CN112087232A - 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置 - Google Patents

一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112087232A
CN112087232A CN201910516384.5A CN201910516384A CN112087232A CN 112087232 A CN112087232 A CN 112087232A CN 201910516384 A CN201910516384 A CN 201910516384A CN 112087232 A CN112087232 A CN 112087232A
Authority
CN
China
Prior art keywords
calibration
sampling
direct current
signal
average value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910516384.5A
Other languages
English (en)
Inventor
杨浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Nufront Wireless Tech Co ltd
Beijing Nufront Mobile Multimedia Technology Co Ltd
Original Assignee
Beijing Nufront Wireless Tech Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Nufront Wireless Tech Co ltd filed Critical Beijing Nufront Wireless Tech Co ltd
Priority to CN201910516384.5A priority Critical patent/CN112087232A/zh
Publication of CN112087232A publication Critical patent/CN112087232A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1009—Calibration
    • H03M1/1028—Calibration at two points of the transfer characteristic, i.e. by adjusting two reference values, e.g. offset and gain error

Abstract

本发明公开了一种多通道TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法及装置，包括：获取第一直流信号源下每个通道至少两个周期采样值，计算第一采样值平均值；获取第二直流信号源下每个通道至少两个周期采样值，计算第二采样值平均值；根据所述第一采样值平均值和第二采样值平均值，对工作信号下通道的采样数据进行直流偏置和增益误差校准。本发明提出了改进的TIADC模拟自校准系统，利用两路直流校准信号和校准模型，对正常工作时输入信号进行校准，简化了校准系统，同时校准结果更加准确。

