CN112074714A - 用于测试led阵列砖的设备 - Google Patents

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郭晋銂
穆罕默德·萨姆苏尔·本·加扎里
陈炜胜
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Abstract

本发明涉及一种用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)及其方法。设备(10)包括：用于容纳LED阵列砖(20)的测试平台(100)；至少一个测试臂(200)，其与X轴电机(30)相关联并且可滑动地安装在导轨(300)上，以在LED阵列砖(20)上的一排LED之间移动；与待测LED接触的至少两个探针(210)，其形成于至少一个测试臂(200)的下端(200a)上；Z轴电机(50)，其对应于探针(210)中的每一个，并适于在停止位置和测试位置之间致动探针(210)；与Y轴电机(40)相关联的一对的间隔开的滑块(400)，导轨(300)在其上沿与至少一个测试臂(200)的滑动方向垂直的方向可滑动地移动，以将至少一个测试臂(200)移动到另一排待测LED；控制器，其连接到并控制X轴、Y轴和Z轴电机(30，40，50)，所述电机驱动所述至少一个测试臂(200)的滑动移动、所述导轨(300)的滑动移动以及所述探针(210)在垂直于至少一个测试臂(200)和导轨(300)滑动的平面的方向上的移动，其中，至少两个探针(210)独立于彼此可控地移动，并且至少两个探针(210)中的每一个均能够同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。

Description

用于测试LED阵列砖的设备
技术领域
本发明涉及一种用于测试LED阵列砖的设备和方法，尤其涉及一种能够同时或顺序地测试LED阵列砖的设备及其方法，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。
背景技术
发光二极管(LED)由于其出色的能效、低成本和最大的设计灵活性，因此广泛用于照明应用。为了检测由制造实践中的故障引起的早期故障，LED将需要经历测试或验证过程，例如在不同的测试环境和参数下进行电、光、热或老化测试。通常对半成品形式的LED以及仍在印刷电路板(PCB)阵列砖或陶瓷阵列砖上展示的LED进行测试。
要注意的是，PCB或瓷砖可以具有不同的厚度，并且安装在PCB或瓷砖上的LED可以以多种配置布置在LED阵列中。此外，LED的尺寸以及相邻LED之间的间隔以及LED组之间的间隔可以在一个PCB或瓷砖与另一PCB或瓷砖之间大幅度的变化。用于测试或验证具有LED的PCB或瓷砖的当前做法是，在测试或验证过程期间使用兼容的转换探针或测试套件，其中每种类型的转换探针或测试套件都设计为具有间隔开的探针，这些探针可以与PCB或瓷砖上的LED阵列的某种布局或配置相对应。如果PCB或瓷砖的LED阵列的布局或配置不同，而较早的探针或测试套件无法容纳，则直到安装了另一个兼容的转换探针或测试套件，测试或验证过程才能继续进行。这将使测试或验证过程复杂化并导致停机，并因此降低测试处理量，这可能会由于非生产性时间损失而直接导致制造过程中的损失，因为时间意味着费用，尤其是在批量生产环境中。此外，在测试或验证过程期间，确保PCB或瓷砖上的LED的发光表面不与其他物体表面接触，以防止划伤或损坏有价值的LED，也特别重要。
鉴于这些和其他缺点，期望提供一种能够在具有以不同配置布置的LED的不同PCB或瓷砖上进行测试的设备，以避免测试或验证过程中的停机，从而增加测试处理量。此外，本发明的又一个目的是提供一种设备，该设备能够在与具有LED的PCB或瓷砖的发光表面相对的探针表面上进行测试，以在测试或验证过程期间防止划伤或损坏LED。
发明内容
本发明总体上涉及用于测试LED阵列砖的设备。在优选实施例中，该设备包括：用于容纳LED阵列砖的测试平台，与X轴电机相关联并且可滑动地安装在导轨上的至少一个测试臂，形成在该至少一个测试臂的下端的至少两个探针，与每个探针相对应的Z轴电机，与Y轴电机相关联的间隔开的一对滑块，导轨可滑动地安装在其上，以及用于连接和控制X轴电机、Y轴电机和Z轴电机的控制器。
根据本发明的优选实施例，测试平台设置有至少两个相对放置的固定装置。应当注意的是，该至少两个固定装置被配置为将LED阵列砖保持在测试位置。优选地，测试平台具有在至少两个相对放置的固定装置之间形成的中空空间，以确保当在测试或验证过程期间由至少两个固定装置固保持LED阵列砖时，LED阵列砖的发光表面与测试平台之间没有物理接触。
