CN111752457A

CN111752457A - 检查数据输出设备、显示系统和检查数据输出方法

Info

Publication number: CN111752457A
Application number: CN201911299473.5A
Authority: CN
Inventors: 町村荣骏; 日比野卓也; 米谷彦一; 高冈达也; 山本壮一郎
Original assignee: Denso Corp
Current assignee: Denso Ten Ltd; Denso Corp
Priority date: 2019-03-28
Filing date: 2019-12-16
Publication date: 2020-10-09
Also published as: JP2020165713A; DE102019133723A1; US11067598B2; US20200309817A1

Abstract

根据实施例的检查数据输出设备包括输入单元、生成单元和输出单元。关于电路板中待检查部位的信息被提供给输入单元。生成单元生成强调数据，在所述强调数据中相比于其他信号路径更多地强调作为所述电路板上的信号路径并且作为能够检测待检查部位的输出信号的信号路径的输出信号路径。输出单元将强调数据输出到显示设备。

Description

检查数据输出设备、显示系统和检查数据输出方法

技术领域

本文讨论的实施例涉及一种检查数据输出设备、一种显示系统和一种检查数据输出方法。

背景技术

传统上，已知一种显示设备，当选择在显示装置上显示的电路板的布线图中的组件时，从该布线图上突出显示所选择的组件以及从所选择的组件延伸的布线(例如，参见日本待审专利公开第2009-217779号)。

在上述显示设备中，为了检查电路板中的待检查部位的输出信号，通过探测待检查部位来进行检查作业，同时对布线图和实际的电路板进行比较。

然而，布线图与实际电路板的形状和信号路径不匹配，并且对于突出显示的布线图，工作人员可能会误读实际电路板中待检查部位的位置。换句话说，可能无法对待检查部位的输出信号进行准确测量。

鉴于上述情况做出了本发明，并且本发明的目的是提供一种检查数据输出设备、一种显示系统和一种检查数据输出方法，其可以准确地测量待检查部位的输出信号。

发明内容

根据实施例的检查数据输出设备包括输入单元、生成单元和输出单元。关于电路板中待检查部位的信息被提供给输入单元。生成单元生成强调数据，在所述强调数据中相比于其他信号路径更多地强调作为所述电路板上的信号路径并且作为能够检测待检查部位的输出信号的信号路径的输出信号路径。输出单元将所述强调数据输出到显示设备。

附图说明

图1是示出第一实施例的检查数据输出方法的概要的图；

图2是示出第一实施例的显示系统的示意性配置的框图；

图3A是示出实际电路板的图；

图3B是示出在其中强调了待检查部位的输出信号路径的电路板的图像的图；

图4是用于说明根据第一实施例的强调处理的流程图；

图5是示出第三实施例的显示系统的示意性配置的框图；以及

图6是用于说明根据第三实施例的强调处理的流程图。

具体实施方式

在下文中，将参考附图详细描述根据实施例的检查数据输出设备、显示系统和检查数据输出方法。然而，本发明不限于实施例。

第一实施例

例如，在诸如电子控制单元(ECU)等的电路板中，执行检查以确定输出信号是否从电子组件正常输出。通过探测待检查部位来执行这种检查。

通常，为了检查待检查部位的输出信号，工作人员基于基板的电路图、电子组件的布局和分配列表来指定待检查部位。然后，工作人员通过探测指定部位来测量待检查部位的输出信号。

例如，为了测量包括大量引脚的电子组件中的特定引脚的输出信号，工作人员需要在大量引脚中指定作为待检查部位的引脚。因此，工作人员可能误读作为待检查部位的引脚的位置。

此外，当电路板是球栅阵列(BGA)时，不可能直接探测电子组件中的引脚。在这种情况下，通过探测电连接至待检查部位的电路的信号路径(布线图案)来测量待检查部位的输出信号。

然而，在这种情况下，工作人员需要基于基板的电路图、电子组件的布局等指定与待检查部位电连接并且可以被探测到的待检查部位的信号路径。因此，工作人员可能误读待检查部位的信号路径。此外，在设置有大量电子组件的电路板和形成有大量信号路径的电路板中，工作人员可能类似地误读待检查对象的信号路径。

换句话说，在常规方法中，待检查部位的输出信号的测量工作很复杂，并且可能无法准确地测量待检查部位的输出信号。

现在将参照图1描述根据第一实施例的检查数据输出方法的概要。图1是示出根据第一实施例的检查数据输出方法的概要的图。根据第一实施例的检查数据输出方法由检查数据输出设备4执行。

