CN111750985A - 一种用于素材检查的紫外线检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于素材检查的紫外线检测方法,该用于素材检查的紫外线检测方法包括以下步骤:紫外线检测剂的制备,按照2:1‑1.5的比例将紫外线屏蔽剂、乙烯基三甲氧基硅烷放置于无水乙醇中,且搅拌均匀3‑4min后超声分散12min,再水浴加热至60‑80℃反应4h,在90‑120℃烘干后研磨得到改性紫外线屏蔽剂;将改性紫外线屏蔽剂加入到一定浓度可甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸异冰片酯的O/W乳液中,本发明所述的一种用于素材检查的紫外线检测方法,通过将紫外线检测剂涂覆于素材上,使得素材紫外线相关数据显示更加明显,进而提高紫外线检测的准确性,同时检测方法流程简单,可大范围推广使用。

Description

一种用于素材检查的紫外线检测方法
技术领域
本发明属于紫外线检测领域,特别涉及一种用于素材检查的紫外线检测方法。
背景技术
太阳辐射是环境中紫外线的最大天然来源,是以直接照射和大气层漫射的方式到达地面。天然太阳光紫外线几乎全部短波紫外线(UVC)和大部分中波紫外线(UVB)被平流层的臭氧层所吸收;紫外线进入对流层后大气污染物有降低紫外线强度的作用,估计到达地球大气的UVB,约有一半到达地球表面,另一半被散射。波长越长,大气对紫外线的散射能力越低。大气中云和雾的水分可散射紫外线,几乎不吸收紫外线。因此,到达地面的紫外线主要是长波紫外线(UVA)和小部分UVB(>290nm)。
光反射强度与地面状态密切相关,草地、土地和水面对紫外线的反射小于10%,干海滩沙地约为15%,海水泡沫约为25%,新鲜的雪反射约为80%。平流层臭氧量每减少1%,地面受到的太阳紫外线辐射量将增加2%;
为了提高素材紫外线检测的准确度,为此,我们提出一种用于素材检查的紫外线检测方法。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种用于素材检查的紫外线检测方法,可以有效解决背景技术中的问题。
为实现上述目的,本发明采取的技术方案为:
一种用于素材检查的紫外线检测方法,该用于素材检查的紫外线检测方法包括以下步骤:
步骤一、紫外线检测剂的制备,按照2:1-1.5的比例将紫外线屏蔽剂、乙烯基三甲氧基硅烷放置于无水乙醇中,且搅拌均匀3-4min后超声分散12min,再水浴加热至60-80℃反应4h,在90-120℃烘干后研磨得到改性紫外线屏蔽剂;
步骤二、将改性紫外线屏蔽剂加入到一定浓度可甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸异冰片酯的O/W乳液中,搅拌均匀7-8min后超声分散10min,水浴加热至90-95℃时加入甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加2-甲基丙烯酸甲酯和2-甲基丙烯酸乙酯和剩余的甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加完毕后持续反应3小时,自然冷却至室温,过滤,得纳米二氧化钛接枝共聚物,该纳米二氧化钛接枝共聚物即为紫外线检测剂;
步骤三、将紫外线检测剂均匀涂覆于素材上,检测剂的涂覆厚度为0.1-0.3mm;
步骤四、采用溶胶-凝胶法在衬底上的叉指电极表面形成ZnO种子层,将形成ZnO种子层的敏感元件放入反应釜中,对生长有ZnO纳米棒的敏感元件进行清洗、干燥,得到ZnO纳米棒阵列薄膜的素材;
步骤五、对素材进行紫外线检测,光学密封箱的所有内璧都要贴上黑色丝绒布料,光轨两端上侧分别设置有测试灯和紫外线辐射照度计,左端设置有测试灯,右侧设置有紫外线辐射照度计,将素材置于光学密封箱即可最终完成素材检查的紫外线检测。
优选的,测试时所有光电参数的环境温度均应保持在25℃±1℃。
优选的,紫外线屏蔽剂可选用钛白粉、滑石粉、陶土粉、氧化锌中任意一种。
优选的,超声分散时使用超声波分散机,该超声波分散机的频率大于20000赫兹。
优选的,甲基丙烯磺酸三元的聚合物的浓度为8mol/L。
