CN112068248B - 一种波分复用器件组装方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种波分复用器件组装方法，包括：0.9尾纤加头，在第一波分复用器件的COM端处熔接0.9尾纤，组装LGX盒子适配器端口，并连接产品COM端和光源；光学性能测试，将波分复用器件的透射端与尾纤熔接，熔接透射波长尾纤接入功率计，功率计的数据串口接入波分测试系统，对产品实时参数进行检测；若测试实时参数满足设计要求，将此通道合格组装插片盒标识适配器端口，并将第一波分复用器件的反射端与第二波分复用器件的COM进行熔接，并接入功率计进行参数测试，直至所有波分复用器件熔接完成。本方案可以在波分复用器件组装过程中光学性能出现异常时及时返工，完成重新组装熔接和产品测试，降低流转操作不合格率，大大提高了产品的生产效率和合格率。

Description

一种波分复用器件组装方法
技术领域
本发明涉及通信设备领域，尤其涉及一种波分复用器件组装方法。
背景技术
波分复用WDM(Wavelength Division Multiplexing)是将两种或多种不同波长的光载波信号（携带各种信息）在发送端经复用器(亦称合波器，Multiplexer)汇合在一起，并耦合到光线路的同一根光纤中进行传输的技术；在接收端，经解复用器(亦称分波器或称去复用器，Demultiplexer)将各种波长的光载波分离，然后由光接收机作进一步处理以恢复原信号。这种在同一根光纤中同时传输两个或众多不同波长光信号的技术，称为波分复用。
现有的波分复用器件的组装流程大致为：
1、需先进行封装熔纤，固定在LGX盒内
2、熔纤结束后需进行测试，确认是否合格，不合格返回第一步重新操作
3、测试合格产品将输出尾纤与输入尾纤穿0.9空管，穿散件插芯加头，此点因LGX盒子一起操作，工序流转且加头操作难度较大，且工序报废较高。加头过程需注意对产品波长进行标识，出现标识错误，将影响后续工序生产，
4、加头完产品进行适配器组装后测试，测试合格包装出货，测试不合格返回上一步。
但现有的波分复用器件组装方法无法在光学性能出现异常时，第一时间进行重新组装，导致产品不合格率增加，同时不易流转，生产效率较低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种波分复用器件组装方法，组装操作简单，效率高，易流转，合格率高。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
一种波分复用器件组装方法，包括以下步骤：
S1，0.9尾纤加头，在第一波分复用器件的COM端处熔接0.9尾纤，熔接后连接头组装LGX盒子相应适配器端口，并外置一根匹配跳线连接产品COM端，跳线另外一端连接头光源；
S2，光学性能测试，将第一波分复用器件的透射端与尾纤熔接，熔接透射波长尾纤接入功率计，功率计的数据串口接入波分测试系统，对第一波分复用器件的产品实时参数进行检测；
S3，若第一波分复用器件测试实时参数满足设计要求，将此通道合格组装插片盒相应标识适配器端口，并将第一波分复用器件的反射端与第二波分复用器件的COM进行熔接，熔接后将下一只波分器件的透射端与尾纤熔接后接入功率计进行测试；
S4，测试第二波分复用器件的产品参数的同时测试IL反馈熔接损耗，若产品参数不满足设计要求或熔接损耗超标，则重新进行熔接；若产品参数和熔接损耗满足设计要求，则第二波分复用器件的透射波长输出端组装到LGX盒相应标识适配器，继续熔接下一波分复用器件。
S5，将升级端单独熔接0.9尾纤放置于LGX插片盒端口，或用熔接保护管熔接尾部固定LGX盒内，完成波分复用器件的组装。
具体的，所述步骤S2中的产品实时参数包括波分复用插片的参数包括中心波长、插损、回损和隔离度。
具体的，所述步骤S1中的第一波分复用器件包括G透镜、滤波片、准直器和双光纤头；所述G透镜用于光信号校正；所述滤波片用于光信号选择；所述准直器用于光信号接收；所述双光纤头包括光信号发射COM端口和反射端口。
具体的，所述步骤S4中还包括升级端处理步骤：将升级端单独熔接0.9尾纤放置于LGX插片盒端口，或用熔接保护管熔接尾部固定LGX盒内。
本发明的有益效果：本方案可以在波分复用器件组装过程中光学性能出现异常时，第一时间进行返工，重新组装熔接和完成产品测试，提升了产品合格率，降低流转操作造成的产品不合格，大大提高了产品生产效率。
附图说明
图1是本发明的方法流程图。
图2是本发明的波分复用器件结构示意图。
图3是本发明的波分复用器件内部结构图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发明的具体实施方式。
本实施例中，如图1所示，一种波分复用器件组装方法，包括以下步骤：
S1，0.9尾纤加头，在第一波分复用器件的COM端处熔接0.9尾纤，熔接后连接头组装LGX盒子相应适配器端口，并外置一根匹配跳线连接产品COM端，跳线另外一端连接头光源；
S2，光学性能测试，将第一波分复用器件的透射端与尾纤熔接，熔接透射波长尾纤接入功率计，功率计的数据串口接入波分测试系统，对第一波分复用器件的产品实时参数进行检测；
S3，若第一波分复用器件测试实时参数满足设计要求，将此通道合格组装插片盒相应标识适配器端口，并将第一波分复用器件的反射端与第二波分复用器件的COM进行熔接，熔接后将下一只波分器件的透射端与尾纤熔接后接入功率计进行测试；
S4，测试第二波分复用器件的产品参数的同时测试IL反馈熔接损耗，若产品参数不满足设计要求或熔接损耗超标，则重新进行熔接；若产品参数和熔接损耗满足设计要求，则第二波分复用器件的透射波长输出端组装到LGX盒相应标识适配器，继续熔接下一波分复用器件。
S5，将升级端单独熔接0.9尾纤放置于LGX插片盒端口，或用熔接保护管熔接尾部固定LGX盒内，完成波分复用器件的组装。
具体的，所述步骤S2中的产品实时参数包括波分复用插片的参数包括中心波长、插损、回损和隔离度。
具体的，如图2和图3所示，步骤S1中的第一波分复用器件包括G透镜、滤波片、准直器和双光纤头；所述G透镜用于光信号校正；所述滤波片用于光信号选择；所述准直器用于光信号接收；所述双光纤头包括光信号发射COM端口和反射端口。
具体的，所述步骤S4中还包括升级端处理步骤：将升级端单独熔接0.9尾纤放置于LGX插片盒端口，或用熔接保护管熔接尾部固定LGX盒内。
本发明的实施例中，原工艺针对反射端组装熔接完成后，分别进行对透射端处加头，新工艺先进行熔接透射端0.9尾纤。 COM端接入光源，实时测试熔接0.9尾纤的透射端，确认光学性能是否合格。此方法可以在组装过程中产品光学性能出现异常时，第一时间进行返工，完成组装熔接和产品测试，上述操作比原工艺波分组装，提升了产品合格率，降低流转操作造成的产品不合格，提高了产品生产效率。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护的范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (3)