当提供了待检查部位(S1)时，检查数据输出设备4生成强调数据(S2)。

强调数据是相比于其他信号路径对作为电路板50上的信号路径并且作为能够检测待检查部位的输出信号的信号路径的输出信号路径R进行更多强调的数据。由强调数据强调的输出信号路径R是电路板50的布局图中的信号路径、电路板50的计算机辅助设计(CAD)数据中的信号路径、以及实际电路板50的信号路径。换句话说，通过强调数据强调的输出信号路径R是其位置和形状与实际电路板50的信号路径的位置和形状相匹配的信号路径。换句话说，上述“电路板50上的信号路径”是其位置和形状与实际电路板50的信号路径的位置和形状基本匹配的信号路径。

检查数据输出设备4基于电路板50的CAD数据、电路板50的电路图、电子组件的布局、连接器的分配列表等来生成电路板50的模型。检查数据输出设备4通过将关于信号路径、电子组件和连接器的信息与电路板50的部分CAD数据相链接，来生成具有部分CAD数据的电连接信息的电路板50的模型。

更具体地，检查数据输出设备4生成电路板50的三维模型。检查数据输出设备4还可以生成电路板50的二维模型。

检查数据输出设备4生成强调数据，在所述强调数据中相对于电路板50的三维模型强调了输出信号路径R。

更具体地，在电路板50的三维模型中，检查数据输出设备4生成强调数据，在所述强调数据中显示电路板50中的电子组件和输出信号路径R，而不显示其他信号路径。

在电路板50的三维模型中，检查数据输出设备4还可以生成在其中输出信号路径R的类型和其他信号路径的类型彼此不同的强调数据。例如，检查数据输出设备4可以针对输出信号路径R和其他信号路径生成具有不同的线类型、线颜色和线粗度的强调数据。

检查数据输出设备4将所生成的强调数据输出至显示设备3(S3)。以这种方式，在显示设备3上显示图像Im，在所述图像Im中在电路板50的三维模型中强调了待检查部位的输出信号路径R。

因此，工作人员可以基于在显示设备3上显示的电路板50的三维模型中强调的待检查部位的输出信号路径R来检查实际电路板50的输出信号，容易指定能够检测到待检查部位的输出信号的部位。因此，工作人员可以容易地进行测量工作，并且可以准确地测量待检查部位的输出信号。

接下来，将参照图2描述根据第一实施例的显示系统1。图2是示出根据第一实施例的显示系统1的示意性配置的框图。

显示系统1包括输入设备2、显示设备3和检查数据输出设备4。输入设备2、显示设备3和检查数据输出设备4可以由多个设备配置。可替代地，输入设备2、显示设备3和检查数据输出设备4可以被配置为一体设备。例如，输入设备2和显示设备3可以一体地配置。

输入设备2是用于输入电路板50的部件号和待检查部位的设备。例如，输入设备2是键盘、鼠标、语音输入设备和触摸面板。输入设备2也可以是图像识别设备。

例如，显示设备3是显示器、平板终端、智能电话、个人数字助理(PDA)和头戴式设备。基于从检查数据输出设备4输出的强调数据，显示设备3显示电路板50的图像Im，在图像Im中强调了待检查部位的输出信号路径R。

检查数据输出设备4包括存储单元10和控制单元11。检查数据输出设备4生成强调数据，并使显示设备3显示所生成的强调数据。例如，检查数据输出设备4可以是个人计算机(PC)、平板终端和个人数字助理(PDA)。注意，检查数据输出设备4可以是云服务器。

存储单元10由诸如随机存取存储器(RAM)和闪存之类的半导体存储设备或诸如硬盘和光盘之类的存储设备来实现。

存储单元10在其中存储电路板50的CAD数据；电路板50的电路图；电路板50的诸如中央处理器(CPU)、电阻器和集成电路(IC)的电子组件的布局；以及连接器的分配列表。通过链接到电路板50的每个部件号，电路图等被存储在存储单元10中。此外，生成的电路板50的三维模型被存储在存储单元10中。

控制单元11是控制器。例如，在使用RAM作为工作区域的同时由CPU、微处理单元(MPU)等执行存储在存储单元10内部的存储设备中的各种程序时，实现控制单元11。

例如，控制单元11可以由诸如专用集成电路(ASIC)和现场可编程门阵列(FPGA)的集成电路来实现。

控制单元11包括输入单元20、强调数据生成单元21(生成单元)、检查信号生成单元22和输出单元23。输入单元20、强调数据生成单元21、检查信号生成单元22和输出单元23可以彼此集成在一起，或者可以分为多个单元。在该示例中，控制单元11包括检查信号生成单元22。然而，控制单元11不必须包括检查信号生成单元22。

