CN112191574B - 管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本申请涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法，涉及相控阵超声的领域，本申请相控阵超声的领域包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，收纳盒上设置有收纳组件；定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，收纳盒上设置有定位件；让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当让位转座转动至两清理刷板相对时，两清理刷板与试块本体的探头面抵接；让位转座和定位撑座上均设置有排料组件。本申请可以提高对试块本体上耦合剂的清理便捷性。

Description

管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法
技术领域
本申请涉及相控阵超声的领域，尤其是涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。
背景技术
相控阵超声是利用相位延迟、合成孔径技术、数字合成技术，进行超声无损检测的一项技术。一般进行相控阵无损检测前，需要对系统的组合性能对不同形状的试块进行校准，从而得到可靠的相控阵超声无损检测系统。但是，在试块的检测过程中，检测探头上会涂膜耦合剂，耦合剂会残留在试块与探头的接触面上，造成对试块后续使用时的精度造成影响。
公告号为CN211453486U的中国专利，公开了一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，涉及超声波检测试块技术领域，其包括试块本体，试块本体一侧开设有第一弧段和第二弧段，第二弧段的直径落于第一弧段的直径范围内，试块本体上还开设有若干横穿试块本体两侧的校准孔，若干校准孔沿试块高度方向阵列设置，校准孔与第二弧段之间还开设有横穿试块本体的阶梯孔，试块本体垂直与阶梯孔横穿面的两侧面为探头面，还包括用于罩设试块本体的试块盒，试块盒两侧对应探头面开设有清理口，清理口内设置有用于对试块本体粘附耦合剂的探头面进行清理的清理部件。
针对上述中的相关技术，发明人认为：上述专利将试块本体放入试块盒的时候，在将试块本体推入试剂盒内的同时，还要通过按压清理部件中的清理块，使清理部件中的刮槽对试块本体的探头面进行清理，才能在试块本体收纳起来前将残留的耦合剂清理下来，十分麻烦。
发明内容
为了提高对试块本体上残留耦合剂的清理效果，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。
第一方面，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，采用如下的技术方案：
一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，所述收纳盒一端开口设置，所述收纳盒上设置有收纳组件，所述收纳组件用于将试块本体从收纳盒的开口端收入收纳盒中；所述定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，所述收纳盒上设置有用于固定让位转座的定位件；所述让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，所述清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，所述清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当所述让位转座转动至两清理刷板相对时，两所述清理刷板与试块本体的探头面抵接；所述让位转座和定位撑座上均设置有排料组件，所述排料组件用于排出清理出的试剂。
