CN111983345A - 异形微通道板测试夹具装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种异形微通道板测试夹具装置,包括底座、下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环、输入电极、绝缘片、上电极环和输出电极;底座中心有开有通孔,下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环依次叠加放置在通孔上;微通道板放置在绝缘片开孔里,以对微通道板的表面加载电压;输入电极和输出电极为圆形,并且在相同位置有与微通道板有效区形状相同的开孔;输入电极和输出电极分别为微通道板的输入面和输出面提供电压。下电极环和上电极环通过导线与高压电源相连;下电极环、压紧弹簧、导电环和输入电极依次接触,给微通道板输入面提供电压;上电极环和输出电极相接触,用于给微通道板输出面提供电压;输入电极和输出电极通过绝缘片绝缘。

Description

异形微通道板测试夹具装置
技术领域
本发明涉及微通道板技术领域,具体而言涉及一种异形微通道板测试夹具装置。
背景技术
微通道板(Micro-channel Plate,简称MCP)是一种列阵式微通道电子倍增器件,它具有低噪声、高增益、快响应等特点,由此被广泛的用于各种含能光子、荷电粒子的探测与成像领域。微通道板由104-107数量级的微通道组成,通道直径为4~50μm,厚度为0.2~2.0mm。微通道板两端镀有金属薄膜,分别作为输入面和输出面。微通道板工作时需要在输入面和输出面施加电压。在微通道板边缘有没有微通道的实体边,用于给微通道板加电压提供良好的接触面。
由于受制造工艺和用途的影响,传统的微通道板为圆形结构。圆形微通道板可以用在像增强器、光电倍增管、质谱仪等仪器中。随着科技的发展,微通道板的用途越来越广,由此产生了不同形状的微通道板。为了检测微通道板是否合格和合理的使用微通道板,需要对微通道板的性能进行综合评估。由于传统的微通道板是圆形,测试设备也只能测试圆形微通道板,而制作一台测试设备需要几十万到数百万人民币。对测试夹具进行改进,既能测试异形微通道板,又能节约成本。
发明内容
本发明目的在于提供一种异形微通道板测试夹具装置,包括底座、下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环、输入电极、绝缘片、上电极环和输出电极;
所述底座为绝缘材质底座;所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、上电极环、导电环、上电极环均为环形结构;
所述底座中心有开有通孔,通孔边缘设置有台阶面,所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环依次叠加放置在通孔的台阶面上;
所述上电极环、输出电极和底座的外径相等;
所述绝缘环套在压紧弹簧的外部,然后通过导电环压紧到所述下电极环上;
所述导电环位于结缘环的上方;
所述输入电极、微通道板、绝缘片、输出电极依次压在底座的上表面;上电极环围绕在输入电极、微通道板和的外部;微通道板放置在绝缘片开孔里,以对微通道板的表面加载电压;
所述输入电极和输出电极为圆形,并且在相同位置有与微通道板有效区形状相同的开孔;所述输入电极和输出电极分别为微通道板的输入面和输出面提供电压。
进一步地,所述下电极环和上电极环通过导线与高压电源相连;下电极环、压紧弹簧、导电环和输入电极依次相接触,用于给微通道板输入面提供电压;所述上电极环和输出电极相接触,用于给微通道板输出面提供电压;输入电极和输出电极通过所述绝缘片绝缘。
进一步地,所述输入电极和输出电极为铜电极。
进一步地,所述压紧弹簧和导电环的外径小于绝缘环,并且沿轴向依次叠加放置在底座的通孔处。
进一步地,所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环、输入电极、绝缘片的外径均小于底座的通孔的直径。
本发明的上述实施方案的测试夹具,能够安装在常用的圆形微通道板测试仪上,替代圆形微通道板测试夹具,利用现有测试仪测试异形微通道板,与现有技术相比,具有如下显著优点为:本公开的实施例作为异形微通道板的夹具,可以利用现有的测试仪器进行异形微通道板测试,还可以根据微通道板形状来对输入电极和输出电极进行替换,适用性强。
