CN111739021B - 显示面板玻璃内外异物检测方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置，所述方法通过用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；从第一图像和第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；根据异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率。

Description

显示面板玻璃内外异物检测方法和装置

技术领域

本发明涉及显示器检测领域，尤其涉及一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置。

背景技术

随着人们对大屏显示效果的不断追求，常规显示技术已不能满足未来发展的需要，而更高技术层次的微发光二极管（Micro Light Emitting Diode，Micro LED）凭借着出色的亮度、发光效率高、低能耗、反应速度高、对比度高、自发光、使用寿命长、超高解析度与色彩饱和度等各方面指标均高于常规发光二极管LED、液晶显示器（Liquid CrystalDisplay，LCD），以及相比有机电激光显示（Organic Light-Emitting Diode，OLED）的优势，被称为是颠覆产业的新一代显示技术，近年备受业内关注。

MicroLED行业下游面板厂商，需要对其生产出的MicroLED 显示器进行出货前的画质检测，检测结果直接影响出货产品等级以及质量，画质检测内容包含亮点、暗点、亮线、暗线、斑Mura（指显示器亮度不均匀，造成各种痕迹现象）以及玻璃内异物检测；现有的检测方式主要是通过自动光学检测（Automated Optical Inspection，AOI）技术进行缺陷检测，内层异物会造成面板显示不良，属于显示缺陷；外层异物属于表面灰尘，可以通过清洗擦拭，不属于显示缺陷，但是现有检测方式无法准确区分MicroLED显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示面板玻璃内外异物检测方法和装置，旨在解决现有技术中无法准确区分MicroLED显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低的技术问题。

第一方面，本发明提供一种显示面板玻璃内外异物检测方法，所述显示面板玻璃内外异物检测方法包括以下步骤：

用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；

从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；

根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

可选地，所述用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，包括：

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像；

根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像。

可选地，所述根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，包括：

断开显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得第一图像。

可选地，所述根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像，包括：

根据玻璃出厂信息或预设经验值获取所述显示面板玻璃的玻璃厚度；

利用高精度运动机构和激光测距机构结合所述玻璃厚度计算所述光学机构的取像移动距离；

断开所述显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；

根据所述取像移动距离移动所述光学机构至目标位置；

在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面后，进行图像采集，获得第二图像。

可选地，所述从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征，包括：

将所述第一图像中的发亮区域作为第一异物区域，并将所述第二图像中的发亮区域作为第二异物区域；

获取所述第一异物区域和所述第二异物区域中相同位置的异物特征。

可选地，所述根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，包括：

从所述异物特征中获取异物的异物对比度和异物面积；

根据所述异物对比度和异物面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

可选地，所述根据所述对比度和面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，包括：

将所述第一异物区域的第一异物对比度与所述第二异物区域的第二异物对比度进行比较，并将所述第一异物区域的第一异物面积与所述第二异物区域的第二异物面积进行比较，所述第一异物与所述第二异物位置相同；

在所述第二异物对比度大于所述第一异物对比度，并且所述第二异物面积小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃上表面异物；

在所述第二异物对比度不大于所述第一异物对比度，和/或所述第二异物面积不小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃下表面异物。

可选地，当所述显示面板为微发光二极管MicroLED时，所述根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，包括：

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦MicroLED的下表面的LED晶粒表面，获得第一图像。

可选地，所述微显示面板为MicroLED和Micro-Oled中的任一一种或多种。

第二方面，本发明还提出一种显示面板玻璃内外异物检测装置，所述显示面板玻璃内外异物检测装置包括：

图像采集模块，用于带有显微镜头的光学机构用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；

特征获取模块，用于从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；

异物确定模块，用于根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

本发明提出的显示面板玻璃内外异物检测方法，通过用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率。

附图说明

图1为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第一实施例的流程示意图；

图2为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第二实施例的流程示意图；

图3为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第三实施例的流程示意图；

图4为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第四实施例的流程示意图；

图5为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第五实施例的流程示意图；

图6为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第六实施例的流程示意图；

图7为本发明显示面板玻璃内外异物检测装置第一实施例的功能模块图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例的解决方案主要是：通过用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率，解决了现有技术中无法准确区分MicroLED显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低的技术问题。

