤参数不稳定甚至报废。
发明内容
为了克服上述技术缺陷,本发明提供一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法,以解决背景技术所涉及的问题。
本发明提供一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法,包括:
光纤拉丝设备;
拉丝炉,安装在所述光纤拉丝设备上部;将光纤预制棒安装在所述拉丝炉上部,并将光纤预制棒一端插入拉丝炉的炉腔热区内;
光纤测试仪器,适于检测光纤拉丝设备所生产光纤的截止波长;
芯棒测试仪器,适于检测所述光纤预制棒中芯棒轴向数据;所述芯棒轴向数据包括光纤预制棒在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差;
拉丝生产线控制器,与所述光纤测试仪器、芯棒测试仪器以及拉丝炉信号连接,获取生产光纤的截止波长、芯棒轴向数据,调整所述拉丝炉内的光纤生产温度。
优选地或可选地,还包括温度测试装置;
所述温度测试装置设置在所述拉丝炉内部,并与所述拉丝生产线控制器信号连接,适于检测所述拉丝炉的炉腔热区的温度。
优选地或可选地,所述拉丝炉采用石墨电阻加热或线圈感应加热。
优选地或可选地,所述拉丝生产线控制器采用可编程控制器PLC。
本发明还包括一种基于所述的光纤拉丝装置的拉丝控制方法,包括:
步骤1、芯棒测试仪器获取光纤预制棒在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差参数,并传输至拉丝生产线控制器;在生产线控制器中预设芯层直径初始设定值以及芯包层相对折射率差为设定值;
步骤2、将光纤预制棒安装在所述拉丝炉上部,并将光纤预制棒一端插入拉丝炉的炉腔热区内;
步骤3、将光纤预制棒经过拉丝炉加热,在经历升速达到稳定的拉丝温度和稳定的拉丝速度下,光纤拉丝设备进行光纤拉丝;
步骤4、光纤拉丝设备生产的光纤在光纤测试仪器进行测量,测得的光纤截止波长并将数据传送到拉丝生产线控制器;
步骤5、拉丝生产线控制器判断光纤拉丝设备所生产光纤的截止波长是否落入控制范围内;若是,则执行步骤6;若否,则控制拉丝炉升高或降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围,再执行步骤6;
步骤6、保持步骤5中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯层直径是否大于芯层直径初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;
步骤7、保持步骤6中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯包层相对折射率差是否大于芯包层相对折射率差初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;
步骤8、重复步骤5至7,直至完成光纤预制棒的拉丝。
优选地或可选地,所述步骤1中,所述拉丝生产线控制器以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯层直径为芯层直径初始设定值;以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯包层相对折射率差为芯包层相对折射率差为设定值。
优选地或可选地,所述步骤5中,控制拉丝炉升高或降低炉温方法为:
若光纤截止波长低于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围;若光纤截止波长高于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉升高炉温,直至生产光纤的截止波长达到控制范围。
优选地或可选地,所述步骤3中,稳定的拉丝温度为2100-2300℃,稳定的拉丝速度为2700~3000m/min。
优选地或可选地,所述步骤5中,所述控制范围为1260nm-1280nm;
拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为5~10℃/s。
优选地或可选地,所述步骤6和步骤7中,拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为0.1~3℃/s。
