CN112269699A - 老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质 - Google Patents

老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明涉及机械领域,公开了一种老化测试方法,其特征在于,包括:搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站,所述嵌入式主站包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口;将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统;利用所述EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。本发明实施方式还提供了一种老化测试装置、EtherCAT主站及系统、存储介质。本发明实施方式所提供的老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质,具有在提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度的同时,无需提升老化测试成本的优点。

Description

老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质
技术领域
本发明涉及机械领域,特别涉及一种老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质。
背景技术
在电子元件(例如IC元件)制造过程中,电子元件制作完成之后,通常会对电子元件进行老化测试,以测试电子元件的可靠度。老化测试是将电子元件置放老化测试机台中进行加热,并于同时对电子元件进行电性测试,而测试电子元件的可靠度是否符合标准。
然而,本发明的发明人发现,现有技术中的EtherCAT系统中,一个EtherCAT主站连接数以万计的EtherCAT从站,对EtherCAT系统进行老化检测时,若EtherCAT从站发生故障,由于EtherCAT从站数量过多,难以对故障的EtherCAT从站进行定位;现有技术中为了更好的对EtherCAT从站故障定位,需要更多的设置EtherCAT主站,但EtherCAT主站的成本较高,造成了成本和定位精度的矛盾,即达到较高的定位精度则需要较高的EtherCAT主站成本,而减小EtherCAT主站成本会造成故障定位精度较低。
发明内容
本发明实施方式的目的在于提供一种老化测试方法及装置、EtherCAT主站及系统、存储介质,在提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度的同时,无需提升老化测试成本。
为解决上述技术问题,本发明的实施方式提供了一种老化测试方法,包括:搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站,所述嵌入式主站包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口;将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统;利用所述EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。
本发明的实施方式还提供了一种EtherCAT主站,包括:嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口,所述嵌入式芯片上运行有SOEM协议。
本发明的实施方式还提供了一种EtherCAT系统,包括:EtherCAT从站和如前述的EtherCAT主站。
本发明的实施方式还提供了一种老化测试装置,包括:至少一个处理器;以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如前述的老化测试方法。
本发明的实施方式还提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述的EtherCAT系统老化测试方法。
本发明实施方式相对于现有技术而言,本申请中设计了一种成本较低的EtherCAT主站,包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口,在EtherCAT系统中连接多个EtherCAT主站,当EtherCAT从站出现故障时,可以先定位故障发生的EtherCAT主站,再根据故障发生的EtherCAT主站进一步的定位EtherCAT从站,由于本申请中的EtherCAT主站相较于现有技术中的其它类型的EtherCAT主站成本更低,在成本相同时,可以在待测EtherCAT系统中设置更多的EtherCAT主站,从而提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度。
另外,所述将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统,具体包括:将一个所述EtherCAT主站与N个所述EtherCAT从站连接形成一个子EtherCAT系统,其中,N为小于10的正整数;将多个所述子EtherCAT系统相互连接形成所述EtherCAT系统。
另外,所述对所述EtherCAT系统进行老化测试,具体包括:当检测到故障时,确定发生故障的所述子EtherCAT系统;从发生故障的所述子EtherCAT系统中获取发生故障的所述EtherCAT主站和/或所述EtherCAT从站。
另外,所述获取多个EtherCAT主站,具体包括:获取多个嵌入式芯片,在所述嵌入式芯片上运行SOEM协议;将运行有所述SOEM协议的所述嵌入式芯片与所述网口连接。
