低压交流电器通断检验预期参数调整系统及参数调整方法
技术领域
本发明涉及电器检测检验技术,具体涉及一种低压交流电器通断检验预期参数调整系统及参数调整方法。
背景技术
低压交流电器是指低压断路器、接触器、隔离开关、电磁启动器、按钮、转换开关等及其以其为核心部件构成的电器设备的总称,在用电系统中起到控制和保护双重作用。通断能力检验是模拟电路中发生的过载、短路等故障情况下低压电器设备能否可靠接通和分断故障电流,属于低压电器设备型式试验重要检验项目。低压电器设备通断检验过程需要采用电阻、电感模拟电路中实际负载,不同类型低压电器设备通断检验试验线路参数要求不同。国家标准GB/T 14048.1-2012“低压开关设备和控制设备第1部分:总则”中8.3.4条规定:试验线路参数调整采用临时连接线代替被试低压电器设备,同时检验电路的电压、电流和功率因数(时间常数)必须满足标准要求。
现有低压交流电器通断检验预期参数调整过程电流测量采用示波器配合互感器或市场通用的外积分罗氏线圈,系统集成化程度低,测试精度低。数据直接读取仪器测试数值,多次平行测量中会有个别数据与其他数据偏离较大或较小,但又找不到产品偏离的具体原因,如果直接保留或舍去偏离较大或较小的数据将直接影响测试精度。为了增强产品检验能力和质量,急需一种提高低压交流电器通断检验预期参数调整精度的低压交流电器通断检验预期参数调整系统及数据处理方法。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种低压交流电器通断检验预期参数调整系统及参数调整方法,其具有检验预期参数测试精度高、效率高、缩短检测检验周期的优点。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
低压交流电器通断检验预期参数调整系统,包括数字信号处理模块、通断检验试验线路、电压互感器、电流互感器、数据处理单元A、数据处理单元B、数据采集卡、通讯单元、上位机和继电器组件,
所述数字信号处理模块用于根据被检测的低压交流电器的实时数据采集判断并调整,从而得到被检测的低压交流电器的预期参数,所述数字信号处理模块通过继电器组件与通断检测试验线路部分连接,
所述通断检验试验线路包括入户配电柜、特种变压器、低压保护柜、前级陪试柜、前级阻抗、切换柜、后级阻抗、后级陪试柜和接地柜,入户配电柜的电压输出端与特种变压器的电压输入端相连接,特种变压器的电压输出端与低压保护柜的电压输入端相连接,低压保护柜的电压输出端与前级陪试柜的电压输入端相连接,前级陪试柜的电压输出端与前级阻抗的电压输入端相连接,前级阻抗的电压输出端与被检测的低压交流电器的电压输入端相连接,被检测的低压交流电器的电压输出端与切换柜的电压输出端相连接,切换柜的电压输出端分别与后级阻抗、接地柜的电压输入端相连接,后级阻抗的电压输出端与后级陪试柜的电压输入端相连接,后级陪试柜的电压输出端与接地柜的电压输入端相连接,所述入户配电柜用于控制所述低压交流电器通断检验预期参数调整系统的通电和停止;所述特种变压器用于将入户电压转换成被检测的低压交流电器的所需要的电压;所述低压保护柜用于实现系统低压侧通电和停止,同时具有故障保护功能;所述前级陪试柜、后级陪试柜与低压交流电器之间通过不同动作逻辑,实现被检测的低压交流电器的接通、分断和通断检验;所述前级阻抗、后级阻抗用于调整所述低压交流电器通断检验预期参数调整系统的电流;所述切换柜用于可以实现系统后级阻抗和后级陪试柜的投入或切除,
所述电压互感器测量端与被检测的低压交流电器的电压测量端相连接,电压互感器信号输出端经过数据处理单元A与数据采集卡的信号输入端相连接,电流互感器的测量端与被检测的低压交流电器的电流测量端相连接,电流互感器的信号输出端经过数据处理单元B1与数据采集卡的信号输入端相连接,数据采集卡的信号输出端与所述数字信号处理模块的信号输入端相连接。
作为优选的,所述电流互感器为内积分罗氏线圈电流互感器。