本发明涉及一种光纤拉丝装置和拉丝控制方法,相较于现有技术,具有如下有益效果:本发明所述的光纤截止波长自动控制的拉丝方法,将光纤测试仪器测量光纤的截止波长传送到拉丝生产线控制器,并通过将预制棒芯棒测试数据传输到拉丝生产线控制器增设了芯棒轴向各个位置的芯层直径和芯包层相对折射率差参与光纤拉丝控制的环节,并配备了相应的拉丝炉炉温自动控制系统的控制方法,弥补了目前通过生产工人的经验进行调节的不足,同时减少了拉丝过程中对光纤截止波长调整滞后的现象,实现了光纤截止波长的稳定自动控制,保证了生产效率和光纤的质量。
附图说明
图1是本发明中光纤拉丝装置的结构示意图。
图2是本发明中实施例1生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
图3是本发明中实施例2生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
图4是本发明中实施例3生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
图5是本发明中对比例1生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
图6是本发明中对比例2生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
图7是本发明中对比例3生产的光纤截止波长-数量的柱状体分布图。
附图标记为:1、光纤预制棒;2、拉丝炉;3、光纤拉丝设备;4、温度测试装置;5、拉丝生产线控制器;6、数据传输网线;7、芯棒测试仪器;8、数据传输网线;9、光纤测试仪器;10、控制网线。
具体实施方式
在下文的描述中,给出了大量具体的细节以便提供对本发明更为彻底的理解。然而,对于本领域技术人员而言显而易见的是,本发明可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中,为了避免与本发明发生混淆,对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
参阅附图1,一种光纤拉丝装置,包括:光纤预制棒1、拉丝炉2、温度测试装置4、光纤拉丝设备3、拉丝生产线控制器5、控制网线10、数据传输网线6和8、芯棒测试仪器7和光纤测试仪器9。
所述的光纤预制棒1采用两步法工艺制备,光纤预制棒1悬挂在拉丝炉2的上部,生产时光纤预制棒1插入拉丝炉2的热区内,所述的拉丝炉2采用石墨电阻加热或线圈感应加热,拉丝炉2安装在光纤拉丝设备3的上部,芯棒测试仪器7通过数据传输网线6与拉丝生产线控制器5相连,用于传输光纤预制棒1中芯棒轴向的测试数据;所述芯棒轴向数据包括光纤预制棒1在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差;光纤测试仪器9同样通过数据传输网线8与拉丝生产线控制器5相连,用于传输上一个光纤大盘的测试数据,拉丝生产线控制器5通过控制网线10与拉丝炉2相连接,用于自动控制拉丝炉2内光纤生产温度。
在进一步实施例中,所述的拉丝生产线控制器5采用可编程控制器PLC。所述的芯棒测试仪器7和光纤测试仪器9均是美国PK公司生产的仪器,芯棒测试仪器7的型号为PK2600,光纤测试仪器9的型号为PK2300AG。
在进一步实施例中,所述光纤拉丝装置还包括温度测试装置4,所述温度测试装置4安装在拉丝炉2内,用于检测拉丝炉2炉内的温度。由于拉丝炉5的设置的加热温度与拉丝炉5内部的实际温度会存在一定偏差,而且拉丝炉5内的实际温度也并不等同于光纤生产温度。因此,在拉丝炉内部靠近拉丝区域的位置设置温度测试装置4,所述的温度测试装置4为温度表或温度传感器,尽可能的保证温度测试装置4检测温度趋近于光纤生产温度,实现光纤截止波长的精准控制,保证了生产效率和光纤的质量。
其中,光纤截止波长的理论计算公式如下:
其中:a为光纤芯层,n1为芯层折射率,n2为包层折射率,△n为芯包层相对折射率差;由此可知,芯棒轴向的测试参数芯层直径、芯包层相对折射率差都会直接影响光纤的截止波长,而且光纤截止波长与芯棒的芯层直径、芯包层相对折射率差是正相关关系。因此,申请人针对上述光纤拉丝装置设计了一种拉丝控制方法,包括如下步骤:
步骤1、芯棒测试仪器获取光纤预制棒在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差参数,并传输至拉丝生产线控制器;在生产线控制器中预设芯层直径初始设定值以及芯包层相对折射率差为设定值。
具体地,所述拉丝生产线控制器以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯层直径为芯层直径初始设定值;以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯包层相对折射率差为芯包层相对折射率差为设定值。