另外,所述在所述嵌入式芯片上运行SOEM协议,具体包括:在所述嵌入式芯片的操作系统上打上内核补丁,构建嵌入式操作系统、并编译所述嵌入式操作系统的内核和根文件系统;根据构建所述EtherCAT主站的标准程序,修改构建后的所述嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序;根据修改后的所述网络设备驱动程序,在所述处理器上配置、编译、安装标准EtherCAT主站模块。
另外,所述修改构建后的所述嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序,具体包括:将所述网络设备驱动程序中的各驱动接口替换为所述EtherCAT主站的标准程序提供的相应驱动接口。
附图说明
图1是本发明第一实施方式所提供的老化测试方法的程序流程图;
图2是本发明第二实施方式所提供的EtherCAT主站的结构示意图;
图3是本发明第三实施方式所提供的EtherCAT系统的结构示意图;
图4是本发明第四实施方式所提供的老化测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而,本领域的普通技术人员可以理解,在本发明各实施方式中,为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是,即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改,也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
本发明的第一实施方式涉及一种老化测试方法,具体流程如图1所示,包括:
步骤S101:搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站。
具体的,在本实施方式中,嵌入式主站包括嵌入式芯片和与嵌入式芯片连接的网口。
进一步的,在本实施方式中,搭建嵌入式主站时,首先提供多个嵌入式芯片,在嵌入式芯片上运行SOEM协议,将运行有SOEM协议的嵌入式芯片与网口连接,即可构建一个嵌入式主站。
具体的,在本实施方式中,在嵌入式芯片上运行SOEM协议,具体为:在嵌入式芯片的操作系统上打上内核补丁,构建嵌入式操作系统、并编译嵌入式操作系统的内核和根文件系统;根据构建EtherCAT主站的标准程序,修改构建后的嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序;根据修改后的网络设备驱动程序,在处理器上配置、编译、安装标准EtherCAT主站模块。
其中,修改构建后的嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序,具体为:将网络设备驱动程序中的各驱动接口替换为EtherCAT主站的标准程序提供的相应驱动接口。
步骤S102:将多个EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统。
具体的,在本实施方式中,将一个嵌入式芯片作为EtherCAT主站与N个EtherCAT从站连接形成一个子EtherCAT系统,其中,N为小于10的正整数;将多个子EtherCAT系统相互连接形成EtherCAT系统。
步骤S103:利用EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。
具体的,在本实施方式中,当检测到故障时,确定发生故障的子EtherCAT系统;从发生故障的子EtherCAT系统中获取发生故障的EtherCAT主站和/或EtherCAT从站。
与现有技术相比,本发明第一实施方式所提供的老化测试方法中设计了一种成本较低的EtherCAT主站,包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口,在EtherCAT系统中连接多个EtherCAT主站,当EtherCAT从站出现故障时,可以先定位故障发生的EtherCAT主站,再根据故障发生的EtherCAT主站进一步的定位EtherCAT从站,由于本申请中的EtherCAT主站相较于现有技术中的其它类型的EtherCAT主站成本更低,在成本相同时,可以在待测EtherCAT系统中设置更多的EtherCAT主站,从而提升EtherCAT从站老化测试过程中故障定位精度。
本发明的第二实施方式涉及一种EtherCAT主站,如图2所示,包括:嵌入式芯片100和与嵌入式芯片100连接的网口200,嵌入式芯片100上运行有SOEM协议。
其中,嵌入式芯片100的操作系统上安装有内核补丁,以构建嵌入式操作系统、并编译嵌入式操作系统的内核和根文件系统;根据构建EtherCAT主站的标准程序,将网络设备驱动程序中的各驱动接口替换为了EtherCAT主站的标准程序提供的相应驱动接口;根据修改后的网络设备驱动程序,在处理器上配置、编译、安装标准EtherCAT主站模块。
不难发现,本实施方式为与第一实施方式相对应的EtherCAT主站的实施例,本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节和技术效果在本实施方式中依然有效,为了减少重复,这里不再赘述。相应地,本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。
本发明的第三实施方式涉及一种EtherCAT系统,如图3所示,包括:EtherCAT从站30和如前述实施方式所提供的EtherCAT主站40。
具体的,在本实施方式中一个EtherCAT主站40与N个EtherCAT从站30连接形成一个子EtherCAT系统50,其中,N为小于10的正整数;多个子EtherCAT系统50相互连接形成一个完整的EtherCAT系统。
