CN111886541A - 成像装置和电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及能够高精确地调整焦点位置和相机抖动校正位置的成像装置和电子设备。所述装置包括：将被摄体光集光的透镜；对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。所述致动器驱动所述透镜以移动焦点或者驱动所述透镜以降低相机抖动的影响。本发明可以应用于成像装置。

Description

成像装置和电子设备

技术领域

本技术涉及成像装置和电子设备，例如，涉及能够高精度地控制透镜的位置的成像装置和电子设备。

背景技术

近年来，例如，成像装置的像素数量的增加、高性能化和小型化正在发展。随着成像装置的像素数量的增加和高性能化，成像装置中安装的诸如电荷耦合器件(CCD)传感器或互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器等成像元件的功耗增大了。

此外，由于驱动透镜焦点的致动器等的功耗也增大，因此成像装置的功耗也趋于增大。

为了降低功耗，已经设计出一种方法，其中将致动器的驱动信号制成脉冲宽度调制(PWM)波形以将功耗抑制到大约一半。然而，已知的是，当致动器由PWM驱动来驱动时，产生磁场，其是成像元件的干扰因素，并且噪声被混入。

为了降低噪声，已经设计出通过使成像元件的驱动波形与生成PWM信号的自动对焦驱动器同步并且在成像元件的驱动时间期间在死区中输出PWM波形来降低噪声。

此外，作为成像装置中的高性能化之一，为了不断地检测透镜的焦点位置并将透镜快速移动到对被摄体光进行集光的位置，还已经设计出在致动器中安装诸如霍尔元件等用于位置检测的元件，并且透镜的位置向外部输出。

例如，在专利文献1中，已经设计出通过利用来自对焦驱动电路的PWM信号去控制驱动元件(致动器)以驱动透镜而改变透镜的焦点来实现自动对焦。此外，在专利文献1中，已经设计出安装霍尔元件以用于高性能透镜的位置检测。

在专利文献2中，已经设计出通过包括金属板来遮断(屏蔽)磁场来降低由于利用PWM驱动来驱动致动器而产生的磁场所引起的成像元件的噪声。

在专利文献3中，已经设计出根据被配置成面对励磁功率的检测线圈的电动势，利用PWM信号(AC信号)来检测透镜的位置。在该设计中，已经设计出将检测线圈安装在动作的透镜侧，并且在励磁线圈和检测线圈平行移动的情况下从电动势电流的相位执行位置检测。

引用文献列表

专利文献

专利文献1：日本特开2011-022563号公报

专利文献2：日本特开2014-082682号公报

专利文献3：日本特开2000-295832号公报

发明内容

发明要解决的问题

根据专利文献1，需要安装霍尔元件，并且致动器变大，这使得小型化困难。此外，由于必须安装霍尔元件，因此还存在成像装置变得昂贵的担忧。

根据引用文献2，由于金、银、铜、铝等被用作用于遮断磁场的金属板，因此存在成像装置变得昂贵的担忧。此外，即使设置了用于遮断磁场的金属板，这也对成像装置的小型化没有贡献。

近年来的致动器均具有如下结构：在透镜的外侧配置有线圈，根据励磁功率将线圈移动到垂直于成像元件的一侧，并且执行焦点检测。当将引用文件3应用于这种结构时，励磁线圈和检测线圈被配置为彼此面对，并且不能通过平行移动来检测透镜的位置。即，难以将引用的文献3应用于近年来的致动器。

鉴于这种情况而做出了本技术，并且使得可以提供一种能够高性能化、低功耗和小型化的成像装置。

问题的解决方案

本技术的一个方面的成像装置包括：将被摄体光集光的透镜；对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

本技术的一个方面的电子设备包括成像装置，所述成像装置包括：将被摄体光集光的透镜；对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

在本技术的一方面的成像装置中，所述装置包括：对来自将被摄体光集光的透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；和致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜，并且检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

在本技术的一个方面的电子设备中，包括所述成像装置。

注意，成像装置和电子装置均可以是独立装置或者是包括在一个装置中的内部块。

发明的效果

根据本技术的一个方面，可以提供一种能够高性能化、低功耗和小型化的成像装置。

注意，这里记载的效果不必受到限制，并且可以是本公开中记载的任何效果。

附图说明

图1是示出本技术适用的成像装置的实施方案的构成的图。

图2是示出成像装置的详细构成例的图。

图3是用于说明要形成的线圈的图。

图4是用于说明在间隔件上形成线圈的情况的图。

图5是用于说明在间隔件上形成线圈的情况的图。

图6是示出检测电路的构成例的图。

图7是用于说明透镜的位置和感应电动势的量的图。

图8是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图9是示出成像装置的其他构成例的图。

图10是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图11是用于说明在成像装置中产生的磁场的图。

图12是示出成像装置的其他构成例的图。

图13是用于说明倾斜的检测的图。

图14是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图15是示出成像装置的其他构成例的图。

图16是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图17是示出成像装置的其他构成例的图。

图18是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图19是示出成像装置的其他构成例的图。

图20是用于说明在各线圈中产生的感应电动势的图。

图21是用于说明在间隔件上形成线圈的情况的图。

图22是示出成像装置的其他构成例的图。

图23是示出成像装置的其他构成例的图。

图24是示出成像装置的其他构成例的图。

图25是示出成像装置的其他构成例的图。

图26是示出成像装置的其他构成例的图。

图27是示出内窥镜手术系统的示意性构成的示例的图。

图28是示出摄像头和CCU的功能构成的示例的框图。

图29是示出车辆控制系统的示意性构成的示例的框图。

图30是车外信息检测单元和成像部的安装位置的示例的说明图。

具体实施方式

以下是用于实施本技术的形态(在下文中被称为实施方案)的说明。

<成像装置的构成>

本技术可以适用于包括诸如电荷耦合器件(CCD)传感器或互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器等成像元件的成像装置。此外，本技术还可以适用于包括这种成像装置的设备，例如，移动终端设备等。

图1是示出本技术一方面的成像装置的实施方案的构成的图。图1所示的成像装置1a包括对来自被摄体的被摄体光进行光电转换以捕获图像的诸如CCD传感器或CMOS图像传感器等成像元件11。

此外，成像装置1a包括将被摄体光集光的透镜16和遮断来自透过透镜16的光信号的红外光的红外截止滤光片17。此外，成像装置1a还包括在相对于成像元件11的方向上上下(以下，适宜地记为Z轴方向)驱动透镜以调整透镜16的焦点的致动器18。

此外，致动器18还具有用于通过在相对于成像元件11的成像面水平的面(以下，适宜地记为XY平面)的方向(以下，适宜地记为X轴方向或Y轴方向)上驱动透镜来降低相机抖动的影响的执行校正的功能。

此外，成像装置1a包括感测相机抖动的陀螺仪传感器21、用于从外部控制致动器18的自动对焦和OIS驱动器20以及用于向外部输出成像元件11的电气信号的电路板13。注意，尽管这里将其描述为电路板13，但是它可以是电路基板而不是板状的板。

OIS是光学图像稳定器(Optical Image Stabilizer)的缩写，其表示光学相机抖动校正，并且是其中光学系统处理校正以减少成像装置1a的相机抖动的影响的方式。在光学相机抖动校正中，通过陀螺仪传感器21感测成像时的振动，并且调整透镜16的位置，或者调整成像元件11的位置，以抑制相机抖动的影响。这里，将通过列举其中通过调整透镜16的位置来执行相机抖动校正的例子来继续说明。

成像装置1a包括用于将成像元件11电气连接到电路板13的金属线12、用于将成像元件11固定到电路板13的粘合剂15以及用于将上述的致动器18固定到电路板13的间隔件14。

为了降低成像装置1a消耗的功率，上述的自动对焦和OIS驱动器20具有向致动器18输出脉冲宽度调制(PWM)波形的功能。致动器18具有利用输入PWM波形来驱动透镜16的焦点的功能。

电路板13具有检测由从PWM波形产生的磁场所产生的感应电动势的功能，并且具有从检测到的感应电动势来检测透镜16的位置的功能。此外，电路板13还具有通过向外部输出检测结果来实现高性能透镜的焦点移动的功能。

<感应电动势的检测>

图2是用于说明由PWM波形产生的磁场和由该磁场产生的感应电动势的图，并且是示出成像装置1a的详细构成例的图。

致动器18具有音圈电机结构，并且线圈24由弹簧23支撑在该结构中。例如，线圈24设置在透镜架的侧面，磁体22设置在线圈24的面对侧。

当电流流过线圈24时，在图中的上下方向上产生力。通过所产生的力，由透镜筒保持的透镜16在向上方向或向下方向上移动，并且距成像元件11的距离改变。通过这种机制，实现自动对焦(AF)。

此外，为了在用于相机抖动校正的与成像元件11相同的面(XY平面)上驱动透镜16，配置有精细图案线圈25(在下文中，描述为FP线圈25)。通过使电流流过FP线圈25，在磁体22和线圈25之间在水平于成像元件11的方向上产生力，并且透镜16在与成像元件11相同的面内移动。

顺便提及地，与流过线圈24和FP线圈25的电流各自是具有恒定电压值的信号(始终维持Hi状态的信号)的情况相比，功耗在PWM波形驱动信号(其中Hi和Low以预定周期切换的信号)的情况下比在其中Hi状态持续的信号的情况下降低得更多。

因此，在供给到线圈24和FP线圈25的信号是PWM波形驱动信号以减小功耗的情况下，分别在图2所示的方向上产生磁场。参照图2，在从透镜16侧朝向成像元件11的方向上产生磁场。