诸如电路板50的部件号和待检查部位之类的信息从输入设备2提供给输入单元20。诸如电路板50的电路图和电路板50的电子组件之类的信息被提供给输入单元20。诸如电路板50的电路图之类的信息可以经由网络从另一外部设备被提供给输入单元20。

基于诸如输入的电路板50的部件号和待检查部位的信息，强调数据生成单元21生成电路板50的强调数据。强调数据生成单元21生成电路板50的三维模型，并生成强调数据，在所述强调数据中在生成的三维模型中相比于其他信号路径更多地强调待检查部位的输出信号路径R。

更具体地，基于诸如电路板50的CAD数据、电路板50的电路图、以及电子组件的布局之类的信息，强调数据生成单元21在预定定时生成电路板50的三维模型。例如，预定定时是提供诸如电路板50的CAD数据、电路板50的电路图、电子组件的布局等信息的定时。

换句话说，在关于待检查部位的信息被提供给输入单元20之前，强调数据生成单元21生成电路板50的三维模型。通过链接到电路板50的部件号，所生成的三维模型存储在存储单元10中。以这种方式，当提供待检查部位时，可以在短时间段内生成强调数据。

此外，强调数据生成单元21还可以在提供诸如电路板50的部件号和待检查部位之类的信息的定时处生成电路板50的三维模型。例如，强调数据生成单元21也可以对于具有某部件号的电路板50，在初次提供待检查部位时生成三维模型。

强调数据生成单元21还可以在每次将诸如电路板50的部件号和待检查部位的信息提供给输入单元20时生成电路板50的三维模型。以这种方式，可以减少存储在存储单元10中的数据量。

强调数据生成单元21生成在其中对于电路板50的三维模型强调待检查部位的输出信号路径R的强调数据。更具体地，强调数据生成单元21生成在其中仅显示待检查部位的输出信号路径R的强调数据。

对于在两侧均形成有信号路径的电路板50，强调数据生成单元21生成针对每个表面具有不同类型的输出信号路径R的强调数据。例如，强调数据生成单元21生成这样的强调数据，在所述强调数据中以实线显示前表面侧的待检查部位的输出信号路径R，以及以虚线显示后表面侧的待检查部位的输出信号路径R。强调数据生成单元21也可以生成这样的强调数据，在所述强调数据中以虚线显示后表面侧的电子组件或后表面侧的电子组件中的与输出信号路径R有关的电子组件。

对于在显示设备3上显示的电路板50的表面，前表面是显示在显示设备3上的表面，而后表面是位于后侧的电路板50的表面。

检查信号生成单元22针对待检查部位生成检查信号。检查信号生成单元22根据待检查部位生成波形检查信号。

输出单元23将由强调数据生成单元21生成的强调数据输出到显示设备3。以这种方式，强调数据的图像Im显示在显示设备3上。

此外，输出单元23将由检查信号生成单元22生成的检查信号输出到电路板50。

现在将参照图3A和图3B描述要在显示设备3上显示的电路板50的图像Im。图3A是示出实际电路板50的图。图3B是示出电路板50的图像Im的图，在图像Im中强调了待检查部位的输出信号路径R。在图3B中，仅示出了电路板50。在该示例中，在电路板50的两侧均形成信号路径。

例如CPU 51、集成电路(IC)52、电阻器53和电容器54之类的电子组件经由信号路径R1电连接到电路板50。在图3A中，附图标记表示电子组件和信号路径的一部分。

在强调了待检查部位的输出信号路径R的电路板50的图像Im中，仅显示电路板50的电子组件和待检查部位的输出信号路径R。更具体地，以实线显示在前表面侧的电子组件以及待检查部位的输出信号路径R。例如，以虚线显示在后表面侧的电子组件当中的后表面侧的待检查部位的输出信号路径R以及与待检查部位的输出信号路径R相关的电子组件。

如上所述，在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的电路板50的图像Im中，在电路板50的三维模型上显示的唯一信号路径是输出信号路径R。因此，可以容易地指定输出信号路径R。

接下来，现在将参考图4描述根据第一实施例的强调处理。图4是用于说明根据第一实施例的强调处理的流程图。

在显示系统1中，当通过输入设备2将电路板50的部件号和待检查部位提供给输入单元20(S100)时，检查数据输出设备4生成强调数据(S101)。

在显示系统1中，由检查数据输出设备4生成的强调数据被输出到显示设备3(S102)。然后，在显示系统1中，显示设备3显示电路板50的图像Im，在图像Im中强调了待检查部位的输出信号路径R(S103)。