与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:该用于素材检查的紫外线检测方法,通过将紫外线检测剂涂覆于素材上,使得素材紫外线相关数据显示更加明显,进而提高紫外线检测的准确性,同时检测方法流程简单,可大范围推广使用。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
该用于素材检查的紫外线检测方法包括以下步骤:
步骤一、紫外线检测剂的制备,按照2:1-1.5的比例将紫外线屏蔽剂、乙烯基三甲氧基硅烷放置于无水乙醇中,且搅拌均匀3-4min后超声分散12min,再水浴加热至60-80℃反应4h,在90-120℃烘干后研磨得到改性紫外线屏蔽剂;
步骤二、将改性紫外线屏蔽剂加入到一定浓度可甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸异冰片酯的O/W乳液中,搅拌均匀7-8min后超声分散10min,水浴加热至90-95℃时加入甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加2-甲基丙烯酸甲酯和2-甲基丙烯酸乙酯和剩余的甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加完毕后持续反应3小时,自然冷却至室温,过滤,得纳米二氧化钛接枝共聚物,该纳米二氧化钛接枝共聚物即为紫外线检测剂;
步骤三、将紫外线检测剂均匀涂覆于素材上,检测剂的涂覆厚度为0.1-0.3mm;
步骤四、采用溶胶-凝胶法在衬底上的叉指电极表面形成ZnO种子层,将形成ZnO种子层的敏感元件放入反应釜中,对生长有ZnO纳米棒的敏感元件进行清洗、干燥,得到ZnO纳米棒阵列薄膜的素材;
步骤五、对素材进行紫外线检测,光学密封箱的所有内璧都要贴上黑色丝绒布料,光轨两端上侧分别设置有测试灯和紫外线辐射照度计,左端设置有测试灯,右侧设置有紫外线辐射照度计,将素材置于光学密封箱即可最终完成素材检查的紫外线检测。
测试时所有光电参数的环境温度均应保持在25℃±1℃;紫外线屏蔽剂可选用钛白粉、滑石粉、陶土粉、氧化锌中任意一种;超声分散时使用超声波分散机,该超声波分散机的频率大于20000赫兹;甲基丙烯磺酸三元的聚合物的浓度为8mol/L。
实施例1
按照1-1.5的比例将紫外线屏蔽剂、乙烯基三甲氧基硅烷放置于无水乙醇中,且搅拌均匀3min后超声分散12min,再水浴加热至60℃反应4h,在120℃烘干后研磨得到改性紫外线屏蔽剂;将改性紫外线屏蔽剂加入到一定浓度可甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸异冰片酯的O/W乳液中,搅拌均匀7min后超声分散10min,水浴加热至95℃时加入甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加2-甲基丙烯酸甲酯和2-甲基丙烯酸乙酯和剩余的甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加完毕后持续反应3小时,自然冷却至室温,过滤,得纳米二氧化钛接枝共聚物,该纳米二氧化钛接枝共聚物即为紫外线检测剂;将紫外线检测剂均匀涂覆于素材上,检测剂的涂覆厚度为0.3mm;采用溶胶-凝胶法在衬底上的叉指电极表面形成ZnO种子层,将形成ZnO种子层的敏感元件放入反应釜中,对生长有ZnO纳米棒的敏感元件进行清洗、干燥,得到ZnO纳米棒阵列薄膜的素材;对素材进行紫外线检测,光学密封箱的所有内璧都要贴上黑色丝绒布料,光轨两端上侧分别设置有测试灯和紫外线辐射照度计,左端设置有测试灯,右侧设置有紫外线辐射照度计,将素材置于光学密封箱即可最终完成素材检查的紫外线检测。
经观察,使用此紫外线检测方法,使得素材紫外线检测准确率提高38%
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种用于素材检查的紫外线检测方法,其特征在于,该用于素材检查的紫外线检测方法包括以下步骤:
步骤一、紫外线检测剂的制备,按照2:1-1.5的比例将紫外线屏蔽剂、乙烯基三甲氧基硅烷放置于无水乙醇中,且搅拌均匀3-4min后超声分散12min,再水浴加热至60-80℃反应4h,在90-120℃烘干后研磨得到改性紫外线屏蔽剂;