注意，取决于电流的方向，在与图2所示的方向不同的方向上产生磁场，但是这里，以在图2所示的方向上产生磁场的情况为例继续进行说明。

所产生的磁场穿过成像元件11。由此，可能影响由成像元件11捕获的图像。例如，有可能在磁场的影响下产生噪声并从成像元件11输出混入有噪声的图像(图像信号)。

通过使PWM波形的驱动和成像元件11的驱动的信号同步而使得在产生成像元件11的噪声的驱动期间不会产生磁场，可以降低来自磁场的噪声的影响。通过这种同步，可以从成像装置1a输出不受磁场影响的图像。

通过向线圈24供给PWM波形驱动信号而产生的磁场也到达电路板13。下面给出通过检测到达电路板13的磁场的强度来检测透镜16的位置的功能的说明。

像线圈24那样，FP线圈25也通过向其供给PWM波形驱动信号而产生磁场，但是FP线圈25的面积和磁场强度小于线圈24的面积和磁场强度。这里，以通过检测由线圈24产生的磁场来执行透镜16的位置检测的情况为例继续进行说明，该线圈产生比FP线圈25所产生的磁场更大的磁场。

如图2所示，电路板13设有线圈32。通过在与PWM波形驱动所产生的磁场垂直的方向上设置线圈32，在线圈32中产生感应电动势，并且可以从感应电动势的大小来检测透镜16(透镜保持件)在Z轴方向上的位置。

此外，可以检测透镜16(透镜保持件)的位置，换言之，可以检测透镜16和成像元件11之间的距离，由此可以实现高性能的透镜驱动，即，自动对焦。

此外，如图2所示，在垂直于成像元件11的成像面的面上设有线圈33a～33d。在下文中，在无需单独区分线圈33a～33d的情况下，将线圈33a～33d简记为线圈33。

通过将线圈33设置在水平于由PWM波形驱动产生的磁场的位置处，在各线圈33中产生感应电动势，并且可以从感应电动势的大小来检测透镜16(透镜保持件)在X轴方向和Y轴方向上的位置。

线圈33a～33d分别设置在四个不同的面上。线圈33a设置在垂直于成像元件11的成像面的面上，并且在图2的左侧的面上。线圈33b设置在垂直于成像元件11的成像面的面上，并且在图2的右侧的面(面对设有线圈33a的面的那面)上。

线圈33c设置在垂直于成像元件11的成像面的面上，并且在图2的远侧的面(与其上设有线圈33a的面垂直相交的面)上。线圈33d设置在垂直于成像元件11的成像面的面上，并且在图2的近侧的面(与其上设有线圈33a的面垂直相交并且面对其上设有线圈33c的面的那面)上。

如上所述，通过在水平于由PWM波形驱动产生的磁场的方向上设置线圈33，在各线圈33中产生感应电动势，并且可以从感应电动势的大小来检测透镜16(透镜保持件)在X轴方向和Y轴方向上的位置(XY平面上的位置)。

首先，这里，如图2所示，对其中通过将构成检测电路31(图6)的一部分的线圈32安装在电路板13上来检测用于透镜16在Z位置方向上的位置检测的感应电动势的示例进行说明。

图3是示出主要构成致动器的Z轴的检测电路31的一部分的线圈32在电路板13上的安装例的图。

线圈32具有起点32a和终点32b，并且起点32a和终点32b与图3中未示出的检测电路31连接。在线圈32中，为了环路形状并且为了使线不重叠，起点32a或终点32b中的一个位于环路的内部，另一个位于环路的外部。

因此，考虑到起点32a和终点32b与检测电路31连接，换言之，从起点32a和终点32b分别引出线，线圈32需要形成为横跨多个层。

参照图3的A。假设电路板13形成为一层这种情况，线圈32的起点32a例如是图中的右下侧的点，终点在线圈32的中央部分(在图3的A中由黑点表示)。在从线圈32的中央部分的终点引出线的情况下，难以引出线而使得与形成的线圈32不存在重叠部分。

因此，如图3的A所示，电路板13形成为包括两层。图3的A所示的电路板13形成为包括电路板13-1和电路板13-2的两层。线圈32的起点32a形成在电路板13-1上，并且从起点32a开始，线圈从外侧朝向内侧形成为环状。

此外，在形成于电路板13-1上的线圈32的中央部分中形成有第一层的线圈32的终点，从该终点连接第二层的线圈32的起点。在第二层的电路板13-2上，从起点开始，线圈32从内侧朝向外侧形成为环状。

从形成在电路板13-1上的起点32a到形成在电路板13-2上的终点32b形成环状的线圈32。此外，形成在电路板13-1上的起点32a和形成在电路板13-2上的终点32b可以用于连接到未示出的检测电路31。

注意，尽管在图3的A中未示出，但是在形成有线圈32的部分以外的部分中形成有用于向外部输出来自成像元件11的电气信号的电路等。

在图3的A所示的示例中，示出了电路板13包括两层的情况，但是如图3的B所示，电路板13可以包括三层。在图3的B所示的示例中，电路板13形成为包括电路板13-1～13-3的三层，在各电路板13上形成有环状的线圈32，并且各层的线圈32形成连接的一个线圈。

此外，如图3的B所示，在电路板13形成为包括三层的情况下，例如，可以在第一层的电路板13-1和第三层的电路板13-3中分别形成线圈32，而不必在第二层的电路板13-2中形成线圈32，并且电路板13-2可以专用于向外部输出来自成像元件11的电气信号的电路。

在以这种方式形成的情况下，在电路板13-2上形成有用于将形成在电路板13-1上的线圈32连接到形成在电路板13-3上的线圈32的配线。

如上所述，电路板13可以形成为包括多个层，并且线圈32可以横跨多个层形成。此外，电路板13的层数和层构成可以是这里示出的层数和层构成，或者可以是其他层数和层构成。

电路板13例如是包括其中诸如FPC等的铜线被配线的多个层的板，并且具有向外部输出成像元件11(图1)的电气信号的作用。在这种电路板13上，铜线进一步以线圈形状进行配线，以检测磁场。

当电流流过致动器18内的线圈24(图2)时产生的磁场流入到这种线圈32中。结果，在线圈32中产生感应电动势。根据法拉第定律(Federer's law)，可以获得要产生的感应电动势。

当贯通N匝线圈的磁通量在Δt[s]期间变化ΔΦ[Wb]时，线圈中产生的感应电动势V[V]由下式(1)表示。

V＝-N·ΔΦ/Δt (1)

从式(1)可以看出，感应电动势随着匝数N的增多而增加，并且如上所述，通过横跨电路板13的多个层形成线圈32，匝数可以增多，并且可以增加感应电动势。因此，可以形成容易地检测要产生的感应电动势的构成。

对连接到这种线圈32的检测电路31的构成进行说明。注意，在下面的说明中，电路板13示出成形成为包括一层，并且继续进行说明，但是如上所述，电路板13形成为包括多个层。

接着，对其中通过安装构成检测电路31的一部分的线圈33来检测用于透镜16在X轴方向和Y轴方向上的位置检测的感应电动势的示例进行说明。

图4和图5是分别示出主要构成致动器的X轴和Y轴上的检测电路31的一部分的线圈33在间隔件14上的安装例的图。在图4和图5中，示出了其中间隔件14设有线圈33a～33d的情况，但是可以采用如下构成：在电路板13上，在与电路板13垂直或水平的方向上形成有表面，并且线圈33a～33d分别设置在该表面上。

如图4所示，通过将线圈33a～33d配置在用于将致动器18连接到设有成像元件11的电路板13的间隔件14的内侧或外侧，可以使成像装置1a小型化。

此外，如图5所示，通过将线圈33a～33d配置在用于将致动器18连接到设有成像元件11的电路板13的间隔件14的上表面或下表面，可以使成像装置1a小型化。

如同图3所示的线圈32那样，线圈33a～33d各自具有起点和终点。线圈33a具有起点33aa和终点33ab，线圈33b具有起点33ba和终点33bb，线圈33c具有起点33ca和终点33cb，线圈33d具有起点33da和终点33db。

这些起点和终点与图4和图5中未示出的检测电路31连接。在各线圈33中，为了环路形状并且为了使线不重叠，起点或终点中的一个位于环路的内部，另一个位于环路的外部。

即，各线圈33可以具有与参照图3说明的线圈32类似的构成，并且例如可以具有两层或三层结构。

注意，在图4和图5中，以设有四个线圈33a～33d的情况为例，但是也可以设置两个线圈33。稍后将参照图9说明设有两个线圈33的情况，但是这里，首先，针对设有四个线圈33a～33d的情况继续进行说明。

此外，四个线圈33a～33d可以配置在同一面侧，例如，如图5所示，在间隔件14的上表面，或者可以配置在不同的面上。线圈33可以分别配置在不同的面上，例如，线圈33a和线圈33b可以配置在间隔件14的上表面，线圈33c和线圈33d可以配置在间隔件14的侧面，等等。

此外，多个线圈33可以配置在间隔件14的一边。例如，线圈33可以分别配置在间隔件14的一边的上表面和侧面，并且配置在这两个面上的线圈33中产生的感应电动势可以在后续处理中分别被检测和单独使用，或者被综合使用。

不管间隔件14的材料是无机的还是有机的，都可以应用本技术。通过使用有机材料形成间隔件14，可以增多形成在间隔件14上的各线圈33的匝数，并且可以预期到特性方面的改善。