检查数据输出设备4生成强调数据，在所述强调数据中相比于其他信号路径更多地强调待检查部位的输出信号路径R，并将生成的强调数据输出给显示设备3。更具体地，检查数据输出设备4生成强调数据，在所述强调数据中在要显示在显示设备3上的电路板50的三维模型中强调待检查部位的输出信号路径R。然后，输出设备4将所生成的强调数据输出到显示设备3。

以这种方式，工作人员可以基于在显示在显示设备3上的电路板50的三维模型中突出显示的待检查部位的输出信号路径R来检查实际电路板50的输出信号。因此，作业人员可以容易地指定能够检测到待检查部位的输出信号的部位。因此，工作人员可以容易地进行测量工作，并且可以准确地测量待检查部位的输出信号。

此外，在显示在显示设备3上的电路板50的三维模型中，检查数据输出设备4生成在电路板50中的多个信号路径当中只显示待检查部位的输出信号路径R的强调数据。

以这种方式，工作人员可以容易地指定能够检测到待检查部位的输出信号的部位。因此，工作人员可以容易地进行测量工作，并且可以准确地测量待检查部位的输出信号。

此外，对于在两侧均形成有信号路径(布线图案)的电路板50，检查数据输出设备4生成针对每个表面具有不同类型的输出信号路径R的强调数据。

以这种方式，即使在两侧均形成有信号路径的电路板50中，工作人员也能够容易地指定能够检测到待检查部位的输出信号的部位。

第二实施例

将描述根据第二实施例的显示系统1。在该示例中，将主要描述与根据第一实施例的显示系统1中的那些部分不同的部分，并且将省略与根据第一实施例的显示系统1中的那些相同的配置和处理的说明。

在根据第二实施例的显示系统1中，基于强调数据的图像Im通过使用投影映射被投影在实际电路板50上。

检查数据输出设备4的强调数据生成单元21基于诸如电路板50的CAD数据、电路板50的电路图、电子组件的布局以及安装台的预定位置之类的信息来生成强调数据。强调数据是在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的图像的数据，并且是要投影在电路板50上的图像的数据。

输出单元23将由强调数据生成单元21生成的强调数据输出到显示设备3。

显示设备3是投影仪。对于安装在安装台上的电路板50，显示设备3基于强调数据来投影待检查部位的输出信号路径R的图像Im。更具体地，显示设备3基于强调数据以重叠的方式将待检查部位的输出信号路径R的图像Im投影在实际电路板50中待检查部位的输出信号路径R上。

如上所述，检查数据输出设备4生成在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的图像Im的强调数据，以将其投影到实际电路板50上。

以这种方式，工作人员可以基于投影在实际电路板50上的图像Im，容易地指定可以检测到待检查部位的输出信号的部位。因此，工作人员可以容易地执行测量工作，并且可以准确地测量待检查部位的输出信号。

第三实施例

现在将参照图5描述根据第三实施例的显示系统1。在该示例中，将主要描述与根据第一实施例的显示系统1中的那些部位不同的部位，并且对与第一实施例的显示系统1相同的配置和处理进行说明。将省略根据第一实施例的显示系统1中的那些。图5是示出根据第三实施例的显示系统1的示意性配置的框图。

在根据第三实施例的显示系统1中，显示设备3以增强现实显示在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的图像Im。

显示系统1包括输入设备2、显示设备3、图像拾取设备5和检查数据输出设备4。

图像拾取设备5是包括图像传感器(例如电荷耦合器件(CCD)和互补金属氧化物半导体(CMOS))的相机。例如，图像拾取设备5是安装在平板终端和智能电话上的相机。图像拾取设备5可以与显示设备3一体地配置。图像拾取设备5拾取电路板50的图像。图像拾取设备5在电路板50上获取的数据被提供给输入单元20。

检查数据输出设备4的强调数据生成单元21基于诸如电路板50的CAD数据、电路板50的电路图、电子组件的布局以及待检查部位之类的信息，生成与在其中对于电路板50强调了待检查部位的输出信号路径R的图像有关的数据。然后，强调数据生成单元21生成与增强现实中的图像Im有关的数据作为强调数据，增强现实中的图像Im是通过在电路板50的图像上重叠强调了待检查部位的输出信号路径R的图像而获得的图像。