步骤二、将改性紫外线屏蔽剂加入到一定浓度可甲基丙烯酸甲酯和甲基丙烯酸异冰片酯的O/W乳液中,搅拌均匀7-8min后超声分散10min,水浴加热至90-95℃时加入甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加2-甲基丙烯酸甲酯和2-甲基丙烯酸乙酯和剩余的甲基丙烯酸二乙基氨基乙酯和甲基丙烯磺酸三元的聚合物,滴加完毕后持续反应3小时,自然冷却至室温,过滤,得纳米二氧化钛接枝共聚物,该纳米二氧化钛接枝共聚物即为紫外线检测剂;
步骤三、将紫外线检测剂均匀涂覆于素材上,检测剂的涂覆厚度为0.1-0.3mm;
步骤四、采用溶胶-凝胶法在衬底上的叉指电极表面形成ZnO种子层,将形成ZnO种子层的敏感元件放入反应釜中,对生长有ZnO纳米棒的敏感元件进行清洗、干燥,得到ZnO纳米棒阵列薄膜的素材;
步骤五、对素材进行紫外线检测,光学密封箱的所有内璧都要贴上黑色丝绒布料,光轨两端上侧分别设置有测试灯和紫外线辐射照度计,左端设置有测试灯,右侧设置有紫外线辐射照度计,将素材置于光学密封箱即可最终完成素材检查的紫外线检测。
2.根据权利要求1所述的一种用于素材检查的紫外线检测方法,其特征在于:测试时所有光电参数的环境温度均应保持在25℃±1℃。
3.根据权利要求1所述的一种用于素材检查的紫外线检测方法,其特征在于:紫外线屏蔽剂可选用钛白粉、滑石粉、陶土粉、氧化锌中任意一种。
4.根据权利要求1所述的一种用于素材检查的紫外线检测方法,其特征在于:超声分散时使用超声波分散机,该超声波分散机的频率大于20000赫兹。
5.根据权利要求1所述的一种用于素材检查的紫外线检测方法,其特征在于:甲基丙烯磺酸三元的聚合物的浓度为8mol/L。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005120232A (ja) * 2003-10-16 2005-05-12 Mitsubishi Chem Mkv Co 紫外線吸収性塗布組成物及び紫外線吸収性フィルム
CN103219418A (zh) * 2013-03-26 2013-07-24 华中科技大学 一种具有纳米异质复合结构的紫外光探测器及其制备方法
US20140103270A1 (en) * 2011-08-31 2014-04-17 Fujifilm Corporation Radiation-sensitive composition, method for forming pattern, color filter and method of producing the same, and solid-state image sensor
CN108645449A (zh) * 2018-06-13 2018-10-12 电子科技大学 一种集成氧气浓度和紫外线强度检测功能的传感器及其检测方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005120232A (ja) * 2003-10-16 2005-05-12 Mitsubishi Chem Mkv Co 紫外線吸収性塗布組成物及び紫外線吸収性フィルム
US20140103270A1 (en) * 2011-08-31 2014-04-17 Fujifilm Corporation Radiation-sensitive composition, method for forming pattern, color filter and method of producing the same, and solid-state image sensor
CN103219418A (zh) * 2013-03-26 2013-07-24 华中科技大学 一种具有纳米异质复合结构的紫外光探测器及其制备方法
CN108645449A (zh) * 2018-06-13 2018-10-12 电子科技大学 一种集成氧气浓度和紫外线强度检测功能的传感器及其检测方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈国力 等: ""PP 的新型抗紫外添加剂的结构及合成过程的研究", 《塑料工业》 *

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