<检测电路的构成>

图6是示出检测电路31的构成例的图。分别在线圈32和线圈33a～33d中产生的感应电动势被输入到检测电路31的各放大单元51-1～51-5并被放大。放大的感应电动势分别输入到模拟/数字(A/D)转换单元52-1～52-5，并且从模拟数据转换为数字数据。在下文中，在无需单独区分放大单元的情况下，将放大单元51-1～51-5简记为放大单元51。其他部分也以类似方式描述。

AF和OIS控制单元53是控制致动器18的部分，并且利用来自A/D转换单元52-1的数字数据来识别透镜16(图1)的焦距，并且在需要校正的情况下，换言之，在判定未调整焦点的情况下，生成取决于校正所需的移动距离的PWM控制信号并将其供给到致动器18。

此外，AF和OIS控制单元53利用来自A/D转换单元52-2～52-5的数字数据来识别透镜16(图1)的XY距离，并感测来自陀螺仪传感器21的相机抖动，在判定需要在XY方向上进行校正的情况下，换言之，在判定在XY方向上的移动对于相机抖动校正是必要的情况下，生成取决于校正所需的XY移动距离的PWM控制信号并将其供给到致动器18。

注意，AF和OIS控制单元53还执行以下处理：利用来自控制自动对焦(AF)和相机抖动校正(OIS)的控制单元54的信号，生成PWM控制信号，并将PWM控制信号供给到致动器18。

检测电路31可以作为一个集成电路安装在成像装置1a内部，或者可以安装在成像装置1a外部。此外，代替集成电路，检测电路31可以实现为软件，或者实现为相机的综合CPU的软件。

本技术具有检测感应电动势的功能以及通过感应电动势来高精度地调整透镜的焦点和透镜的XY位置的功能，当然，不仅这些功能由如上所述的集成电路或软件实现的情况，而且这些功能由其他方法实现的情况都在本发明的范围内。

已经描述了可以通过检测在线圈32和线圈33中流动的感应电动势来检测透镜16在X轴方向、Y轴方向和Z轴方向上的位置，这是因为建立了图7所示的关系。图7是示出透镜16的位置与检测到的感应电动势之间的关系的曲线图。在图7中，纵轴表示透镜的位置，横轴表示感应电动势的电流量(数字数据)。

如上所述，通过调整成像元件11和透镜16之间的距离来实现自动对焦。因此，透镜16和线圈32之间的距离也由于自动对焦而改变。此外，换言之，随着透镜16移动，致动器18内的线圈24(图2)也移动。

此外，通过在水平于成像元件11表面的方向(XY平面)上移动透镜16来实现相机抖动校正，并且透镜16与各线圈33之间的距离改变，换言之，随着透镜16由于相机抖动校正而移动，致动器18内的线圈24(图2)也沿XY方向移动。

当透镜16(线圈24)处于靠近线圈32的位置时，由流过线圈24的电流产生的磁场对线圈32(线圈33，在下文中，以线圈32为例继续进行说明)的影响较大，并且当透镜16(线圈24)处于远离线圈32的位置时，影响较小。因此，当透镜16(线圈24)处于靠近线圈32的位置时，感应电动势较大，并且当透镜16(线圈24)处于远离线圈32的位置时，感应电动势较小。

当用曲线图表达该事实时，获得如图7所示的曲线图。图7是示出透镜16随着其从图中的上侧朝向下侧接近线圈32的情况的曲线图。此外，该图是其中电流值随着其从图7中的左侧到右侧而增大的曲线图。此外，在图7中，透镜的可移动范围的中央位置为0，并且电流值在电流沿预定方向流动的情况下为正值，而电流值在电流沿与预定方向相反的方向流动的情况下为负值。

从图7所示的曲线图中可以看出，感应电动势呈线性函数变化。从这些事实可以看出，感应电动势和透镜16的位置具有一对一的关系。因此，通过检测在线圈32中流动的感应电动势，可以检测到此时的透镜16的位置。

通过使用这种关系，例如，能够通过检测电路31来检测位置B，其是在执行通过AF和OIS控制单元53将透镜16移动到期望位置A的控制之后的透镜16的位置。

此外，在期望位置A与检测位置B之间存在偏差的情况下，可以校正该偏差并且可以将位置移动到期望位置A。因此，可以实现高性能的透镜移动。

此外，增加对透镜16(线圈24)在XY面上的位置检测的说明。图8是示出对于各线圈33a～33d，当透镜16由于相机抖动校正而在XY方向上移动时的感应电动势的转移的图。

图8的A是当从上方观察时的透镜16的图。在图8的A中，当横向是X轴方向并且透镜16的中心是0时，左侧是负方向(-X方向)，右侧是正方向(+X方向)。此外，在图8的A中，当纵向是Y轴方向并且透镜16的中心是0时，上侧是负方向(-Y方向)，下侧是正方向(+Y方向)。

线圈33a设置在透镜16的图中左侧(-X侧)，线圈33b设置在图中右侧(+X侧)。由于相机抖动校正，所以透镜16(线圈24)在平行于成像元件11的XY面内移动，由此产生磁场，并且当透镜16(线圈24)处于靠近各线圈33的位置时，磁场对各线圈33的影响较大，并且当透镜16(线圈24)处于远离各线圈33的位置时，影响较小。

当用曲线图表达该事实时，将它们示出为图8的B～E。在图8的B～E所示的曲线图中，横轴表示透镜16的位置，纵轴表示各线圈33中产生的感应电动势。此外，在图8B～8E中，上部所示的曲线图是当透镜16从-X侧移动到+X侧时的感应电动势的曲线图，下部所示的曲线图是当透镜16从-Y侧移动到+Y侧时的感应电动势的曲线图。

参照图8的B，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从靠近线圈33a的状态变为远离线圈33a的状态。在发生这种变化的情况下，如图8的B的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈33a中产生的感应电动势逐渐减小。

另一方面，在透镜16沿Y轴方向移动的情况下，透镜16与线圈33a之间的位置关系恒定，并且透镜16与线圈33a之间的距离不变，从而在线圈33a中产生的感应电动势没有变化并且具有恒定值。

参照图8的C，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从远离线圈33b的状态变为靠近线圈33b的状态。在发生这种变化的情况下，如图8的C的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈33b中产生的感应电动势逐渐增大。

另一方面，在透镜16沿Y轴方向移动的情况下，透镜16与线圈33b之间的位置关系恒定，并且透镜16与线圈33b之间的距离不变，从而在线圈33b中产生的感应电动势没有变化并且具有恒定值。

如上所述，当透镜16沿X轴方向移动时，在线圈33a和33b中的每个内产生的感应电动势改变，从而可以通过测量在线圈33a或线圈33b中产生的感应电动势来检测透镜16在X轴方向上的位置。

参照图8的D，在透镜16沿X轴方向移动的情况下，透镜16与线圈33c之间的位置关系恒定，并且透镜16与线圈33c之间的距离不变，从而在线圈33c中产生的感应电动势没有变化并且具有恒定值。

另一方面，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从靠近线圈33c的状态变为远离线圈33c的状态。在发生这种变化的情况下，如图8的D的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈33c中产生的感应电动势逐渐减小。

参照图8的E，在透镜16沿X轴方向移动的情况下，透镜16与线圈33d之间的位置关系恒定，并且透镜16与线圈33d之间的距离不变，从而在线圈33d中产生的感应电动势没有变化并且具有恒定值。

另一方面，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从远离线圈33d的状态变为靠近线圈33d的状态。在发生这种变化的情况下，如图8的E的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈33d中产生的感应电动势逐渐增大。

如上所述，当透镜16沿Y轴方向移动时，在线圈33c和线圈33d中的每个内产生的感应电动势改变，从而可以通过测量在线圈33c或线圈33d中产生的感应电动势来检测透镜16在Y轴方向上的位置。

通过使用这种关系，例如，能够通过检测电路31检测位置B，其是在执行通过AF和OIS控制单元53将透镜16移动到期望位置A的控制之后的透镜16的位置。

此外，在期望位置A与检测位置B之间存在偏差的情况下，可以校正该偏差并且可以将位置移动到期望位置A。因此，可以实现高性能的透镜移动。

<第二实施方案>

如参照图8说明的，由于可以通过测量在线圈33a或线圈33b中产生的感应电动势来检测透镜16在X轴方向上的位置，所以也能够采用包括线圈33a或线圈33b中的一个的构成。此外，由于可以通过测量在线圈33c或线圈33d中产生的感应电动势来检测透镜16在Y轴方向上的位置，所以也能够采用包括线圈33c或线圈33d中的一个的构成。

如上所述，图9示出包括检测透镜16在X轴方向上的位置的线圈33和检测透镜16在Y轴方向上的位置的线圈33的成像装置1b的构成。图9所示的成像装置1b包括用于检测透镜16在X轴方向上的位置的线圈33b和用于检测透镜16在Y轴方向上的位置的线圈33c。

在图9所示的成像装置1b的情况下，如图10所示，可以通过测量在线圈33b中产生的感应电动势来检测透镜16在X轴方向上的位置。即，如图10的B所示，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，在线圈33b中产生的感应电动势随着透镜16从-X侧移动到+X侧而逐渐减小，从而可以利用该事实来检测透镜16在X轴方向上的位置。

类似地，可以通过测量在线圈33c中产生的感应电动势来检测透镜16在Y轴方向上的位置。即，如图10的C所示，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，在线圈33c中产生的感应电动势随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧而逐渐减小，从而可以利用该事实来检测透镜16在Y轴方向上的位置。