在优选实施例中，X轴电机、Y轴电机和Z轴电机被配置为驱动至少一个测试臂、导轨和至少两个探针的移动。应当注意的是，该至少一个测试臂由X轴电机驱动，并且被配置为沿着导轨滑动，使得该至少一个测试臂在测试或验证过程期间在一排待测LED之间移动。在优选实施例中，导轨可滑动地安装在设备的间隔开的滑块上，并且被配置为在垂直于至少一个测试臂的滑动移动的方向上移动，从而将至少一个测试臂移动到另一排待测LED。优选地，在测试或验证过程期间，通过Z轴电机在停止位置和测试位置之间致动在至少一个测试臂上的至少两个探针。在优选实施例中，该至少两个探针中的每一个优选地连接至独立的电气仪器，并且被配置为彼此独立地可控地移动。应当理解的是，至少两个探针中的每一个都能够在测试或验证过程期间同时或顺序地进行测试。
根据本发明的优选实施例，用于测试LED阵列砖的设备设置有至少一个热调节单元，该热调节单元具有顶表面、端壁、侧壁和底表面。优选地，至少一个热调节单元与至少一个测试臂连接并接合。将理解的是，至少一个热调节单元被配置成升高或降低LED阵列砖的温度。
在优选实施例中，至少一个热调节单元设置有具有上表面和下表面的面板。优选地，面板连接到至少一个热调节单元的侧壁之一，并且在面板和至少一个热调节单元之间形成空间间隙，以允许在至少一个测试臂的下端形成的至少两个探针穿过，以对待测LED进行测试或验证。根据本发明的优选实施例，面板还设置有多个真空孔。真空孔优选地定位在面板的下表面处并且被配置为产生真空吸力。将理解的是，在测试或验证过程期间，由面板的真空孔产生的真空吸力能够抵消探针在LED阵列砖上施加的力。
在本发明的优选实施例中，该设备还设置有至少一个喷嘴。优选地，该至少一个喷嘴定位在测试平台上的LED阵列砖附近，并且被配置成在LED阵列砖上引入或产生经加热或经冷却的空气、或者正或负空气压、或者真空，从而在测试或验证过程期间实现热控制。在优选实施例中，期望提供适当地形成在至少一个热调节单元下方的罩。应当理解的是，该罩能够引导由至少一个喷嘴注入的经加热或经冷却的空气，从而在测试或验证过程期间实现温度一致。
如果需要，用于测试LED阵列砖的设备可以进一步设置有至少一个加热器轨道。应当注意的是，该至少一个加热器轨道优选地位于测试平台的外围边缘附近并靠近LED阵列砖，并且被配置为产生热量，以对LED阵列砖进行热调节。
根据本发明的优选实施例，用于测试LED阵列砖的设备设置有光学测试器。应当注意的是，光学测试器被配置为在测试或验证过程期间对待测LED的发光表面进行光学测量测试。
本发明由几个新颖的特征和以下在所附的说明书和附图中充分描述和说明的部分的组合组成，应当理解的是，在不脱离本发明的范围或不牺牲本发明的任何优点的情况下，可以对细节进行各种改变。
附图说明
从下面给出的详细描述和附图中，将完全理解本发明，附图仅是为了举例说明，因此并不限制本发明，在附图中：
图1是根据本发明优选实施例的用于测试LED阵列砖的设备的俯视透视图；
图1a是根据本发明的优选实施例的如图1所示的用于测试LED阵列砖的设备的部分A的放大辅助视图；
图2是根据本发明优选实施例的用于测试LED阵列砖的设备的前视图；
图3是根据本发明的优选实施例的用于测试LED阵列砖的设备的热调节单元的仰视透视图；以及
图4是根据本发明的优选实施例的用于测试LED阵列砖的设备的测试平台和光学测试器的前视图。
具体实施方式
本发明涉及一种用于测试LED阵列砖的设备。在下文中，本说明书将根据优选实施例描述本发明。然而，应理解，将描述限制于本发明的优选实施例仅是为了促进对本发明的讨论，而绝非旨在限制本发明、其应用或用途，并且可以预见，本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下，本领域的技术人员可以设计出各种修改形式和等同形式。
在本文公开的实施例的描述中，对方向或取向的任何引用仅是为了描述的方便，而不是以任何方式限制本发明的范围。相对术语(例如“顶部”、“底部”、“下部”和“之下”)及其派生词(例如“向下”)应解释为是指随后描述的方向或所讨论的附图中所示的方向。这些相对术语仅是为了描述的方便，并不需要以特定的方向配置或操作设备。
现在将根据附图1至4，单独地或以它们的任意组合的方式描述根据实施本发明的优选方式的用于测试LED阵列砖的设备。
