CN1123912A - 探伤方法及其装置 - Google Patents

Abstract

对受检工件表面进行探伤的方法和装置，包括在对受检工件进行探伤时，首先将粉末吸附在其表面上，其附着程度能切实地盖住表面即可，也可以极薄地附着一层，使其表面的一部分适当外露。然后用高频感应加热法加热受检工件的表面层，用辐射温度计测定其表面的温度不同的部分有伤。用粉末覆盖受检工件的表面，使其表面辐射率大致一定，辐射温度计的温度测定值与实际的温度分布几乎相等。

Description

探伤方法及其装置

本发明涉及检测钢材等受检工件表面上存在的伤用的探伤方法及探伤用的探伤装置。

以往，为了检测钢材表面上是否有伤(包括龟裂伤纹)，已知的技术是利用高频感应加热的方法将受检工件的表面部分加热，用辐射温度计测定其表面温度，检测表面上的伤。该技术已在特开平2—298846号公报、以及与其对应的美国专利第5069005号中发表过。更具体地说，如图23所示，一边运送受检工件W，一边用高频感应加热线圈101将其表层加热，然后利用装设的辐射温度计102测定受检工件W的表面温度分布。如果有伤，则有伤的部分的温度与周围无伤部分的温度不同(例如比周围的温度低或高)，以此为根据进行探伤。

然而，进行这种探伤时，虽然受检工件可以带着氧化皮进行检测，但通常作为预处理，为了将其表面上的氧化皮除去，要经过喷丸工序。喷丸后的受检工件W，由于喷丸清理的结果，其表面变成有光泽的表面(喷丸表面)，使得辐射率ε下降，用辐射温度计102检测的温差ΔT，也就是伤信号电平下降。另外，在受检工件表面上通常容易产生很多搬运压痕(例如滚子擦蹭的压痕、撬棒造成的压痕、或者钢丝绳造成的压痕)等，由于这些部分变成镜面状，具有比喷丸表面更显著的光泽，所以辐射率ε会进一步降低。如果辐射率低，用辐射温度计测定的温度就比实际温度低。因此，在检测伤时，用辐射温度计102测定的比周围温度低的部分是伤呢？还是搬运时产生的压痕呢？会产生难以断定的情况。因此有可能实际上无伤，而将搬运压痕当成了伤，造成误检，这很容易成为降低探伤精度的原因。

带着氧化皮直接进行探伤时，由上述的滚子、撬棒、钢丝绳等造成搬运的压痕，往往出现该层氧化皮剥落的情况。这时，这种搬运压痕与周围(氧化皮)相比，其辐射率低，由辐射温度计测定的温度降低。这种情况与上述的喷丸表面时的搬运压痕的情况基本相同。

本发明的课题在于即使因上述搬运压痕等，造成受检工件表面的辐射率不均匀，也能进行高精度的探伤。另外，通过提高受检工件整体表面的辐射率，增大其表面的温差ΔT(伤信号)，更容易探伤，而且提高探伤结果的可靠性。

为了解决这一课题，在本发明中，用粉末覆盖受检工件的表面，使其辐射率均匀，在此状态下加热，根据辐射能测定表面的温度分布，进行探伤。

即本发明的探伤方法的特征是：包括①利用静电等的作用，将粉末附着在受检工件的待探表面上，用粉末覆盖其表面的工序、②利用高频感应加热，将受检工件的表层进行加热的工序、③利用从该被加热的受检工件的表面辐射的辐射能，用辐射温度计测定受检工件表面的温度分布的工序。根据其表面的温度分布，检测受检工件上的伤。

这里，虽然主要是将受检工件，经过喷丸工序使其成为喷丸表面的工件为例，但不一定以此为限，也可以将覆有氧化皮的工件作为探伤工件。不管怎样，由于受检工件表面的光泽不均匀等使辐射率产生偏差时，或者由于像喷丸表面那样整个表面都有光泽而使辐射率变低时，为了使表面的辐射率均等，提高整体辐射率，本发明的粉末覆盖法是有效的。