通过采取上述技术方案，在对试块本体进行检测之后，转动让位转座，使得让位转座为试块本体让出空间，可以将试块本体顺利放置到收纳组件中的规定位置，同时试块本体的一侧探头面与定位撑座清理刷板抵接；然后反转让位转座，使得让位转座上的清理刷板抵在试块本体上的另一探头面上；从而在利用收纳组件将试块本体推入到收纳盒中的过程中，清理刷板可以抵着试块本体的探头面滑移，将粘附在试块本体探头面上的耦合剂清理下来，同时排料组件可以将清理下来的耦合剂收集起来，从而本申请在将试块本体推入到收纳盒中的过程中，可以直接对试块本体探头面上的耦合剂进行清理，方便快捷。
可选的，所述收纳组件包括抵板、推板、连板，所述抵板滑移设置在收纳盒的内侧壁上，所述收纳盒与开口端相邻的侧壁上贯穿设置有滑移槽，所述连板与滑移槽槽壁滑移连接且与抵板固定连接，所述收纳盒上设置有驱动连板滑移的滑移件；所述推板设置在连板远离抵板的一端；所述试块本体与探头面相邻的端壁与抵板和推板抵接，所述试块本体与探头面相邻的周壁与收纳盒内侧壁抵接。
通过采取上述技术方案，收起试块本体的时候，将推板拉出收纳盒，并使得连板带动抵板移动到收纳盒的开口端，从而将让位转座转离后，将试块本体抵接在定位撑座的清理刷板上的同时，试块本体与探头面相邻一端端壁与推板抵接，试块本体与探头面相邻的另一端端壁与抵板抵接，从而在操作滑移件移动连板的时候，推板和抵板可以带动试块本体同步移动到收纳盒中。
可选的，所述让位转座和定位撑座上的排料组件均包括集料板、吸料管、弹性的吸料囊、排料管、第一控制阀和第二控制阀，所述定位撑座沿连板滑移方向且远离收纳盒的侧壁与集料板相连，所述集料板远离定位撑座的端壁远离试块本体的探头面，所述集料板两侧侧壁上设置有挡料片，所述挡料片的端壁与定位撑座固定连接，所述挡料片与试块本体相邻于探头面的周壁抵接，所述挡料片、集料板和定位撑座的侧壁形成集料腔，所述吸料管嵌设在定位撑座上，所述吸料管的进料端延伸至集料腔中，所述吸料管的出料端延伸出定位撑座，所述吸料管的出料端与吸料囊可拆卸连接，所述排料管设置在吸料囊远离吸料管的一端，所述第一控制阀设置在吸料管上，所述第二控制阀设置在排料管上；
所述让位转座沿连板滑移方向且远离收纳盒的侧壁与集料板相连，所述集料板远离让位转座的端壁远离试块本体的探头面，所述集料板两侧侧壁上设置有挡料片，所述挡料片的端壁与让位转座固定连接，所述挡料片与试块本体相邻于探头面的周壁抵接，所述挡料片、集料板和让位转座的侧壁形成集料腔，所述吸料管嵌设在让位转座上，所述吸料管的进料端延伸至集料腔中，所述吸料管的出料端延伸出让位转座，所述吸料管的出料端与吸料囊可拆卸连接，所述排料管设置在吸料囊远离吸料管的一端，所述第一控制阀设置在吸料管上，所述第二控制阀设置在排料管上。
通过采取上述技术方案，在试块本体向收纳盒中滑动前，吸料囊处于压缩状态；在试块本体向收纳盒中滑动的过程中，清理刷板抵在试块本体探头面上滑移，残留在试块本体探头面上的耦合剂越过集料板后与清力刷板接触而被清理下来，此过程中，耦合剂会逐渐堆积到集料腔中，此时打开第一控制阀，即可利用吸料囊的内外压差，将耦合剂通过吸料管吸到吸料囊中，将试块本体收起来后，再将吸料囊取下，打开第二控制阀，将耦合剂排出吸料囊即可；同时在将试块本体拉出收纳盒的时候，清理刷板可以对试块本体进行进一步地清洁。
可选的，所述清理刷板包括固定基板和清洁板，所述定位撑座与让位转座与固定基板连接，所述固定基板安装侧侧壁上设置有燕尾连槽，所述燕尾连槽的一端贯穿设置，所述清洁板远离清洁侧的侧壁上设置有燕尾连块，所述燕尾连块的与燕尾连槽插接。