参照图1，其中示出了根据本发明优选实施例的用于测试LED阵列砖20的设备10。该设备10包括：用于容纳LED阵列砖20的测试平台100，可滑动地安装在导轨300上的至少一个测试臂200，形成在该至少一个测试臂200的下端200a上的至少两个探针210；以及导轨300可滑动地安装在其上的一对间隔开的滑块400。
在优选实施例中，如图1和2所示，测试平台100设置有安装在其上的至少两个相对放置的固定装置110。优选地，至少两个固定装置110间隔开。应当注意的是，至少两个固定装置110被配置为适当地保持LED阵列砖20的边缘部分，以将LED阵列砖20保持在测试位置。根据本发明的优选实施例，测试平台100优选地具有在至少两个相对放置的固定装置110之间形成的中空空间。应当注意的是，当LED阵列砖20保持在测试位置时，待测LED的发光表面优选地面向测试平台100的中空空间，使得在待测LED的发光表面与测试平台100之间不进行物理接触。应当理解，这种配置可以在测试或验证过程期间保护待测LED的发光表面免受意外压紧或刮擦。还应当注意的是，如果需要的话，LED阵列砖20可以以适合于设备10进行测试的任何其他取向保持在测试平台100上。
根据本发明的优选实施例，至少一个测试臂200与X轴电机30相关联，X轴电机30适于驱动至少一个测试臂200在导轨300上的滑动，以使得在测试或验证过程期间，至少一个测试臂200可控地在正X轴方向或负X轴方向上在一排待测LED之间移动。在优选实施例中，导轨300可控地与Y轴电机40相关联，Y轴电机40适于控制导轨300在间隔开的滑块400上的移动，从而使得导轨300在垂直于至少一个测试臂200的滑动移动的方向上移动，以使至少一个测试臂200沿正Y轴方向或负Y轴方向移动到另一排待测LED。在本发明的优选实施例中，设备10设置有Z轴电机50，Z轴电机50对应于形成在至少一个测试臂200的下端200a上的每个探针210。应当注意的是，Z轴电机50适于在停止位置和测试位置之间致动探针210，以使探针210与待测LED接触(负Z轴方向)或远离(正Z轴方向)待测LED。应当注意的是，本发明的优选实施例的设备10还包括控制器，控制器可操作地连接到并控制如上所述驱动至少一个测试臂200、导轨300和至少两个探针210的移动的X轴电机30、Y轴电机40和Z轴电机50。
根据本发明的优选实施例，至少两个探针210中的每一个优选地连接至独立的电气仪器。应当注意的是，独立的电气仪器适于控制探针210的测试能力，使得至少两个探针210中的每一个能够彼此独立地移动并且能够同时或顺序地对待测LED进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。作为示例而非限制，独立的电气仪器优选地是源测量单元(SMU)。应当注意的是，被配置为在LED阵列砖20的探测表面上执行电测试的至少两个探针210可以包括但不限于悬臂探针和弹簧针(pogo pin)。在优选实施例中，至少两个探针210中的每一个优选地设置有边缘传感器。该边缘传感器能够识别LED阵列砖20的厚度，并在测试或验证过程期间适当地调节或确定至少两个探针210在Z轴方向上要施加的期望的接触力以及要行进的近似距离，从而确保探针210与待测LED的良好电接触。
参照图1a和图3，用于测试LED阵列砖20的设备10设置有至少一个热调节单元500，热调节单元500适于在测试或验证过程期间将LED阵列砖20的温度升高或降低到期望的温度，以确定待测LED的热稳定性。优选地，至少一个热调节单元500具有顶表面500a、端壁500b、侧壁500c和底表面500d。在优选实施例中，热调节单元500优选地连接至至少一个测试臂200并与之接合。应当理解的是，这种配置将允许热调节单元500在LED阵列砖20上移动，从而在测试或验证过程期间当至少一个测试臂200移动时，对待测LED进行热调节。应当注意的是，热调节单元500可以包括加热器单元和冷却单元的组合。
优选地，本发明的优选实施例的热调节单元500设置有面板510，面板510具有上表面510a和下表面510b，如图1a和图3所示。面板510优选地连接到至少一个热调节单元500的侧壁500c之一，并且优选地在面板510和至少一个热调节单元500之间形成空间间隙530。在优选实施例中，如图1a所示，至少一个测试臂200的至少两个探针210被配置为穿过空间间隙530，以对待测LED进行测试。优选地，面板510的下表面510b设置有多个真空孔511。面板510的真空孔511被配置为在测试或验证过程期间产生真空吸力。可以理解的是，由面板510的真空孔511产生的真空吸力能够抵消由探针210施加在LED阵列砖20上的力，从而防止LED阵列砖20弯曲并获得至少两个探针210和待测LED之间理想的电接触。在优选实施例中，还期望面板510的真空孔511适于产生加压空气，从而形成空气轴承，以促进热调节单元500在LED阵列砖20上的滑动。