步骤2、将光纤预制棒安装在所述拉丝炉上部,并将光纤预制棒一端插入拉丝炉的炉腔热区内;
步骤3、将光纤预制棒经过拉丝炉加热,在经历升速达到稳定的拉丝温度和稳定的拉丝速度下,光纤拉丝设备进行光纤拉丝;稳定的拉丝温度为2100-2300℃,稳定的拉丝速度为2700~3000m/min。
步骤4、光纤拉丝设备生产的光纤在光纤测试仪器进行测量,测得的光纤截止波长并将数据传送到拉丝生产线控制器;
步骤5、拉丝生产线控制器判断光纤拉丝设备所生产光纤的截止波长是否落入控制范围内;若是,则执行步骤6;若否,则控制拉丝炉升高或降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围,再执行步骤6;所述控制范围为1260nm-1280nm。
具体地,控制拉丝炉升高或降低炉温方法为:若光纤截止波长低于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围,再执行步骤6;若光纤截止波长高于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉升高炉温。其中,拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为5~10℃/s。
步骤6、保持步骤5中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯层直径是否大于芯层直径初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为0.1~3℃;
步骤7、保持步骤6中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯包层相对折射率差是否大于芯包层相对折射率差初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为0.1~3℃;
步骤8、重复步骤5至7,直至完成光纤预制棒的拉丝。
下面结合实施例,对本发明作进一步说明,所述的实施例的示例旨在解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
实施例1
本实施例中的光纤拉丝装置和拉丝控制方法同上文,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
在本实施例中,光纤预制棒采用VAD+OVD两步法工艺制备,光纤预制棒平均直径150mm。光纤拉丝炉稳定阶段的炉温2100℃,拉丝速度2800m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1266nm,满足截止波长控制范围,拉丝炉炉温仍保持2100℃,步骤S6中拉丝炉炉温根据芯棒的测试数据自动控制拉丝炉炉温,升温或降温速度为1℃/s实现光纤截止波长的自动控制。
本实施例中光纤预制棒芯棒的轴向测试数据如表1所示,生产的光纤截止波长数据如附图2所示。
表1.实施例1中光纤预制棒的芯棒轴向数据
实施例2
本实施例中的光纤拉丝装置和拉丝控制方法同上文,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
本实施例中,光纤预制棒采用VAD+套管法工艺制备,套管预制棒的平均直径为200mm。光纤预制棒经历升速达到稳定后炉温2300℃,拉丝速度2900m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1220nm,当步骤5中截止波长不满足控制范围,降低拉丝炉的炉温至2180℃,降温速度为5℃/s,再次检测截止波长1270nm,满足截止波长控制范围,步骤7中拉丝炉炉温根据芯棒的测试数据自动控制拉丝炉炉温,升温或降温速度均为0.5℃/s,实现光纤截止波长的自动控制。
本实施例中光纤预制棒芯棒的轴向测试数据如表2所示,生产的光纤截止波长数据如附图3所示。
表2.实施例2中光纤预制棒的芯棒轴向数据
实施例3
本实施例中的光纤拉丝装置和拉丝控制方法同上文,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
本实施例中,光纤预制棒采用VAD+套管法工艺制备,套管预制棒的平均直径为150mm。光纤预制棒经历升速达到稳定后炉温2100℃,拉丝速度2700m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1320nm,步骤5中截止波长不满足控制范围,升高拉丝炉的炉温至2200℃,升温速度为7℃/s,再次检测截止波长1275nm,满足截止波长控制范围;步骤6中截止波长不满足控制范围,继续升高拉丝炉的炉温至2250℃,升温速率为0.5℃/s,再次检测截止波长1270nm,满足截止波长控制范围。步骤7中拉丝炉炉温根据芯棒的测试数据自动控制拉丝炉炉温,升温或降温速度均为0.5℃/s,实现光纤截止波长的自动控制。