Description

一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法及装置
技术领域
本发明属于通信领域，尤其涉及一种TIADC系统直流偏置误差和增益误差校准方法及装置。
背景技术
高速ADC(模拟数字转换器)是高性能信号处理系统的关键部件，在大带宽通信系统、仪器仪表、雷达等复杂系统中均有应用。TIADC(分时交替模数转换器)技术,能够在保持采样精度的条件下提高系统采样速度，TIADC系统主要存在三种失配：直流偏置误差(offset mismatch)、增益误差(gain mismatch)和采样时刻误差(timing mismatch)。
现有技术中，多通道TIADC系统对直流偏置offset和增益误差gain进行校准方法为：将状态机切换到第一直流校准信号DC1上，在数字部分记录下来每个通道的采样值N个周期，计算第一采样均值V1(i)后存储；然后，切换到第二直流校准信号DC2，记录下来每个通道的采样值N个周期，计算第二采样均值V2(i)后存储。最后，通过下述公式计算第i个通道的直流偏置offset mismatch和增益误差gain mismatch：
offset(i)＝(V1(i)+V2(i))/2；
gain_mismatch(i)＝2(V1(i)-V2(i))/Vref；
然后再利用下式对输入信号Vin在数字域进行补偿：
Vb(i)＝(Vo(i)-offset(i))/gain_mismatch(i)；
其中，Vref是TIADC模拟器件使用的参考电压，Vo(i)为TIADC工作状态下第i个通道输入信号Vin的采样数据。
本发明在此基础上，提出对TIADC直流偏置和增益误差校准方法更精确的改进，但对于结构不进行修改。
发明内容
本发明提供一种多通道TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法及装置，能够以较低计算复杂度，提高系统误差精确度，同时节约系统资源。
所述多通道TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法包括：
两路直流校准信号进行TIADC系统直流偏置和增益误差校准；
获取第一直流校准信号下每个通道至少两个周期采样值，记为所属通道的第一采样值，计算第一采样值平均值；
获取第二直流校准信号下每个通道至少两个周期采样值，记为所述通道的第二采样值，计算第二采样值平均值；
根据所述第一采样值平均值和第二采样值平均值，对输入为工作信号下的采样数据进行直流偏置和增益误差校准。
进一步的，所述预设的校准模型如下所示：
Figure BDA0002095192380000021
其中，V1(i)为输入所述第一直流校准信号时，第i个通道的第一采样值平均值，V2(i)为输入所述第二直流校准信号时，第i个通道的第二采样值平均值，Vo(i)为输入所述工作信号时，第i个通道的采样数据，Vc(i)为第i个通道的校准数据，Vref为TIADC的使用参考电压，P和Q为1～2n-1之间的整数，N为3～2n之间的整数，n为所述采样模块中模数转换器的位数，且P<Q<N。
所述第一直流校准信号的电压为所述使用参考电压的P/N；
所述第二直流校准信号的电压为所述使用参考电压的Q/N。
本发明提供了一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准装置，包括：
内部校准信号源，用于对系统进行直流偏置和增益误差校准；
所述内部校准信号源包括：第一直流校准信号和第二直流校准信号；
采样模块，用于通道在工作信号、第一直流校准信号和第二直流校准信号下，获取至少两个周期采样值；
校准模块，包括计算单元，用于基于第一直流校准信号的至少两个周期采样值计算得到第一采样值平均值；基于第二直流校准信号的至少两个周期采样值计算得到第二采样值平均值；
所述校准模块，还包括存储单元，用于存储所述第一采样值平均值、第二采样值平均值，和所述工作信号的采样数据；
所述校准模块，还包括校准单元，用于基于预设的校准模型和所述存储单元中存储的数据校准对所述工作信号进行校准。
所述校准装置，还包括：
控制模块，用于控制所述第一直流校准信号、所述第二直流校准信号以及所述工作信号，时间误差校准模块之间的切换。
与最接近的现有技术相比，本发明提供的技术方案具有以下有益效果：
1、本发明提出了多通道TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法及装置，利用两路直流校准信号和校准模型，即可对正常工作时输入信号进行校准，从而简化了校准系统，使得校准过程更加精确简便；
2、本发明两个直流校准信号的采集和处理过程均相同，因此可以通过时分复用实现采集和计算均值，无需计算通道的直流偏置和增益误差，直接利用两路直流校准信号的采样均值进行直流偏置和增益误差的校准，减少校准流程中间参数的计算和存储，降低了整体的硬件资源；
3、本发明根据TIADC的模拟器件使用的参考电压设置引入的两路直流校准信号的电压值，使得可校准offset mismatch范围支持上下浮动；同时解决了现有技术中设定的参考信号有一个直接到地，使得负的offset mismatch不能被检测出的问题，从而使获得的参数扩展了计算信号的变化范围。
为了上述以及相关的目的，一个或多个实施例包括后面将详细说明并在权利要求中特别指出的特征。下面的说明以及附图详细说明某些示例性方面，并且其指示的仅仅是各个实施例的原则可以利用的各种方式中的一些方式。其它的益处和新颖性特征将随着下面的详细说明结合附图考虑而变得明显，所公开的实施例是要包括所有这些方面以及它们的等同。
说明书附图
图1是本发明提供的一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法流程图；
图2是本发明提供的利用两路直流校准信号进行直流偏置和增益误差校准原理图；
图3是本发明实施例提供的控制流程图；
图4是本发明提供的一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准装置组成框图。
具体实施方式
