CN111811455A - 一种胎圈内周长测量仪的校检方法 - Google Patents

一种胎圈内周长测量仪的校检方法 Download PDF

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CN111811455A CN202010604118.0A CN202010604118A CN111811455A CN 111811455 A CN111811455 A CN 111811455A CN 202010604118 A CN202010604118 A CN 202010604118A CN 111811455 A CN111811455 A CN 111811455A
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张毅
施亮
凡冲
夏登原
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Anhui Giti Radial Tire Co Ltd
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Anhui Giti Radial Tire Co Ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042—Calibration or calibration artifacts

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Abstract

本发明公开了一种胎圈内周长测量仪的校检方法，包括以下步骤，标准环制作：根据塔盘的台阶数量及测量范围定制对应的标准环；基圆周长的设定值校准：将塔盘调整为基圆状态，使用π尺对塔盘各台阶的基圆周长进行测量并记录，对测量值与设定值的差值进行计算，对差值超过0.025mm的台阶进行修改；测量仪的校检：在基圆状态下，将标准环套在台阶上，启动测量仪，记录显示值；对各显示值与对应标准环的内周长的差值进行计算，对差值超过0.5mm的台阶进行修改。本发明使用标准环和π尺按一定步骤对轮胎胎圈内周长测量仪的显示值的精确性进行校检，具有校检精度高、易操作和成本较低的优势。

Description

一种胎圈内周长测量仪的校检方法
技术领域
本发明属于轮胎测量技术领域，具体涉及一种胎圈内周长测量仪的校检方法。
背景技术
轮胎胎圈的内周长精度对轮胎的好坏很重要，直接关系到轮胎能否安装到汽车轮辋上且能否同时保证气密性，目前胎圈内周长是通过两半圆式胎圈内周长测量仪进行测量，而测量仪上的塔盘各台阶所对应预先的设定值即在测量仪屏幕上的显示值，与测量仪塔盘各台阶的测量值之间的一致性决定了胎圈内周长测量的精确性，因此经常要对测量仪进行校验。
目前多使用钢环或半成品胎圈等作为标准件校检测量仪，存在校验不全面、标准件精度不准确、标准件与测量仪塔盘吻合度差及标准件过于笨重等问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种胎圈内周长测量仪的校检方法，以克服上述技术问题。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
一种胎圈内周长测量仪的校检方法，包括以下步骤，
标准环制作：根据测量仪上塔盘的台阶数量及各台阶的测量范围定制与之对应数量和内周长的标准环；
基圆周长的设定值校准：将测量仪的塔盘调整为基圆状态，使用π尺对塔盘各台阶的基圆周长进行测量并记录，对各台阶的基圆周长的测量值与测量仪内各台阶对应的基圆周长的设定值的差值进行计算，对差值超过0.025mm的台阶进行标记，并对设定值进行修改使各台阶的差值控制在0.025mm的范围内；
测量仪的校检：
完成基圆周长的校准后，在基圆状态下，将一个标准环套在与塔盘中对应的台阶上，在测量仪上选择此规格的台阶，启动测量仪完成一次测量，记录显示值；
按上述标准环的测量步骤，依次完成其余标准环在对应台阶上的测量，并依次记录对应的显示值；
对各显示值与对应标准环的内周长的差值进行计算，标记差值超过0.5mm的台阶，对在测量仪上对与所述显示值相关的修正系数进行修改，使差值控制在0.5mm范围内。
进一步地，所述π尺为美国PI TAPE圆周尺。
进一步地，所述标准环采用钢带材质。
有益效果：
本发明使用标准环和π尺按一定步骤对轮胎胎圈内周长测量仪的显示值的精确性进行校检，具有校检精度高、易操作和成本较低的优势；
其中校检的关键在于：
(1)使用的π尺具有柔韧的特性，与胎圈测量仪的塔盘台阶具有较好的贴合效果，可精确的测得测量仪塔盘台阶的基圆值，据此对基圆值在显示屏上的设定值进行校准；
(2)使用的钢带具有柔韧和不易拉伸变形的特性，与胎圈测量仪的塔盘台阶具有较好的贴合效果，可作为胎圈测量仪的校检标准件，其内周长的标准值可判断测量仪显示值是否准确并作为校准的依据。
具体实施方式
在本发明的描述中，除非另有说明，术语
“上”“下”“左”“右”“前”“后”等指示的方位或位置关系仅是为了描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或结构必须具有特定的方位，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本发明所述的一种胎圈内周长测量仪的校检方法，包括以下步骤，(1)标准环制作：根据测量仪上塔盘的台阶数量及各台阶的测量范围定制与之对应数量和内周长的标准环，标准环采用钢带材质；(2)基圆周长的设定值校准：将测量仪的塔盘调整为基圆状态，使用美国PI TAPE圆周尺对塔盘各台阶的基圆周长进行测量并记录，对各台阶的基圆周长的测量值与测量仪内各台阶对应的基圆周长的设定值的差值进行计算，对差值超过0.025mm的台阶进行标记，并对设定值进行修改使各台阶的差值控制在0.025mm的范围内；(3)测量仪的校检：完成基圆周长的校准后，在基圆状态下，将一个标准环套在与塔盘中对应的台阶上，在测量仪上选择此规格的台阶，启动测量仪完成一次测量，记录显示值；按上述标准环的测量步骤，依次完成其余标准环在对应台阶上的测量，并依次记录对应的显示值；对各显示值与对应标准环的内周长的差值进行计算，标记差值超过0.5mm的台阶，对在测量仪上对显示值中的修正系数进行修改，使差值控制在0.5mm范围内。
具体过程如下：
(1)确认在用胎圈内周长测量仪的塔盘台阶数量和各台阶的测量范围；
(2)定制对应数量和内周长的标准环，准备一把π尺；
Figure BDA0002560287650000031
(3)将测量仪塔盘切换至基圆状态，及即上下塔盘处于闭合状态，使用π尺将测量仪塔盘各台阶的基圆周长测量并记录步骤(2)表格中；
Figure BDA0002560287650000032
(4)进入测量仪PLC后台程序，查看所有塔盘台阶的基圆周长设定值，更新到下述表格中，并计算差值。
Figure BDA0002560287650000033
Figure BDA0002560287650000041
对于差值偏差超过0.025mm的台阶，修改PLC后台程序中的基圆周长设定值，使其与测量值尽量保持一致(偏差控制在0.025mm内)；
(5)在测量仪塔盘处于基圆状态时，将规格16＂标准环套在规格16＂的塔盘台阶上，在测量仪上选择测量规格为16＂，启动测量仪完成一次测量，记录测量仪的显示值；按照上述方法，依次完成剩下标准环在对应塔盘台阶上的测量，记录下显示值，并计算校检差值，更新至下表；
Figure BDA0002560287650000042
Figure BDA0002560287650000051
其中，测量仪的显示值D＝基圆周长C+上下塔盘的开口大小转换值E+修正值K，因此，对于上述表格中测量仪显示值与对应标准环的内周长的差值超过0.5mm的台阶，调整其修正值K，保证测量仪显示值与标准环的尺寸一致。
提供具体实施对本发明做进一步详细说明。
(1)确认胎圈内周长测量仪的塔盘台阶数量和各台阶的测量尺寸范围，如下胎圈内周长测量仪共8个塔盘台阶，分别用于测量内周长范围为16＂、17＂、18＂、19＂、20＂、21＂、22＂、23＂的胎圈；
(2)定制8个对应内周长的标准环，即16＂、17＂、18＂、19＂、20＂、21＂、22＂、23＂各一个标准环，再准备一把π尺；
Figure BDA0002560287650000052
(3)将测量仪塔盘切换至基圆状态，使用π尺将测量仪塔盘各台阶的基圆周长测量并记录步骤(2)表格中；
Figure BDA0002560287650000053
(4)进入测量仪PLC后台程序，查看所有塔盘台阶的基圆周长设定值，更新到步骤(3)表格中，并计算差值；
Figure BDA0002560287650000054
Figure BDA0002560287650000061
其中，16＂塔盘台阶基圆周长测量值与设定值差值为0.03mm，差值超过0.025mm，修改PLC后台程序中基圆周长设定值为1236.10mm，保持与台阶基圆周长测量值一致；
Figure BDA0002560287650000062
(5)在测量仪塔盘处于基圆状态时，将规格16＂标准环套在规格16＂的塔盘台阶上，在测量仪上选择测量规格为16＂，启动测量仪完成一次测量，记录测量仪的显示值；按照上述方法，依次完成剩下标准环在对应塔盘台阶上的测量，记录下显示值，并计算校检差值，更新至下表；
Figure BDA0002560287650000063
Figure BDA0002560287650000071
其中，测量仪的显示值D＝基圆周长C+上下塔盘的开口大小转换值E+修正值K；16＂塔盘台阶测量仪校检显示值与对应钢带内周长差值为0.54mm,差值≥0.5mm，进入PLC后台程序，调整修正值K，修正测量仪显示值为1276.10mm，与16＂校检钢带内周长一致。
Figure BDA0002560287650000072
Figure BDA0002560287650000081
由此，即完成测量仪的校检，即可开始使用测量仪对胎圈的内周长进行测量。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加简洁明了，本发明用以上具体实施例进行说明，仅仅用于描述本发明，不能理解为对本发明的范围的限制。应当指出的是，凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (3)

