CN111766255A - 一种柔性电路板瑕疵检测方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了柔性电路板瑕疵检测方法，包括以下步骤：将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；获取待测柔性电路板整体的取样图片；将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵。本发明还提出一种柔性电路板瑕疵检测装置。本发明主要用于对柔性电路板的表面结构是否存在瑕疵进行检测，通过设置的图像采集装置对待测柔性电路板进行模板学习，提取待测柔性电路板的特征，作为模板图样并存储，然后对待测柔性电路板进行取样，将待测柔性电路板与模板图样进行对比，从而判断是否存在瑕疵；结构可调，方便使用。

Description

一种柔性电路板瑕疵检测方法及装置
技术领域
本发明涉及柔性电路板瑕疵检测技术领域，尤其涉及柔性电路板瑕疵检测方法及装置。
背景技术
柔性电路板广泛应用在各种工业领域，在生产过程中，若残次品不能及时被检测出来并剔除掉，将会严重影响后续的芯片安装环节，尤其是在电路板的制作过程中，冲压焊点或电路板存在瑕疵，将导致产品总体质量水平的下降，因此它的质量监控有助于优化整个生产链，从而提高成品率和产品质量。
表面缺陷是柔性电路板缺陷的主要缺陷组成，柔性电路板生产过程中出现的问题大多以表面缺陷形式呈现。针对瑕疵的类型，有的瑕疵件是可以返修重新加工成为合格品，例如覆盖污渍等，可以通过清洗污渍成为合格品，另一些瑕疵件则直接定义为废品，例如划痕、冲压伤、引脚焊盘缺失等。
现有的柔性电路板在工业生产线上数量巨大，而且有些缺陷不明显、尺寸小，如果依靠传统的人工视觉检测会因冗长乏味的工作引起人眼疲劳，受主观影响较大，容易造成误判。所以提出缺陷的自动化检测与分类，对克服人工视觉检测的缺点、提高检测效率具有重要意义。
发明内容
针对上述现有技术存在不足，本发明提供柔性电路板瑕疵检测方法及装置，机器视觉以其检测精度和速度高并且有效的避免人工检测带来的主观性和个体差异的优势，在工业检测领域中占有越来越重要的地位。
本发明采用的技术方案为：
一种柔性电路板瑕疵检测方法，包括以下步骤：
将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；
对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；
获取待测柔性电路板整体的取样图片；
将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵。
作为本发明的进一步技术方案为：所述将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；具体包括：
传动机构将放置在入口端的待测柔性电路板传输至检测台上；
检测台对待测柔性电路板进行调整；
选择定位点对待测柔性电路板进行定位。
作为本发明的进一步技术方案为：所述对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；具体包括：
根据待测柔性电路板的结构设定模板提取框；
根据模板提取框对待测柔性电路板上进行模板提取得到训练模板。
作为本发明的进一步技术方案为：所述获取待测柔性电路板整体的取样图片；具体包括：
设置在检测台上的拍照装置对待测柔性电路板整体进行拍照，根据训练模板对拍照图片进行取样获得取样图片。
作为本发明的进一步技术方案为：所述将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵，具体包括：将取样图片根据模板图样的大小进行分割；将分割的图样与模板图样进行比对，若与模板图样存在差异，则判断该分割图样上有瑕疵。
进一步的，所述模板图样通过设置检测精度对瑕疵的程度进行分类。
本发明还提出一种柔性电路板瑕疵检测装置，包括：
箱体，所述箱体上设置入料口和出料口，所述箱内分隔为两层，其中上层设置检测台、传动机构和图样获取装置，下层设置控制柜、检测主机和空气过滤器；所述检测台上设置定位装置；
所述控制柜与传动机构、检测主机和空气过滤器电连接，所述检测主机与检测台和图像获取装置电连接；
所述图样获取装置包括移动支撑架、同轴光源、摄像机和玻璃盒，所述同轴光源设置在玻璃盒下方，所述玻璃盒的上方设置摄像机；