以下描述和附图充分地示出本发明的具体实施方案，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施方案可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的组件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施方案的部分和特征可以被包括在或替换其他实施方案的部分和特征。本发明的实施方案的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。在本文中，本发明的这些实施方案可以被单独地或总地用术语“发明”来表示，这仅仅是为了方便，并且如果事实上公开了超过一个的发明，不是要自动地限制该应用的范围为任何单个发明或发明构思。
现有技术中，直流偏置offset和增益误差gain计算有两种方法：
方法一
误差校准模型为：Vout＝Vin*gain+offset；
输入的直流校准信号DC1为
Figure BDA0002095192380000051
时，
Figure BDA0002095192380000052
输入的直流校准信号DC2为
Figure BDA0002095192380000053
时，
Figure BDA0002095192380000054
其中，Vout为误差补偿值，Vin为输入信号，Vout1为第一校准信号的误差补偿值，Vout2为第二直流校准信号的误差补偿值，Vref是TIADC的使用参考电压，N＝3,4,5...2n，n是ADC的位数，优选地，N的取值为4，P和Q为1～N-1之间的整数，且Q<P。
利用公式(1)和(2)，计算系统直流偏置offset和增益误差gain如下所示：
Figure BDA0002095192380000055
方法二
误差校准模型为：Vout＝(Vin+offset)*gain；
输入的直流校准信号DC1为
Figure BDA0002095192380000056
时，
Figure BDA0002095192380000061
输入的直流校准信号DC2为
Figure BDA0002095192380000062
时，
Figure BDA0002095192380000063
利用公式(4)和(5)，计算得到系统的直流偏置offset和增益误差gain如下所示：
Figure BDA0002095192380000064
比较两种误差假设情况下的直流偏置offset和增益gain可以发现两者存在差异，校准模型无法按照按照一种模式建立；
并且，现有技术中的实际计算过程中有两种误差计算方法，事先并不知道待测系统符合哪种计算方法，一般为任意选择一种进行误差计算并校准，因此，会有选择的计算方法与实际系统不匹配的情况，导致结果存在偏差。
有鉴于此，本发明提供了一种直流偏执和增益误差的校准方法，对上述两种计算方法公式进行进一步推导，得到统一的计算方法，能够适合任意两种情况下误差计算，建立统一的校准模式，不需要计算直流偏执offset和增益误差gain，直接进行校准，使校准结果更加精确，具体地：
方法1的：校准公式为
Figure BDA0002095192380000065
将方法2的误差计算结果
Figure BDA0002095192380000066
代入方法1的校准公式得到：
Figure BDA0002095192380000071
其中，Vc为校准值，Vout为误差补偿值，Vout1为第一校准信号的误差补偿值，Vout2为第二直流校准信号的误差补偿值，Vref是TIADC的使用参考电压，N＝3,4,5...2n，n是ADC的位数，优选地，N的取值为4，P和Q为1～N-1之间的整数，且Q<P。
方法2的校准公式为
Figure BDA0002095192380000072
将方法1的误差计算结果
Figure BDA0002095192380000073
代入方法
2的校准公式，得到
Figure BDA0002095192380000074
由上可以看出，推导后得到的两次校准模型以V2和V1为参数的公式(7)和(8)相同，因此，以上述推导得出的公式为依据，建立如下所示本发明的校准模型：
Figure BDA0002095192380000075
其中，Vc(i)为本发明TIADC模拟自校准系统中第i个通道的校准值，Vo(i)为输入工作信号时第i个通道的采样值，V1(i)为输入第一校准信号时第i个通道的采样均值，V2(i)为输入第二直流校准信号时第i个通道的采样均值，N＝3,4,5...2n，n是ADC的位数，优选地，N的取值为4，P和Q为1～N-1之间的整数，且Q<P<N。
结合上述校准系统得到如图1所示本发明的校准方法如图1所示，包括：
S1，获取第一直流信号源下每个通道至少两个周期采样值，计算第一采样值平均值；
获取第二直流信号源下每个通道至少两个周期采样值，计算第二采样值平均值；
将系统的输入信号切换到两路直流校准信号DC1/DC2，每个通道分别对两路直流校准信号进行多次采样，利用采样值计算第一采样值平均值、第二才样子平均值并存储；
S2，将输入信号切换到工作信号，经采样模块得到采样值并存储；
S3，将所述第一采样值平均值、第二采样值平均值，工作信号的采样数据输入校准模型进行校准。
实施例一
本实施例中多通道TIADC系统以16通道为例，误差校准原理图见图2，具体利用数字域设计状态机对输入信号进行控制，如图3所示，
S101.将16通道TIADC系统的输入端接入第一直流校准信号DC1；
对第一直流校准信号进行128周期采样，根据所述128采样值计算所述第i个通道的第一采样均值；
对第二直流校准信号进行128周期采样，根据所述128采样值计算所述第i个通道的第二采样均值；
利用采样模块(ADC)记录128次采样值后，计算第i个通道的第一采样均值V1(i)并存储到存储单元(store)，返回输入第二直流校准信号DC2，利用采样模块(ADC)记录128次采样值后，计算第i个通道的第二采样均值V2(i)并存储到存储单元(store)；
S102.将16通道的TIADC系统输入端接入工作信号Vin，对输入信号Vin进行采样，得到采样数据Vo(i)并存储；
S103.将所述i通道的第一采样均值V1(i)、第二采样均值V2(i)、工作信号的采样数据Vo(i)，输入预设的校准模型进行直流偏执和增益误差校准，得到工作信号的校准数据；
进一步的，所述校准模型为：
Figure BDA0002095192380000091
其中，Vc(i)是对第i个通道进行校准得到的校准数据，Vo(i)为输入工作信号时第i个通道的采样数据；