参照图1和图2，本发明优选实施例的用于测试LED阵列砖20的设备10还设置有至少一个喷嘴600。可以理解的是，在测试或验证过程期间，至少一个喷嘴600可以帮助对LED阵列砖20进行热控制。优选地，至少一个喷嘴600位于测试平台100上的LED阵列砖20附近。在优选实施例中，期望至少一个喷嘴600适用于在LED阵列砖20上引入或产生经加热或经冷却的空气、或者正或负空气压力、或者真空。在设备10的实施例中设置有两个或更多个喷嘴600，喷嘴600优选地间隔开。在该优选实施例中，优选通过适当地设置在LED阵列砖20的一侧的一组喷嘴600将经加热或经冷却的空气注入LED阵列砖20上，并且优选地通过另一组喷嘴产生正或负的空气压力或者真空，该另一组喷嘴适当地设置在LED阵列砖20的与适于产生经加热或经冷却的空气的一组喷嘴600相对的另一侧。应当注意的是，由设备10的喷嘴600产生的正或负空气压力将在LED阵列砖20上产生正或负区域，从而引导注入的经加热或经冷却的空气流过LED阵列砖20。
优选地，如图2所示，本发明的用于测试LED阵列砖20的设备10还设置有罩800，罩800适当地形成在至少一个热调节单元500的下方。在优选实施例中，罩800适于通过屏蔽和引导穿过LED阵列砖20的空气流来调节由至少一个喷嘴600注入的经加热或经冷却的空气的流量，以允许在LED阵列砖20上基本上均匀地分布期望的温度，从而在测试或验证过程期间实现温度一致。
如果期望的话，用于测试LED阵列砖20的设备10可以进一步设置有至少一个加热器轨道700，如图1所示。优选地，至少一个加热器轨道700位于测试平台100的外围边缘附近并靠近LED阵列砖20。应当注意的是，至少一个加热器轨道700被配置为产生热量，以对LED阵列砖20进行热调节，从而达到期望的温度条件。
参照图2和图4，用于测试LED阵列砖20的设备10还设置有光学测试器900，光学测试器900用于对待测LED的发光表面进行光学测量测试，例如辐射功率或光通量的测量。光学测试器900可以优选地定位在测试平台100的中空空间的下方(如图2和图4所示)，或者定位在测试平台100周围适合进行光学测量的任何其他位置。作为示例而非限制，光学测试器900优选地是在测试或验证过程期间能够捕获从待测LED的发光表面发射的光的积分球。
本发明还涉及用于根据上述设备10测试LED阵列砖20的方法，该方法包括以下步骤：
a.将LED阵列砖20装载并对准在测试平台100上；
b.通过测试平台100上的至少两个相对放置的固定装置110将LED阵列砖20保持在测试位置，其中，每个固定装置110被配置为保持LED阵列砖20的边缘部分；
c.在负Z轴方向上移动形成在至少一个测试臂200的下端200a上的至少两个探针210，以使该至少两个探针210与待测LED接触；
d.在X轴方向上移动至少一个测试臂200，以测试一排待测LED；
e.在完成步骤d之后，沿正Z轴方向将至少两个探针210从待测LED移开；
f.在完成步骤d之后，使至少一个测试臂200沿Y轴方向移动，以将所述至少两个探针210以最短路径放置在另一排待测LED上；
g.重复步骤c至f，以测试所有待测LED；
h.从测试平台100上移除被测LED阵列砖20；以及
i.重复步骤a至h，以测试第二LED阵列砖20。
应当注意的是，LED阵列砖20可以优选地以倒置的方式被装载在测试平台100上，待测LED的发光表面朝下或以适合于设备10进行测试的任何其他取向。根据优选实施例，该方法还包括以下步骤：提供与可滑动地安装在导轨300上的至少一个测试臂200相关联的X轴电机30、与可滑动地安装在一对间隔开的滑块400上的导轨300相关联的Y轴电机40，以及与形成在至少一个测试臂200的下端200a上的至少两个探针210中的每一个相对应的Z轴电机50。应当注意的是，至少一个测试臂200和至少两个探针210的移动由可操作地连接至控制器的X轴、Y轴和Z轴电机30、40、50实现。
在优选实施例中，该方法还包括将至少两个探针210连接到独立的电气仪器的步骤。独立的电气仪器适于控制探针210的测试能力，使得至少两个探针210中的每一个能够彼此独立地移动并且能够同时或顺序地对待测LED进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。作为示例而非限制，独立的电气仪器优选地是源测量单元(SMU)。