参照图1，图1为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第一实施例的流程示意图。

在第一实施例中，所述显示面板玻璃内外异物检测方法包括以下步骤：

步骤S10、用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板。

需要说明的是，所述第一图像和所述第二图像的获取是通过带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取的，即所述第一图像和所述第二图像是基于所述显示面板玻璃不动的情况下通过光学机构的移动进行采集的，不需要在图像采集时不断翻转所述显示面板来获得显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，直接在同一侧进行图像采集，所述显示面板为微显示面板；所述微显示面板为MicroLED和微有机电激光显示（Organic Light-Emitting Diode，Micro-Oled）中的任一一种或多种，当然也可以为其他类型的显示面板，本实施例对此不加以限制；所述第一图像为从显示面板玻璃的下表面采集的图像，所述第二图像为从显示面板玻璃的上表面采集的图像，获取图像的方式可以是通过光学机构进行拍摄获取，例如相机、摄像机、显微镜或相机和摄像机结合显微镜头等方式拍摄获取，也可以是通过光学机构进行扫描获取，例如激光扫描仪扫描获取，还可以是通过带有摄像拍照功能的便携式设备拍摄获取，例如手机和平板等拍摄获取，当然也可以是通过其他方式获取显示面板玻璃上表面和下表面的图像，本实施例对此不加以限制。

在具体实现中，由于微显示面板的结构区别于传统的液晶屏结构，传统的相机镜头景深高，采用传统的相机镜头，无法准确区分显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低，而本实施例中采用带有显微镜头的光学机构进行显示面板图像采集，能够清晰的获取显示面板的图像，有利于正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，并且所述第一图像和所述第二图像是在同一侧进行的拍摄获取的，所述第一图像和所述第二图像的反映形式是不一样的，实现了所述显示面板的分层检测。

步骤S20、从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征。

应当理解的是，在所述第一图像和所述第二图像中存在异物时，会在所述第一图像和所述第二图像中有对应的异物区域，通过将所述第一图像中的异物区域和所述第二图像中的异物区域进行比较，能够将相同位置的异物区域确定，并从中提取出相同异物区域的异物特征，所述异物特征为所述异物区域中异物对应的属性特征，可包括但不限于形状、大小及亮度等属性特征。

步骤S30、根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

可以理解的是，通过对所述异物特征进行分析，可以根据分析结果确定对应的异物为玻璃上表面异物或者玻璃下表面异物，即出现的异物是所述显示面板玻璃上表面上附着的异物，还是所述显示面板玻璃下表面上附着的异物，一般的玻璃上表面异物为灰尘或污渍等，可以通过清洗擦拭清除掉，而玻璃下表面异物一般为内层附着的异物，有可能是在生产过程中由于外因造成的内层异物，玻璃下表面异物会造成面板显示不良，属于显示缺陷，一般需要进行返厂重新加工拆卸消除异物。

本实施例通过上述方案，通过用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板；从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率。

进一步地，图2为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第二实施例的流程示意图，如图2所示，基于第一实施例提出本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第二实施例，在本实施例中，所述步骤S10具体包括以下步骤：

步骤S11、根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像。

需要说明的是，所述光学机构为带有显微镜头的光学图像采集机构，例如高清相机与显微镜头结合的光学机构，由于现有的图像采集是通过普通相机拍摄，拍摄的图像比较粗糙，由于显示面板的玻璃厚度比较薄，通过普通相机拍摄无法清晰分辨显示面板玻璃的异物是内层异物还是外层异物，显示屏检测率较低，因此采用带有显微镜头的光学机构进行取像，能够有效解决现有技术中无法准确识别显示面板玻璃的异物是内层异物或外层异物的问题，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率。