通过采取上述技术方案，将试块本体受到收纳盒中后，可以将清洁板从固定基板上抽出，从而可以对清洁板进行清理，保持清洁板的洁净性，从而可以进一步提高对试块本体上耦合剂的清理效果。
可选的，所述滑移件包括滑移块和复位弹簧，所述滑移槽槽壁上设置有导向槽，所述滑移块与导向槽槽壁滑移连接，所述滑移块伸出导向槽的端壁与连板固定连接，所述导向槽远离收纳盒开口端的槽壁上设置有复位槽，所述复位弹簧连接在复位槽与连板的相对侧壁间。
通过采取上述技术方案，将推板拉离收纳槽的时候，连板逐渐远离复位槽，此时复位弹簧被拉伸，从而在需要将试块本体收进收纳盒中的时候，在复位弹簧的弹力作用下，复位弹簧可以之间拉动连板移动，从而推板和抵板可以将试块本体带入收纳盒中。
可选的，所述吸料管内设置有单向阀。
通过采取上述技术方案，使得耦合剂只会从集料腔中进入到吸料管，从而可减少吸料管中的耦合剂反流到集料腔中，减少试块本体的二次污染。
可选的，所述定位件包括基座和定位板，所述基座设置在收纳盒外侧壁上，所述让位转座转动设置在基座上，所述定位板滑移设置基座远离收纳盒开口端的侧壁上；当所述让位转座转动至两清理刷板相对时，所述定位板与让位转座远离集料板的侧壁抵接。
通过采取上述技术方案，在让位转座的正常转动过程中，定位板远离让位转座，让位转座正常转动；在让位转座转动至两清理刷板相对的位置后，只要滑移定位板，使得定位板与让位转座远离集料板的侧壁抵接，利用定位板的限位作用即可限制让位转座的转动。
可选的，所述让位转座和定位撑座均与集料板转动连接，所述让位转座和定位撑座上均设置有转动座，所述集料板转动设置在转动座上，所述转动座位于集料板靠近试块本体的一侧设置有限位块，所述转动座位于集料板远离试块本体一侧转动设置有限位抵杆，所述限位抵板与转动座之间设置有定位扭簧，所述集料板远离集料腔的侧壁上设置有限位卡钩；当所述限位抵杆与限位卡钩插接时，所述定位扭簧处于自然状态，所述限位块与集料板抵接。
通过采用上述技术方案，在清理刷板对试块本体的探头面进行清理的时候，定位扭簧的弹力使得限位抵杆稳定地插在限位卡钩中，清理下来的耦合剂可以正常堆积到集料腔中；将试块本体收进收纳盒中后，克服定位扭簧的弹力，用力转动限位抵杆，使得限位底端远离限位卡钩，即可转动集料板，从而可以对集料板上粘附的耦合剂进行清理。
第二方面，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块的检测方法，采用如下的技术方案：
一种管道环焊缝相控阵检测对比试块的检测方法，包括以下步骤：
利用收纳组件将试块本体推出收纳盒，取出试块本体，在试块本体的探头侧涂覆耦合剂，然后对试块本体进行检测；
检测结束后，转动让位转座，将试块本体放在待收入收纳盒中的位置，试块本体的一探头面抵在定位撑座的清理刷板上，再次转动让位转座，使得让位转座上的清理刷板抵在试块本体的另一探头面上，固定让位转座；
操作收纳组件将试块本体推入收纳盒中，清理刷板对试块本体探头面上的耦合剂进行清理，最后操作排料组件将清理下来的耦合剂排走。
通过采用上述技术方案，在将试块本体放置到待推入到收纳盒中的位置后，可以使得清理刷板与试块本体的探头面抵接，从而在利用收纳组件将试块本体推入收纳盒的过程中，清理刷板可以直接对试块本体上的耦合剂进行清理，方便快捷。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
1.本申请在利用收纳组件将试块本体推入到收纳盒中的过程中，清理刷板可以抵着试块本体的探头面滑移，将粘附在试块本体探头面上的耦合剂清理下来，从而本申请在将试块本体推入到收纳盒中的过程中，可以直接对试块本体探头面上的耦合剂进行清理，方便快捷；
2.本申请在将试块本体推入收纳盒中的时候，可以利用吸料囊的内外压差，自动将耦合剂通过吸料管吸到吸料囊中，从而可以将清理下来的耦合剂及时收走；