注意，这里，已经以包括线圈33b和线圈33c的情况为例进行了说明，但是可以采用包括线圈33a和线圈33c、线圈33a和线圈33d或线圈33b和线圈33d的构成。

作为检测透镜16在XY平面上的位置的成像装置1的构成，可以采用如图2所示的在四边包括线圈33的构成，或者可以采用如图9所示的在两边包括线圈33的构成。

在采用如图2所示的在四边包括线圈33的构成的情况下，可以从线圈33a获得如图8的B所示的感应电动势的曲线图，并且可以从线圈33b获得如图8的C所示的感应电动势。即，可以获得用于检测透镜16在X轴方向上的位置的两条位置信息。

例如，使用两条位置信息，执行诸如将两条位置信息(感应电动势的值)相乘、相加或取相减值的绝对值等预定的计算，并且根据计算结果，能够检测透镜16在X轴方向上的位置。

类似地，在采用在四边包括线圈33的构成的情况下，可以从线圈33c获得如图8的D所示的感应电动势的曲线图，并且可以从线圈33d获得图8的E所示的感应电动势的曲线图。即，可以获得用于检测透镜16在Y轴方向上的位置的两条位置信息。

例如，使用两条位置信息，执行诸如将两条位置信息(感应电动势的值)相乘、相加或取相减值的绝对值等预定的计算，并且根据计算结果，能够检测透镜16在Y轴方向上的位置。

由于用于相机抖动校正的XY平面中的移动量小于用于自动对焦的Z轴方向上的移动量，所以由于透镜16(线圈24)在用于相机校正的XY平面中的移动而在各线圈33中产生的感应电动势小于由于透镜16(线圈24)在用于自动对焦的Z轴方向上的移动而在线圈32中产生的感应电动势。

即使在其中一个线圈33中产生的感应电动势较小的情况下，也采用在四边包括线圈33的构成，并且使用来自设置在两个不同边上的线圈33的感应电动势的检测结果，从而可以提高位置检测精度。

在采用如图9所示的在两边包括线圈33的构成的情况下，与采用在四边包括线圈33的构成的情况相比，位置检测精度有可能更低。然而，在采用在两边包括线圈33的构成的情况下，与采用在四边包括线圈33的构成的情况相比，可以获得诸如可以降低成本以及其他元件可以配置在未配置线圈33的边上并且可以使装置小型化等效果。

此外，通过采用增加各线圈33的匝数或使线圈33的配置位置尽可能地靠近线圈24的构成，还能够防止位置检测精度劣化。此外，例如，通过针对不需要高精度的位置检测的成像装置1采用在两边包括线圈33的构成并且针对需要高精度的位置检测的成像装置1采用在四边包括线圈33的构成，当然能够适当地使用。

<第三实施方案>

作为成像装置1的又一构成，增加对成像装置1c的说明，该成像装置还包括用于有效地将电磁场输入到用于在XY方向上的透镜位置检测的线圈33的构成。

在图11中，再次示出了上述成像装置1a，并且增加对磁场的说明。由包括在用于驱动透镜16的致动器18中的线圈24产生的电磁场在线圈24的中心处以圆形或椭圆形产生。

在图11中，示出了椭圆形磁场。为了在这种磁场的影响下有效地在线圈33中产生感应电动势，优选的是，磁场垂直入射到线圈33上。

因此，为了使磁场垂直入射到线圈33上，如图12所示，在电路板13的下层中设有屏蔽层101。通过设置屏蔽层101，屏蔽层101使磁场弯曲，可以有效地使磁场入射到线圈33上，并且可以在线圈33中有效地产生感应电动势。

可以通过线圈33有效地产生感应电动势，由此当从感应电动势的测量值检测透镜16的位置时可以提高精度。

此外，在移动终端等中，成像装置1本身可以构造成被屏蔽以作为针对电磁干扰(EMI)的对策，并且这种屏蔽可以用作屏蔽层101。因此，能够防止由于额外设置屏蔽层101而导致成本增加和成像装置1的尺寸增加。

<透镜倾斜的检测>

在上述实施方案中，已经以检测透镜16在X轴方向、Y轴方向和Z轴方向上的位置的情况为例进行了说明。利用这个事实，也可以检测透镜16的倾斜。

在以上说明中，已经以透镜16不倾斜为前提，换言之，透镜16和成像元件11保持彼此平行的情况为例进行了说明。然而，有可能在透镜16中发生倾斜，并且还需要提供当发生倾斜时检测这种倾斜并校正该倾斜的功能。

理想地，透镜16(线圈24)和成像元件11处于其中穿过透镜16的光轴垂直于成像元件1的状态。然而，如果透镜16、致动器18和成像元件1中的至少一个以倾斜状态安装，或者如果在使用过程中发生倾斜，则有可能使穿过透镜16的光轴和成像元件1进入其中它们彼此不垂直的状态。

因此，在下文中，增加针对其中也可以通过利用如上所述的在线圈33中产生的感应电动势来检测透镜16或成像元件11的倾斜的构成的说明。

图13是示意性地示出透镜16倾斜的状态的图，尽管该构成与图2所示的成像装置1a的构成类似。图13所示的状态示出其中透镜16倾斜而使得在该图中其左侧为上侧并且其右侧为下侧的情况。

图13所示的状况是其中线圈24远离线圈33a而靠近线圈33b的状况。因此，在这种状况下，在线圈33a中产生的感应电动势小于在线圈33b中产生的感应电动势。线圈33中产生的感应电动势根据线圈24和线圈33的这种相对位置而不同的事实与上述情况相同，例如，参照图8所说明的情况。

这里，如图13的左图所示，设定透镜16的倾角α和倾角β。倾角α在其中透镜16朝向靠近线圈33a和33b(X轴方向)中的线圈33a的那侧倾斜的状态下为负倾斜，在其中透镜16朝向靠近线圈33b的那侧倾斜的状态下为正倾斜。此外，倾角β在其中透镜16朝向靠近线圈33c和33d(Y轴方向)中的线圈33c的那侧倾斜的状态下为负倾斜，在其中透镜16朝向靠近线圈33d的那侧倾斜的状态下为正倾斜。

图14示出了当发生倾斜时的感应电动势的分布。参照图14的A所示的线圈33a的感应电动势的曲线图，在倾角α从负θ变为正θ的情况下，换言之，线圈24在其中线圈24远离线圈33a的方向上倾斜，感应电动势减少。在线圈33a中，与参照图8说明的情况一样，由于Y轴方向的倾斜的变化，所以感应电动势没有变化。

参照图14的B所示的线圈33b的感应电动势的曲线图，在倾角α从负θ变为正θ的情况下，换言之，线圈24在其中线圈24靠近线圈33b的方向上倾斜，感应电动势增大。在线圈33b中，与参照图8说明的情况一样，由于Y轴方向的倾斜的变化，所以感应电动势没有变化。

参照图14的C所示的线圈33c的感应电动势的曲线图，在倾角β从负θ变为正θ的情况下，换言之，线圈24在其中线圈24远离线圈33c的方向上倾斜，感应电动势减少。在线圈33c中，与参照图8说明的情况一样，由于X轴方向的倾斜的变化，所以感应电动势没有变化。

参照图14的D所示的线圈33d的感应电动势的曲线图，在倾角β从负θ变为正θ的情况下，换言之，线圈24在其中线圈24靠近线圈33d的方向上倾斜，感应电动势增大。在线圈33d中，与参照图8说明的情况一样，由于X轴方向的倾斜的变化，所以感应电动势没有变化。

如上所述，在线圈33中产生的感应电动势根据透镜16的倾斜(与线圈24的位置关系的不同)而不同。这与参照图8说明的情况相同。

例如，利用当透镜16在X轴方向上没有倾斜时(当倾角α＝0时)的感应电动势作为基准(设定为基准值)，如果线圈33a的感应电动势与基准值之间的差分的绝对值等于线圈33b的感应电动势与基准值之间的差分的绝对值，则可以判定为在X轴方向上没有倾斜，如果它们彼此不相等，则可以判定为在X轴方向上存在倾斜。

此外，作为判定的结果，在判定存在倾斜的情况下，根据感应电动势的大小，分别获得线圈24相对于线圈33a的位置和线圈24相对于线圈33b的位置，还可以根据位置之间的位置关系来计算倾角α。此外，当计算倾角α时，可以计算出用于消除倾角α的校正量，并且还可以基于校正量进行倾斜的校正。

同样，对于Y轴方向上的倾斜，类似地，可以从线圈33c和33d的感应电动势来检测在Y轴方向上的倾斜，并且可以进行校正。

如上所述，根据本技术，可以分别检测到透镜16在X轴方向、Y轴方向和Z轴方向上的位置以及透镜16的倾斜。因此，作为相机抖动校正，不仅可以执行XY方向上的校正，而且可以执行倾斜校正，并且能够提供具有更高功能的成像装置1。

此外，通过在制造成像装置1时执行本技术适用的倾斜的检测，能够当存在倾斜时进行校正，或者在倾斜大于或等于预定倾斜的情况下将装置从生产线上移除。因此，明显的是，改善了在制造后的性能测试中光轴偏移的缺陷，并且可以抑制制造成本。

<第四实施方案>

本技术的应用范围是通过利用线圈32和线圈33相对于透镜16在XYZ方向上的移动来检测感应电动势而检测透镜16的位置的方法，使得只要线圈32和线圈33的位置在可以有效地检测感应电动势的位置，即使安装位置是任何位置，也都在本发明的范围内。

在上述成像装置1中，如图2所示，已经说明了其中在与成像元件11的位置关系中线圈33a～33d分别配置在沿与成像元件11的成像面垂直相交的方向设置的四个面上的示例；然而，如图15所示，与线圈33a～33d相对应的线圈133a～133b可以在与成像元件11的位置关系中配置在沿与成像元件11的成像面水平的方向设置的面上。