根据本发明的优选实施例，该方法还包括提供与至少一个测试臂200相关联的至少一个热调节单元500的步骤。应注意，至少一个热调节单元500适于通过在测试或验证过程期间将LED阵列砖20的温度升高或降低到期望温度来热调节LED阵列砖20，从而确定待测LED的热稳定性。应当注意的是，热调节单元500可以包括加热器单元和冷却单元的组合。在优选实施例中，该方法还包括提供连接至至少一个热调节单元500的面板510的步骤。优选地，面板510被配置为通过位于面板510的下表面510b的多个真空孔511产生真空吸力，以抵消由至少两个探针210施加在LED阵列砖20上的力，从而防止LED阵列砖20弯曲并且还实现至少两个探针210和待测LED之间理想的电接触。还期望面板510的真空孔511适于产生加压空气，从而形成空气轴承，以促进热调节单元500在LED阵列砖20上的滑动。
在优选实施例中，用于测试LED阵列砖20的方法还包括以下步骤：提供位于测试平台100上的LED阵列砖20附近的至少一个喷嘴600。应当注意的是，至少一个喷嘴600适于引入或产生经加热或经冷却的空气、或者正或负空气压力、或者真空，以在测试或验证LED阵列砖20的过程期间实现热控制。该方法还包括以下步骤：提供适当地形成在至少一个热调节单元500下方的罩800。罩800适于屏蔽和引导由至少一个喷嘴600注入的经加热或经冷却的空气流过LED阵列砖20，从而实现温度一致。
如果需要，该方法可以进一步包括以下步骤：提供至少一个加热器轨道700，加热器轨道700位于测试平台100的外围边缘附近并靠近LED阵列砖20。至少一个加热器轨道700被配置为产生热量，以在测试或验证过程期间对LED阵列砖20进行热调节，从而达到所需的温度条件。
根据本发明优选实施例的用于根据用于测试LED阵列砖20的设备10测试LED阵列砖20的方法还包括提供光学测试器900的步骤。光学测试器900可以优选位于测试平台100的中空空间下方或在测试平台100周围适合进行光学测量的任何其他位置。在优选实施例中，光学测试器900被配置为对待测LED发光表面执行光学测量测试，例如辐射功率或光通量测量。作为示例而非限制，光学测试器900优选是能够捕获从待测LED的发光表面发射的光的积分球。
应当注意的是，用于实施上述实施例的各种零件、元件和/或构件的配置仅是说明性和示例性的。本领域普通技术人员将认识到，本文中使用的那些配置、零件、元件和/或构件可以以某种方式改变，以获得不同的效果或期望的操作特性。除了未特别叙述的以外，在本发明的实践中使用的上述配置、布置、结构、应用、功能或组件的其他组合和/或修改不背离相同的一般原则的情况下，可以被改变或另外特别地适合于特定的环境和条件、制造规格、设计参数或其他操作要求。
尽管对本发明做了上述说明，显然可以以许多方式改变本发明。这样的变化不应被认为是背离本发明的原理和范围，并且对于本领域的技术人员显而易见的所有这样的修改旨在被包括在所附权利要求的范围内。应当注意的是，所描述的优选实施例在所有方面都应被认为是说明性的，而不是限制性的，并且应当参考所附权利要求书来确定本发明的范围。

Claims (27)

1.一种用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，所述设备(10)包括：
用于容纳LED阵列砖(20)的测试平台(100)，所述测试平台(100)设置有安装在其上的至少两个相对放置的固定装置(110)，其中，所述至少两个固定装置(110)被配置为保持所述LED阵列砖(20)；
至少一个测试臂(200)，与X轴电机(30)相关联且可滑动地安装在导轨(300)上，以在一排待测LED之间移动；
与待测LED接触的至少两个探针(210)，形成于所述至少一个测试臂(200)的下端(200a)上；
Z轴电机(50)，对应于所述至少两个探针(210)中的每一个，并且适于驱动所述探针(210)处于停止位置或测试位置；
与Y轴电机(40)相关联的一对间隔开的滑块(400)，所述导轨(300)在所述滑块上沿与所述至少一个测试臂(200)的滑动方向垂直的方向可滑动地移动，以将所述至少一个测试臂(200)移动到另一排待测LED；以及
控制器，连接至并控制所述电机(30，40，50)，所述电机驱动所述至少一个测试臂(200)的滑动、所述导轨(300)的滑动以及所述探针(210)在垂直于所述测试臂(200)和所述导轨(300)滑动的平面的方向上的移动；