3.本申请利用定位扭簧的弹力，使得限位抵杆稳定地插在限位卡钩中，清理下来的耦合剂可以正常堆积到集料腔中；将试块本体收进收纳盒中后，克服定位扭簧的弹力，用力转动限位抵杆，使得限位底端远离限位卡钩，即可转动集料板，从而可以对集料板上粘附的耦合剂进行清理。
附图说明
图1是本申请实施例中对比试块的结构示意图。
图2是图1中A处的放大图。
图3是本申请实施例中对比试块的俯视图。
图4是图3中B-B处的放大图。
图5是图4中C处的放大图。
图6是图1中D处的放大图。
附图标记说明：1、试块本体；11、探头面；2、收纳盒；21、滑移槽；22、导向槽；23、复位槽；3、定位撑座；4、让位转座；5、清理刷板；51、固定基板；511、燕尾连槽；52、清洁板；521、燕尾连块；6、收纳组件；61、抵板；62、推板；63、连板；64、滑移件；641、滑移块；642、复位弹簧；7、定位件；71、基座；72、定位板；8、排料组件；81、集料板；811、第一板；812、第二板；813、挡料片；814、限位卡钩；82、吸料管；821、单向阀；83、吸料囊；84、排料管；85、第一控制阀；86、第二控制阀；87、集料腔；9、转动座；91、限位块；92、限位抵杆；93、定位扭簧。
具体实施方式
以下结合附图1-6对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种管道环焊缝相控阵检测对比试块。
如图1所示，一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，包括试块本体1、收纳盒2和收纳组件6，收纳组件6可以将试块本体1收入到收纳盒2中，本实施例中的收纳组件6包括抵板61、推板62和连板63，抵板61滑移设置在收纳盒2的内侧壁上且与收纳盒2的内侧壁贴合，收纳盒2与开口端相邻的两相对侧壁上贯穿设置有滑移槽21，滑移槽21沿远离收纳盒2开口端的方向延伸，连板63与滑移槽21槽壁滑移连接且一端端壁与抵板61固定连接，收纳盒2上设置有驱动连板63滑移的滑移件64；推板62与抵板61形状相同且等大，而且连板63一体连接在推板62的侧壁上。在需要将试块本体1收进收纳盒2中的时候，将推板62滑移出收纳盒2，抵板61滑移到收纳盒2开口端，然后将试块本体1放在推板62和抵板61之间，使得试块本体1与探头面11相邻的端壁与抵板61和推板62抵接，此时利用滑移件64移动连板63，即可使得推板62和抵板61夹着试块本体1滑移到收纳盒2中，此过程中，试块本体1的探头面11以及与探头面11相邻的周壁与收纳盒2内侧壁滑移抵接。
如1和图2所示，在本实施例中，滑移件64包括滑移块641和复位弹簧642，滑移槽21垂直于连板63滑移方向上的槽壁上设置有导向槽22，滑移块641沿连板63的滑移方向与导向槽22槽壁滑移连接，滑移块641伸出导向槽22的端壁与连板63一体连接，导向槽22远离收纳盒2开口端的槽壁上设置有复位槽23，复位弹簧642连接在复位槽23相对于槽口的槽壁与连板63的相对侧壁间。将推板62拉出收纳盒2的过程中，连板63逐渐伸出复位槽23，此时复位弹簧642被拉伸，将试块本体1放置到推板62和抵板61之间后，停止对连板63施力，此时复位弹簧642即可拉动着连板63滑移到复位槽23中，滑移块641在导向槽22中滑移，抵板61和推板62将试块本体1收到收纳盒2中。
如图3和图4所示，本实施例中的对比试块还包括定位撑座3、让位转座4和清理刷板5，定位撑座3一体连接在收纳盒2开口端外侧壁上，定位撑座3所在的收纳盒2外侧壁与滑移槽21所在的收纳盒2侧壁相邻但不是同一个，让位转座4转动设置在收纳盒2与定位撑座3相对的开口端外侧壁上，收纳盒2上设置有用于固定让位转座4的定位件7；在本实施例中，让位转座4和定位撑座3均与清理刷板5相连，而且清理刷板5位于定位撑座3与让位转座4相对的侧壁上，清理刷板5位于让位转座4沿转动方向相对于定位撑座3的侧壁上；让位转座4和定位撑座3上均设置有排料组件8，排料组件8用于排出清理出的耦合剂。