图16所示的成像装置1d是两层构成的实施方案，其中在设置于电路板13上的线圈32的下层中设有线圈133a～133d。如同上述实施方案中那样，设置在电路板13上的线圈32是用于自动对焦的Z位置检测用的线圈。设置在电路板13的下层中的线圈133a～133d是用于相机抖动校正的XY方向的位置检测用的线圈。

注意，在两层构成的情况下，这里，以线圈133a～133d设置在线圈32的下层中的情况为例继续进行说明；然而，可以采用以下构成：线圈133a～133d在上层中，线圈32设置在下层中，并且线圈133a～133d形成在电路板13上。

对于线圈133a～133d，在该图中，线圈133a配置在左上侧，线圈133b配置在右上侧，线圈133c配置在左下侧，线圈133d配置在右下侧。

这些线圈133a～133d中的每个具有与线圈32类似的构成，具有起点和终点(未示出)，并且与检测电路31连接。

参照图16，针对在如上所述的配置于一个平面上的线圈133a～133d中透镜16(线圈24)在XY平面内移动的情况下在各线圈133中产生的感应电动势进行说明。

图16的A是当从上方观察时的透镜16的图。在图16的A中，当横向是X轴方向并且透镜16的中心是0时，左侧是负方向(-X方向)，右侧是正方向(+X方向)。此外，在图16的A中，当纵向是Y轴方向并且透镜16的中心是0时，上侧是负方向(-Y方向)，下侧是正方向(+Y方向)。

如图16的A所示，线圈133a设置在图中的左上侧(-X，-Y侧)，线圈133b设置在图中的右上侧(+X，-Y侧)。此外，线圈133c设置在图中的左下侧(-X，+Y侧)，线圈133d设置在图中的右下侧(+X，+Y侧)。

由于相机抖动校正，所以透镜16(线圈24)在平行于成像元件11的XY面内移动，由此产生磁场，并且当透镜16(线圈24)处于靠近各线圈133的位置时，磁场对各线圈133的影响较大，并且当透镜16(线圈24)处于远离各线圈133的位置时，影响较小。这与上述实施方案中的成像装置1a等是相同的。

当用曲线图表达该事实时，将它们示出为图16的B～E。在图16的B～E所示的曲线图中，横轴表示透镜16的位置，纵轴表示各线圈133中产生的感应电动势。此外，在图16B～16E中，上部所示的曲线图是当透镜16从-X侧移动到+X侧时的感应电动势的曲线图，下部所示的曲线图是当透镜16从-Y侧移动到+Y侧时的感应电动势的曲线图。

参照图16的B，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从靠近线圈133a的状态变为远离线圈133a的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的B的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈133a中产生的感应电动势逐渐减小。

此外，参照图16的B，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从靠近线圈133a的状态变为远离线圈133a的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的B的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈133a中产生的感应电动势逐渐减小。

参照图16的C，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从远离线圈133b的状态变为靠近线圈133b的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的C的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈133b中产生的感应电动势逐渐增大。

此外，参照图16的C，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从靠近线圈133b的状态变为远离线圈133b的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的C的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈133b中产生的感应电动势逐渐减小。

参照图16的D，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从靠近线圈133c的状态变为远离线圈133c的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的D的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈133c中产生的感应电动势逐渐减小。

此外，参照图16的D，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从远离线圈133c的状态变为靠近线圈133c的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的D的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈133c中产生的感应电动势逐渐增大。

参照图16的E，在透镜16从-X侧移动到+X侧的情况下，透镜16从远离线圈133d的状态变为靠近线圈133d的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的E的上部曲线所示，随着透镜16从-X侧移动到+X侧，在线圈133d中产生的感应电动势逐渐增大。

此外，参照图16的E，在透镜16从-Y侧移动到+Y侧的情况下，透镜16从远离线圈133d的状态变为靠近线圈133d的状态。在发生这种变化的情况下，如图16的E的下部曲线所示，随着透镜16从-Y侧移动到+Y侧，在线圈133d中产生的感应电动势逐渐增大。

如上所述，在线圈133a～133d中分别产生的感应电动势的大小根据透镜16与线圈133a～133d之间的位置关系而不同，使得可以通过测量在线圈133a～133b中产生的感应电动势来分别检测透镜16在X轴方向和Y轴方向上的位置。

通过使用这种关系，能够通过检测电路31检测位置B，其是在执行通过AF和OIS控制单元53将透镜16移动到期望位置A的控制之后的透镜16的位置。

此外，在期望位置A与检测位置B之间存在偏差的情况下，可以校正该偏差并且可以将位置移动到期望位置A。因此，可以实现高性能的透镜移动。

<第五实施方案>

如图15所示，可以采用包括四个线圈133a～133d的构成；然而，也可以采用包括两个线圈的构成。图17是示出包括用于检测透镜16在XY方向上的位置的两个线圈133的成像装置1e的构成的图。

图17所示的成像装置1e包括用于检测透镜16在X轴方向和Y轴方向上的位置的线圈133a和线圈133d。

在图17所示的成像装置1e的情况下，当测量在线圈133a和线圈133d中的每个内产生的感应电动势时，获得如图18所示的测量结果。这与参照图16的B和图16的E说明的情况类似。

因此，可以通过测量在线圈133a和线圈133d中的每个内产生的感应电动势来检测透镜16在X轴方向上的位置和在Y轴方向上的位置。这与参照图15和图16说明的成像装置1d的情况类似。

注意，这里，已经以包括线圈133a和线圈133d的情况为例进行了说明，但是可以采用包括线圈133b和线圈133c的构成。

作为检测透镜16在XY平面上的位置的成像装置1的构成，可以采用如图15所示的包括四个线圈133的构成，或者可以采用如图17所示的包括两个线圈133的构成。

注意，在分别在图2、图9、图12、图15和图17所示的成像装置1a～1e中，已经说明了将用于自动对焦的Z轴上的位置检测用的线圈32安装在电路板13上的示例；然而，可以采用其中将线圈32安装在成像元件11内的构成。

<第六实施方案>

关于上述成像装置1a～1e，已经以检测Z轴方向上的位置的线圈32和检测XY方向上的位置的线圈33(133)分别设置的情况为例进行了说明。图19示出具有将检测Z轴方向上的位置的线圈和检测XY方向上的位置的线圈一体化的构成的成像装置1f的构成例。

在图19所示的成像装置1f中，线圈133a～133d设置在电路板13上。注意，尽管在图19中未示出成像元件11，但是如在其他实施方案中一样，其设置在电路板13上。

线圈133a～133d与图15所示的线圈133a～133d相同，但是与图15所示的线圈133a～133d的不同之处在于，它们设置在电路板13上。图19所示的成像装置1f与图15所示的成像装置1d的不同之处在于，未设置与图15所示的线圈32相对应的线圈。

在图19所示的线圈133a～133d中产生的感应电动势分别如图20的B～E所示变化。图20的A～E与图16的A～E相同，并且由于已经参照图16进行了说明，因此这里省略其说明。

可以通过测量在线圈133a～133d中的每个内产生的感应电动势来执行透镜16的XY位置检测。

此外，可以通过测量在线圈133a～133d中的每个内产生的感应电动势并对测量值进行积分来执行透镜16的Z位置检测。如图20的F所示，在透镜16中，图中上侧(远离未示出的成像元件11的方向)是正侧，图中下侧(朝向未示出的成像元件11的方向)是负侧。

图20的G是示出在透镜16(线圈24)从-Z侧移动到+Z侧的情况下，换言之，当透镜16从靠近线圈133a～133d的状态变为远离线圈133a～133d的状态时，通过对在线圈133a～133d中产生的感应电动势进行积分而获得的值的变化的图。该图与图7相同，并且随着透镜16(线圈24)从-Z侧移动到+Z侧，感应电动势逐渐减小。

在透镜16(线圈24)沿Z轴方向移动的情况下，透镜16远离或靠近线圈133a～133d，从而在线圈133a～133d中的每个内产生的感应电动势改变，如图20的G所示，这例如与成像装置1a(图2)的线圈32的情况相同。

如上所述，通过测量在线圈133a～133d中的每个内产生的感应电动势，可以检测透镜16在X轴方向上的位置、在Y轴方向上的位置以及在Z轴方向上的位置。

注意，同样地，在分别在图2、图9、图12、图15和图17中示出的成像装置1a～1e中，也能够采用未设置用于自动对焦的Z轴上的位置检测用的线圈32的构成，并且如参照图19和图20所说明的成像装置1f中一样，对线圈33(133)中产生的感应电动势进行积分而用作线圈32的功能。

例如，图2所示的成像装置1a包括线圈32和线圈33，并且如图4所示，可以将线圈33设置在间隔件14中，但是在未设置线圈32的情况下，可以形成仅将设置在间隔件14中的线圈33包括在成像装置1a中的构成。

<第七实施方案>

在如图2所示的成像装置1a中一样设有线圈32和线圈33并且在如图4所示的间隔件14上设有线圈33的情况下，进一步地，可以形成间隔件14也设有线圈32的构成。

如图21所示，在间隔件14上形成有线圈32和线圈33a～33d，并且与间隔件14的电路板13接触的部分形成有用于连接到检测电路31的起点32a和终点32b、起点33aa和终点33ab、起点33ba和终点33bb、起点33ca和终点33cb以及起点33da和终点33db。注意，线圈33b和线圈33c在图21中未示出。此外，也未示出这些线圈33的起点和终点。