本实施例中光纤预制棒芯棒的轴向测试数据如表3所示,生产的光纤截止波长数据如附图4所示。
表3.实施例3中光纤预制棒的芯棒轴向数据
对比例1
本实施例中的光纤拉丝装置同实施例1,拉丝控制方法仅包括步骤1至步骤5。不涉及步骤6至步骤8,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
在本实施例中,不考虑光纤预制棒轴向参数变化,仅根据光纤预制棒拉丝下盘的截止波长测试数据进行反馈控制拉丝炉炉温。光纤预制棒采用VAD+OVD两步法工艺制备,光纤预制棒平均直径150mm,光纤预制棒轴向参数与实施例1中光纤预制棒基本一致。光纤拉丝炉稳定阶段的炉温2100℃,拉丝速度2800m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1266nm,满足截止波长控制范围,拉丝炉炉温仍保持2100℃继续拉制光纤。
生产的光纤截止波长数据如附图5所示。
对比例2
本实施例中的光纤拉丝装置同实施例2,拉丝控制方法仅包括步骤1至步骤5,不涉及步骤6至步骤8,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
在本实施例中,不考虑光纤预制棒轴向参数变化,仅根据光纤预制棒拉丝下盘的截止波长测试数据进行反馈控制拉丝炉炉温。光纤预制棒采用VAD+套管法工艺制备,套管预制棒的平均直径为200mm,光纤预制棒轴向参数与实施例2中光纤预制棒基本一致。光纤预制棒经历升速达到稳定后炉温2300℃,拉丝速度2900m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1220nm,当步骤5中截止波长不满足控制范围,降低拉丝炉的炉温至2180℃,降温速度为5℃/s,再次检测截止波长1270nm,满足截止波长控制范围,拉丝炉炉温仍保持2180℃继续拉制光纤。
生产的光纤截止波长数据如附图6所示。
对比例3
本实施例中的光纤拉丝装置同实施例1,拉丝控制方法仅包括步骤1至步骤5,不涉及步骤6至步骤8,在此仅对部分差异化参数进行说明和介绍。
在本实施例中,不考虑光纤预制棒轴向参数变化,仅根据光纤预制棒拉丝下盘的截止波长测试数据进行反馈控制拉丝炉炉温。光纤预制棒采用VAD+套管法工艺制备,套管预制棒的平均直径为150mm,光纤预制棒轴向参数与实施例2中光纤预制棒基本一致。光纤预制棒经历升速达到稳定后炉温2100℃,拉丝速度2700m/min。步骤5中光纤测试仪器测量光纤截止波长为1320nm,步骤5中截止波长不满足控制范围,升高拉丝炉的炉温至2200℃,升温速度为7℃/s,再次检测截止波长1275nm,满足截止波长控制范围,拉丝炉炉温仍保持2180℃继续拉制光纤。
生产的光纤截止波长数据如附图7所示。
结论
其中,实施例1至3中通过将预制棒芯棒测试数据传输到拉丝生产线控制器增设了芯棒轴向各个位置的芯层直径和芯包层相对折射率差参与光纤拉丝控制的环节,对比例1至3中仅根据光纤预制棒拉丝下盘的截止波长测试数据进行反馈控制拉丝炉炉温。对比附图2和附图5,可以看出:实施例1生产的光纤截止波长集中在1260~1282nm,对比例1生产的光纤截止波长集中在1180~1320nm;对比附图3和附图6,实施例2生产的光纤截止波长集中在1220~1290nm,对比例2生产的光纤截止波长集中在1220~1330nm;对比附图4和附图7,实施例2生产的光纤截止波长集中在1260~1340nm,对比例2生产的光纤截止波长集中在1220~1340nm;实施例1至3中相较,得到的光纤截止波长集中度更高、稳定性更高,光纤质量更好。
而且,实施例1至3中通过将预制棒芯棒测试数据传输到拉丝生产线控制器增设了芯棒轴向各个位置的芯层直径和芯包层相对折射率差参与光纤拉丝控制的环节,并配备了相应的拉丝炉炉温自动控制系统的控制方法。弥补了目前通过生产工人的经验进行调节的不足,同时减少了拉丝过程中对光纤截止波长调整之后的现象,实现了光纤截止波长的稳定自动控制,保证了生产效率。
另外需要说明的是,在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复,本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。

Claims (10)