可以理解的是，所述预设自动对焦算法为预先设置的光学对焦算法，所述预设自动对焦算法可以是测距自动对焦，例如红外线测距和超声波测距，所述预设自动对焦算法还可以是聚焦检测自动对焦，例如通过对比度检测图像的轮廓边缘实现自动对焦和通过检测图像的偏移量实现自动对焦等，所述预设自动对焦算法当然也可以是其他类型的自动对焦算法，本实施例对此不加以限制；通过所述预设自动对焦算法可以控制光学机构根据预设的对焦参数自动对焦显示面板玻璃的下表面，从而获得第一图像。

应当理解的是，不用预设自动对焦算法控制控制带有显微镜头的光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，也可以获得第一图像，即可以通过人为对焦获得下表面的第一图像，当然还可以通过其他方式获得下表面的第一图像，例如：根据预先确定好的对焦距离移动光学图像采集机构到对应位置进行图像获取，还可以是根据确定好的对焦位置移动显示面板玻璃到指定位置完成上表面和下表面的图像采集等，本实施例对此不加以限制；相应的，在获取上表面的第二图像时，可以在显示面板玻璃的上表面做个标记，当标记拍摄清楚时，则认定上表面对焦完成，此时可以获取所述显示面板玻璃的上表面的第二图像。

在具体实现中，可以根据预设自动对焦算法控制20M相机和5倍显微镜头的方式进行图像采集，一般可以保证光学解析度在0.6um/pixel，景深在10um以内，从而提高MiniLED单颗晶粒的分辨率和清晰度。

步骤S12、根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像。

可以理解的是，由于光学机构景深短（一般为6-20um）的光学特性，并且表层玻璃厚度相对比较长（一般为200-500um）的材料特性，可以通过二次对焦的方式对所述显示面板玻璃进行二次取像采集，即通过移动光学机构一定的距离至目标位置，再对焦所述显示面板玻璃的上表面，从而获得第二图像，通过二次对焦的方式，可以快速准确的区分MicroLED显示面板玻璃的内外异物，从而提高面板检出率，降低过检率。

本实施例通过上述方案，通过预设自动对焦算法控制光学机构自动对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像；根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像，能够快速准确的获得MicroLED显示面板玻璃的下表面的第一图像和上表面的第二图像，为后续图像对比做准备，通过预设自动对焦算法进行光学对焦，节省了显示面板缺陷检测的时间，提高了显示面板缺陷检测的速度和效率。

进一步地，图3为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第三实施例的流程示意图，如图3所示，基于第二实施例提出本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第三实施例，在本实施例中，所述步骤S11具体包括以下步骤：

步骤S111、断开显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光。

需要说明的是，在进行对焦取像之前，需要断开显示面板的电源，同时通过侧光的方式，能够透过显示面板玻璃清楚的对显示面板玻璃的下表面进行拍摄获得下表面成像图。

在具体实现中，光学机构可以采用20M黑白相机+5倍镜头，高达1um/pixel的光学解析度，能够实现最小Micro LED晶粒2.5x2.5um大小的MicroLED显示面板玻璃的检测，光源一般可以采用条形侧光，在显示面板取像时进行点亮，当然也可以采用其他类型的侧光，本实施例对此不加以限制。

步骤S112、根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得第一图像。

可以理解的是，在打开侧光后，可以开启所述预设自动对焦算法，进而控制光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得下表面对焦侧光图，即所述第一图像。

相应地，当所述显示面板为微发光二极管MicroLED时，可以根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦MicroLED的下表面的LED晶粒表面，获得第一图像，即所述MicroLED的下表面的LED晶粒作为所述第一图像的对焦依据。