例如，在间隔件14上形成有线圈32的情况下的成像装置1的构成可以与图1所示的成像装置1a的构成相同。然而，不同之处在于，在电路板13上未形成线圈32。这里，虽然未示出，但是将图21所示的包括间隔件14的成像装置1描述为成像装置1g。

同样在成像装置1g中，可以如在上述成像元件11的下侧中设有线圈32的情况(成像装置1a)一样检测透镜16的Z位置。此外，在线圈33中，可以检测透镜16的XY位置。

<第八实施方案>

上述成像装置1a～1g中的任何构成都具有相似的基本构成，并且仅其中形成有线圈32和线圈33的部分及其数量不同，但是该差异不会影响成像装置1的构成。

不管在何处设置线圈32和线圈33或设置多少，成像装置1的构成都可以相同。换言之，本技术可以适用于成像装置1的任何构成，而不限于上述成像装置1a～1g的构成。

因此，在下文中，将说明成像装置1的其他构成。然而，这里说明的构成也是例子，并不代表限制。

图22是示出成像装置1的其他构成例的图。图22所示的成像装置1h示出了在芯片尺寸封装(CSP)形状的成像元件11d适用作成像元件11的情况下的构成。

即使在将CSP形状的成像元件11d用作成像元件11的情况下，也可以在电路板13、间隔件14等上形成线圈32和线圈33(133)，并且可以制造检测透镜16的位置的结构。

<第九实施方案>

图23是示出成像装置1的其他构成例的图。图23所示的成像装置1i示出了在CSP形状的成像元件11d适用作成像元件11的情况下的构成，如同图22所示的成像装置1h那样。

此外，图23所示的成像装置1i具有在CSP形状的成像元件11d的玻璃基板中截断红外线的功能(滤光器)，并且在玻璃基板上形成透镜201。

如上所述，通过使成像元件11d的玻璃基板具有截断红外线的功能，可以减小红外截止滤光片的厚度。因此，可以减小成像装置1i的高度。

此外，透镜201形成在玻璃基板上，换言之，在CSP形状的成像元件11d的玻璃基板上模制构成透镜16的多个透镜中的最下层的透镜，并且可以制造能够实现成像装置1d的进一步薄型化的构成。

即使对于这种薄型化的成像装置1d，也可以在电路板13、间隔件14等上形成线圈32和线圈33(133)，并且可以制造检测透镜16的位置的结构。

<第十实施方案>

图24是示出成像装置1的其他构成例的图。图24所示的成像装置1j具有其中成像元件11(例如，图1所示的成像装置1a的成像元件11)是具有倒装芯片结构的成像元件11f的结构。

在图24所示的成像装置1j中，从成像元件11f输出的电气信号通过具有电路功能的保持件211向外部输出。保持件211还具有与致动器18的保持件功能，并且来自成像元件11f的电气信号通过连接到保持件211的薄型电路板13向外部输出。

同样对于这样的成像装置1j，可以在电路板13、间隔件14(对应于成像装置1j中的保持件211)等上形成线圈32和线圈33(133)，并且可以制造检测透镜16的位置的结构。

<第十一实施方案>

图25是示出成像装置1的其他构成例的图。图25所示的成像装置1k包括具有倒装芯片结构的成像元件11g，如同图24所示的成像装置1j的成像元件11f那样。

图25所示的成像装置1k具有其中红外截止滤光片17当安装时用作基材并且将电路板13接合到红外截止滤光片17的结构。

此外，成像装置1k包括具有电路功能的保持件231，如同图24所示的成像装置1j那样。此外，如图25所示，在成像元件11g设置在电路板13的下侧(与透镜16所在侧相对的那侧)的情况下，还设置有保护材料232，用于当将成像装置1k安装在端子上时保护成像元件11g。

同样对于这样的成像装置1h，可以在电路板13、间隔件14(对应于成像装置1h中的保持件231或保护材料232)等上形成线圈32和线圈33(133)，并且可以制造检测透镜16的位置的结构。

<第十二实施方案>

图26是示出成像装置1的其他构成例的图。图26所示的成像装置1m具有与图1所示的成像装置1a类似的构成，但是不同之处在于添加有存储单元251。存储单元251存储用于校正成像装置1中的变化的数据。

由于用于透镜位置调整的感应电动势的量根据致动器18的线圈24(图2)的匝数和尺寸、电路板13的线圈32(图3)的形成状态(匝数、形成的电路板13的层数等)以及线圈33(图2)或线圈133(图15)的形成状态而改变，因此在制造成像装置1m时测量感应电动势的变化，并且将用于调整变化的调整值存储在存储单元251中。

然后，在实际控制时，使用存储在存储单元251中的调整值并进行处理，以校正各成像装置1的变化。通过这样做，可以进行其中各成像装置1的变化得以改善的透镜16的位置检测和调整。

注意，存储单元251可以如图26所示安装在电路板13上，或者可以安装在成像装置1m的外部。此外，这里，以通过将存储单元251安装在成像装置1a上而获得的成像装置1m为例进行了说明；然而，存储单元251当然可以安装在成像装置1b～1k中。

即使对于这样的成像装置1m，也可以在电路板13、间隔件14等上形成线圈32和线圈33(133)，或者仅形成线圈33(133)，并且可以制造检测透镜16的位置的结构。

根据本技术，可以通过利用PWM驱动来驱动透镜而降低功耗。此外，当执行PWM驱动时，可以检测由驱动透镜的致动器(内部的线圈)产生的磁场所产生的感应电动势。

此外，可以通过检测这种感应电动势来检测透镜的位置。此外，通过检测透镜的位置，可以在位置发生偏差的情况下进行校正。

根据本技术，可以通过控制成像装置的透镜的焦点位置来实现高性能和小型化。

上述成像装置1可以用于数字摄像机、数字静态相机等。此外，上述成像装置1还可以用于诸如监视相机或车载相机等图像输入相机。此外，上述成像装置1还可以用于诸如扫描设备、传真设备、可视电话设备以及具有相机的移动终端设备等电子设备。

<内窥镜手术系统的应用例>

根据本公开的技术可以适用于各种产品。例如，根据本公开的技术可以应用于内窥镜手术系统。

图27是示出根据本公开的技术(本技术)可以应用的内窥镜手术系统的示意性构成的示例的图。

图27示出手术者(医生)11131正在使用内窥镜手术系统11000对病床11133上的患者11132进行手术的状态。如图所示，内窥镜手术系统11000包括内窥镜11100、诸如气腹管11111和能量处置器械11112等其他手术器械11110、支撑内窥镜11100的支撑臂装置11120以及其上安装有用于内窥镜手术的各种装置的推车11200。

内窥镜11100包括其中距远端预定长度的区域被插入患者11132的体腔内的透镜筒11101和摄像头11102，该摄像头与透镜筒11101的近端连接。在附图所示的示例中，示出了形成为包括硬性透镜筒11101的所谓硬镜的内窥镜11100，但是内窥镜11100可以形成为包括软性透镜筒的所谓的软镜。

透镜筒11101在其远端处设有物镜装配到其中的开口部。光源装置11203与内窥镜11100连接，并且将由光源装置11203生成的光通过延伸到透镜筒11101内部的光导引导到透镜筒的远端，并经由物镜将光朝向在患者11132的体腔内的观察对象发射。此外，内窥镜11100可以是直视镜、斜视镜或侧视镜。

在摄像头11102的内部设有光学系统和成像元件，并且来自观察对象的反射光(观察光)通过光学系统会聚在成像元件上。观察光由成像元件执行光电转换，并且生成与观察光相对应的电气信号，即，与观察图像相对应的图像信号。图像信号作为RAW数据被传输到相机控制单元(CCU)11201。

CCU 11201包括中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)等，并且综合控制内窥镜11100和显示装置11202的操作。此外，CCU 11201接收来自摄像头11102的图像信号，并且执行诸如对图像信号的显像处理(去马赛克处理)等各种类型的图像处理以基于该图像信号显示图像。

显示装置11202通过CCU 11201的控制显示基于已经由CCU 11201对其进行了图像处理的图像信号的图像。

例如，光源装置11203包括诸如发光二极管(LED)等光源并且将用于拍摄手术部位等的照射光供给到内窥镜11100。

输入装置11204是用于内窥镜手术系统11000的输入接口。使用者可以经由输入装置11204向内窥镜手术系统11000输入各种类型的信息和指令。例如，使用者输入用于改变内窥镜11100的成像条件(照射光的类型、放大率、焦距等)的指令等。

处置器械控制装置11205控制能量处置器械11112的驱动，用于组织的烧灼、切开、血管的密封等。气腹装置11206经由气腹管11111向体腔内注入气体以使患者11132的体腔膨胀，以确保内窥镜11100的视野并确保手术者的工作空间。记录器11207是能够记录与手术有关的各种类型的信息的装置。打印机11208是能够以诸如文本、图像、图形等各种形式打印与手术有关的各种类型的信息的装置。

此外，将用于拍摄手术部位的照射光供给到内窥镜11100的光源装置11203可以包括例如LED、激光光源或它们组合的白色光源。在白色光源包括红、绿和蓝(RGB)激光光源的组合的情况下，可以高精度地控制各种颜色(波长)的输出强度和输出定时，从而可以在光源装置11203中进行所拍摄的图像的白平衡的调整。此外，在这种情况下，通过将来自各个RGB激光光源的激光按时间分割地发射到观察对象上并且与发射定时同步地控制摄像头11102的成像元件的驱动，也可以按时间分割地拍摄对应于RGB的图像。根据该方法，在成像元件中未设置滤色器的情况下，也可以获得彩色图像。