输出单元23将由强调数据生成单元21生成的强调数据输出到显示设备3。以这种方式，显示系统1使显示设备3显示通过在电路板50的图像上重叠在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的图像而获得的图像Im。

接下来，将参照图6描述根据第三实施例的强调处理。图6是用于说明根据第三实施例的强调处理的流程图。

在显示系统1中，当经由输入设备2提供电路板50的部件号和待检查部位(S200)，并且通过图像拾取设备5拾取电路板50的图像(S201)时，检查数据输出设备4生成强调数据(S202)。

在显示系统1中，由检查数据输出设备4生成的强调数据被输出到显示设备3(S203)。然后，在显示系统1中，显示设备3则显示电路板50的图像Im，在图像Im中强调了待检查部位的输出信号路径R(S204)。

如上所述，检查数据输出设备4生成与增强现实中的图像Im有关的数据作为强调数据，在图像Im中强调了待检查部位的输出信号路径R。

以这种方式，基于在显示设备3上显示的并且添加有在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的图像的电路板50的图像Im，工作人员可以容易地指定可以检测到待检查部位的输出信号的部位。因此，工作人员可以容易地进行测量工作，并且可以精确地测量待检查部位的输出信号。

强调数据生成单元21还可以生成与包括电路板50和待检查部位的输出信号路径R并且在其中强调了待检查部位的输出信号路径R的虚拟现实中的图像Im有关的数据作为强调数据。因此，可以获得与根据第三实施例的显示系统1相同的效果。

根据上述实施例的显示系统1也可以被组合。例如，强调数据生成单元21还可以生成在其中在电路板50的三维模型中强调待检查部位的输出信号路径R的强调数据、以及待投影在电路板50上的在其中强调待检查部位的输出信号路径R的图像的强调数据。

当电路板50具有多层配置时，根据变形例的检查数据输出设备4的强调数据生成单元21可以生成针对每层具有不同类型的待检查部位的输出信号路径R的强调数据。根据变形例的强调数据生成单元21针对每层改变待检查部位的输出信号路径R的线型、线色和线粗。

以这种方式，即使电路板50具有多层配置，工作人员也可以容易地指定待检查部位的输出信号路径R。

当提供从待检查部位的输出信号路径R输出的信号时，根据变形例的检查数据输出设备4可以基于输入信号和检查信号确定输入信号是否正常。换句话说，根据变形例的检查数据输出设备4也可以用作检查设备。

如上所述，根据实施例的一个方面，可以精确地测量待检查部位的输出信号。

Claims

1.一种检查数据输出设备，包括：

输入单元，关于电路板中待检查部位的信息被提供到所述输入单元中；

生成单元，生成强调数据，在所述强调数据中相比于其他信号路径更多地强调作为所述电路板上的信号路径并且作为能够检测所述待检查部位的输出信号的信号路径的输出信号路径；以及

输出单元，将所述强调数据输出到显示设备。

2.根据权利要求1所述的检查数据输出设备，其中所述生成单元生成在其中强调了所述电路板的模型中的所述输出信号路径的强调数据。

3.根据权利要求1或2所述的检查数据输出设备，其中所述生成单元生成与投影在所述电路板上的、并且在其中强调了所述输出信号路径的图像有关的数据作为强调数据。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的检查数据输出设备，其中所述生成单元生成与通过在所述电路板的图像上重叠在其中强调了所述输出信号路径的图像而获得的增强现实中的图像有关的数据作为强调数据。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的检查数据输出设备，其中所述生成单元生成与包括所述电路板和所述输出信号路径、并且在其中强调了所述输出信号路径的虚拟现实中的图像有关的数据作为强调数据。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的检查数据输出设备，其中所述生成单元生成在所述电路板中的多个信号路径中仅显示所述输出信号路径的强调数据。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检查数据输出设备，其中对于具有多层配置的电路板，所述生成单元生成针对每层具有不同类型的所述输出信号路径的强调数据。

8.根据权利要求1至6中的任一项所述的检查数据输出设备，其中对于在两侧均形成有所述信号路径的电路板，所述生成单元生成针对每个表面具有不同类型的所述输出信号路径的强调数据。

9.一种显示系统，包括：

根据权利要求1至8中任一项所述的检查数据输出设备，以及

显示设备，基于强调数据显示电路板的图像。

10.一种检查数据输出方法，包括：

输入关于电路板中待检查部位的信息；

生成强调数据，在所述强调数据中相比于其他信号路径更多地强调作为所述电路板上的信号路径并且作为能够检测所述待检查部位的输出信号的信号路径的输出信号路径；以及

将所述强调数据输出到显示设备。