所述移动支撑架包括升降架和与升降架垂直设置的移动支架，所述玻璃盒与移动支架的前端固定连接；
所述传动机构包括进料架、主动轮、从动轮、出料架，所述进料架和出料架上设置陶瓷辊轴，所述主动轮与驱动电机通过减速箱连接，所述主动轮和从动轮通过传送带连接。
作为本发明的进一步技术方案为：所述定位装置包括压轮、防震轮、限位轴承和间距调节丝杆，所述压轮设置在主动轮的上方，所述压轮与滑动式间距调节丝杆连接，所述限位轴承和间距调节丝杆设置在检测台上。
作为本发明的进一步技术方案为：所述箱体的底部设置滑动轮。
本发明的有益效果：
本发明主要用于对柔性电路板的表面结构是否存在瑕疵进行检测，待测柔性电路板通过传动机构传输至检测台，检测台根据待测柔性电路板的大小进行调整定位，通过设置的图像采集装置对待测柔性电路板进行模板学习，提取待测柔性电路板的特征，作为模板图样并存储，然后对待测柔性电路板进行取样，将待测柔性电路板与模板图样进行对比，从而判断是否存在瑕疵；通过设置传动机构实现对待测柔性电路板的传输，结构可调，方便使用。
附图说明
图1为本发明提出的柔性电路板瑕疵检测方法流程图；
图2为本发明提出的模板图样示例图；
图3为本发明提出的模板变形示例图；
图4为本发明提出的模板污点示例图；
图5为本发明提出的模板设置示意图；
图6为本发明提出的模板更新示意图；
图7为本发明提出的模板更新示意图；
图8为本发明提出的模板训练示意图；
图9为本发明提出的柔性电路板瑕疵检测装置主视图；
图10为本发明提出的柔性电路板瑕疵检测装置箱体打开状态结构图；
图11为本发明提出的柔性电路板瑕疵检测装置俯视图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图对本申请作进一步的详细说明。应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
如图1所示，为本发明提出的柔性电路板瑕疵检测方法流程图。
一种柔性电路板瑕疵检测方法，包括以下步骤：
步骤101，将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；
步骤102，对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；
步骤103，获取待测柔性电路板整体的取样图片；
步骤104，将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵。
本发明实施例中，待测柔性电路板为柔性电路板结构，主要用于对柔性电路板的焊点焊盘及表面结构是否存在瑕疵进行检测，其中瑕疵包括柔性电路板表面污染物、表面缺失或表面破损等结构，待测柔性电路板通过传动机构传输至检测台，检测台根据待测柔性电路板的大小进行调整定位，通过设置的图像采集装置对待测柔性电路板进行模板学习，提取待测柔性电路板的特征，作为模板图样并存储，然后对待测柔性电路板进行取样，将待测柔性电路板与模板图样进行对比，从而判断是否存在瑕疵。
本发明实施例中，将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；具体包括：传动机构将放置在入口端的待测柔性电路板传输至检测台上；检测台对待测柔性电路板进行调整；选择定位点对待测柔性电路板进行定位。通过设置传动机构实现对待测柔性电路板的传输，结构可调，方便使用。
本发明实施例中，对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；具体包括：根据待测柔性电路板的结构设定模板提取框；根据模板提取框对待测柔性电路板上进行模板提取得到训练模板。另外可以通过预先存储的方式将模板图样存储于检测主机上，方便导入和导出，即学习得到的模板可以使用在不同的设备上，提高检测效率。
对于模板图样可以根据产品型号进行记录存储，这样，当再次对同样的产品型号进行检测时，可以直接选择对应的产品型号模板图样，即可进行检测，对于新产品型号，通过模板学习的方式提取模板图样，方便快捷。参见图2所示，其中图中方框为模板图样，图3-图4为具有瑕疵的图片，其中包括点变形、缺失、弯曲、污点瑕疵等，通过对比检测均可检测出来。
其中，获取待测柔性电路板整体的取样图片；具体包括：设置在检测台上的拍照装置对待测柔性电路板整体进行拍照，根据训练模板对拍照图片进行取样获得取样图片。通过设置在检测台上方的摄像机对检测台上的待测柔性电路板进行拍照，获取待测柔性电路板的实际图片。