V1(i)为输入第一校准信号时第i个通道的第一采样均值，V2(i)为输入第二直流校准信号时第i个通道的第二采样均值，N＝3,4,5...2n，n为ADC的位数；P和Q为1～N-1之间的整数，且Q<P<N；
为计算方便，本实施例中N的取值为4，P＝1，Q＝3，即第一直流校准信号DC1的电压是1/4*Vref，第二直流校准信号DC2的电压是3/4*Vref。
实施例二
本实施例以16通道为例，说明TIADC系统直流偏置和增益误差校准装置，如图4所示，包括：
310内部校准信号源，用于对系统进行直流偏置和增益误差校准；
所述内部校准信号源包括：第一直流校准信号311和第二直流校准信号312；
采样模块320，用于通道在工作信号、第一直流校准信号和第二直流校准信号下，获取至少两个周期采样值；
具体的，获取16通道的每个通道的第一直流校准信号128次采样值，获取16通道的每个通道的第二直流校准信号128次采样值；获取工作信号下16通道的每个通道的采样数据Vo(i)；
校准模块330，包括计算单元331，用于根据采样模块320获取的第一直流校准信号的128周期采样值计算得到第一采样均值V1(i)；基于第二直流校准信号的至128周期采样值计算得到第二采样均值V2(i)；
所述校准模块330，还包括存储单元332，用于存储所述第一采样均值V1(i)、第二采样均值V2(i)和所述工作信号的采样数据Vo(i)；
所述校准模块330，还包括校准单元333，用于基于预设的校准模型和所述存储单元332中存储的数据校准对所述工作信号进行校准；
所述校准数据包括：第一采样均值V1(i)、第二采样均值V2(i)和所述工作信号的采样数据Vo(i)；
控制模块340，用于控制所述第一直流校准信号DC1、所述第二直流校准信号DC2以及所述工作信号Vin，时间误差校准模块之间的切换；
具体的，首先将系统输入设为第一直流校准信号DC1，采样模块320进行DC1下各通道采样；
控制模块将输入切换为第二直流校准信号DC2，采样模块320进行DC1下各通道采样；
控制模块将输入切换为工作信号Vin采样模块320获取16通道的每个通道的采样数据Vo(i)；
控制模块将输入切换为时间误差校准模块进行时间误差校准；
需要说的是，本发明仅针对多通道TIADC系统的直流偏执及增益误差校准方法进行改进，时间误差校准模块用现有技术中的校准方法即可，具体过程不进行详述。
除非另外具体陈述，术语比如处理、计算、运算、确定、显示等等可以指一个或更多个处理或者计算系统、或类似设备的动作和/或过程，所述动作和/或过程将表示为处理系统的寄存器或存储器内的物理(如电子)量的数据操作和转换成为类似地表示为处理系统的存储器、寄存器或者其他此类信息存储、发射或者显示设备内的物理量的其他数据。信息和信号可以使用多种不同的技术和方法中的任何一种来表示。例如，在贯穿上面的描述中提及的数据、指令、命令、信息、信号、比特、符号和码片可以用电压、电流、电磁波、磁场或粒子、光场或粒子或者其任意组合来表示。
应该明白，公开的过程中的步骤的特定顺序或层次是示例性方法的实例。基于设计偏好，应该理解，过程中的步骤的特定顺序或层次可以在不脱离本公开的保护范围的情况下得到重新安排。所附的方法权利要求以示例性的顺序给出了各种步骤的要素，并且不是要限于所述的特定顺序或层次。
在上述的详细描述中，各种特征一起组合在单个的实施方案中，以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图，即，所要求保护的主题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反，如所附的权利要求书所反映的那样，本发明处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此，所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中，其中每项权利要求独自作为本发明单独的优选实施方案。
本领域技术人员还应当理解，结合本文的实施例描述的各种说明性的逻辑框、模块、电路和算法步骤均可以实现成电子硬件、计算机软件或其组合。为了清楚地说明硬件和软件之间的可交换性，上面对各种说明性的部件、框、模块、电路和步骤均围绕其功能进行了一般地描述。至于这种功能是实现成硬件还是实现成软件，取决于特定的应用和对整个系统所施加的设计约束条件。熟练的技术人员可以针对每个特定应用，以变通的方式实现所描述的功能，但是，这种实现决策不应解释为背离本公开的保护范围。
结合本文的实施例所描述的方法或者算法的步骤可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或其组合。软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质连接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该ASIC可以位于用户终端中。当然，处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于用户终端中。
对于软件实现，本申请中描述的技术可用执行本申请所述功能的模块(例如，过程、函数等)来实现。这些软件代码可以存储在存储器单元并由处理器执行。存储器单元可以实现在处理器内，也可以实现在处理器外，在后一种情况下，它经由各种手段以通信方式耦合到处理器，这些都是本领域中所公知的。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然，为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的，但是本领域普通技术人员应该认识到，各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此，本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外，就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”，该词的涵盖方式类似于术语“包括”，就如同“包括，”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外，使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。