此外，可以控制光源装置11203的驱动，使得在预定时间间隔改变要输出的光的强度。通过与光强度的改变的定时同步地控制摄像头11102的成像元件的驱动以按时间分割地获取图像并合成图像，可以生成没有曝光不足的遮挡阴影和曝光过度的高亮的高动态范围的图像。

此外，光源装置11203可以供给与特殊光观察相对应的预定波长带的光。在特殊光观察中，例如，通过使用身体组织中的光吸收的波长依赖性，通过发射与普通观察时的照射光(即，白光)相比具有窄带域的光，进行以高对比度对诸如粘膜表层的血管等预定组织进行拍摄的所谓的窄带域成像。另外，在特殊光观察中，可以进行通过发射激发光产生的荧光获得图像的荧光成像。在荧光成像中，例如，可以向身体组织照射激发光来观察来自身体组织的荧光(自体荧光成像)，或者可以将诸如吲哚菁绿(ICG)等试剂局部注射到身体组织中并发射与试剂的荧光波长相对应的激发光来获得荧光图像。光源装置11203可以供给与这种特殊光观察相对应的窄带域光和/或激发光。

图28是示出图27所示的摄像头11102和CCU 11201的功能构成的示例的框图。

摄像头11102包括透镜单元11401、成像部11402、驱动部11403、通信部11404和摄像头控制部11405。CCU 11201包括通信部11411、图像处理部11412和控制部11413。摄像头11102和CCU 11201通过传输线缆11400连接，从而可以在它们之间进行通信。

透镜单元11401是设置在与透镜筒11101的连接部分处的光学系统。从透镜筒11101的远端接收的观察光被引导到摄像头11102并入射到透镜单元11401上。透镜单元11401包括具有变焦透镜和焦点透镜的多个透镜的组合。

成像部11402由成像元件组成。构成成像部11402的成像元件可以是一个元件(所谓的单板型)或者可以是多个元件(所谓的多板型)。当成像部11402是多板型时，例如，通过各个成像元件生成与RGB相对应的图像信号，并且可以通过对图像信号进行合成来获得彩色图像。另外，成像部11402可以包括一对成像元件，用于获取与三维(3D)显示相对应的右眼和左眼用的图像信号。通过进行3D显示，手术者11131可以更加准确地把握手术部位中的身体组织的深度。此外，当成像部11402是多板型时，可以设置与各个成像元件相对应的多个透镜单元11401。

此外，成像部11402不必须设置在摄像头11102中。例如，成像部11402可以设置在透镜筒11101内部的物镜的正后方。

驱动部11403包括致动器，并且通过摄像头控制部11405的控制使透镜单元11401的变焦透镜和焦点透镜沿着光轴移动预定距离。结果，可以适宜地调整由成像部11402拍摄的图像的放大率和焦点。

通信部11404包括用于向/从CCU 11201传输/接收各种类型的信息的通信装置。通信部11404将从成像部11402获取的图像信号作为RAW数据经由传输线缆11400传输到CCU11201。

此外，通信部11404从CCU 11201接收用于控制摄像头11102的驱动的控制信号，并将该控制信号供给到摄像头控制部11405。控制信号包括与成像条件有关的信息，例如，指定所拍摄的图像的帧速率的信息、指定在成像时的曝光值的信息和/或指定所拍摄的图像的放大率和焦点的信息等。

此外，诸如帧速率、曝光值、放大率和焦点等成像条件可以由使用者适宜地指定，或者可以由CCU 11201的控制部11413基于获取的图像信号来自动设定。在后一种情况下，所谓的自动曝光(AE)功能、自动对焦(AF)功能和自动白平衡(AWB)功能结合在内窥镜11100中。

摄像头控制部11405基于经由通信部11404接收的来自CCU 11201的控制信号来控制摄像头11102的驱动。

通信部11411包括用于向/从摄像头11102传输/接收各种类型的信息的通信装置。通信部11411经由传输线缆11400接收从摄像头11102传输的图像信号。

此外，通信部11411将用于控制摄像头11102的驱动的控制信号传输到摄像头11102。图像信号和控制信号可以通过电气通信、光通信等来传输。

图像处理部11412对作为从摄像头11102传输的RAW数据的图像信号进行各种类型的图像处理。

控制部11413进行与通过内窥镜11100进行的手术部位等的成像以及通过对手术部位等的成像获得的所拍摄的图像的显示有关的各种类型的控制。例如，控制部11413生成用于控制摄像头11102的驱动的控制信号。

此外，控制部11413基于已经由图像处理部11412进行了图像处理的图像信号来使显示装置11202显示手术部位等的所拍摄的图像。在这种情况下，控制部11413可以通过使用各种图像识别技术来识别所拍摄的图像内的各种物体。例如，控制部11413检测包含在所拍摄的图像中的物体的边缘形状和/或颜色等，由此能够识别诸如钳子等手术器械、特定活体部位、出血、当使用能量处置器械11112时的雾等等。当使显示装置11202显示所拍摄的图像时，通过使用识别结果，控制部11413可以使显示装置11202重叠显示与手术部位的图像有关的各种类型的手术支持信息。手术支持信息被重叠显示，并呈现给手术者11131，由此可以减轻手术者11131的负担，并且手术者11131可以可靠地进行手术。

将摄像头11102和CCU 11201连接在一起的传输线缆11400是支持电气信号的通信的电气信号线缆、支持光通信的光纤或其复合线缆。

这里，在附图所示的示例中，通过使用传输线缆11400来执行有线通信，但是可以在摄像头11102和CCU 11201之间执行无线通信。

此外，尽管这里以内窥镜手术系统为例进行说明，但是根据本公开的技术可以适用于诸如显微镜手术系统等。

<移动体的应用例>

根据本公开的技术可以适用于各种产品。例如，根据本公开的技术被实现为待安装在诸如汽车、电动汽车、混合电动汽车、摩托车、自行车、个人移动装置、飞机、无人飞行器(无人机)、船舶、机器人等任何类型的移动体上的装置。

图29是作为根据本公开的技术可以适用的移动体控制系统的示例的车辆控制系统的概略构成例的框图。

车辆控制系统12000包括经由通信网络12001连接在一起的多个电子控制单元。在图29所示的示例中，车辆控制系统12000包括驱动系统控制单元12010、主体系统控制单元12020、车外信息检测单元12030、车内信息检测单元12040和综合控制单元12050。此外，作为综合控制单元12050的功能构成，示出了微型计算机12051、音频图像输出单元12052和车载网络接口(I/F)12053。

驱动系统控制单元12010根据各种程序来控制与车辆的驱动系统有关的装置的操作。例如，驱动系统控制单元12010用作诸如用于产生如内燃机或驱动电机等车辆的驱动力的驱动力产生装置、用于向车轮传递驱动力的驱动力传递机构、用于调整车辆的转向角的转向机构、用于产生车辆的制动力的制动装置等的控制装置。

主体系统控制单元12020根据各种程序来控制安装到车体的各种装置的操作。例如，主体系统控制单元12020用作无钥匙进入系统、智能钥匙系统、电动窗装置或诸如头灯、尾灯、刹车灯、转向信号灯或雾灯等各种灯的控制装置。在这种情况下，用于代替按键的从便携式装置传递的无线电波或各种开关的信号可以输入到主体系统控制单元12020。主体系统控制单元12020接收无线电波或信号的输入并控制车辆的门锁装置、电动窗装置、灯等。

车外信息检测单元12030检测安装车辆控制系统12000的车辆的外部的信息。例如，车外信息检测单元12030与成像部12031连接。车外信息检测单元12030使成像部12031拍摄车辆外部的图像并接收所拍摄的图像。车外信息检测单元12030可以基于接收到的图像进行诸如人、汽车、障碍物、标志、道路上的文字等物体检测处理或距离检测处理。

成像部12031是接收光并输出对应于受光量的电气信号的光学传感器。成像部12031可以输出电气信号作为图像或输出电气信号作为测距信息。此外，由成像部12031接收的光可以是可见光或诸如红外线等不可见光。

车内信息检测单元12040检测车内的信息。例如，车内信息检测单元12040与用于检测驾驶员的状态的驾驶员状态检测单元12041连接。例如，驾驶员状态检测单元12041包括拍摄驾驶员的图像的相机，并且基于从驾驶员状态检测单元12041输入的检测信息，车内信息检测单元12040可以计算驾驶员的疲劳度或集中度，或者可以判断驾驶员是否在坐姿中入睡。

例如，微型计算机12051可以基于由车外信息检测单元12030或车内信息检测单元12040获得的车辆内部和外部的信息来计算驱动力产生装置、转向机构或制动装置的控制目标值，并且可以向驱动系统控制单元12010输出控制指令。例如，微型计算机12051可以进行协调控制，以实现包括车辆的碰撞避免或碰撞缓和、基于车辆之间的距离的追踪行驶、车辆速度保持行驶、车辆碰撞警告、车辆的车道偏离警告等的高级驾驶员辅助系统(ADAS)的功能。

另外，微型计算机12051可以通过基于由车外信息检测单元12030或车内信息检测单元12040获得的关于车辆周围的信息来控制驱动力产生装置、转向机构、制动装置等来进行协调控制，以实现其中车辆自主行驶而不依赖于驾驶员的操作的自动驾驶等。

另外，微型计算机12051可以基于由车外信息检测单元12030获得的车辆外部的信息将控制指令输出到主体系统控制单元12020。例如，微型计算机12051根据由车外信息检测单元12030检测到的前方车辆或对向车辆的位置来控制头灯，以进行协调控制，以实现诸如将远光灯切换为近光灯等防止眩光。