将推板62拉出收纳盒2后，转动让位转座4，使得让位转座4远离收纳盒2的开口侧，然后沿让位转座4处位置向定位撑座3处位置的方向放入试块本体1，在试块本体1与推板62和抵板61抵接的同时，试块本体1的一个探头面11抵在定位撑座3的清理刷板5上；反转让位转座4，使得让位转座4带动清理刷板5抵接在试块本体1的另一个探头面11上，并利用定位件7固定让位转座4，此时停止对连板63施力，复位弹簧642即可拉动着连板63移动，推板62和抵板61将试块本体1推入到收纳盒2中，此过程中，清理刷板5将试块本体1探头面11上的耦合剂清理下料，排料组件8则是将这些清理下来的耦合剂收集起来并带离收纳盒2。
如图4和图5所示，定位件7包括基座71和定位板72，基座71一体连接在收纳盒2与定位撑座3相对的开口端外侧壁上，让位转座4转动设置在基座71远离收纳盒2的侧壁上，定位板72滑移设置基座71远离收纳盒2开口端的侧壁上，而且定位板72与基座71摩擦定位。在转动让位转座4的时候，定位板72全部位于基座71上；将让位转座4转动至两清理刷板5相对的位置后，此时让位转座4远离集料板81的侧壁与基座71远离集料板81的侧壁平齐，滑移定位板72，使得定位板72远离基座71的一侧与让位转座4远离集料板81的侧壁抵接，从而定位板72同时与基座71和让位转座4抵接，即可对让位转座4定位。
如图4和图5所示，为了方便对清理刷板5进行清理，在本实施例中，清理刷板5包括固定基板51和清洁板52，定位撑座3与让位转座4均与固定基板51一体连接，固定基板51安装侧侧壁上设置有燕尾连槽511，而且燕尾连槽511的一端贯穿设置，清洁板52远离清洁侧的侧壁上一体连接有燕尾连块521，燕尾连块521的与燕尾连槽511滑移连接且摩擦定位，将试块本体1收入到收纳盒2之后，将燕尾连块521从燕尾连槽511的贯穿端抽出，然后对清洁板52进行清理，再将燕尾连块521从燕尾连槽511的贯穿端插入到燕尾连槽511中，即可而将清洁板52重新安装到清洁板52，使得清洁板52保持干净，提高对试块本体1的清理效果。
如图4和图5所示，让位转座4和定位撑座3上的排料组件8均包括集料板81、吸料管82、弹性的吸料囊83、排料管84、第一控制阀85和第二控制阀86，在本实施例中，与定位撑座3相连的集料板81为第一板811，与让位转座4相连的集料板81为第二板812；对于定位撑座3上的排料组件8，第一板811的端壁连接在定位撑座3沿连板63滑移方向且远离收纳盒2的侧壁上，第一板811远离定位撑座3的端壁远离试块本体1的探头面11，第一板811两侧侧壁上一体连接有挡料片813，而且挡料片813的端壁与定位撑座3一体连接，同时挡料片813与试块本体1相邻于探头面11的周壁抵接，从而挡料片813、第一板811和定位撑座3的侧壁可以形成集料腔87，吸料管82嵌设在定位撑座3上，吸料管82的进料端延伸至集料腔87中，吸料管82的出料端延伸出定位撑座3,在实施例中，吸料管82的出料端可以有多个，且均布在集料腔87中；吸料管82的出料端与吸料囊83螺纹连接，排料管84一体连接在吸料囊83远离吸料管82的一端，第一控制阀85安装在吸料管82上，同时吸料管82位于第一控制阀85远离吸料囊83的一侧安装有单向阀821，第二控制阀86安装在排料管84上。