应当理解,前述构思以及在下面更加详细地描述的额外构思的所有组合只要在这样的构思不相互矛盾的情况下都可以被视为本公开的发明主题的一部分。另外,所要求保护的主题的所有组合都被视为本公开的发明主题的一部分。
结合附图从下面的描述中可以更加全面地理解本发明教导的前述和其他方面、实施例和特征。本发明的其他附加方面例如示例性实施方式的特征和/或有益效果将在下面的描述中显见,或通过根据本发明教导的具体实施方式的实践中得知。
附图说明
附图不意在按比例绘制。在附图中,在各个图中示出的每个相同或近似相同的组成部分可以用相同的标号表示。为了清晰起见,在每个图中,并非每个组成部分均被标记。现在,将通过例子并参考附图来描述本发明的各个方面的实施例,其中:
图1是本公开的实施例异形微通道板测试夹具装置结构示意图。
图2是本公开的实施例电极环结构示意图。
图3是本公开的实施例导电环结构示意图。
图4是本公开的实施例电极环结构示意图。
图5是本开的实施例组装后的结构示意图。
具体实施方式
为了更了解本发明的技术内容,特举具体实施例并配合所附图式说明如下。
在本公开中参照附图来描述本发明的各方面,附图中示出了许多说明的实施例。本公开的实施例不必定意在包括本发明的所有方面。应当理解,上面介绍的多种构思和实施例,以及下面更加详细地描述的那些构思和实施方式可以以很多方式中任意一种来实施,这是因为本发明所公开的构思和实施例并不限于任何实施方式。另外,本发明公开的一些方面可以单独使用,或者与本发明公开的其他方面的任何适当组合来使用。
微通道板正常工作时需要在两端加适当电压,具有一定动能的电子或离子撞击微通道板入口附近的表面产生二次电子,多次撞击产生104倍以上增益的电子流最终被检测。下面结合附图,详细说明本申请各实施例提供的异形微通道板的测试的技术方案。
结合图1-图5所示,根据本发明的示例性实施例的异形微通道板测试夹具装置包括底座1、下电极环2、绝缘环3、压紧弹簧4、导电环5、输入电极6、绝缘片7、上电极环8和输出电极9。
底座和绝缘环3、绝缘片7均为绝缘材质。
下电极环2、绝缘环3、压紧弹簧4、上电极环8、导电环5均为环形结构。
底座中心有开有通孔,通孔边缘设置有台阶面,下电极环2、绝缘环3、压紧弹簧4、导电环5依次叠加放置在通孔的台阶面上.
其中上电极环8、输出电极9和底座1的外径相等,绝缘环3套在压紧弹簧4的外部,然后整体通过导电环5压紧到下电极环上。
导电环5位于结缘环3的上方。
输入电极6、微通道板(待测试的异形微通道板)、绝缘片7、输出电极9依次压在底座的上表面。其中,上电极环8围绕在输入电极、微通道板和的外部;微通道板放置在绝缘片开孔里,以对微通道板的表面加载电压。
结合图示,输入电极和输出电极为圆形,并且在相同位置有与微通道板有效区形状相同的开孔。输入电极和输出电极分别为微通道板的输入面和输出面提供电压。
结合图1、5所示,装配好之后,下电极环2和上电极环8通过导线与外部的高压电源相连;下电极环2、压紧弹簧3、导电环5和输入电极6依次相接触,用于给微通道板输入面提供电压。上电极环8和输出电极9相接触,用于给微通道板输出面提供电压。
输入电极6和输出电极9之间通过绝缘片7绝缘。
优选地,输入电极和输出电极为导电性良好的铜电极,在另外的实施例中,还可以采用其它机械强度合适的导电材料。
结合图1所示,压紧弹簧4和导电环5的外径小于绝缘环3,并且沿轴向依次叠加放置在底座的通孔处。下电极环2、绝缘环3、压紧弹簧4、导电环5、输入电极6、绝缘片7的外径均小于底座的通孔的直径。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰。因此,本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (5)

1.一种异形微通道板测试夹具装置,其特征在于,包括底座、下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环、输入电极、绝缘片、上电极环和输出电极;
所述底座为绝缘材质底座;所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、上电极环、导电环均为环形结构;
