CN112179303A - 一种磁粉标准试片的测量方法 - Google Patents

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魏红军
林卫平
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Abstract

本发明涉及一种磁粉标准试片的测量方法，在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h,湿度<75%RH,无振动源室内环境中，在岩石平板放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片人工槽面向上，选取表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片边长，沿十字人工槽一条槽方向，形成行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录，测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向进行数据采集，形成曲线,再选取依次平行于十字人工槽中的槽直线方向进行触针行程形成多条曲线记录，利用测量软件采集曲线分析计算出试片边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度、试片厚度、人工槽深度、宽度数据实现磁粉标准试片测量，提升了测量效率，降低了人工测量误差，提高了测量准确度。

Description

一种磁粉标准试片的测量方法
技术领域
本发明属于磁粉探伤检测技术领域，具体涉及一种磁粉标准试片的测量方法。
背景技术
磁粉标准试片是用来检查磁粉探伤装置、磁粉、磁悬液的综合性能，以及连续法中试件表面有效磁场的强度和方向、有效探伤范围、探伤操作是否正确。磁粉标准试片采用符合GB/T6983规定的DT4A超高纯低碳纯铁，经轧制而成的正方形薄试片，在试片中部为圆形人工槽及十字人工槽。根据《GB/T23907-2009磁粉检测用试片》中6.2尺寸条款规定：试片厚度、人工槽深度、宽度采用准确度优于±1μm的适当方法测定，一般采用千分尺、体视显微镜进行测量。而磁粉标准试片的边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度，应采用准确度优于±1mm的适当方法测定，一般采用直尺测量。而这种测量存在着测量效率低，人工测量误差的发生概率高，测量准确度差的缺陷。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足而提供一种利用表面粗糙度仪触针在磁粉探伤标准试片上的数次测量行程，形成一批以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录，利用测量软件分析计算得出磁粉标准试片尺寸数据的磁粉标准试片的测量方法，完成磁粉标准试片的尺寸参数的测定。
为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：
一种磁粉标准试片的测量方法，按照如下步骤进行：
步骤1）、在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h ,相对湿度 <75%RH，且周围没有振动源的室内环境中，在2级岩石平板上固定放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片的人工槽面向上；
步骤2）、选取利用表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片的边长，表面粗糙度仪触针行进方向沿着磁粉标准试片的十字人工槽一条槽方向，行程涵盖2级岩石平板、磁粉标准试片的平面、圆形人工槽、十字人工槽中一条槽；测量软件通过表面粗糙度仪进行采集数据，形成以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录；测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向，进行数据采集，形成曲线。
步骤3）、选取平行于磁粉标准试片的十字人工槽中的一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针的行程，同样形成曲线记录；
步骤4）、选取依次平行于磁粉标准试片的十字人工槽中的另一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针的行程，这样形成多条曲线记录；
步骤5）、利用测量软件采集到此批曲线记录，进行分析计算得出磁粉标准试片的边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度、试片厚度、人工槽深度、宽度数据。
表面粗糙度仪触针选择日本三丰SJ系列，其X轴驱动行程为25mm ,测量范围为350μm。
2级岩石平板和磁粉标准试片两者平衡温度的时间≥3h 。
本发明的技术方案产生的积极效果如下：通过一台表面粗糙度仪触针的数次行程，形成一批以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录，利用测量软件分析计算得出磁粉标准试片的尺寸数据。这种测量方法可以实现磁粉标准试片多片测量，提升了测量效率，采用表面粗糙度仪及测量软件，降低了潜在的人工测量误差的发生概率，提高测量准确度。
附图说明
图1为本发明中的型号为磁粉探伤A型30/100的磁粉标准试片尺寸示意图。
图2为本发明中的磁粉探伤A型30/100的磁粉标准试片的测量示意图。
图3为测量曲线图。
图中1为表面粗糙度仪触针，2为表面粗糙度仪 ，3为磁粉探伤标准试片,4为2级岩石平板。 箭头所示为触针行进路线。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明的一种磁粉标准试片的测量方法作进一步阐述和说明。
一种磁粉标准试片的测量方法，按照如下步骤进行：
步骤1）、在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h ,相对湿度 <75%RH，且周围没有振动源的室内环境中，在2级岩石平板4上固定放置磁粉标准试片3及表面粗糙度仪2，磁粉标准试片3的人工槽面向上，两者平衡温度的时间≥3h ；
步骤2）、选取利用表面粗糙度仪触针1行程大于磁粉标准试片3的边长，表面粗糙度仪触针1行进方向沿着磁粉标准试片3的十字人工槽一条槽方向，行程涵盖2级岩石平板4、磁粉标准试片3的平面、圆形人工槽、十字人工槽中一条槽；测量软件通过表面粗糙度仪进行采集数据，形成以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录；测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向，进行数据采集，形成曲线。
步骤3）、选取平行于磁粉标准试片3的十字人工槽中的一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针1的行程，同样形成曲线记录；
步骤4）、选取依次平行于磁粉标准试片3的十字人工槽中的另一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针1的行程，这样形成多条曲线记录；
步骤5）、利用测量软件采集到此批曲线记录，进行分析计算得出磁粉标准试片3的边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度、试片厚度、人工槽深度、宽度数据。
表面粗糙度仪触针1选择日本三丰SJ系列，其X轴驱动行程为25mm ,测量范围为350μm。
2级岩石平板和磁粉标准试片两者平衡温度的时间≥3h。

Claims (3)

1.一种磁粉标准试片的测量方法，其特征在于：按照如下步骤进行：
步骤1）、在室温20±5℃,温度变化≤1℃/h ,相对湿度 <75%RH，且周围没有振动源的室内环境中，在2级岩石平板上固定放置磁粉标准试片及表面粗糙度仪，磁粉标准试片的人工槽面向上；
步骤2）、选取利用表面粗糙度仪触针行程大于磁粉标准试片的边长，表面粗糙度仪触针行进方向沿着磁粉标准试片的十字人工槽一条槽方向，行程涵盖2级岩石平板、磁粉标准试片的平面、圆形人工槽、十字人工槽中一条槽；测量软件通过表面粗糙度仪进行采集数据，形成以行进距离为X轴数据、行进轨迹为Y轴数据的曲线记录；测量以同样方式对十字人工槽另一条槽方向，进行数据采集，形成曲线；
步骤3）、选取平行于磁粉标准试片的十字人工槽中的一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针的行程，同样形成曲线记录；
步骤4）、选取依次平行于磁粉标准试片的十字人工槽中的另一条槽的直线方向，进行表面粗糙度仪触针的行程，这样形成多条曲线记录；
步骤5）、利用测量软件采集到此批曲线记录，进行分析计算得出磁粉标准试片的边长、圆形人工槽直径、十字人工槽长度、试片厚度、人工槽深度、宽度数据。
2.根据权利要求1所述的一种磁粉标准试片的测量方法，其特征在于：表面粗糙度仪触针选择日本三丰SJ系列，其X轴驱动行程为25mm ,测量范围为350μm。
3.根据权利要求1所述的一种磁粉标准试片的测量方法，其特征在于：2级岩石平板和磁粉标准试片两者平衡温度的时间≥3h。
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