本发明实施例中，将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵，具体包括：将取样图片根据模板图样的大小进行分割；将分割的图样与模板图样进行比对，若与模板图样存在差异，则判断该分割图样上有瑕疵。
其中，模板图样通过设置检测精度对瑕疵的程度进行分类。最大支持200个检测模板，每个模板可以精细设置各种检测参数。检测参数为像素值，通过调整像素值，可以设置检测精度。
本发明实施例可支持1～4个相机同时检测，检测速度每分钟可达12～15米，建模简单明了，无需太多专业背景都可以上手操作调试，可适应各种不同支架产品的检测。
本发明实施例中，独特的定位设计可以适应各种有轻微弹性变形的产品。通过添加相似产品型号可以继承拷贝，可以最大限度利用之前产品型号建好的模板。设计了很多快捷键方便用于快速建模，更换产品型号模板时有整体模板偏移的设计，方便更换相似产品。设备间可以互相拷贝已经建好的模板，一次建模即可，无需重复劳动，注意设备间互用模板时一定要使得拍照成像的位置和模板一致。设备上有启动、暂停、急停三个按钮，在启动前把支架手动穿过检测区并固定，然后按启动即可自动检测。
在具体操作过程为：产品模板选择(可选择当前运行检测的产品型号)；此处输入新名称点修改即可修改当前型号名称；删除当前型号信息包括定位和模板内容；产品型号模板另存；
选中当前型号例如“QD01”，修改名称处输入新名例如“QR03”后点"产品模板另存为"；选另一个未启用的型号名称如“计算器1”后点保存可把当前型号信息QD01复制并以新名QR03替换到未启用的型号；
AI调整分数阈值，点“AI调整参数训练”后机器一直过大量良好产品，再点“结束训练”，软件会根据过去的产品自动调节良品分数阈值；
选上“视频预览”当有触发信号时可在左侧预览图片但不作运行检测；
"软触发模式"选上后点“软触发抓图”可手动模拟给触发信号，需要手动采图时需选定，正常自动运行时不可选定；
手动单次测试：仅在文件模式能用，可进行单次取图检测；
设置文件模式时的仿真图片路径；
正常自动运行时选择“图像来源于相机”，调试时可选“图像来源于文件”用已拍好的图片进行调试，用文件模式时“仿真图像源路径选择”要选好，放在其中的图片文件必须为.BMP格式。
参见图5至图8，正常自动运行时要点“启动”，修改操作时要点“停止”。
具体检测模版设置流程：建立模版时要以符合标准的良品为模版取图；
相机选择：选择要操作的相机号；相机取相设置：
根据取图效果设置曝光时间，输入完按回车后点保存；
定位设置：第一步：选“两点定位”后点“参数设置”，第二步：更新模版图像提取产品两圆特征(每个产品固定会有的两个圆点)；
圆定位点参数设置，先选“定位点1”，根据实际情况设置好“最小半径”和“最大半径”(此单位为像素，开始可设置范围较大些，测试得出实际半径后再限定小范围)；“梯度”：为对比度，即圆的明暗程度与圆旁边背景的明暗程度相对值，若两者差异较大则梯度值设置大些，若两者差异较小则梯度值设置小些，范围0～255；“亮色圆心”：若定位圆为黑色则不能勾选此项，若定位圆为白色则需要勾选此项。设置完后点“定位模板训练”，然后同理操作“定位点2”；
两个点训练完成后点“取像并测试当前模板”后给触发信号可测试定位情况(若主界面已勾选"软触发模式"，点"软触发抓图"可模拟给触发信号)，根据定位情况修改圆定位点参数设置，注意查看圆半径，和当前得出定位圆是否与图片中圆吻合，若不吻合调整梯度值后再重新点“定位模板训练”，然后同理操作“定位点2”；
模版设置：
第一步：修改模版数，勾选“修改”可进行模版总数设定；
第二步：“当前模版”中选一个模板，右边提取框框好要检测模板位置，点“训练当前模板”或按快捷键F进行训练当前模板，后修改NG下限值(根据检测情况调节)如下图，”搜索扩充系数一般设置15～20。如提取多个模板重复多次此步骤即可，点“训练所有模板”可一起训练所有已添加的模板
第三步：选择算法，选超高精度算法，选完点右下角保存即可；
第四步：保存返回主界面启动自动运行。
参见图9至图11，本发明还提供一种柔性电路板瑕疵检测装置，包括：箱体200，箱体200上设置入料口202和出料口202，箱内分隔为两层，其中上层设置检测台203、传动机构204和图样获取装置205，下层设置控制柜206、检测主机207和空气过滤器208；检测台203上设置定位装置209；待测柔性电路板从入料口进入，通过传动机构传输至检测台处，检测台上方的图样获取装置与检测主机通信对待测柔性电路板进行检测，控制柜对检测台的定位装置进行控制调整，并对空气过滤器进行控制；