在上述的用粉末覆盖的工序中，使该粉末附着在受检工件待探伤的表面上，以充分的厚度完全覆盖其表面也可，以极薄的厚度附着也可。当覆盖层极薄时，可使粉末附着在受检工件的表面上，使其一部分表面外露。在这种情况下，微观观察受检工件的表面时，作为一个例子，允许能看到的受检工件表面呈散点状分布。

该受检工件表面的温度测定结束后，最好进行将附着在受检工件表面上的粉末除去的工序。在该去除粉末的工序中，例如用吸尘器抽吸附着在受检工件上的粉末，或者采用相反的办法，用喷嘴或鼓风机喷射高压空气，将粉末吹掉。

在本发明的探伤方法中，当受检工件是非磁性材料(例如非磁性不锈钢材料等)时，高频感应加热电流的贯穿深度比应检探伤深度更深。而且用辐射温度计测定温度时，根据有伤的部分比其它部分的温度低的现象，进行探伤。即如图24所示，利用高频感应加热线圈101，在受检工件W的表层产生感应电流(涡电流)，但如图25所示，当感应电流的贯穿深度δ比应检探伤深度d大时，该感应电流在有伤的部分迂回，多半情况下，其附近的电流密度都小，所以温度也比周围的低(在图25中，用向上的箭头的长度象征性地表示温度的高低)。通过用辐射温度计102测定其温度差ΔT，就能检测出伤来。但点状的伤痕或点状的伤痕连成一片等情况下，由于伤痕形态不同，往往有伤部分的温度比无伤部分的温度高。特别是在角钢的棱角部分有裂纹的情况下，温度几乎都变高。

另外，发图27所示，如为磁性材料，由高频感应加热产生的电流贯穿深度δ₀一般比应检伤深度d浅。由高频感应加热产生的发热量，由于与无伤的部位相比较，在有伤的部位的单位体积内的电流密度变大，发热量也大，所以用辐射温度计102测定的温度也高。这时，比周围温度高的部分可断定有伤。就是说，即使采用如图27所示的探伤原理时，如图28所示，例如在搬运压痕处有伤时，该部分用辐射温度计测定的温度应该高，但由于有搬运压痕S1，而使辐射率下降，所以测定的表观温度变低。往往本来应能检测到的伤而检测不出来。但在本发明中，由于利用粉末覆盖，使辐射率均匀化，所以能防止上述现象的发生。

与本发明有关的探伤装置包括①输送受检工件用的输送线；②设置在该输送线上、利用静电等将粉末被覆在受检工件应探伤的表面上用的粉末被覆装置；③设置在上述输送线上、对受检工件的表层加热用的高频感应加热装置；④经过加热后，测定附有粉末的受检工件表面的温度分布情况用的辐射温度计；以及⑤根据其温度分布检测受检工件的伤用的检测装置。

还可以在这种探伤装置的输送线中加装粉体去除装置，用来去除附着在受检工件表面上的粉末。用辐射温度计测定被高频感应加热装置加热后的受检工件的表面温度分布时，应该尽可能在其温度下降之前测定，这对于提高探伤数据的可靠性是重要的。因此，希望加热后立刻用辐射温度计测温。另外，也可以在受检工件的加热状态下测温。高频感应加热装置通常设有将受检工件插入的加热线圈。在上述输送线上，将辐射温度计装设在该加热线圈的后方，以便立刻就能达到测温点探头处，这是一个例子，当然除此之外，还可以将测温点探头装在加热线圈内。

例如，可以采用这样的结构，即在加热线圈上做成由内到外贯通的空隙部分(槽、切口、孔等)，用辐射温度计接收通过这类空隙的辐射能，或者用相对于加热线圈斜置的辐射温度计来接收从加热线圈和受检工件之间的间隙中辐射出来的辐射能。特别是在非磁性钢的情况下，由于它吸收电能的能力比磁性钢材小，因此探伤时要使输送速度慢一些，为了尽量抑制由于热传导等方面的原因引起的温度下降，最好在加热线圈内侧测定温度。