1.一种波分复用器件组装方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，0.9尾纤加头，在第一波分复用器件的COM端处熔接0.9尾纤，熔接后连接头组装LGX盒子相应适配器端口，并外置一根匹配跳线连接产品COM端，跳线另外一端连接头光源；
S2，光学性能测试，将第一波分复用器件的透射端与尾纤熔接，熔接透射波长尾纤接入功率计，功率计的数据串口接入波分测试系统，对第一波分复用器件的产品实时参数进行检测；
S3，若第一波分复用器件测试实时参数满足设计要求，将此通道合格组装插片盒相应标识适配器端口，并将第一波分复用器件的反射端与第二波分复用器件的COM进行熔接，熔接后将下一只波分器件的透射端与尾纤熔接后接入功率计进行测试；
S4，测试第二波分复用器件的产品参数的同时测试IL反馈熔接损耗，若产品参数不满足设计要求或熔接损耗超标，则重新进行熔接；若产品参数和熔接损耗满足设计要求，则第二波分复用器件的透射波长输出端组装到LGX盒相应标识适配器，继续熔接下一波分复用器件；
S5，将升级端单独熔接0.9尾纤放置于LGX插片盒端口，或用熔接保护管熔接尾部固定LGX盒内，完成波分复用器件的组装。
2.根据权利要求1所述的一种波分复用器件组装方法，其特征在于，所述步骤S2中的产品实时参数包括波分复用插片的参数包括中心波长、插损、回损和隔离度。
3.根据权利要求1所述的一种波分复用器件组装方法，其特征在于，所述步骤S1中的第一波分复用器件包括G透镜、滤波片、准直器和双光纤头；所述G透镜用于光信号校正；所述滤波片用于光信号选择；所述准直器用于光信号接收；所述双光纤头包括光信号发射COM端口和反射端口。
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