其中，所述探针(210)可彼此独立地可控地移动，并且所述至少两个探针(210)中的每一个能够同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。
2.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少两个探针(210)中的每一个均连接至独立的电气仪器，所述电器仪器适于控制所述探针(210)的测试能力。
3.根据权利要求2所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述电气仪器优选地是源测量单元(SMU)。
4.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)设置有至少一个热调节单元(500)，所述热调节单元适于与所述至少一个测试臂(200)连接并接合，其中，所述至少一个热调节单元(500)具有顶表面(500a)、端壁(500b)、侧壁(500c)和底表面(500d)。
5.根据权利要求4所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少一个热调节单元(500)被配置为升高或降低所述LED阵列砖(20)的温度。
6.根据权利要求4所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少一个热调节单元(500)设置有具有上表面(510a)和下表面(510b)的面板(510)，其中，所述面板(510)连接到所述至少一个热调节单元(500)的侧壁(500c)之一，并且在所述至少一个热调节单元(500)和所述面板(510)之间形成空间间隙(530)，以允许所述至少一个测试臂(200)上的至少两个探针(210)通过，以对所述LED阵列砖(20)进行测试。
7.根据权利要求6所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述热调节单元(500)的面板(510)设置有多个真空孔(511)，所述多个真空孔优选地位于所述面板(510)的下表面(510b)。
8.根据权利要求7所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述面板(510)的真空孔(511)被配置为产生真空吸力，以抵消由所述至少两个探针(210)施加在所述LED阵列砖(20)上的力。
9.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)还设置有至少一个喷嘴(600)，其中，所述至少一个喷嘴(600)优选地位于靠近所述测试平台(100)上的LED阵列砖(20)。
10.根据权利要求9所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述至少一个喷嘴(600)适于产生经加热或经冷却的空气、或着正或负大气压力或者真空，以在测试所述LED阵列砖(20)期间实现热控制。
11.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)设置有罩(800)，所述罩(800)适当地形成在所述至少一个热调节单元(500)之下，以引导由所述至少一个喷嘴(600)产生的气流，从而在测试期间实现温度一致。
12.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)还设置有至少一个加热器轨道(700)，所述加热器轨道优选地位于所述测试平台(100)的外围边缘附近并靠近所述LED阵列砖(20)，其中，所述加热器轨道(700)被配置为产生热量，以对所述LED阵列砖(20)进行热调节。
13.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述设备(10)设置有光学测试器(900)。
14.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，所述测试平台(100)优选地具有在所述至少两个相对放置的固定装置(110)之间形成的中空空间，使得当所述LED阵列砖(20)被所述固定装置(110)保持时，在待测LED的发光表面和所述测试平台(100)之间没有物理接触。
15.根据权利要求1所述的用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)，其中，安装在所述测试平台(100)上的固定装置(110)被配置为保持所述LED阵列砖(20)的边缘部分。