在本发明中，利用静电等的作用，使粉末附着在受检工件的表面上，用粉末覆盖其表面。因此，即使在受检工件表面上存在搬运压痕等处辐射率低的部分，由于粉末的覆盖，其辐射率几乎变得均等，在此基础上检测伤信号，很少出现误检现象。另外，由于用粉末覆盖辐射率低的呈喷丸表面的受检工件，可以提高整体辐射率，增大温差ΔT(伤信号)。而且即使存在比喷丸表面的辐射率更低的搬运压痕，由于有粉末覆盖，其辐射率变得几乎均等。总之，如为喷丸等一类的表面，既可提高辐射率的整体电平，又可使辐射率均一化。因此能获得强的探伤信号及精度高的探伤结果。

在受检工件上的粉末附着量比较厚的情况下，使辐射率均一化所起的作用大。另一方面，在覆盖粉末层极薄(例如从微观上看，在一定程度上能看到表面)的情况下，不用说具有经济性的优点，而且在加热受检工件时，使附着在它上面的粉末的温度升高所需的热量少，必要的加热时间和能量大体上与旧有的相同。另外，如果粉末被覆层厚，则由于粉末内的热传导等原因使得伤信号变弱，但如果被覆层极薄，则能获得较强的伤信号，有利于提高探伤的灵敏度。

用这种粉末被覆与采用粉末电喷涂的原理相同，通常使粉末带负电，使受检工件带正电，使粉末附着并盖住受检工件表面即可，不需要像通常的粉末喷涂那样需要焙烧。粉末经过被覆以后，与以往一样，进行高频感应加热，再用辐射温度计测定表面温度，根据其表面温度，进行探伤。这时，加热用的感应电流的贯穿深度要比应检测伤的深度浅，或者由于伤的形态的不同，检测到有伤部分的温度要比无伤部分的温度或低或高。

另外，在附加去除粉末的工序或装置的发明中，用辐射温度计测定温度结束后，利用例如抽吸式的吸尘器等去除附着在受检工件表面上的粉末。因此受检工件表面上没有残存的粉末，对后继工序不会产生不良影响。另外，在加热线圈内测定受检工件的表面温度分布情况时，由于温度不下降，能获得较强的伤信号。