音频图像输出单元12052将声音和图像输出信号中的至少一种传递到能够在视觉上或听觉上通知车辆乘员或车辆外部的信息的输出装置。在图29的示例中，作为输出装置，音频扬声器12061、显示单元12062和仪表板12063被示出。例如，显示单元12062可以包括车载显示器和平视显示器中的至少一种。

图30是成像部12031的安装位置的示例的图。

在图30中，车辆12100包括成像部12101，12102，12103，12104和12105作为成像部12031。

成像部12101，12102，12103，12104和12105中的每一个设置在例如车辆12100的车头、侧视镜、后保险杠、后门、车内的挡风玻璃的上侧等位置。设置在车头中的成像部12101和设置在车内的挡风玻璃上侧的成像部12105主要获得车辆12100的前方的图像。设置在侧视镜中的成像部12102和12103主要获得车辆12100的侧方的图像。设置在后保险杠或后门中的成像部12104主要获得车辆12100的后方的图像。成像部12101和12105所获取的前方图像主要用于检测前方车辆、行人、障碍物、交通信号、交通标志、车道等。

此外，图30示出了成像部12101～12104的成像范围的示例。成像范围12111表示设置在车头中的成像部12101的成像范围，成像范围12112和12113分别表示设置在侧视镜中的成像部12102和12103的成像范围，成像范围12114表示设置在后保险杠或后门中的成像部12104的成像范围。例如，由成像部12101～12104拍摄的图像数据被彼此叠加，从而获得车辆12100的从上方看到的鸟瞰图像。

成像部12101～12104中的至少一个可以具有获取距离信息的功能。例如，成像部12101～12104中的至少一个可以是包括多个成像元件的立体相机，或者可以是具有相位差检测用的像素的成像元件。

例如，基于从成像部12101～12104获得的距离信息，微型计算机12051求出距各成像范围12111～12114内的各立体物的距离和距离的时间变化(相对于车辆12100的相对速度)，从而能够提取位于车辆12100的行驶路线上的特别是最靠近的立体物且在与车辆12100的大致相同的方向上以预定速度(例如，0km/h以上)行驶的立体物作为前方车辆。另外，微型计算机12051可以设定在前方车辆的前方预先确保的车辆之间的距离，并且可以进行自动制动控制(包括追踪行驶停止控制)、自动加速控制(包括追踪行驶开始控制)等。以这种方式，可以进行其中车辆自主行驶而不依赖于驾驶员的操作的自动驾驶等的协调控制。

例如，基于从成像部12101～12104获得的距离信息，通过将立体物分类为两轮车辆、普通车辆、大型车辆、行人和电线杆等其他立体物，微型计算机12051可以提取关于立体物的立体物数据，并利用提取的数据自动避开障碍物。例如，微型计算机12051将车辆12100周围的障碍物识别为可以由车辆12100的驾驶员视觉识别的障碍物和难以视觉识别的障碍物。然后，微型计算机12051判断指示与各障碍物碰撞的危险度的碰撞风险，并且当碰撞风险等于或高于设定值并且存在碰撞的可能性时，微型计算机12051可以通过经由音频扬声器12061和显示单元12062向驾驶者输出警告或者经由驱动系统控制单元12010进行强制减速或回避转向，从而能够进行碰撞避免的驾驶辅助。

成像部12101～12104中的至少一个可以是用于检测红外线的红外相机。例如，微型计算机12051可以通过判断行人是否存在于成像部12101～12104的拍摄图像中来识别行人。例如，通过提取作为红外相机的成像部12101～12104的拍摄图像中的特征点的过程以及对指示物体的轮廓的一系列特征点进行图案匹配处理以判断该物体是否为行人的过程来进行行人的识别。当微型计算机12051判断行人存在于成像部12101～12104的拍摄图像中并且识别出行人时，音频图像输出单元12052控制显示单元12062，使其显示叠加的四边形轮廓线以强调所识别的行人。此外，音频图像输出单元12052可以控制显示单元12062，使其在期望的位置显示指示行人的图标等。

在本说明书中，系统表示包括多个装置的整个装置。

注意，在本说明书中记载的有益效果仅是示例性的，本技术的有益效果不限于此，并且可以包括其他效果。

注意，本技术的实施方案不限于上述实施方案，并且在不脱离本技术的范围的情况下可以进行各种修改。

注意，本技术还可以如下构成。

(1)

一种成像装置，包括：

将被摄体光集光的透镜；

对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；

电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；

致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和

检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

(2)

根据(1)所述的成像装置，其中

所述致动器驱动所述透镜以移动焦点或者驱动所述透镜以降低相机抖动的影响。

(3)

根据(2)所述的成像装置，其中

所述Z轴方向是用于移动焦点的方向，并且所述X轴方向和所述Y轴方向是用于降低相机抖动的影响的方向。

(4)

根据(1)～(3)中任一项所述的成像装置，其中

所述检测单元检测由所述磁场产生的感应电动势。

(5)

根据(4)所述的成像装置，其中

所述检测单元从所述感应电动势检测所述透镜的位置。

(6)

根据(5)所述的成像装置，其中

所述检测单元包括

第一线圈，其检测所述透镜在所述X轴方向上的位置和在所述Y轴方向上的位置，和

第二线圈，其检测所述透镜在所述Z轴方向上的位置。

(7)

根据(6)所述的成像装置，其中

多个第一线圈分别设置在不同的两个面或四个面上，所述的各面垂直于所述成像元件的成像面。

(8)

根据(6)所述的成像装置，其中

两个或四个第一线圈设置在水平于所述成像元件的成像面的面上。

(9)

根据(6)所述的成像装置，其中

第一线圈设置在所述电路基板上。

(10)

根据(6)所述的成像装置，其中

第一线圈设置在所述电路基板的下层中，和

第二线圈设置在所述电路基板上。

(11)

根据(6)所述的成像装置，还包括

固定所述成像元件和所述电路基板的间隔件，其中

第一线圈设置在所述间隔件上，和

第二线圈设置在所述电路基板上。

(12)

根据(6)所述的成像装置，还包括

固定所述成像元件和所述电路基板的间隔件，其中

第一线圈和第二线圈设置在所述间隔件上。

(13)

根据(1)～(12)中任一项所述的成像装置，其中

所述检测单元包括检测所述透镜在所述X轴方向上的位置、在所述Y轴方向上的位置和在所述Z轴方向上的位置的线圈。

(14)

根据(1)～(13)中任一项所述的成像装置，其中

所述检测单元检测所述透镜的倾斜。

(15)

一种包括成像装置的电子设备，所述成像装置包括：

将被摄体光集光的透镜；

对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；

电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；

致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和

检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

附图标记列表

1 成像装置

11 成像元件

12 金属线

13 电路板

14 间隔件

15 粘合剂

16 透镜

17 红外截止滤光片

18 致动器

19 连接件

20 自动对焦驱动器

31 检测电路

32 线圈

33 线圈

51 放大单元

52 A/D转换单元

53 AF控制单元

54 控制单元

133 线圈

Claims (15)

1.一种成像装置，包括：

将被摄体光集光的透镜；

对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；

电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；

致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和

检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

2.根据权利要求1所述的成像装置，其中

所述致动器驱动所述透镜以移动焦点或者驱动所述透镜以降低相机抖动的影响。

3.根据权利要求2所述的成像装置，其中

所述Z轴方向是用于移动焦点的方向，并且所述X轴方向和所述Y轴方向是用于降低相机抖动的影响的方向。

4.根据权利要求1所述的成像装置，其中

所述检测单元检测由所述磁场产生的感应电动势。

5.根据权利要求4所述的成像装置，其中

所述检测单元从所述感应电动势检测所述透镜的位置。

6.根据权利要求5所述的成像装置，其中

所述检测单元包括

第一线圈，其检测所述透镜在所述X轴方向上的位置和在所述Y轴方向上的位置，和

第二线圈，其检测所述透镜在所述Z轴方向上的位置。

7.根据权利要求6所述的成像装置，其中

多个第一线圈分别设置在不同的两个面或四个面上，所述的各面垂直于所述成像元件的成像面。

8.根据权利要求6所述的成像装置，其中

两个或四个第一线圈设置在水平于所述成像元件的成像面的面上。

9.根据权利要求6所述的成像装置，其中

第一线圈设置在所述电路基板上。

10.根据权利要求6所述的成像装置，其中

第一线圈设置在所述电路基板的下层中，和

第二线圈设置在所述电路基板上。

11.根据权利要求6所述的成像装置，还包括

固定所述成像元件和所述电路基板的间隔件，其中

第一线圈设置在所述间隔件上，和

第二线圈设置在所述电路基板上。

12.根据权利要求6所述的成像装置，还包括

固定所述成像元件和所述电路基板的间隔件，其中

第一线圈和第二线圈设置在所述间隔件上。

13.根据权利要求1所述的成像装置，其中

所述检测单元包括检测所述透镜在所述X轴方向上的位置、在所述Y轴方向上的位置和在所述Z轴方向上的位置的线圈。

14.根据权利要求1所述的成像装置，其中

所述检测单元检测所述透镜的倾斜。

15.一种包括成像装置的电子设备，所述成像装置包括：

将被摄体光集光的透镜；

对来自所述透镜的被摄体光进行光电转换的成像元件；

电路基板，其包括向外部输出来自所述成像元件的信号的电路；

致动器，其在X轴方向、Y轴方向或Z轴方向中的至少一个方向上利用脉冲宽度调制(PWM)波形来驱动所述透镜；和

检测单元，其检测由所述致动器中包括的线圈所产生的磁场。

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