作为优选的,所述数字信号处理模块包括DSP芯片、上位机、通讯单元、电源单元、指令输入单元、程序接口、复位单元和时钟单元,所述上位机用于显示及判断被检测的低压交流电器的检测结果是否满足目标要求,所述时钟单元的输出端与DSP芯片的时钟信号输入端相连接,所述复位单元的输出端与DSP芯片的复位信号输入端相连接,所述程序接口与DSP芯片的程序端口相连接,所述指令输入单元的输出端与DSP芯片的信号输入端相连接,所述电源单元的输出端与DSP芯片1的信号输入端相连接,所述通讯单元分别与DSP芯片的通讯信号端口、上位机的通讯信号端口相连接,数据采集卡的信号输出端与所述DSP芯片的信号输入端相连接。
作为优选的,所述继电器组件包括控制继电器A、控制继电器B、控制继电器C、控制继电器D、控制继电器E和控制继电器F,所述控制继电器A连接入户配电柜和DSP芯片,所述DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器A与入户配电柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器B与低压保护柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器C与前级陪试柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器D与低压交流电器的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器E与后级陪试柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器F与切换柜的控制信号输入端相连接。
低压交流电器通断检验预期参数调整方法,使用上述低压交流电器通断检验预期参数调整系统:
步骤一、检查检验线路接线是否正确,检查检验线路设备是否完好;
步骤二、查阅所需要的目标参数,即目标电流值、目标电压值和目标功率因数值,并根据目标电流值、目标电压值和目标功率因数值调整前级阻抗值、后级阻抗值;
步骤三、启动低压交流电器通断检验预期参数调整系统,通过指令输入单元向DSP芯片发送动作指令,电压互感器采集并反馈原始数据至数据处理单元A、电流互感器采集并反馈原始数据至数据处理单元B,数据采集卡将从数据处理单元A、数据处理单元B处得到的原始数据反馈发送到DSP芯片;
步骤四、DSP芯片根据数据采集卡传送的原始数据进行运算后得出预期参数;
步骤五、DSP芯片将运算后得到的预期参数经过通讯单元反馈给上位机;
步骤六、上位机进行显示并判断预期参数是否符合目标参数的要求;
步骤七、如原始数据径计算后满足目标参数的要求,则调整试验结束,上位机存储数据;如不满足要求,重新执行步骤二至步骤五,直到至满足目标参数后停止调整试验。
所述DSP对预期参数的运算使用如下公式计算:
公式一:
公式一中,L为线圈自感,单位为亨利;RL为线圈内阻,单位为欧姆;iL为线圈回路总电流,单位为安培;U0为二次回路电压,单位为伏特;E为一次回路电压,单位为伏特;
公式二:
公式二中,iC为电容回路电流,单位为安培;iS为采样电阻回路电流,单位为安培;
忽略匝间电容的影响,由公式一和公式二整联合推导后得出公式三:
式中,RS为采样电阻,单位为欧姆;
于是,可以得到电流互感器一次母线电流I(t)与二次信号电流iL的对应关系,被测一次信号角频率ω很大,为高频冲击量时,减小采样电阻RS,使满足如下条件,则公式三可化简为公式四:
公式四中,M为线圈互感系数,
由此可推导得到输出电压表达式为公式五:
公式五中,N为线圈匝数,iS为测试回路电流,
根据公式五可以推导出被检测的低压交流电器的电流计算公式即公式六为:
在低压交流电器通断检验预期参数调整方法实施的过程中,容易由于传感器误差或强磁场干扰等原因导致测试数据出现偏差,因此DSP芯片对预期参数的运算的过程中,需要将偏大或偏小数据剔除,即使用如下方法进行数据真实性判断:
获得DSP芯片测试得出一组预期参数数据,数据中包括n个数值,按照从小到大递增排序为X1、X2、…、Xn,其中为X1最小数据,Xn为最大数据,