本实施例通过上述方案，通过断开显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得第一图像，能够快速准确的获得显示面板玻璃的下表面的第一图像，为后续图像对比做准备，通过预设自动对焦算法进行光学对焦，节省了显示面板缺陷检测的时间，提高了显示面板缺陷检测的速度和效率。

进一步地，图4为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第四实施例的流程示意图，如图4所示，基于第二实施例提出本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第四实施例，在本实施例中，所述步骤S12具体包括以下步骤：

步骤S121、根据玻璃出厂信息或预设经验值获取所述显示面板玻璃的玻璃厚度。

需要说明的是，所述玻璃厚度为从玻璃出厂信息中可以直接获得的已知信息，所述预设经验值为技术人员在日常操作过程中通过研判以及大量实际操作经验设置的不同玻璃厚度对应的经验值，即玻璃厚度预估值；所述玻璃厚度为所述显示面板表层玻璃的厚度，所述玻璃厚度一般为200-500um，当然也可以为其他规格参数，本实施例对此不加以限制。

步骤S122、利用高精度运动机构和激光测距机构结合所述玻璃厚度计算所述光学机构的取像移动距离。

应当理解的是，由于表层玻璃的厚度相对较长，此时可以根据玻璃厚度计算所述光学机构对所述显示面板的上表面进行取像需要移动的距离，一般可以通过激光测距机构计算好移动的距离，通过高精度运动机构将所述光学机构移动相应的取像移动距离后进行取像。

步骤S123、断开所述显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光。

需要说明的是，在进行对焦取像之前，需要断开显示面板的电源，同时通过侧光的方式，能够透过显示面板玻璃清楚的对显示面板玻璃的下表面进行拍摄获得下表面成像图。

步骤S124、根据所述取像移动距离移动所述光学机构至目标位置。

可以理解的是，所述目标位置为所述光学机构移动了取像移动距离对应的距离后到达的位置，所述取像移动距离可以为水平方向的移动距离，也可以为竖直方向的垂直距离，还可以为三维空间坐标上的移动距离，本实施例对此不加以限制。

步骤S125、在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面后，进行图像采集，获得第二图像。

应当理解的是，在所述光学机构移动至目标位置后，可以对所述显示面板玻璃的上表面进行对焦，即进行光学机构的第二次对焦，在对焦完成时可以进行图像采集，从而获得第二图像。

本实施例通过上述方案，通过根据玻璃出厂信息或预设经验值获取所述显示面板玻璃的玻璃厚度；利用高精度运动机构和激光测距机构结合所述玻璃厚度计算所述光学机构的取像移动距离；断开所述显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；根据所述取像移动距离移动所述光学机构至目标位置；在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面后，进行图像采集，获得第二图像；能够快速准确的获得显示面板玻璃的上表面的第二图像，为后续图像对比做准备，通过利用高精度运动机构和激光测距机构确定移动距离将光学机构移动至目标位置后进行光学对焦，节省了显示面板缺陷检测的时间，提高了显示面板缺陷检测的速度和效率。

进一步地，图5为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第五实施例的流程示意图，如图5所示，基于第一实施例提出本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第五实施例，在本实施例中，所述步骤S20具体包括以下步骤：

步骤S21、将所述第一图像中的发亮区域作为第一异物区域，并将所述第二图像中的发亮区域作为第二异物区域。

需要说明的是，所述第一图像和所述第二图像中的发亮区域即对应有异物，此时可以将异物对应的区域确定出来作为异物区域。

步骤S22、获取所述第一异物区域和所述第二异物区域中相同位置的异物特征。

可以理解的是，所述异物特征一般可以包括异物对比度和异物面积，当然也可以为异物的形状，当然的也可以是其他类型的异物特征，本实施例对此不加以限制；从而根据异物特征确定异物为玻璃上表面异物或下表面异物，例如，异物的相对空间特征，所述相对空间特征为异物在所述第一图像或第二图像中的相对空间坐标位置，异物的相对空间特征反映异物的相对位置及离散程度，异物的形状一般为点状或散状，异物的形状反映异物的聚集程度以及分布特征，异物对比度反映异物的亮度，异物面积反映异物的大小，通过获取所述第一异物区域和所述第二异物区域中相同位置的异物特征，能够为后续异物的快速准确的确定为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物做准备。