不难发现,本实施方式为与第一实施方式相对应的EtherCAT系统的实施例,本实施方式可与第一实施方式互相配合实施。第一实施方式中提到的相关技术细节和技术效果在本实施方式中依然有效,为了减少重复,这里不再赘述。相应地,本实施方式中提到的相关技术细节也可应用在第一实施方式中。
本发明第四实施方式涉及一种老化测试装置,如图4所示,包括:至少一个处理器401;以及,与至少一个处理器401通信连接的存储器402;其中,存储器402存储有可被至少一个处理器401执行的指令,指令被至少一个处理器401执行,以使至少一个处理器401能够执行如上述老化测试方法。
其中,存储器402和处理器401采用总线方式连接,总线可以包括任意数量的互联的总线和桥,总线将一个或多个处理器401和存储器402的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起,这些都是本领域所公知的,因此,本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件,也可以是多个元件,比如多个接收器和发送器,提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器401处理的数据通过天线在无线介质上进行传输,进一步,天线还接收数据并将数据传送给处理器401。
处理器401负责管理总线和通常的处理,还可以提供各种功能,包括定时,外围接口,电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器402可以被用于存储处理器401在执行操作时所使用的数据。
本发明第五实施方式涉及一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例。
值得一提的是,本发明实施方式中所涉及到的各模块均为逻辑模块,在实际应用中,一个逻辑单元可以是一个物理单元,也可以是一个物理单元的一部分,还可以以多个物理单元的组合实现。此外,为了突出本发明的创新部分,本实施方式中并没有将与解决本发明所提出的技术问题关系不太密切的单元引入,但这并不表明本实施方式中不存在其它的单元。
本领域技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机,芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解,上述各实施方式是实现本发明的具体实施例,而在实际应用中,可以在形式上和细节上对其作各种改变,而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (10)

1.一种老化测试方法,其特征在于,包括:
搭建多个嵌入式主站作为多个EtherCAT主站,所述嵌入式主站包括嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口;
将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统;
利用所述EtherCAT系统对EtherCAT从站设备进行老化测试。
2.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,所述将多个所述EtherCAT主站分别与EtherCAT从站连接形成EtherCAT系统,具体包括:
将一个所述EtherCAT主站与N个所述EtherCAT从站连接形成一个子EtherCAT系统,其中,N为小于10的正整数;
将多个所述子EtherCAT系统相互连接形成所述EtherCAT系统。
3.根据权利要求2所述的老化测试方法,其特征在于,所述对所述EtherCAT系统进行老化测试,具体包括:
当检测到故障时,确定发生故障的所述子EtherCAT系统;
从发生故障的所述子EtherCAT系统中获取发生故障的所述EtherCAT主站和/或所述EtherCAT从站。
4.根据权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于,所述获取多个EtherCAT主站,具体包括:
获取多个嵌入式芯片,在所述嵌入式芯片上运行SOEM协议;
将运行有所述SOEM协议的所述嵌入式芯片与所述网口连接。
5.根据权利要求4所述的老化测试方法,其特征在于,所述在所述嵌入式芯片上运行SOEM协议,具体包括:
在所述嵌入式芯片的操作系统上打上内核补丁,构建嵌入式操作系统、并编译所述嵌入式操作系统的内核和根文件系统;
根据构建所述EtherCAT主站的标准程序,修改构建后的所述嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序;
根据修改后的所述网络设备驱动程序,在所述处理器上配置、编译、安装标准EtherCAT主站模块。
6.根据权利要求5所述的老化测试方法,其特征在于,所述修改构建后的所述嵌入式操作系统中的网络设备驱动程序,具体包括:
将所述网络设备驱动程序中的各驱动接口替换为所述EtherCAT主站的标准程序提供的相应驱动接口。
7.一种EtherCAT主站,其特征在于,包括:嵌入式芯片和与所述嵌入式芯片连接的网口,所述嵌入式芯片上运行有SOEM协议。
8.一种EtherCAT系统,其特征在于,包括:EtherCAT从站和如权利要求7所述的EtherCAT主站;
一个所述EtherCAT主站与N个所述EtherCAT从站连接形成一个子EtherCAT系统,其中,N为小于10的正整数;
多个所述子EtherCAT系统相互连接。
9.一种老化测试装置,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至6中任一所述的老化测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的EtherCAT系统老化测试方法。
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