公式七中,n为测量次数,即试验测量数据总数,
其次,计算出该组数据的平均偏差
代入如下公式,公式八:
最后计算每个数据与
差的绝对值D
i,代入如下公式,公式九:
将公式九中计算结果D
i与
进行比较,若D
i小于3倍
则认为是正常数据,数据保存,剔除成功;若D
i大于或等于3倍
则认为是非真数据,需要进行重新测量。
使用本发明的有益效果是:本发明采用DSP芯片对被检测的低压交流电器通断检验预期参数进行调整,并对实时采集的预期参数数据进行判断,直到满足标准要求为止;低压交流电器通断检验预期参数调整系统及参数调整方法提高了通断检验预期参数测试精度和效率,缩短了检测检验周期,节约电力资源,为低压交流电器通断检验工作开展提供技术支撑,促进了检测检验行业智能化技术发展。
附图说明
图1为本发明中低压交流电器通断检验预期参数调整系统的结构示意图;
图2为本发明中内积分罗氏线圈电流互感器的电路简图;
图3为本发明中低压交流电器通断检验预期参数调整方法的流程图;
图4为本发明中低压交流电器通断检验预期参数调整方法的数据真实性判断的流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明进行详细的描述。
如图1-图4所示,低压交流电器通断检验预期参数调整系统,包括数字信号处理模块、通断检验试验线路、电压互感器、电流互感器、数据处理单元A、数据处理单元B、数据采集卡、通讯单元、上位机和继电器组件,
所述数字信号处理模块用于根据被检测的低压交流电器的实时数据采集判断并调整,从而得到被检测的低压交流电器的预期参数,所述数字信号处理模块通过继电器组件与通断检测试验线路部分连接,
所述通断检验试验线路包括入户配电柜、特种变压器、低压保护柜、前级陪试柜、前级阻抗、切换柜、后级阻抗、后级陪试柜和接地柜,入户配电柜的电压输出端与特种变压器的电压输入端相连接,特种变压器的电压输出端与低压保护柜的电压输入端相连接,低压保护柜的电压输出端与前级陪试柜的电压输入端相连接,前级陪试柜的电压输出端与前级阻抗的电压输入端相连接,前级阻抗的电压输出端与被检测的低压交流电器的电压输入端相连接,被检测的低压交流电器的电压输出端与切换柜的电压输出端相连接,切换柜的电压输出端分别与后级阻抗、接地柜的电压输入端相连接,后级阻抗的电压输出端与后级陪试柜的电压输入端相连接,后级陪试柜的电压输出端与接地柜的电压输入端相连接,所述入户配电柜用于控制所述低压交流电器通断检验预期参数调整系统的通电和停止;所述特种变压器用于将入户电压转换成被检测的低压交流电器的所需要的电压;所述低压保护柜用于实现系统低压侧通电和停止,同时具有故障保护功能;所述前级陪试柜、后级陪试柜与低压交流电器之间通过不同动作逻辑,实现被检测的低压交流电器的接通、分断和通断检验;所述前级阻抗、后级阻抗用于调整所述低压交流电器通断检验预期参数调整系统的电流;所述切换柜用于可以实现系统后级阻抗和后级陪试柜的投入或切除,
所述电压互感器测量端与被检测的低压交流电器的电压测量端相连接,电压互感器信号输出端经过数据处理单元A与数据采集卡的信号输入端相连接,电流互感器的测量端与被检测的低压交流电器的电流测量端相连接,电流互感器的信号输出端经过数据处理单元B1与数据采集卡的信号输入端相连接,数据采集卡的信号输出端与所述数字信号处理模块的信号输入端相连接。
所述电流互感器为内积分罗氏线圈电流互感器。
所述数字信号处理模块包括DSP芯片、上位机、通讯单元、电源单元、指令输入单元、程序接口、复位单元和时钟单元,所述上位机用于显示及判断被检测的低压交流电器的检测结果是否满足目标要求,所述时钟单元的输出端与DSP芯片的时钟信号输入端相连接,所述复位单元的输出端与DSP芯片的复位信号输入端相连接,所述程序接口与DSP芯片的程序端口相连接,所述指令输入单元的输出端与DSP芯片的信号输入端相连接,所述电源单元的输出端与DSP芯片1的信号输入端相连接,所述通讯单元分别与DSP芯片的通讯信号端口、上位机的通讯信号端口相连接,数据采集卡的信号输出端与所述DSP芯片的信号输入端相连接。