图1是本发明的一个实施例中的探伤方法及其装置的示意图。

图2是将图1中的示意装置的具体探伤装置的斜视图。

图3是图2中的局部放大图。

图4是图2中的辐射温度计的配置图。

图5是粉末静电覆盖原理图。

图6是比上图更详细的原理图。

图7是表示粉末覆盖具体示例的说明图。

图8是将粉末极薄地附着在受检工件上并使一部分表面露出时的作用的说明图。

图9是将粉末以足够的厚度附着在受检工件上不使表面露出时的说明图。

图10是表示受检工件的探伤工序的断面图。

图11是受检工件上存在的伤与辐射温度计测定的温度之间的关系图。

图12是采用中央部分有槽的加热线圈时的斜视图。

图13是图12的正视图。

图14是图13的侧视图。

图15是表示在加热线圈内进行受检工件的温度测定的第一示例说明图。

图16是表示采用同样方法的第二示例的说明图。

图17是在加热线圈内进行温度测定的第一个曲线说明图。

图18是采用同样方法的第二个曲线说明图。

图19是比较例及应用实施例一的受检工件的表面状态的说明图。

图20是比较例中的探伤结果的曲线图。

图21是实施例1中的探伤结果曲线图。

图22是实施例1中的受检工件表面的显微镜照相示意图。

图23是表示旧有的探伤方法一个示例的斜视图。

图24是其高频加热线圈部分的断面图。

图25是表示有伤存在与感应电流的路径之间的关系说明图。

图26是受检工件上存在搬运压痕时的辐射能量的说明图。

图27是受检工件表层的电流贯穿深度比伤的深度浅时的说明图。

图28是该探伤方法中存在搬运压痕时的说明图。

图中2：粉末覆盖装置

3：粉末喷嘴

8：高频感应加热装置

9：辐射温度计

11：粉末去除装置

12：抽吸部分

13：抽吸泵

14：粉末回收部分

下面根据附图说明本发明的实施例。

图1中受检工件W是断面呈，例如，四方形的长条状非磁性材料，其外表面利用例如，喷丸机将氧化皮击落，呈喷丸表面。该受检工件W沿设有凹槽状的槽辊1等的输送线输送前进。

在输送线上设有粉末覆盖装置2。它利用静电，使规定量的粉末附着在受检工件W表面上，这种附着原理与粉末静电喷涂相同。图5及图6表示该工作原理的示意图。定量的粉末从粉末供给槽4供入粉末喷嘴3，而在该粉末喷嘴3和受检工件W之间，利用高压发生装置5施加电压，使粉末喷嘴3为负极，使受检工件W为正极。另外，将受检工件W接地。

如图6所示，粉末P的内部是例如碳(C)或钛(Ti)，外层是树脂(例如丙烯酸类树脂等)。其平均粒径为例如10—100μm大小，中等大小为20—50μm，特别是根据经济上的原因，最好使用40μm大小的。利用上述的电压(例如约100KV，电流约50μA)，在离子化的气体介质中，使粉末P的树脂部分带负电，该粉末P被吸引到阳极一侧受检工件W上，并附着在其表面上，将其表面遮住。其未遮住处的附着的厚度，微观地看，其表面露出的程度呈散点状，就是说使附着的粉末均匀，假定达到平均化时，可以极薄地设定其惯用厚度为粉末粒径的1/3—1/6。

示例中的粉末喷射嘴3的结构可以如图7所示，以便能沿受检工件W的输送方向，将粉末分别地覆盖在受检工件W的各个表面上。这时，由于设置了四个这样的粉末喷嘴3，将受检工件W夹在中间，所以能将受检工件W四周的表面一次覆盖粉末，或者也可以利用设置在一处的粉末喷嘴3，将受检工件的一边覆盖上粉末，然后再将受检工件W翻转过来，使其返回上游，如此往返移动，将剩余的另一边覆盖粉末。

而且例如如图10(a)所示，即使在受检工件W的表面S上存在搬运压痕S1时，用粉末P将存在该搬运压痕S1的受检工件W的表面全部遮住(图10(b))，则其表面的辐射率变得几乎均等。这时就不受粉末P的颜色制约。由于附着在受检工件W表面上的粉末P是电的不良导体，保持负电荷，所以即使摘除了受检工件W的地线，在一段时间内粉末也不致脱落。另外，在图10中，粉末P的涂布厚度，出于制图的方便，是有意将其放大的。

图中，假定受检工件W业已经过了喷丸处理，在其喷丸表面表面S上，经过滚子、撬棒、钢丝绳等造成的搬运压痕S1通常是比喷丸表面的镜面更为光滑。另外，如果受检工件W是在未经喷丸工序处理附有氧化皮的工件时，其表面S就相当于氧化皮部分，搬运压痕S1相当于氧化皮剥落的部分，但表面S通常多半是经过喷丸后的喷丸表面。

现回到图1中，在受检工件W的输送线上，在粉末覆盖装置2的下游一端，设有高频感应加热装置8。它呈环状，包围着受检工件W，众所周知，这种加热装置是如图24所示，在受检工件W的表层产生感应电流(涡电流)的装置。如果受检工件W是非磁性材料，设定频率时，要使图25所示的电流贯穿深度δ比应检测的伤的深度d大。