本实施例通过上述方案，通过从所述异物特征中获取异物的异物对比度和异物面积；根据所述异物对比度和异物面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，能够为后续异物的快速准确的确定为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物做准备，提高了显示面板缺陷检测的速度和效率。

进一步地，图6为本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第六实施例的流程示意图，如图6所示，基于第一实施例提出本发明显示面板玻璃内外异物检测方法第六实施例，在本实施例中，所述步骤S30具体包括以下步骤：

步骤S31、从所述异物特征中获取异物的异物对比度和异物面积。

需要说明的是，所述异物特征一般可以包括异物对比度和异物面积，当然也可以为异物的形状，异物的形状一般为点状或散状，异物的形状反映异物的聚集程度以及分布特征，异物对比度反映异物的亮度，异物面积反映异物的大小，通过获取所述第一异物区域和所述第二异物区域中相同位置的异物特征，能够为后续异物的快速准确的确定为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物做准备。

步骤S32、根据所述异物对比度和异物面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

应当理解的是，通过对相同位置的所述异物对比度和所述异物面积进行比较，能够确定异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，当然除了通过异物对比度和所述异物面积确定玻璃上表面异物或玻璃下表面异物之外，还可以结合异物的形状确定玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，从而使得检测判断结果更加精确，也可以结合异物的相对空间特征确定玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，当然也可以结合其他更多或更少的异物特征来确定玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，本实施例对此不加以限制；在实际操作中也可以采取单一的异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，当然单一的异物特征相对于多种异物特征结合的判断方式，精确度会稍微差一些，但是也是可以实现的，例如单独使用异物对比度，根据异物对比度与预设对比度的大小关系判断的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，或者单独使用异物面积、异物相对空间特征、异物的形状或其他的异物特征进行对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物的判断，本实施例对此不加以限制。

进一步地，所述步骤S32具体包括以下步骤：

将所述第一异物区域的第一异物对比度与所述第二异物区域的第二异物对比度进行比较，并将所述第一异物区域的第一异物面积与所述第二异物区域的第二异物面积进行比较，所述第一异物与所述第二异物位置相同；

在所述第二异物对比度大于所述第一异物对比度，并且所述第二异物面积小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃上表面异物；

在所述第二异物对比度不大于所述第一异物对比度，和/或所述第二异物面积不小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃下表面异物。

需要说明的是，所述第一异物与所述第二异物位置相同；第一图像中的发亮区域即为第一异物区域，分别将第一异物区域中的异物对比度和异物面积与所述第二图像中的第二异物区域进行比较，能够根据比较结果确定异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，即在所述第二异物对比度大于所述第一异物对比度，并且所述第二异物面积小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃上表面异物；在所述第二异物对比度不大于所述第一异物对比度，和/或所述第二异物面积不小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃下表面异物。

在具体实现中，对于同一异常区域，对比度在上表面对焦侧光图中大于下表面对焦侧光图，面积在上表面对焦侧光图中小于下表面对焦侧光图，其为玻璃上表面异物；反之为玻璃下表面异物。

本实施例通过上述方案，通过从所述异物特征中获取异物的异物对比度和异物面积；根据所述异物对比度和异物面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物；能够正确区分微显示面板表面玻璃内外异物，提高了微显示面板表层玻璃内外异物的检测速度和检测准确率，从而提高了有显示缺陷的显示面板的检出率，降低了有显示缺陷的显示面板的过检率，有效提升了产品产能，提升客户良品率。