所述继电器组件包括控制继电器A、控制继电器B、控制继电器C、控制继电器D、控制继电器E和控制继电器F,所述控制继电器A连接入户配电柜和DSP芯片,所述DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器A与入户配电柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器B与低压保护柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器C与前级陪试柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器D与低压交流电器的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器E与后级陪试柜的控制信号输入端相连接,DSP芯片的控制信号输出端经过控制继电器F与切换柜的控制信号输入端相连接。
如图3所示,低压交流电器通断检验预期参数调整方法,使用上述低压交流电器通断检验预期参数调整系统:
步骤一、检查检验线路接线是否正确,检查检验线路设备是否完好;
步骤二、查阅所需要的目标参数,即目标电流值、目标电压值和目标功率因数值,并根据目标电流值、目标电压值和目标功率因数值调整前级阻抗值、后级阻抗值;
步骤三、启动低压交流电器通断检验预期参数调整系统,通过指令输入单元向DSP芯片发送动作指令,电压互感器采集并反馈原始数据至数据处理单元A、电流互感器采集并反馈原始数据至数据处理单元B,数据采集卡将从数据处理单元A、数据处理单元B处得到的原始数据反馈发送到DSP芯片;
步骤四、DSP芯片根据数据采集卡传送的原始数据进行运算后得出预期参数;
步骤五、DSP芯片将运算后得到的预期参数经过通讯单元反馈给上位机;
步骤六、上位机进行显示并判断预期参数是否符合目标参数的要求;
步骤七、如原始数据径计算后满足目标参数的要求,则调整试验结束,上位机存储数据;如不满足要求,重新执行步骤二至步骤五,直到至满足目标参数后停止调整试验。
如图2所示,所述DSP对预期参数的运算使用如下公式计算:
公式一:
公式一中,L为线圈自感,单位为亨利;RL为线圈内阻,单位为欧姆;iL为线圈回路总电流,单位为安培;U0为二次回路电压,单位为伏特;E为一次回路电压,单位为伏特;
公式二:
公式二中,iC为电容回路电流,单位为安培;iS为采样电阻回路电流,单位为安培;
忽略匝间电容的影响,由公式一和公式二联合推导后得出公式三:
式中,RS为采样电阻,单位为欧姆;
于是,可以得到电流互感器一次母线电流I(t)与二次信号电流iL的对应关系,被测一次信号角频率ω很大,为高频冲击量时,减小采样电阻RS,使满足如下条件,则公式三可化简为公式四:
公式四中,M为线圈互感系数,
由此可推导得到输出电压表达式为公式五:
公式五中,N为线圈匝数,iS为测试回路电流,
根据公式五可以推导出被检测的低压交流电器的电流计算公式即公式六为:
如图4所示,在低压交流电器通断检验预期参数调整方法实施的过程中,容易由于传感器误差或强磁场干扰等原因导致测试数据出现偏差,因此DSP芯片对预期参数的运算的过程中,需要将偏大或偏小数据剔除,即使用如下方法进行数据真实性判断:
获得DSP芯片测试得出一组预期参数数据,数据中包括n个数值,按照从小到大递增排序为X1、X2、…、Xn,其中为X1最小数据,Xn为最大数据,
公式七中,n为测量次数,即试验测量数据总数,
其次,计算出该组数据的平均偏差
代入如下公式,公式八:
最后,计算每个数据与
差的绝对值D
i,代入如下公式,公式九:
将公式九中计算结果D
i与
进行比较,若D
i小于3倍
则认为是正常数据,数据保存,剔除成功;若D
i大于或等于3倍
则认为是非真数据,需要进行重新测量。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上可以作出许多变化,只要这些变化未脱离本发明的构思,均属于本发明的保护范围。