如图4和图5所示，对于让位转座4上的排料组件8，第二板812连接在让位转座4沿连板63滑移方向且远离收纳盒2的侧壁上，第二板812远离让位转座4的端壁远离试块本体1的探头面11，集料板81两侧侧壁上一体连接有挡料片813，挡料片813的端壁与让位转座4一体连接，挡料片813与试块本体1相邻于探头面11的周壁抵接，因此，挡料片813、集料板81和让位转座4的侧壁也形成集料腔87，吸料管82嵌设在让位转座4上，吸料管82的进料端延伸至集料腔87中，吸料管82的出料端延伸出让位转座4，在实施例中，吸料管82的出料端可以有多个，且均布在集料腔87中；吸料管82的出料端与吸料囊83螺纹连接，排料管84一体连接在吸料囊83远离吸料管82的一端，第一控制阀85安装在吸料管82上，同时吸料管82位于第一控制阀85远离吸料囊83的一侧安装有单向阀821，第二控制阀86安装在排料管84上。
因此，在将试块本体1放在抵板61和推板62之间后，试块本体1一个探头面11与定位撑座3上的清洁板52抵接的同时，第一板811上的挡料片813会抵在试块本体1与探头面11相邻的侧壁上；将让位转座4转动至两个清洁板52相对的时候，试块本体1另一个探头面11与让位转座4上的清洁板52抵接的同时，第二板812上的挡料片813会抵在试块本体1与探头面11相邻的侧壁上；在向收纳盒2中推入试块本体1的前，开启第二控制阀86，将吸料囊83中的气体排出，使得吸料囊83处于弹性压缩的状态；在向收纳盒2中推入试块本体1的过程中，清理刷板5将试块本体1探头面11上的耦合剂刮擦下来，刮擦下来的耦合剂会堆积到集料腔87中，因此在试块本体1移动一段时间，集料腔87中堆积一些耦合剂的时候，开启第一控制阀85，使得堆积的耦合剂被吸料管82吸入到吸料囊83中；将试块本体1收入收纳盒2中后，将吸料囊83从吸料管82上取下来，开启第二控制阀86，将吸料囊83中的耦合剂挤出即可。
如图5和图6所示，为了方便对集料板81上粘附的耦合剂进行清理，在本实施例中，让位转座4和定位撑座3上均一体连接有转动座9，第一板811和第二板812均与转动座9转动连接，即集料板81转动设置在转动座9上，转动座9位于集料板81靠近试块本体1的一侧一体连接有限位块91，转动座9位于集料板81远离试块本体1一侧转动设置有弹性的限位抵杆92，限位抵板61与转动座9之间设置有定位扭簧93，集料板81远离集料腔87的侧壁上设置有限位卡钩814。在向收纳盒2中推入试块本体1的过程中，限位抵杆92与限位卡钩814插接，定位扭簧93处于自然状态，同时限位块91与集料板81抵接，被刮擦下来的耦合剂可以正常堆积到集料腔87中。将试块本体1收入到收纳盒2中后，克服定位扭簧93的弹力，限位抵杆92也发生形变，即可将限位抵杆92从限位抵槽中转出，从而可以转动集料板81，从而对集料板81上粘附的耦合剂进行清理。
本申请实施例还公开了一种管道环焊缝相控阵检测对比试块的检测方法，包括以下步骤：
拉动连板63，使得连板63带动推板62移动出收纳盒2，从而抵板61和推板62将试块本体1推出收纳盒2，然后取出试块本体1，在试块本体1的探头侧涂覆耦合剂，然后对试块本体1进行检测。
检测结束后，将推板62拉出收纳盒2，并使得抵板61移动到收纳盒2开口端处，此时复位弹簧642被拉伸，转动让位转座4，使得让位转座4远离收纳盒2的开口侧，然后放入试块本体1，使得试块本体1与推板62和抵板61抵接的同时，试块本体1的一个探头面11抵在定位撑座3的清洁板52上；反转让位转座4，使得让位转座4带动清洁板52抵接在试块本体1的另一个探头面11上，然后移动定位板72，使得定位板72同时与基座71和让位转座4的侧壁抵接。