16.一种根据用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)测试LED阵列砖(20)的方法，包括以下步骤：
a.将LED阵列砖(20)装载并对准在测试平台(100)上；
b.通过安装在所述测试平台(100)上的至少两个相对放置的固定装置(110)将所述LED阵列砖(20)保持在测试位置，其中，每个固定装置(110)被配置为保持所述LED阵列砖(20)的边缘部分；
c.沿负Z轴方向移动形成在至少一个测试臂(200)的下端(200a)上的至少两个探针(210)，以使所述至少两个探针(210)与待测LED接触；
d.在X轴方向上移动所述至少一个测试臂(200)，以测试一排待测LED；
e.在完成步骤d之后，沿正Z轴方向将所述至少两个探针(210)从所述待测LED移开；
f.在完成步骤d之后，沿Y轴方向移动所述至少一个测试臂(200)，从而以最短路径将所述至少两个探针(210)放置在另一排待测LED上；
g.重复步骤c至f，以测试所有待测LED；
h.从所述测试平台(100)上移除被测LED阵列砖(20)；以及
i.重复步骤a至h，以测试第二LED阵列砖(20)。
17.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述至少两个探针(210)能够独立移动并同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。
18.根据权利要求17所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述至少两个探针(210)中的每一个都连接至独立的电气仪器，所述电气仪器适于控制所述探针(210)的测试能力。
19.根据权利要求18所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述电气仪器优选地是源测量单元(SMU)。
20.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述至少一个测试臂(200)和所述至少两个探针(210)的移动是通过可操作地连接至控制器的X轴、Y轴、Z轴电机(30，40，50)实现的。
21.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：利用与所述至少一个测试臂(200)相关联的至少一个热调节单元(500)、靠近所述测试平台(100)上的LED阵列砖(20)放置的至少一个喷嘴(600)以及位于所述测试平台(100)的外围边缘附近并靠近所述LED阵列砖(20)的至少一个加热器轨道(700)来控制所述LED阵列砖(20)的温度。
22.根据权利要求21所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述至少一个热调节单元(500)被配置为升高或降低所述LED阵列砖(20)的温度。
23.根据权利要求21所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述至少一个喷嘴(600)适于产生经加热或经冷却的空气、或者正或负的大气压力或者真空，以在所述LED阵列砖(20)的测试期间实现热控制。
24.根据权利要求21所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述加热器轨道(700)被配置为产生热量，以对所述LED阵列砖(20)进行热调节。
25.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：通过由多个真空孔(511)产生的真空吸力来抵消由所述探针(210)施加在所述LED阵列砖(20)上的力，所述真空孔位于与所述至少一个热调节单元(500)相关联的面板(510)的下表面(510b)上。
26.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，还提供了罩(800)，所述罩(800)形成在所述至少一个热调节单元(500)的下方，以引导由所述至少一个喷嘴(600)产生的空气流，从而在测试所述LED阵列砖(20)期间实现温度一致。
27.根据权利要求16所述的测试LED阵列砖(20)的方法，其中，所述方法还包括以下步骤：利用光学测试器(900)对所述待测LED的发光表面进行光学测量测试。
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