控制柜206与传动机构204、检测主机207和空气过滤器208电连接，检测主机207与检测台203和图像获取装置205电连接；
图样获取装置205包括移动支撑架2051、同轴光源2052、摄像机2053和玻璃盒2054，同轴光源2052设置在玻璃盒2054下方，所述玻璃盒2054的上方设置摄像机2053；
移动支撑架2051包括升降架和与升降架垂直设置的移动支架，玻璃盒与移动支架的前端固定连接；通过升降架可以调整摄像机的高度，移动支架对摄像机的前后距离进行调整；
传动机构204包括进料架2041、主动轮2042、从动轮2043、出料架2044，所述进料架2041和出料架2044上设置陶瓷辊轴2045，主动轮2042与驱动电机2046通过减速箱连接，主动轮2042和从动轮2043通过传送带连接。
其中，定位装置209包括压轮2091、防震轮2092、限位轴承2093和间距调节丝杆2094，所述压轮2091设置在主动轮2042的上方，所述压轮2091与滑动式间距调节丝杆2095连接，所述限位轴承2093和间距调节丝杆2094设置在检测台上；为了方便箱体的移动，在箱体200的底部设置滑动轮210。
最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，所属领域的普通技术人员参照上述实施例依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，这些未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，均在申请待批的本发明的权利要求保护范围之内。

Claims (9)

1.一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；
对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；
获取待测柔性电路板整体的取样图片；
将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵。
2.根据权利要求1所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，所述将待测柔性电路板传输至检测台上并对待测柔性电路板进行定位；具体包括：
传动机构将放置在入口端的待测柔性电路板传输至检测台上；
检测台对待测柔性电路板进行调整；
选择定位点对待测柔性电路板进行定位。
3.根据权利要求1所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，所述对待测柔性电路板进行模板学习提取得到模板图样；具体包括：
根据待测柔性电路板的结构设定模板提取框；
根据模板提取框对待测柔性电路板上进行模板提取得到训练模板。
4.根据权利要求1所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，所述获取待测柔性电路板整体的取样图片；具体包括：
设置在检测台上的拍照装置对待测柔性电路板整体进行拍照，根据训练模板对拍照图片进行取样获得取样图片。
5.根据权利要求1所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，所述将取样图片和模板图样进行比对，判断待测柔性电路板是否存在瑕疵，具体包括：将取样图片根据模板图样的大小进行分割；将分割的图样与模板图样进行比对，若与模板图样存在差异，则判断该分割图样上有瑕疵。
6.根据权利要求5所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法，其特征在于，所述模板图样通过设置检测精度对瑕疵的程度进行分类。
7.根据权利要求1-6中任一所述的一种柔性电路板瑕疵检测方法提出一种柔性电路板瑕疵检测装置，其特征在于，包括：
箱体，所述箱体上设置入料口和出料口，所述箱内分隔为两层，其中上层设置检测台、传动机构和图样获取装置，下层设置控制柜、检测主机和空气过滤器；所述检测台上设置定位装置；
所述控制柜与传动机构、检测主机和空气过滤器电连接，所述检测主机与检测台和图像获取装置电连接；