相应地，本发明进一步提供一种显示面板玻璃内外异物检测装置。

参照图7，图7为本发明显示面板玻璃内外异物检测装置第一实施例的功能模块图。

本发明显示面板玻璃内外异物检测装置第一实施例中，该显示面板玻璃内外异物检测装置包括：

图像采集模块10，用于带有显微镜头的光学机构用带有显微镜头的光学机构从显示面板上表面一侧分别获取显示面板玻璃下表面的第一图像和所述显示面板玻璃上表面的第二图像，所述显示面板为微显示面板。

特征获取模块20，用于从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征。

异物确定模块30，用于根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

其中，显示面板玻璃内外异物检测装置的各个功能模块实现的步骤可参照本发明显示面板玻璃内外异物检测方法的各个实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述显示面板玻璃内外异物检测方法包括：

控制带有显微镜头的光学机构对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，所述显示面板为微显示面板；

通过二次对焦的方式控制所述光学机构再对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像；

从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；

根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

2.如权利要求1所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述通过二次对焦的方式控制所述光学机构再对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像，包括：

根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像。

3.如权利要求1所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述控制带有显微镜头的光学机构对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，包括：

断开显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构的自动对焦环对所述显示面板玻璃的下表面的晶粒表面进行对焦，并对所述下表面的晶粒表面进行图像采集，获得第一图像。

4.如权利要求2所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，根据所述显示面板玻璃的玻璃厚度移动所述光学机构至目标位置，并在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像，包括：

根据玻璃出厂信息或预设经验值获取所述显示面板玻璃的玻璃厚度；

利用高精度运动机构和激光测距机构结合所述玻璃厚度计算所述光学机构的取像移动距离；

断开所述显示面板的电源，为所述显示面板提供侧光；

根据所述取像移动距离移动所述光学机构至目标位置；

在所述目标位置对焦所述显示面板玻璃的上表面后，进行图像采集，获得第二图像。

5.如权利要求1-4中任一项所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征，包括：

将所述第一图像中的发亮区域作为第一异物区域，并将所述第二图像中的发亮区域作为第二异物区域；

获取所述第一异物区域和所述第二异物区域中相同位置的异物特征。

6.如权利要求5所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，包括：

从所述异物特征中获取异物的异物对比度和异物面积；

根据所述异物对比度和异物面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

7.如权利要求6所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述根据所述对比度和面积确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物，包括：

将所述第一异物区域的第一异物对比度与所述第二异物区域的第二异物对比度进行比较，并将所述第一异物区域的第一异物面积与所述第二异物区域的第二异物面积进行比较，所述第一异物与所述第二异物位置相同；

在所述第二异物对比度大于所述第一异物对比度，并且所述第二异物面积小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃上表面异物；

在所述第二异物对比度不大于所述第一异物对比度，和/或所述第二异物面积不小于所述第一异物面积时，判定对应的异物为玻璃下表面异物。

8.如权利要求1所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，当所述显示面板为微发光二极管MicroLED时，所述控制带有显微镜头的光学机构对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，包括：

根据预设自动对焦算法控制带有显微镜头的光学机构自动对焦MicroLED的下表面的LED晶粒表面，获得第一图像。

9.如权利要求1所述的显示面板玻璃内外异物检测方法，其特征在于，所述微显示面板为MicroLED和Micro-Oled中的任一一种或多种。

10.一种显示面板玻璃内外异物检测装置，其特征在于，所述显示面板玻璃内外异物检测装置包括：

第一图像采集模块，用于控制带有显微镜头的光学机构对焦显示面板玻璃的下表面，获得第一图像，所述显示面板为微显示面板；

第二图像采集模块，用于通过二次对焦的方式控制所述光学机构再对焦所述显示面板玻璃的上表面，获得第二图像；

特征获取模块，用于从所述第一图像和所述第二图像中确定异物区域，并获取相同位置的异物区域的异物特征；

异物确定模块，用于根据所述异物特征确定对应的异物为玻璃上表面异物或玻璃下表面异物。

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