而且如图10(c)所示，由于在非磁性材料的受检工件W的表层部分产生感应电流(涡电流)，故其表层被加热。当受检工件W的棱边处有裂纹时，与无伤部分相比较，有伤部分的温度高，但在多数情况下，涡电流迂回于有伤的部分外围，所以该部分的温度要比无伤部分的低。此时，受检工件W从常温开始如上述那样被加热，使其比常温高，例如，20—30℃。总之，假定常温为20℃，加热温度要为40—50℃。

在图1中，辐射温度计9设在高频感应加热装置8的后面，用来测定表层被加热后受检工件W的表面温度。辐射温度计9是众所周知的，由传感器将从受检工件W的表面辐射的辐射能变换成电输出信号，并显示在测定器上的温度计上，在图1中，例如在与受检工件W的一个面或角相对应的部位，设置若干个温度计。

如图12—图14所示，加热线圈8是一个双头线圈，换句话说，可以使用在其中间部分有由内向外贯通的槽口8a等空隙部分的加热线圈。将受检工件W插在该线圈8中加热。如图15所示，在加热线圈8内，其加热部分的表面温度，采用适当数量的辐射温度计9，通过槽口8a进行测定。由于在这样的加热线圈8内测定温度，其加热部分的温度几乎不会下降，所以能达到较高的测定精度。

在图16的情况下也能获得与其相同的结果。这时，辐射温度计9是这样配置的，即通过加热线圈8和插在其里面的受检工件W之间的间隙(开口)，辐射温度计9沿斜向对准加热线圈8内的受检部件W。

图17是以该加热线圈8的中心为基准，在与该中心线平行的方向上测定伤信号ΔT的灵敏度(强度)的曲线图。与加热线圈相对应的电功率设定为130KVA，现设与受检工件的加热线圈相对应的输送速度为10m/min、20m/min、40m/min三种。由图中的结果可知，尽管输送速度不同，在出口附近从加热线圈的中央测定温度时，有利于提高伤信号ΔT的电平。另外，图18是利用受检工件的伤信号ΔT与受检工件W表面温度的上升度之比(表面温度上升与伤信号ΔT的比值的大小)进行评价用的图，在加热线圈的宽度范围内能获得良好的灵敏度。

现在假定在受检工件W的表面上有，例如，如图11(a)、(b)所示的伤，用辐射温度计测定的温度分布如图11(c)所示。这时即使存在图10(a)所示的搬运压痕S1，但由于它被粉末P覆盖，所以受检工件W表面上的辐射率大致一定，辐射温度计对该搬运压痕S1的测定值并不低。因此不会把搬运压痕S1当作伤而造成误检。

另外，可根据辐射温度计9的测定值，进行外观检验，判断是否有伤，但如示意图1所示，将辐射温度计9连接在由计算机等构成的判断装置10上，在该判断装置10中，当测定的温度分布紊乱时，它能自动进行判断，并进行报警，同时还能在显示装置上显示出伤的位置、深度等。或者还可以采用这样的结构，即向打印装置15发出指令，使其在受检工件W表面的伤的位置上做出标记。另外，还可以向砂轮打磨装置16输送伤的位置信号，自动地将伤痕磨去。

粉末去除装置11设置在辐射温度计9的下游。该装置备有围绕受检工件W设置的抽吸设备12、在该抽吸设备12上连接抽吸泵13、以及粉末回收设备14。在用辐射温度计9测定温度后，将附着在受检工件W表面上的粉末吸除，并回收到粉末回收设备14中。另外还可将粉末去除装置11的抽吸装置12能够沿受检工件W作纵向移动。

比图1中的示意装置更具体的探伤装置的结构如图2—图4所示。在图2中，钢材(受检工件)W用若干个槽辊1沿纵向输送。首先，钢材W通过粉末涂布箱20的内部，带静电的粉末便附着在其表面上。在该箱20内，图中未示出的涂布枪以1台对应于一个表面及一个棱边的比率设置，例如设有2台。在该箱20的下游，有图3所示的加热线圈8，高频电流从加热电源21经过线圈变压器22供给加热线圈8。