1.一种光纤拉丝装置,其特征在于,包括:
光纤拉丝设备;
拉丝炉,安装在所述光纤拉丝设备上部;将光纤预制棒安装在所述拉丝炉上部,并将光纤预制棒一端插入拉丝炉的炉腔热区内;
光纤测试仪器,适于检测光纤拉丝设备所生产光纤的截止波长;
芯棒测试仪器,适于检测所述光纤预制棒中芯棒轴向数据;所述芯棒轴向数据包括光纤预制棒在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差;
拉丝生产线控制器,与所述光纤测试仪器、芯棒测试仪器以及拉丝炉信号连接,获取生产光纤的截止波长、芯棒轴向数据,调整所述拉丝炉内的光纤生产温度。
2.根据权利要求1所述的光纤拉丝装置,其特征在于,还包括温度测试装置;
所述温度测试装置设置在所述拉丝炉内部,并与所述拉丝生产线控制器信号连接,适于检测所述拉丝炉的炉腔热区的温度。
3.根据权利要求1所述的光纤拉丝装置,其特征在于,所述拉丝炉采用石墨电阻加热或线圈感应加热。
4.根据权利要求1所述的光纤拉丝装置,其特征在于,所述拉丝生产线控制器采用可编程控制器PLC。
5.一种基于权利要求1至4任一项所述的光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,包括:
步骤1、芯棒测试仪器获取光纤预制棒在轴向各位置的芯层直径以及芯包层相对折射率差参数,并传输至拉丝生产线控制器;在生产线控制器中预设芯层直径初始设定值以及芯包层相对折射率差为设定值;
步骤2、将光纤预制棒安装在所述拉丝炉上部,并将光纤预制棒一端插入拉丝炉的炉腔热区内;
步骤3、将光纤预制棒经过拉丝炉加热,在经历升速达到稳定的拉丝温度和稳定的拉丝速度下,光纤拉丝设备进行光纤拉丝;
步骤4、光纤拉丝设备生产的光纤在光纤测试仪器进行测量,测得的光纤截止波长并将数据传送到拉丝生产线控制器;
步骤5、拉丝生产线控制器判断光纤拉丝设备所生产光纤的截止波长是否落入控制范围内;若是,则执行步骤6;若否,则控制拉丝炉升高或降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围,再执行步骤6;
步骤6、保持步骤5中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯层直径是否大于芯层直径初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;
步骤7、保持步骤6中的拉丝炉炉温和拉丝速度,判断此时光纤预制棒轴向当前位置的芯包层相对折射率差是否大于芯包层相对折射率差初始设定值;若是,则缓慢升高拉丝炉炉温;如否,则缓慢降低拉丝炉炉温;
步骤8、重复步骤5至7,直至完成光纤预制棒的拉丝。
6.根据权利要求5所述的基于光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,所述步骤1中,所述拉丝生产线控制器以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯层直径为芯层直径初始设定值;以当前拉丝的光纤预制棒芯棒轴向起点的芯包层相对折射率差为芯包层相对折射率差为设定值。
7.根据权利要求5所述的基于光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,所述步骤5中,控制拉丝炉升高或降低炉温方法为:
若光纤截止波长低于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉降低炉温,直至生产光纤的截止波长落入控制范围;若光纤截止波长高于控制范围,则拉丝生产线控制器控制拉丝炉升高炉温,直至生产光纤的截止波长达到控制范围。
8.根据权利要求5所述的基于光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,所述步骤3中,稳定的拉丝温度为2100-2300℃,稳定的拉丝速度为2700~3000m/min。
9.根据权利要求5所述的基于光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,所述步骤5中,所述控制范围为1260nm-1280nm;拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为5~10℃/s。
10.根据权利要求5所述的基于光纤拉丝装置的拉丝控制方法,其特征在于,所述步骤6和步骤7中,拉丝炉升高炉温或拉丝炉升高炉温的温或降温速度均为0.1~3℃/s。
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