所述底座中心有开有通孔,通孔边缘设置有台阶面,所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环依次叠加放置在通孔的台阶面上;
所述上电极环、输出电极和底座的外径相等;
所述绝缘环套在压紧弹簧的外部,然后通过导电环压紧到所述下电极环上;
所述导电环位于结缘环的上方;
所述输入电极、微通道板、绝缘片、输出电极依次压在底座的上表面;上电极环围绕在输入电极、微通道板和的外部;微通道板放置在绝缘片开孔里,以对微通道板的表面加载电压;
所述输入电极和输出电极为圆形,并且在相同位置有与微通道板有效区形状相同的开孔;所述输入电极和输出电极分别为微通道板的输入面和输出面提供电压。
2.根据权利要求1所述的异形微通道板测试夹具装置,其特征在于,所述下电极环和上电极环通过导线与高压电源相连;下电极环、压紧弹簧、导电环和输入电极依次相接触,用于给微通道板输入面提供电压;所述上电极环和输出电极相接触,用于给微通道板输出面提供电压;输入电极和输出电极通过所述绝缘片绝缘。
3.根据权利要求1所述的异形微通道板测试夹具装置,其特征在于,所述输入电极和输出电极为铜电极。
4.根据权利要求1所述的异形微通道板测试夹具装置,其特征在于,所述压紧弹簧和导电环的外径小于绝缘环,并且沿轴向依次叠加放置在底座的通孔处。
5.根据权利要求1-4中任意以上所述的异形微通道板测试夹具装置,其特征在于,所述下电极环、绝缘环、压紧弹簧、导电环、输入电极、绝缘片的外径均小于底座的通孔的直径。
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101965309A (zh) * 2008-02-29 2011-02-02 拜尔技术服务有限责任公司 微支架
CN203863575U (zh) * 2014-05-26 2014-10-08 北方夜视技术股份有限公司 一种光电倍增管的外壳定位夹具
CN207473006U (zh) * 2017-11-28 2018-06-08 中国建筑材料科学研究总院有限公司 一种板材性能的测试装置
US10184972B1 (en) * 2015-03-10 2019-01-22 Christos Tsironis Transistor test fixture with convex surface of the support blocks
CN110824274A (zh) * 2019-11-04 2020-02-21 北方夜视技术股份有限公司 双微通道板叠加性能测试方法及装置
CN111090028A (zh) * 2019-12-16 2020-05-01 北方夜视技术股份有限公司 用于双片微通道板叠加测试的装置和方法
CN111426900A (zh) * 2020-04-30 2020-07-17 中国工程物理研究院流体物理研究所 微通道板光电倍增管测试装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101965309A (zh) * 2008-02-29 2011-02-02 拜尔技术服务有限责任公司 微支架
CN203863575U (zh) * 2014-05-26 2014-10-08 北方夜视技术股份有限公司 一种光电倍增管的外壳定位夹具
US10184972B1 (en) * 2015-03-10 2019-01-22 Christos Tsironis Transistor test fixture with convex surface of the support blocks
CN207473006U (zh) * 2017-11-28 2018-06-08 中国建筑材料科学研究总院有限公司 一种板材性能的测试装置
CN110824274A (zh) * 2019-11-04 2020-02-21 北方夜视技术股份有限公司 双微通道板叠加性能测试方法及装置
CN111090028A (zh) * 2019-12-16 2020-05-01 北方夜视技术股份有限公司 用于双片微通道板叠加测试的装置和方法
CN111426900A (zh) * 2020-04-30 2020-07-17 中国工程物理研究院流体物理研究所 微通道板光电倍增管测试装置

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