在通过该加热线圈8的过程中，钢材W被加热，同时粉末通过来自钢材W的传导热而被加热，在其下游，如图2所示，设有若干个辐射温度计9。如图4所示，这些辐射温度计9中，例如，设有表面测温计9a两个，棱边测温计9b两个，共计四个，一次测定钢材W的半侧温度。再往下游，设有图2所示的未回收箱23，从钢材W表面回收的粉末被送回这里。24是粉末集尘装置。在一次循环中，例如，可对钢材W的半边进行探伤，一旦返回上游，或者再向下游进行下一个循环，对剩下的半边进行探伤。

然而，图9所示，是设想粉末P在受检工件W表面(例如喷丸表面)上附着数层的状态。这时，喷丸表面被全部覆盖，由于辐射率取决于粉末本身，所以就达到了使辐射率均等的目的。但是，如果粉末的覆盖层变厚，受检工件W附带着该粉末层进行加热时，加热的时间较长，所以该受检工件W的输送速度也要放慢，要想使加热的时间恒定，就必须增加单位时间内的热量。另外，由于表示受检工件W的伤信号的波谷等的温度倾斜度，因为粉末P的厚覆盖层的热传导而导致扩散，从而使伤信号变弱，往往会使探伤的灵敏度下降。

因此，在本发明中，虽然不排除采用粉末P把受检工件W的表面完全覆盖而形成充分厚的覆盖层的办法，但是，如果考虑上述的弊端，最好还是使粉末P尽可能薄地附着。如图8(e)所示，如果只使粉末P附着一层，就能用最少量的粉末大致覆盖住表面，即使有热传导的问题也无妨碍。可是，要想获得这样的一层被覆状态却很困难，如果只追求被覆层的薄度，就会产生表面的裸露部分。一看就知道这不是一种好的状态，与其表面有局部裸露，就不如获得好的结果。

在图8(a)、(b)等中，是设想粉末P极薄地附着在受检工件W的喷丸表面等表面上，而且其表面有某种程度的外露。图8终归是说明概念用的图，并没有真实地描绘出实际的附着状态。粉末P之间的平均间隔不是能将应检测的伤(或搬运压痕)处于该间隔中的那种大小程度，如图8(b)所示，通常伤等隐蔽地存在于许多粉末P的下面。如图8(a)所示，现在假定将受检工件W及粉末P加热到温度T，而且如果把粉末P看作黑体，则其辐射能Q与T的4次方成正比(斯蒂芬波尔兹曼辐射定律)。如图8(c)所示，来自粉末P的辐射能为Q(设辐射率ε＝1)，粉末P之间的表面部分(喷丸表面)有光泽，与粉末P相比较，其辐射率ε低(ε＜1)，因此来自该表面部分的辐射能为εQ。

由此可知，在露出的表面部分用辐射温度计检测的温度就要比周围的温度低，但如果仅仅极其简单地表示出概念的图8(d)所示，反射率高的喷丸表面部分外露，从粉末P向周围发射的辐射能的一部分被该表面部分反射，其反射的辐射能(假设表面部分的反射率为r，则该反射的辐射能为rQ)与从表面部分直接辐射的上述辐射能εQ相加，由辐射温度计9检测到的是该两者之和的辐射能(εQ＋rQ)。就是说，反射率大的表面的一部分外露，意味着从该外露部分直接辐射的辐射能εQ呈低电平，反之，由于其反射率大，则从粉末发出后被表面反射的这部分辐射能相当大。为了容易理解，使说明最简化，那就是由于(ε＋r＝1)，所以εQ＋rQ＝Q。如图8(e)所示，这一结果与表面被粉末覆盖，且粉末瞬时被加热，其温度与钢材的温度相等时的情况相同。因此，如图8(f)所示，喷丸表面的检测温度电平整体被放大，另一方面，有伤部分的温度无大变化，所以波谷状的伤信号变深，结果提高了灵敏度。