然后开启第二控制阀86，将吸料囊83中的气体排出，使得吸料囊83处于弹性压缩的状态；停止对连板63施力，使得复位弹簧642带动连板63移动，推板62和抵板61将试块本体1带入到收纳盒2中，此过程中，清洁板52将试块本体1的探头面11上的耦合剂刮擦下来，刮擦下来的耦合剂会堆积到集料腔87中，然后在集料腔87中堆积一些耦合剂的时候，开启第一控制阀85，使得堆积的耦合剂被吸料管82吸入到吸料囊83中；将试块本体1收入收纳盒2中后，将吸料囊83从吸料管82上取下来，开启第二控制阀86，将吸料囊83中的耦合剂挤出即可。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：包括试块本体(1)、收纳盒(2)、定位撑座(3)、让位转座(4)和清理刷板(5)，所述收纳盒(2)一端开口设置，所述收纳盒(2)上设置有收纳组件(6)，所述收纳组件(6)用于将试块本体(1)从收纳盒(2)的开口端收入收纳盒(2)中，所述定位撑座(3)固定设置在收纳盒(2)开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座(4)转动设置在收纳盒(2)开口端与定位撑座(3)相对的侧壁上，所述收纳盒(2)上设置有用于固定让位转座(4)的定位件(7)；所述让位转座(4)和定位撑座(3)均与清理刷板(5)相连，所述清理刷板(5)位于定位撑座(3)与让位转座(4)相对的侧壁上，所述清理刷板(5)位于让位转座(4)沿转动方向相对于定位撑座(3)的侧壁上；当所述让位转座(4)转动至两清理刷板(5)相对时，两所述清理刷板(5)与试块本体(1)的探头面(11)抵接；所述让位转座(4)和定位撑座(3)上均设置有排料组件(8)，所述排料组件(8)用于排出清理出的试剂；
所述让位转座(4)和定位撑座(3)上的排料组件(8)均包括集料板(81)、吸料管(82)、弹性的吸料囊(83)、排料管(84)、第一控制阀(85)和第二控制阀(86)，所述定位撑座(3)沿连板(63)滑移方向且远离收纳盒(2)的侧壁与集料板(81)相连，所述集料板(81)两侧侧壁上设置有挡料片(813)，所述集料板(81)远离定位撑座(3)的端壁远离试块本体(1)的探头面(11)，所述挡料片(813)的端壁与定位撑座(3)固定连接，所述挡料片(813)与试块本体(1)相邻于探头面(11)的周壁抵接，所述挡料片(813)、集料板(81)和定位撑座(3)的侧壁形成集料腔(87)，所述吸料管(82)嵌设在定位撑座(3)上，所述吸料管(82)的进料端延伸至集料腔(87)中，所述吸料管(82)的出料端延伸出定位撑座(3)，所述吸料管(82)的出料端与吸料囊(83)可拆卸连接，所述排料管(84)设置在吸料囊(83)远离吸料管(82)的一端，所述第一控制阀(85)设置在吸料管(82)上，所述第二控制阀(86)设置在排料管(84)上；
所述让位转座(4)沿连板(63)滑移方向且远离收纳盒(2)的侧壁与集料板(81)相连，所述集料板(81)远离让位转座(4)的端壁远离试块本体(1)的探头面(11)，所述集料板(81)两侧侧壁上设置有挡料片(813)，所述挡料片(813)的端壁与让位转座(4)固定连接，所述挡料片(813)与试块本体(1)相邻于探头面(11)的周壁抵接，所述挡料片(813)、集料板(81)和让位转座(4)的侧壁形成集料腔(87)，所述吸料管(82)嵌设在让位转座(4)上，所述吸料管(82)的进料端延伸至集料腔(87)中，所述吸料管(82)的出料端延伸出让位转座(4)，所述吸料管(82)的出料端与吸料囊(83)可拆卸连接，所述排料管(84)设置在吸料囊(83)远离吸料管(82)的一端，所述第一控制阀(85)设置在吸料管(82)上，所述第二控制阀(86)设置在排料管(84)上。
2.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述收纳组件(6)包括抵板(61)、推板(62)、连板(63)，所述抵板(61)滑移设置在收纳盒(2)的内侧壁上，所述收纳盒(2)与开口端相邻的侧壁上贯穿设置有滑移槽(21)，所述连板(63)与滑移槽(21)槽壁滑移连接且与抵板(61)固定连接，所述收纳盒(2)上设置有驱动连板(63)滑移的滑移件(64)；所述推板(62)设置在连板(63)远离抵板(61)的一端。