Claims (6)

1.一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准方法，其特征在于，包括：
获取第一直流校准信号下每个通道至少两个周期采样值，记为所属通道的第一采样值，计算第一采样值平均值；
获取第二直流校准信号下每个通道至少两个周期采样值，记为所述通道的第二采样值，计算第二采样值平均值；
根据所述第一采样值平均值和第二采样值平均值，对输入为工作信号下的采样数据进行直流偏置和增益误差校准。
2.如权利要求1所述的误差校准方法，其特征在于，
将所述第一采样值平均值、所述第二采样值平均值，以及工作信号的采样数据输入预设的校准模型，得到所述工作信号的校准数据。
3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述预设的校准模型如下所示：
Figure FDA0002095192370000011
其中，V1(i)为输入所述第一直流校准信号时，第i个通道的第一采样值平均值，V2(i)为输入所述第二直流校准信号时，第i个通道的第二采样值平均值，Vo(i)为输入所述工作信号时，第i个通道的采样数据，Vc(i)为第i个通道的校准数据，Vref为TIADC的使用参考电压，P和Q为1～2n-1之间的整数，N为3～2n之间的整数，n为所述采样模块中模数转换器的位数，且P<Q<N。
4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，
所述第一直流校准信号的电压为所述使用参考电压的P/N；
所述第二直流校准信号的电压为所述使用参考电压的Q/N。
5.一种TIADC系统直流偏置和增益误差校准装置，其特征在于，包括：
内部校准信号源，用于对TIADC系统进行直流偏置和增益误差校准；
所述内部校准信号源包括：第一直流校准信号和第二直流校准信号；
采样模块，用于获取系统输入为工作信号、第一直流校准信号和第二直流校准信号，每个通道至少两个周期采样值；
校准模块，包括计算单元，用于基于第一直流校准信号的至少两个周期采样值计算得到第一采样值平均值；基于第二直流校准信号的至少两个周期采样值计算得到第二采样值平均值；
所述校准模块，还包括存储单元，用于存储所述第一采样值平均值、第二采样值平均值，和所述工作信号的采样数据；
所述校准模块，还包括校准单元，用于基于预设的校准模型和所述存储单元中存储的数据校准对所述工作信号进行校准。
6.根据权利要求5所述的误差校准装置，其特征在于，所述装置，还包括：
控制模块，用于控制所述第一直流校准信号、所述第二直流校准信号以及所述工作信号，时间误差校准模块之间的切换。
CN201910516384.5A 2019-06-14 2019-06-14 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置 Pending CN112087232A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910516384.5A CN112087232A (zh) 2019-06-14 2019-06-14 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910516384.5A CN112087232A (zh) 2019-06-14 2019-06-14 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112087232A true CN112087232A (zh) 2020-12-15

Family

ID=73734007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910516384.5A Pending CN112087232A (zh) 2019-06-14 2019-06-14 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112087232A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113237501A (zh) * 2021-04-19 2021-08-10 上海季丰电子股份有限公司 一种高精度的多通道信号校准方法及装置
CN116840549A (zh) * 2023-07-03 2023-10-03 广州致远仪器有限公司 时间交织adc的误差确定方法、装置、设备以及存储介质

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6452518B1 (en) * 1999-03-24 2002-09-17 Advantest Corporation A-D converting apparatus, and calibration unit and method therefor
US7227479B1 (en) * 2005-12-22 2007-06-05 Lucent Technologies Inc. Digital background calibration for time-interlaced analog-to-digital converters
CN102118167A (zh) * 2010-04-09 2011-07-06 复旦大学 一种多通道模数转换器
US20120262318A1 (en) * 2011-04-12 2012-10-18 Maxim Integrated Products, Inc. System and Method for Background Calibration of Time Interleaved Analog to Digital Converters
US9270291B1 (en) * 2015-01-13 2016-02-23 Broadcom Corporation High speed time-interleaved ADC gain offset and skew mitigation
US20170117914A1 (en) * 2015-10-23 2017-04-27 Industry-Academic Cooperation Foundation, Chosun University Method and apparatus for providing digital background calibration for mismatches in m-channel time-interleved adcs (ti-adcs)
CN108471313A (zh) * 2018-03-12 2018-08-31 东南大学 一种基于数模混合信号的tiadc系统校准方法
CN109274372A (zh) * 2018-09-05 2019-01-25 东南大学 一种tiadc系统通道间采样时刻失配误差提取方法
CN109361389A (zh) * 2018-09-03 2019-02-19 北京新岸线移动多媒体技术有限公司 一种分时交替模数转换器多通道失配误差校准方法和系统