这样，即使表面在某种程度上外露，与被粉末覆盖时相比较，一点也不逊色，不仅没有不合适之处，反而能带来由反射而附加的辐射能这一新的结果。而且，如果能获得几乎相同的效果，从待检部件的加热时间、伤信号的灵敏度等方面考虑，所使用的粉末以尽可能地少为好。因此积极地推荐使粉末极薄地附着在受检工件上，以使表面在一定程度上外露。不过并不排除前面所述的将粉末以充分的厚度附着在表面上，不使表面露出的情况。

其次说明将本发明的感应加热探伤法应用于具有图19所示的表面状态的受检工件上的情况。

比较例：

采用旧有的感应加热探伤法对图19所示的受检工件进行探伤，其结果示于图20中。由图20可知，不仅伤的测定温度低，而且擦蹭痕迹等搬运压痕的测定温度也低，不能判断伤和压痕。

实施例1：

用平均粒径为40μm的粉末被覆在图19所示的受检工件的表面上。这时的涂布速度为50m/分钟。然后进行感应加热探伤，其结果示于图21中。由图21可知，仅仅是有伤的部分所测得的温度低。

图22是表示实施例1中的受检工件表面的显微镜照像的示意图。由图22可知，许多地方都露出受检部件的表面(图中看到的白色部分)。即可以认为露出的表面呈散点状分布。

Claims (11)

1.一种检测受检工件表面上存在的伤所用的探伤方法，其特征为：该方法包括将粉末附着在受检工件应探伤的表面上，用粉末覆盖该表面的工序；用高频感应加热法加热受检工件的表层的工序；以及利用从被加热的附着粉末的受检工件表面辐射的辐射能，用辐射温度计测定受检工件表面的温度分布的工序；

根据该表面的温度分布状态，检测受检工件上的伤。

2.根据权利要求1所述的探伤方法，将上述粉末极薄地附着在受检工件应探伤的表面上。

3.根据权利要求2所述的探伤方法，将上述粉末极薄地附着在受检工件应探伤的表面上，利用上述粉末覆盖其表面的程度，使其表面在一定程度上有部分外露。

4.根据权利要求2或3所述的探伤方法，微观观察用上述粉末覆盖的受检工件的表面时，允许其表面呈散点状分布。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的探伤方法，在进行高频感应加热的部位，用辐射温度计测定上述待检工件表面的温度分布。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的探伤方法，包括在上述受检工件表面温度测定结束后，去除附着在该受检工件表面上的粉末的工序。

7.根据权利要求1至6所述的探伤方法，当待检部件为非磁性材料时，使高频感应加热电流的贯穿深度大于应探伤的深度，而且用辐射温度计进行温度测定，根据有伤的部分的温度比其它部分的温度低，进行探伤。

8.一种检测受检工件表面上存在的伤所用的探伤装置，其特征为：该装置包括输送受检工件的输送线；设置在该输送线上，用于用粉末覆盖受检工件应探伤表面的粉末覆盖装置；设置在上述输送线上、加热受检工件表层部分用的高频感应加热装置；用于测定该被加热的附着粉末的待检工件表面的温度分布的辐射温度计；以及用于根据该温度分布，检测受检工件的伤的检测装置。

9.根据权利要求8所述的探伤装置，将去除附着在受检工件表面上的粉末用的粉末去除装置设置在上述输送线上。

10.根据权利要求8所述的探伤装置，其高频感应加热装置设有将受检工件插入其中的加热线圈，在该加热线圈上形成由内向外贯通的空隙部分，上述辐射温度计通过该空隙部分，测定位于上述加热线圈内的受检工件表面的温度分布。

11.根据权利要求8所述的探伤装置，其高频感应加热装置设有将受检工件插入其中的加热线圈，辐射温度计通过插在加热线圈中的待检工件和该加热线圈之间的间隙，从斜向测定位于加热线圈中的受检工件的表面温度分布。

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