3.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述清理刷板(5)包括固定基板(51)和清洁板(52)，所述定位撑座(3)和让位转座(4)均与固定基板(51)连接，所述固定基板(51)安装侧侧壁上设置有燕尾连槽(511)，所述燕尾连槽(511)的一端贯穿设置，所述清洁板(52)远离清洁侧的侧壁上设置有燕尾连块(521)，所述燕尾连块(521)与燕尾连槽(511)插接。
4.根据权利要求2所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述滑移件(64)包括滑移块(641)和复位弹簧(642)，所述滑移槽(21)槽壁上设置有导向槽(22)，所述滑移块(641)与导向槽(22)槽壁滑移连接，所述滑移块(641)伸出导向槽(22)的端壁与连板(63)固定连接，所述导向槽(22)远离收纳盒(2)开口端的槽壁上设置有复位槽(23)，所述复位弹簧(642)连接在复位槽(23)与连板(63)的相对侧壁间。
5.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述吸料管(82)内设置有单向阀(821)。
6.根据权利要求1所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述定位件(7)包括基座(71)和定位板(72)，所述基座(71)设置在收纳盒(2)外侧壁上，所述让位转座(4)转动设置在基座(71)上，所述定位板(72)滑移设置基座(71)远离收纳盒(2)开口端的侧壁上；当所述让位转座(4)转动至两清理刷板(5)相对时，所述定位板(72)与让位转座(4)远离集料板(81)的侧壁抵接。
7.根据权利要求2所述的管道环焊缝相控阵检测对比试块，其特征在于：所述让位转座(4)和定位撑座(3)均与集料板(81)转动连接，所述让位转座(4)和定位撑座(3)上均设置有转动座(9)，所述集料板(81)转动设置在转动座(9)上，所述转动座(9)位于集料板(81)靠近试块本体(1)的一侧设置有限位块(91)，所述转动座(9)位于集料板(81)远离试块本体(1)一侧转动设置有限位抵杆(92)，所述抵板(61)与转动座(9)之间设置有定位扭簧(93)，所述集料板(81)远离集料腔(87)的侧壁上设置有限位卡钩(814)；当所述限位抵杆(92)与限位卡钩(814)插接时，所述定位扭簧(93)处于自然状态，所述限位块(91)与集料板(81)抵接。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的一种管道环焊缝相控阵检测对比试块的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
利用收纳组件(6)将试块本体(1)推出收纳盒(2)，取出试块本体(1)，然后对试块本体(1)进行检测；
检测结束后，转动让位转座(4)，将试块本体(1)放在待收入收纳盒(2)中的位置，试块本体(1)的一探头面(11)抵在定位撑座(3)的清理刷板(5)上，再次转动让位转座(4)，使得让位转座(4)上的清理刷板(5)抵在试块本体(1)的另一探头面(11)上，固定让位转座(4)；
操作收纳组件(6)将试块本体(1)推入收纳盒(2)中，清理刷板(5)对试块本体(1)探头面(11)上的试剂进行清理，最后操作排料组件(8)将清理下来的试剂排走。
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