CN111858208B - 一种处理器芯片的待机功能测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种处理器芯片的待机功能测试方法，包括：获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态；获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。本方法不仅能够减少对人力资源的消耗，而且能够使得测试效率大大提高，从而能够大大增加测试次数，提高测试覆盖度，进而能够及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常问题，保障目标处理器芯片的产品质量。本申请还公开了一种处理器芯片的待机功能测试装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

Description

一种处理器芯片的待机功能测试方法、装置、设备及介质

技术领域

本发明涉及处理器芯片领域，特别涉及一种处理器芯片的待机功能测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着信息技术的快速发展，处理器芯片的应用越来越广泛。在实际应用中，处理器芯片在实现强大的处理功能的同时，其待机功能的稳定性和可靠性也是衡量处理器芯片的性能的关键因素之一，因此，需要对处理器芯片进行待机功能测试。

现有技术中，一般是通过技术人员手动操作控制目标处理器芯片依次进入待机状态和开机状态，再获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，以利用该运行信息实现对目标处理器芯片的待机功能测试。但是，手动操作不仅需要消耗大量的人力资源，而且手动操作的效率低，能够实现的测试次数少，造成测试覆盖度不够，不能及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常情况，从而无法保障目标处理器芯片的产品质量。

因此，如何在对目标处理器芯片进行待机功能测试时，能够减少对人力资源的消耗，及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常情况，相对保障目标处理器芯片的产品质量，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种处理器芯片的待机功能测试方法，能够在对目标处理器芯片进行待机功能测试时，能够减少对人力资源的消耗，及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常情况，相对保障目标处理器芯片的产品质量；本发明的另一目的是提供一种处理器芯片的待机功能测试装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

为解决上述技术问题，本发明提供一种处理器芯片的待机功能测试方法，包括：

获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

在所述目标处理器根据所述待机程序进入所述待机状态后，通过可编程器件向所述目标处理器芯片发送开机指令，以使所述目标处理器芯片进入开机状态；

获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常。

优选地，所述在所述目标处理器根据所述待机程序进入所述待机状态后，通过可编程器件向所述目标处理器芯片发送开机指令，以使所述目标处理器芯片进入开机状态的过程，具体包括：

在所述目标处理器根据所述待机程序按照预设时间周期进入所述待机状态后，通过可编程器件在预设时长后向所述目标处理器芯片发送所述开机指令，以使所述目标处理器芯片进入所述开机状态。

优选地，所述获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序的过程，具体包括：

获取用于控制所述目标处理器芯片进入所述待机状态的所述待机程序，并将所述待机程序放置在/opt目录下。

优选地，在所述获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常之后，进一步包括：

若判断出所述目标处理器芯片的待机功能异常，则记录对应的异常信息。

优选地，在所述若判断出所述目标处理器芯片的待机功能异常之后，进一步包括：

发出对应的提示信息。

优选地，进一步包括：

显示所述目标处理器芯片的开机状态或待机状态。

优选地，进一步包括：

记录对所述目标处理器芯片进行待机功能测试对应的测试日志。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种处理器芯片的待机功能测试装置，包括：

获取模块，用于获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

设置模块，用于在所述目标处理器根据所述待机程序进入所述待机状态后，通过可编程器件向所述目标处理器芯片发送开机指令，以使所述目标处理器芯片进入开机状态；

测试模块，用于获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种处理器芯片的待机功能测试设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述任一种处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

本发明提供的一种处理器芯片的待机功能测试方法，通过获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；并在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态；然后获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。也就是说，本方法是利用待机程序和可编程器件向目标处理器芯片发送的开机指令来控制目标处理器芯片实现开机状态和待机状态切换，代替现有技术中通过技术人员手动操作实现开机状态和待机状态的切换的过程，因此本方法不仅能够减少对人力资源的消耗，而且通过程序运行的方式能够使得测试效率大大提高，从而能够大大增加测试次数，提高测试覆盖度，进而能够及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常问题，保障目标处理器芯片的产品质量。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种处理器芯片的待机功能测试装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试装置的结构图；

图3为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试设备的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例的核心是提供一种处理器芯片的待机功能测试方法，能够在对目标处理器芯片进行待机功能测试时，能够减少对人力资源的消耗，及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常情况，相对保障目标处理器芯片的产品质量；本发明的另一核心是提供一种处理器芯片的待机功能测试装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

为了使本领域技术人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。

图1为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试方法的流程图。如图1所示，一种处理器芯片的待机功能测试方法包括：

S10：获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

在本实施例中，首先需要获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序。具体的，要根据目标处理器芯片的操作系统类型设置对应类型的待机程序。如在本实施例中，可以是在基于飞腾处理器平台的Linux系统下，使用shell程序编写S3自动待机程序；本实施例对目标处理器芯片的具体类型以及待机程序的具体类型不做限定。

S20：在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态；

S30：获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。

具体的，在本实施例中，预先在可编程器件中设置触发程序，该触发程序用于向目标处理器芯片发送开机指令，以使得目标处理器芯片进入开机状态。需要说明的是，触发程序预先设置于可编程器件中，本实施例对可编程器件的具体类型不做限定，例如可以是CPLD(Complex Programmable Logic Devic，复杂可编程逻辑器件)或FPGA(FieldProgrammable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)等；对应的，本实施例对编写触发程序的具体语言形式不做限定，将编写好的触发程序通过BIOS setup界面写入可编程器件的固件中。

在运行待机程序时，待机程序控制目标处理器芯片进入待机状态，在目标处理器进入待机状态之后，再通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态。在目标处理器芯片的开机过程中，获取对应的运行信息，然后根据该运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。需要说明的是，根据运行信息对目标处理芯片的待机功能是否正常的过程是本领域技术人员的公知常识，此处不做赘述。

本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试方法，通过获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；并在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态；然后获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。也就是说，本方法是利用待机程序和可编程器件向目标处理器芯片发送的开机指令来控制目标处理器芯片实现开机状态和待机状态切换，代替现有技术中通过技术人员手动操作实现开机状态和待机状态的切换的过程，因此本方法不仅能够减少对人力资源的消耗，而且通过程序运行的方式能够使得测试效率大大提高，从而能够大大增加测试次数，提高测试覆盖度，进而能够及时发现目标处理器芯片的待机功能的异常问题，保障目标处理器芯片的产品质量。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例中，在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态的过程，具体包括：

在目标处理器根据待机程序按照预设时间周期进入待机状态后，通过可编程器件在预设时长后向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态。

具体的，在本实施例中，待机程序具体为控制目标处理器芯片按照预设时间周期进入待机状态的程序，可编程器件中的触发程序具体为在检测到目标处理器芯片进入待机状态之后的预设时长后向目标处理器芯片发送开机指令的程序。因此，在通过待机程序控制目标处理器芯片按照预设时间周期进入待机状态后，可编程器件在目标处理器芯片进入待机状态之后的预设时长后，向目标处理器芯片发送开机指令，控制目标处理器芯片进入开机状态。

也就是说，在本实施例中，通过控制目标处理器芯片按照预设时间周期进入待机状态，以及控制目标处理器芯片在进入待机状态之后的预设时长后再进入开机状态，能够实现开机状态-待机状态的自动循环切换，进而能够进一步提高测试效率。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例中，获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序的过程，具体包括：

获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序，并将待机程序放置在/opt目录下。

具体的，在本实施例中，具体是将获取到的用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序放置在/opt目录下并设置待机程序的可执行权限。需要说明的是，/opt目录下一般存放可选的程序，在删除存放在/opt目录下的文件时，不会影响系统其它任何设置。在将待机程序安装到/opt目录下时，与待机程序相关的所有数据、库文件等都是放在同个目录下面。另外，在目标处理器芯片的存储容量不够时，也可以将/opt目录单独挂载到其它磁盘上使用。这样一来，可以在对目标处理器芯片进行待机功能测试完成之后，可以便捷地删除待机程序，并且能够在存储容量不够时便捷地进行处理，以保障测试的稳定性和可靠性。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例在获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常之后，进一步包括：

若判断出目标处理器芯片的待机功能异常，则记录对应的异常信息。

具体的，在实际操作中，在对目标处理器芯片进行待机功能检测时，可能判断出目标处理器芯片待机功能正常或异常。在本实施例中，是在判断出目标处理器芯片待机功能异常的情况下，进一步获取与待机功能异常对应的异常信息，并将该异常信息进行记录。

需要说明的是，在实际操作中，可以是以文字或者以表格的形式按照时间顺序记录各异常信息，以便于后续查看记录的异常信息，以便于对目标处理器芯片进行异常维护等操作。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例在若判断出目标处理器芯片的待机功能异常之后，进一步包括：

发出对应的提示信息。

具体的，在本实施例中，是在判断出目标处理器芯片的待机功能异常的情况下，进一步触发提示装置发出对应的提示信息。需要说明的是，提示装置可以具体是蜂鸣器和/或指示灯和/或显示器，通过触发蜂鸣器/指示灯/显示器等提示装置发出对应的提示信息，如蜂鸣音/闪烁灯/显示文字或图像等，以直观地提示用户当前对目标处理器芯片的待机功能的检测情况，从而能够进一步提升用户的使用体验。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例进一步包括：

显示目标处理器芯片的开机状态或待机状态。

具体的，在本实施例中，是实时获取目标处理器芯片的当前状态，及开机状态或待机状态，然后利用预设的显示装置显示目标处理器芯片的当前状态。本实施例中，显示目标处理器芯片的当前状态或待机状态的具体形式不做限定，例如可以是直接利用显示器显示“开机状态”或“待机状态”的文字信息，或者可以用不同的指示灯状态显示目标处理器芯片对应的当前状态。

可见，本实施例通过进一步显示目标处理器芯片的开机状态或待机状态，因此能够便于技术人员更直观地查看目标处理器芯片的当前状态，从而进一步提升用户的使用体验。

在上述实施例的基础上，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化，具体的，本实施例进一步包括：

记录对目标处理器芯片进行待机功能测试对应的测试日志。

具体的，在本实施例中，是完成对目标处理器芯片的待机功能测试后，获取完成待机功能测试的测试时间，以及对应的测试结果，然后将测试时间、测试结果等信息为作为日志信息记录至测试日志中，即记录对目标处理器芯片进行待机功能测试的测试日志。需要说明的是，在实际操作中，记录测试日志的具体记录方式也可以是以文本或以excel表格的形式进行记录，本实施例对此不做限定，根据实际需求进行选择。

可见，本实施例通过进一步记录对目标处理器芯片进行待机功能测试对应的测试日志，能够便于技术人员查看对目标处理器芯片的待机功能测试的情况，从而进一步提升用户的使用体验。

上文对于本发明提供的一种处理器芯片的待机功能测试方法的实施例进行了详细的描述，本发明还提供了一种与该方法对应的处理器芯片的待机功能测试装置、设备及计算机可读存储介质，由于装置、设备及计算机可读存储介质部分的实施例与方法部分的实施例相互照应，因此装置、设备及计算机可读存储介质部分的实施例请参见方法部分的实施例的描述，这里暂不赘述。

图2为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试装置的结构图，如图2所示，一种处理器芯片的待机功能测试装置包括：

获取模块21，用于获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

设置模块22，用于在目标处理器根据待机程序进入待机状态后，通过可编程器件向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态；

测试模块23，用于获取目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据运行信息判断目标处理器芯片的待机功能是否正常。

本发明实施例提供的处理器芯片的待机功能测试装置，具有上述处理器芯片的待机功能测试方法的有益效果。

作为优选的实施方式，设置模块具体包括：

设置子模块，用于在目标处理器根据待机程序按照预设时间周期进入待机状态后，通过可编程器件在预设时长后向目标处理器芯片发送开机指令，以使目标处理器芯片进入开机状态。

作为优选的实施方式，一种处理器芯片的待机功能测试装置进一步包括：

第一记录模块，用于若判断出目标处理器芯片的待机功能异常，则记录对应的异常信息。

作为优选的实施方式，一种处理器芯片的待机功能测试装置进一步包括：

在若判断出目标处理器芯片的待机功能异常之后，发出对应的提示信息。

作为优选的实施方式，一种处理器芯片的待机功能测试装置进一步包括：

显示目标处理器芯片的开机状态或待机状态。

作为优选的实施方式，一种处理器芯片的待机功能测试装置进一步包括：

记录对目标处理器芯片进行待机功能测试对应的测试日志。

图3为本发明实施例提供的一种处理器芯片的待机功能测试设备的结构图，如图3所示，一种处理器芯片的待机功能测试设备包括：

存储器31，用于存储计算机程序；

处理器32，用于执行计算机程序时实现如上述处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

本发明实施例提供的处理器芯片的待机功能测试设备，具有上述处理器芯片的待机功能测试方法的有益效果。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

本发明实施例提供的计算机可读存储介质，具有上述处理器芯片的待机功能测试方法的有益效果。

以上对本发明所提供的处理器芯片的待机功能测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体实施例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

Claims (9)

1.一种处理器芯片的待机功能测试方法，其特征在于，包括：

获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

在所述目标处理器根据所述待机程序按照预设时间周期进入所述待机状态后，通过可编程器件在预设时长后向所述目标处理器芯片发送开机指令，以使所述目标处理器芯片进入开机状态；

获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序的过程，具体包括：

获取用于控制所述目标处理器芯片进入所述待机状态的所述待机程序，并将所述待机程序放置在/opt目录下。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常之后，进一步包括：

若判断出所述目标处理器芯片的待机功能异常，则记录对应的异常信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述若判断出所述目标处理器芯片的待机功能异常之后，进一步包括：

发出对应的提示信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

显示所述目标处理器芯片的开机状态或待机状态。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，进一步包括：

记录对所述目标处理器芯片进行待机功能测试对应的测试日志。

7.一种处理器芯片的待机功能测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取用于控制目标处理器芯片进入待机状态的待机程序；

设置模块，用于在所述目标处理器根据所述待机程序按照预设时间周期进入所述待机状态后，通过可编程器件在预设时长后向所述目标处理器芯片发送开机指令，以使所述目标处理器芯片进入开机状态；

测试模块，用于获取所述目标处理器芯片在开机过程中的运行信息，并根据所述运行信息判断所述目标处理器芯片的待机功能是否正常。

8.一种处理器芯片的待机功能测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的处理器芯片的待机功能测试方法的步骤。

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