1.一种胎圈内周长测量仪的校检方法，其特征在于，包括以下步骤，
标准环制作：根据测量仪上塔盘的台阶数量及各台阶的测量范围定制与之对应数量和内周长的标准环；
基圆周长的设定值校准：将测量仪的塔盘调整为基圆状态，使用π尺对塔盘各台阶的基圆周长进行测量并记录，对各台阶的基圆周长的测量值与测量仪内各台阶对应的基圆周长的设定值的差值进行计算，对差值超过0.025mm的台阶进行标记，并对设定值进行修改使各台阶的差值控制在0.025mm的范围内；
测量仪的校检：
完成基圆周长的校准后，在基圆状态下，将一个标准环套在与塔盘中对应的台阶上，在测量仪上选择此规格的台阶，启动测量仪完成一次测量，记录显示值；
按上述标准环的测量步骤，依次完成其余标准环在对应台阶上的测量，并依次记录对应的显示值；
对各显示值与对应标准环的内周长的差值进行计算，标记差值超过0.5mm的台阶，对在测量仪上对与所述显示值相关的修正系数进行修改，使差值控制在0.5mm范围内。
2.根据权利要求1所述的胎圈内周长测量仪的校检方法，其特征在于，所述π尺为美国PI TAPE圆周尺。
3.根据权利要求1所述的胎圈内周长测量仪的校检方法，其特征在于，所述标准环采用钢带材质。
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