所述图样获取装置包括移动支撑架、同轴光源、摄像机和玻璃盒，所述同轴光源设置在玻璃盒下方，所述玻璃盒的上方设置摄像机；
所述移动支撑架包括升降架和与升降架垂直设置的移动支架，所述玻璃盒与移动支架的前端固定连接；
所述传动机构包括进料架、主动轮、从动轮、出料架，所述进料架和出料架上设置陶瓷辊轴，所述主动轮与驱动电机通过减速箱连接，所述主动轮和从动轮通过传送带连接。
8.根据权利要求7所述的一种柔性电路板瑕疵检测装置，其特征在于，所述定位装置包括压轮、防震轮、限位轴承和间距调节丝杆，所述压轮设置在主动轮的上方，所述压轮与滑动式间距调节丝杆连接，所述限位轴承和间距调节丝杆设置在检测台上。
9.根据权利要求7所述的一种柔性电路板瑕疵检测装置，其特征在于，所述箱体的底部设置滑动轮。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112958479A (zh) * 2021-02-06 2021-06-15 厦门大学 一种柔性电路板焊盘检测分拣装置及其使用方法
CN113394141A (zh) * 2021-08-18 2021-09-14 湖南省计量检测研究院 一种芯片结构缺陷的质量评估系统及方法
CN113823711A (zh) * 2021-08-20 2021-12-21 无锡奥特维科技股份有限公司 电池组件生产方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4799175A (en) * 1984-06-12 1989-01-17 Dainippon Screen Mfg., Co. System for inspecting pattern defects of printed wiring boards
CN101482657A (zh) * 2008-01-08 2009-07-15 中茂电子(深圳)有限公司 一种自动化瑕疵检测方法与设备
CN105572137A (zh) * 2015-12-15 2016-05-11 重庆瑞阳科技股份有限公司 一种外观缺陷测试方法
CN205317690U (zh) * 2016-01-13 2016-06-15 昆山市正大电路板有限公司 一种pcb电路板的检测装置
CN106248671A (zh) * 2016-03-23 2016-12-21 上海众思电子设备有限公司 多线阵相机在线单面检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4799175A (en) * 1984-06-12 1989-01-17 Dainippon Screen Mfg., Co. System for inspecting pattern defects of printed wiring boards
CN101482657A (zh) * 2008-01-08 2009-07-15 中茂电子(深圳)有限公司 一种自动化瑕疵检测方法与设备
CN105572137A (zh) * 2015-12-15 2016-05-11 重庆瑞阳科技股份有限公司 一种外观缺陷测试方法
CN205317690U (zh) * 2016-01-13 2016-06-15 昆山市正大电路板有限公司 一种pcb电路板的检测装置
CN106248671A (zh) * 2016-03-23 2016-12-21 上海众思电子设备有限公司 多线阵相机在线单面检测装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112958479A (zh) * 2021-02-06 2021-06-15 厦门大学 一种柔性电路板焊盘检测分拣装置及其使用方法
CN113394141A (zh) * 2021-08-18 2021-09-14 湖南省计量检测研究院 一种芯片结构缺陷的质量评估系统及方法
CN113394141B (zh) * 2021-08-18 2021-10-29 湖南省计量检测研究院 一种芯片结构缺陷的质量评估系统及方法
CN113823711A (zh) * 2021-08-20 2021-12-21 无锡奥特维科技股份有限公司 电池组件生产方法

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