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6452518B1 (en) * 1999-03-24 2002-09-17 Advantest Corporation A-D converting apparatus, and calibration unit and method therefor
US7227479B1 (en) * 2005-12-22 2007-06-05 Lucent Technologies Inc. Digital background calibration for time-interlaced analog-to-digital converters
CN102118167A (zh) * 2010-04-09 2011-07-06 复旦大学 一种多通道模数转换器
US20120262318A1 (en) * 2011-04-12 2012-10-18 Maxim Integrated Products, Inc. System and Method for Background Calibration of Time Interleaved Analog to Digital Converters
US9270291B1 (en) * 2015-01-13 2016-02-23 Broadcom Corporation High speed time-interleaved ADC gain offset and skew mitigation
US20170117914A1 (en) * 2015-10-23 2017-04-27 Industry-Academic Cooperation Foundation, Chosun University Method and apparatus for providing digital background calibration for mismatches in m-channel time-interleved adcs (ti-adcs)
CN108471313A (zh) * 2018-03-12 2018-08-31 东南大学 一种基于数模混合信号的tiadc系统校准方法
CN109361389A (zh) * 2018-09-03 2019-02-19 北京新岸线移动多媒体技术有限公司 一种分时交替模数转换器多通道失配误差校准方法和系统
CN109274372A (zh) * 2018-09-05 2019-01-25 东南大学 一种tiadc系统通道间采样时刻失配误差提取方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LU HUANG等: "A digital-background TIADC calibration architecture and a fast calibration algorithm for timing-error mismatch", 《2007 7TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC》, 4 January 2008 (2008-01-04), pages 253 - 256 *
石文君: "TIADC误差自适应校准算法研究及其FPGA实现", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》, no. 1, 15 January 2013 (2013-01-15), pages 135 - 306 *
陈红梅: "高速时间交织模数转换器数字校准技术研究", 《中国博士学位论文全文数据库信息科技辑》, no. 5, 15 May 2017 (2017-05-15), pages 135 - 21 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113237501A (zh) * 2021-04-19 2021-08-10 上海季丰电子股份有限公司 一种高精度的多通道信号校准方法及装置
CN113237501B (zh) * 2021-04-19 2022-06-17 上海季丰电子股份有限公司 一种高精度的多通道信号校准方法及装置
CN116840549A (zh) * 2023-07-03 2023-10-03 广州致远仪器有限公司 时间交织adc的误差确定方法、装置、设备以及存储介质
CN116840549B (zh) * 2023-07-03 2024-03-22 广州致远仪器有限公司 时间交织adc的误差确定方法、装置、设备以及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0875764B1 (en) Self-calibration of an oscilloscope using a square-wave test signal
US4736189A (en) Method and apparatus for calibrating an analog-to-digital conversion apparatus
US9065467B2 (en) Data processing system
CN108494402B (zh) 一种基于正弦拟合的tiadc系统误差估计和补偿方法
US7852969B2 (en) System and method for dynamic calibration of a quadrature encoder
JP6886823B2 (ja) 測定システムの全信号帯域幅において動作することが可能なデジタルエッジトリガ検出回路を有する測定システム
US7659845B2 (en) Analog-to-digital converter with capacitor array
CN112087232A (zh) 一种tiadc系统直流偏置和增益误差校准方法及装置
US8368398B2 (en) Calibrating parallel MRI with cartesian continuous sampling
CA2509473A1 (en) Meter apparatus and method for phase angle compensation employing linear interpolation of digital signals
CN115979324A (zh) 一种磁编码器的非线性校准方法及装置
CN110324041B (zh) 一种宽带交叉采样系统通道失配估计方法
CN114499521A (zh) 信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质
US7904265B2 (en) Circuits and methods for calibrating a delay element
CN112067868B (zh) 一种具有自动校准功能的数字示波器多路adc交叉采样电路及其校准方法
CN107276591B (zh) 一种并行采样系统的失配误差估计方法及系统
US10680630B1 (en) System and method to cancel skew mismatch in ADCs
CN109327222B (zh) 基于时间误差自适应消除的时间交替采样系统
US10866079B2 (en) Position sensing device
EP4009003A1 (en) Sensor system and method for measuring a process value of a physical system
CN114614820A (zh) 一种adc误差修调方法、系统及误差修调装置
CN220399527U (zh) 伺服电机的电流采样控制装置
CN108923783A (zh) 一种新型tiadc误差检测系统
CN114019857B (zh) 一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法
CN109379080A (zh) 用于时间交替采样的时间误差自适应消除方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination