CN111736527B - 机床和判定方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供能够判定是否拆下了移设探测部的机床和判定方法。在具备用于探测本机的移设的移设探测部的机床中，具备：通电探测机构(28)，其探测安装所述移设探测部的被安装部(17)与所述移设探测部之间是否通着电；以及CPU(21)，其基于通电探测机构(28)的探测结果，来判定是否拆下了所述移设探测部。

Description

机床和判定方法
技术领域
本发明涉及一种能够判定是否拆下了用于探测本机的移设的移设探测部的机床和判定方法。
背景技术
以往以来，对机床的移设进行监视的方法逐渐普及。日本专利公开公报第2007-334395号公开了一种使用陀螺仪传感器来探测机床的移设的有无机床移设探测装置。
除此以外，还有一种使用光传感器探测机床的设置面(地面)与机床之间的距离变化来探测机床的移设的技术。在日本专利公开公报第2007-334395号的有无机床移设探测装置中存在如下问题：在从作为监视对象的机床拆下了该有无机床移设探测装置时，无法探测作为监视对象的机床的移设，无法应对作为监视对象的机床的不适当的移设等。所述问题在使用光传感器时也同样。
发明内容
本发明的目的在于，提供能够利用简单的结构来判定是否拆下了移设探测部且能够以低成本解决上述问题的机床和判定方法。
技术方案1的机床具备用于探测本机的移设的移设探测部，在所述机床中，具备：通电探测机构，其探测安装所述移设探测部的被安装部与所述移设探测部之间是否通着电；以及判定部，其基于所述通电探测机构的探测结果，来判定是否拆下了所述移设探测部。
通电探测机构探测安装移设探测部的被安装部与移设探测部之间是否相互通电。在通电探测机构探测到被安装部与移设探测部之间没有相互通电时，判定部判定为拆下了移设探测部。
技术方案2的机床的所述通电探测机构具备：第一电阻，其一端与电源连接，另一端与所述判定部电连接；第一连接部，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；以及第二连接部，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，所述判定部基于所述第一电阻与所述第一连接部之间的第一电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
电源、第一电阻、第一连接部、被安装部以及第二连接部构成上拉(pull up)电路。因此，在从第一连接部或第二连接部拆下了被安装部时，第一电阻与第一连接部之间的第一电压发生变化，因此判定部基于该变化来判定是否拆下了移设探测部。
技术方案3的机床的所述通电探测机构还具备：第二电阻，其一端与所述电源连接，另一端与所述判定部连接；以及第三连接部，其将所述第二电阻的另一端与所述被安装部电连接，所述第三连接部与所述第一连接部或所述第二连接部通电，所述判定部基于所述第一电压以及所述第二电阻与所述第三连接部之间的第二电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
第二电阻的一端与电源连接，另一端与所述判定部连接，第三连接部与所述第二电阻的另一端及所述被安装部电连接。因此，在从第三连接部拆下了被安装部时，第二电阻与第三连接部之间的第二电压发生变化。判定部基于所述第一电压和所述第二电压来判定是否拆下了移设探测部。
技术方案4的机床的所述通电探测机构还具备：第二电阻，其一端与所述电源连接，另一端与所述判定部连接；第三连接部，其将所述第二电阻的另一端与所述被安装部电连接；以及第四连接部，其与所述第三连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，所述判定部基于所述第一电压以及所述第二电阻与所述第三连接部之间的第二电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
电源、第二电阻、第三连接部、被安装部以及第四连接部构成所谓的上拉电路。因此，在从第三连接部或第四连接部拆下了被安装部时，第二电阻与第三连接部之间的第二电压发生变化。判定部基于所述第一电压和所述第二电压来判定是否拆下了移设探测部。
技术方案5的机床的所述判定部在所述第一电压和所述第二电压中的至少一方为阈值以上时，判定为拆下了所述移设探测部。
在第一电压和第二电压中的至少一方为阈值以上时，即从第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部中的至少一者拆下了被安装部时，判定部判定为拆下了移设探测部。
技术方案6的机床的所述判定部在所述第一电压和所述第二电压这两方为阈值以上时，判定为拆下了所述移设探测部。
在第一电压和第二电压这两方为阈值以上时，即从第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部全部拆下了被安装部时，判定部判定为拆下了移设探测部。
在技术方案7的机床中，所述第一连接部和所述第二连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
第一连接部和第二连接部中的至少一者是用于将移设探测部固定于被安装部的例如内螺纹凸台(日语：スタッドボス)。
在技术方案8的机床中，所述第三连接部和所述第四连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
第三连接部和第四连接部中的至少一者是用于将移设探测部固定于被安装部的例如内螺纹凸台。
在技术方案9的机床中，所述通电探测机构具备：第一电阻，其一端与电源连接，另一端与所述判定部电连接；第一连接部，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；第二连接部，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接；第三连接部，其将所述第一电阻的所述另一端与所述被安装部电连接；以及第四连接部，其与所述第三连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，所述判定部基于所述第一电阻的所述另一端的电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
电源、第一电阻、第一连接部、被安装部以及第二连接部构成所谓的上拉电路。因此，在从第一连接部或第二连接部拆下了被安装部时，所述第一电阻的另一端的电压发生变化。另外，所述电源、所述第一电阻、第三连接部、所述被安装部以及第四连接部构成另外的上拉电路。因此，在从第三连接部或第四连接部拆下了被安装部时，所述第一电阻的另一端的电压也发生变化。因此，判定部基于所述第一电阻的另一端的电压来判定是否拆下了移设探测部。
在技术方案10的机床中，所述第一连接部、所述第二连接部、所述第三连接部以及所述第四连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部中的至少一者是用于将移设探测部固定于被安装部的例如内螺纹凸台。
技术方案11的判定方法在具备用于探测本机的移设的移设探测部的机床中判定是否拆下了所述移设探测部，在该判定方法中，探测安装所述移设探测部的被安装部与所述移设探测部之间是否通着电，基于所述探测的结果来判定是否拆下了所述移设探测部。
探测安装所述移设探测部的被安装部与所述移设探测部之间是否相互通电，在探测到被安装部与移设探测部之间没有通电时，判定为拆下了移设探测部。
附图说明
图1是大致示出实施方式1的机床的立体图。
图2是大致示出实施方式1的机床的主要部分结构的框图。
图3是说明实施方式1的机床中的移设探测装置的安装的说明图。
图4是表示实施方式1的机床的通电探测机构的概要电路图。
图5是表示实施方式2的机床的通电探测机构的概要电路图。
图6是表示实施方式3的机床的通电探测机构的概要电路图。
图7是表示实施方式4的机床的通电探测机构的概要电路图。
具体实施方式
下面，基于附图来说明本实施方式的机床。
(实施方式1)
如图1和图2所示，机床100具备基台1、机床主体2、机床罩3、操作部4以及控制装置10。基台1支承机床主体2。机床罩3覆盖机床主体2。控制装置10固定在机床主体2的后侧。操作部4具备显示部4a、开关、按钮、触摸面板等，用于受理操作者的操作。机床主体2具备主轴驱动机构2a和工件保持部驱动机构2b。主轴驱动机构2a执行用于安装刀具的主轴的旋转和主轴的上下左右前后移动。工件保持部驱动机构2b执行用于保持工件的工件保持部的旋转。控制装置10具备CPU 11、ROM 12、RAM 13、非易失性存储部14、输入输出接口(以下，称为输入输出I/F。)16等。CPU 11将ROM 12中保存的控制程序读出到RAM 13，来对主轴驱动机构2a、工件保持部驱动机构2b等进行控制。非易失性存储部14是EEPROM(注册商标)、EPROM、快闪存储器等。也可以使用硬盘来代替非易失性存储部14。经由输入输出I/F 16从操作部4向控制装置10输入操作信号。经由输入输出I/F 16从控制装置10向主轴驱动机构2a、工件保持部驱动机构2b等输出驱动/停止信号。
机床100具备电源5、电源开关6以及移设探测装置20。电源开关6用于将电源5在接通/断开之间进行切换。移设探测装置20探测是否发生了对机床100的不适当的移设或不适当的改造。当在机床100的电源断开时探测到阈值以上的振动时，移设探测装置20将振动值超过阈值的意思的信号(超过信号)发送到控制装置10。移设探测装置20具有电池27、CPU21(判定部)、ROM 22、RAM 23、非易失性存储部24、通电探测机构28、振动传感器25、输入输出接口(以下，称为输入输出I/F。)26等。CPU 21将ROM 22中保存的控制程序读出到RAM 23，来执行探测对机床100的移设、改造的处理。
非易失性存储部24存储用于与振动传感器25探测到的振动值进行比较的阈值。非易失性存储部24是EEPROM(注册商标)、EPROM、快闪存储器等。也可以使用硬盘来代替非易失性存储部24。
电源开关6经由输入输出I/F 16、26向移设探测装置20输入表示电源5的接通或断开的信号。振动传感器25检测机床100的振动的大小。关于振动传感器25，使用加速度传感器或陀螺仪传感器等。在由振动传感器25检测到的振动值超过预先设定的阈值时，CPU 21将超过信号输出到控制装置10。移设探测装置20具有电池27，因此即使在电源5断开的状态下，也能够执行上述处理。
通电探测机构28探测安装移设探测装置20的被安装部与移设探测装置20之间是否通着电。在下面，为了方便，说明将移设探测装置20设置在控制装置10内的例子。通电探测机构28探测移设探测装置20与后述的控制装置10的金属板17(被安装部)之间是否为通电状态。通电探测机构28将探测结果输出到CPU 21。在后面叙述通电探测机构28。
控制装置10和移设探测装置20在判定为发生了对机床100的不适当的移设或不适当的改造时，限制此后的机床100的运转。在机床100的电源断开时，振动传感器25探测振动，在探测到的振动为阈值以上时，移设探测装置20将超过信号发送到控制装置10。接收到超过信号的控制装置10(CPU 11)将显示警告的指示信号输出到显示部4a，禁止机床主体2运转。CPU 11将此后从操作部4接收到的用于驱动主轴驱动机构2a或工件保持部驱动机构2b的驱动信号设为无效。控制装置10根据移设探测装置20输出的超过信号，来限制机床100的运转。但是，即使发生了对机床100的不适当的移设或不适当的改造，只要移设探测装置20不输出超过信号，就无法由控制装置10限制机床100的运转。在从机床100拆下了移设探测装置20时，即使发生了不适当的移设或不适当的改造，也无法由控制装置10限制机床100的运转。实施方式1的机床100能够应对这种问题。
如图3所示，在实施方式1的机床100中，使用导电性的内螺纹凸台171和螺钉172来将移设探测装置20固定于控制装置10的金属板17。构成移设探测装置20的基板29在四角具有沿基板29的厚度方向贯通的贯通孔。作业者将螺钉172(固定构件)插进各贯通孔并将螺钉172紧固于内螺纹凸台171，来将移设探测装置20(基板29)安装于金属板17。内螺纹凸台171是内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D(固定构件)这4个，均处于基板29与金属板17之间。基板29是矩形且是绝缘性的，内螺纹凸台171A(第一连接部)与内螺纹凸台171B(第二连接部)之间经由金属板17进行通电，以及内螺纹凸台171C(第三连接部)与未图示的内螺纹凸台171D(第四连接部)之间经由金属板17进行通电。在移设探测装置20的基板29上构成通电探测机构28，通电探测机构28使用金属板17来构成用于对移设探测装置20的拆下进行检测的电路。
如图4所示，通电探测机构28具有由电压为5V的电池形成的电源281。电源281也可以兼用作移设探测装置20的电池27。电源281的一端与电阻282(第一电阻)的一端电连接，电源281的另一端与作为GND(地)的导电体283(固定电位)电连接。电阻282例如为10kΩ-50kΩ。
电阻282的另一端在连接节点D1处分支为两路，一方与CPU 21的第一输入端子211电连接，另一方与内螺纹凸台171A电连接。CPU 21与导电体283电连接。CPU 21也可以是GPU、微控制器等。内螺纹凸台171A经由金属板17来与内螺纹凸台171B进行通电，内螺纹凸台171B与导电体283电连接。内螺纹凸台171B经由导电体283来与电源281电连接。通电探测机构28构成上拉电路。因此，在内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B电连接于连接节点D1时，即移设探测装置20被固定于金属板17时，来自电源281的电流依次流过电阻282、连接节点D1、内螺纹凸台171A、金属板17、内螺纹凸台171B以及导电体283。电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。
在内螺纹凸台171A或内螺纹凸台171B未电连接于连接节点D1时，即从金属板17(内螺纹凸台171A)拆下了移设探测装置20时，来自电源281的电流不从连接节点D1流向内螺纹凸台171A侧，电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”。因此，CPU21监视向第一输入端子211输入的第一电压，在第一电压大于阈值(例如1V)时，能够判定为从金属板17拆下了移设探测装置20。CPU 21在判定为从金属板17拆下了移设探测装置20时，向控制装置10发送上述的超过信号。接收到超过信号的控制装置10将显示警告的指示信号输出到显示部4a，禁止机床主体2运转。
以上，说明了通电探测机构28与内螺纹凸台171A及内螺纹凸台171B电连接的例子，但不限于此。通电探测机构28也可以构成为与内螺纹凸台171C及内螺纹凸台171D电连接。
实施方式1的机床100能够在从金属板17拆下了移设探测装置20时迅速地探测到该拆下，能够快速地应对移设探测装置20的不适当的拆下。实施方式1的机床100能够以简单的构造且廉价地探测移设探测装置20的不适当的拆下。
(实施方式2)
如图5所示，通电探测机构28A具有由电压为5V的电池形成的电源281。电源281也可以兼用作移设探测装置20的电池27。电源281的一端在连接节点D2处分支为两路，一方与电阻282的一端电连接，另一方与电阻284(第二电阻)的一端电连接。电源281的另一端与导电体283电连接，电阻282和电阻284为10kΩ-50kΩ。电阻282的另一端在连接节点D1处分支为两路，一方与CPU21的第一输入端子211电连接，另一方与内螺纹凸台171A电连接。CPU 21与导电体283电连接。CPU 21也可以是GPU、微计算机等。
内螺纹凸台171A与内螺纹凸台171B经由金属板17进行通电，内螺纹凸台171B与导电体283电连接。其中，金属板17被二分割为具有内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B的一侧以及具有内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D的一侧。电阻284的另一端在连接节点D3处分支为两路，一方与CPU 21的第二输入端子212电连接，另一方与内螺纹凸台171C电连接。内螺纹凸台171C与内螺纹凸台171D经由金属板17进行通电，内螺纹凸台171D与导电体283电连接。即内螺纹凸台171D经由导电体283来与电源281电连接。因此，在内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流依次流过连接节点D2、电阻282、连接节点D1、内螺纹凸台171A、金属板17、内螺纹凸台171B以及导电体283。电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。在内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D电连接于连接节点D3时，来自电源281的电流依次流过连接节点D2、电阻284、连接节点D3、内螺纹凸台171C、金属板17、内螺纹凸台171D以及导电体283。电阻284与内螺纹凸台171C之间的电压即向CPU 21的第二输入端子212输入的第二电压为“0(零)V”。即在移设探测装置20正确地固定于金属板17时，向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压为“0V”。
在内螺纹凸台171A或内螺纹凸台171B未电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流不从连接节点D1流向内螺纹凸台171A侧，电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”。在内螺纹凸台171C或内螺纹凸台171D未连接于连接节点D3时，来自电源281的电流不从连接节点D3流向内螺纹凸台171C侧，电阻284与内螺纹凸台171C之间的电压即向CPU 21的第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。
在从金属板17拆下了移设探测装置20时，即从内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D中的任一个拆下了移设探测装置20时，向第一输入端子211输入的第一电压或向第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。
在从金属板17拆下了移设探测装置20时，即从内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B中的任一个拆下了移设探测装置20，从内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D中的任一个拆下了移设探测装置20时，向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。
因此，CPU 21监视向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压，能够探测到是即将从金属板17拆下移设探测装置20还是从金属板17拆下了移设探测装置20。
在第一电压和第二电压中的任一方大于阈值(例如1V)时，CPU 21能够判定为正在从金属板17拆下移设探测装置20。在第一电压和第二电压这两方大于阈值时，CPU 21能够判定为进一步进行了移设探测装置20从金属板17的拆下。也可以是，在第一电压和第二电压中的至少一方大于阈值时，即从内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D中的至少一个拆下了移设探测装置20时，CPU21判定为从金属板17拆下了移设探测装置20。
如以上那样，在判定为从金属板17拆下了移设探测装置20时，CPU 21向控制装置10发送超过信号。接收到超过信号的控制装置10将显示警告的指示信号输出到显示部4a，禁止机床主体2运转。因此，能够提前防止机床的移设探测装置20的拆下。
还能够设想到由于某些原因，要拆下内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D中的某一个的情况，因此也可以是，仅在第一电压和第二电压这两方大于阈值时，CPU 21向控制装置10发送超过信号。
实施方式2的机床100不限于此。也可以构成为：在第一电压和第二电压中的任一方大于阈值时，CPU 21向控制装置10发送第一次超过信号，接收到第一次超过信号的控制装置10将显示警告的指示信号输出到显示部4a。此时，机床100不禁止机床主体2运转。此后，在第一电压和第二电压这两方大于阈值时，CPU 21向控制装置10发送第二次超过信号，接收到第二次超过信号的控制装置10禁止机床主体2运转。
实施方式2的机床100能够以简单的构造且廉价地探测移设探测装置20的不适当的拆下。
(实施方式3)
如图6所示，通电探测机构28B具有由5V的电池形成的电源281。电源281也可以兼用作移设探测装置20的电池27。
电源281的一端与电阻282的一端电连接，电源281的另一端与导电体283电连接。电阻282例如为10kΩ-50kΩ。电阻282的另一端在连接节点D1处分支为三路，第一路与CPU21的第一输入端子211电连接，第二路与内螺纹凸台171A电连接，第三路与内螺纹凸台171C电连接。CPU 21与导电体283电连接。
内螺纹凸台171A与内螺纹凸台171B经由金属板17进行通电，内螺纹凸台171B与导电体283电连接。内螺纹凸台171C与内螺纹凸台171D经由金属板17进行通电，内螺纹凸台171D与导电体283电连接。其中，金属板17被二分割为具有内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B的一侧以及具有内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D的一侧。
因此，在内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流依次流过电阻282、连接节点D1、内螺纹凸台171A、金属板17、内螺纹凸台171B以及导电体283。在内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流依次流过电阻282、连接节点D1、内螺纹凸台171C、金属板17、内螺纹凸台171D以及导电体283。连接节点D1处的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。
在实施方式3的机床100中，在内螺纹凸台171A或内螺纹凸台171B未电连接于连接节点D1且内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D连接于连接节点D1时，向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。在内螺纹凸台171C或内螺纹凸台171D未电连接于连接节点D1且内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B连接于连接节点D1时，向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。
在从金属板17拆下了移设探测装置20时，即从内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B中的任一个拆下了移设探测装置20且从内螺纹凸台171C和内螺纹凸台171D中的任一个拆下了移设探测装置20时，向第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”。因此，CPU 21监视向第一输入端子211输入的第一电压，能够探测到是否从金属板17拆下了移设探测装置20。在第一电压大于阈值(例如1V)时，CPU 21能够判定为从金属板17拆下了移设探测装置20。在第一电压大于阈值时，CPU 21向控制装置10发送超过信号。接收到超过信号的控制装置10将显示警告的指示信号输出到显示部4a，禁止机床主体2运转。
实施方式3的机床100能够迅速地探测到从金属板17拆下了移设探测装置20，能够快速地应对移设探测装置20的不适当的拆下。实施方式3的机床100使用一个电阻282来构成通电探测机构28B，能够减少部件的件数，能够更廉价地探测移设探测装置20的不适当的拆下。
以上，说明了使用内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D将移设探测装置20安装于金属板17的例子，但不限于此。也可以是，使用内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D中的至少一个来在至少一个部位将移设探测装置20安装于金属板17，在其它部位利用铜线或电线将移设探测装置20与金属板17电连接。
(实施方式4)
如图7所示，通电探测机构28C具有由5V的电池形成的电源281。电源281也可以兼用作移设探测装置20的电池27。电源281的一端在连接节点D2处分支为两路，一方与电阻282的一端电连接，另一方与电阻284的一端电连接。电源281的另一端与导电体283电连接，电阻282和电阻284例如为10kΩ-50kΩ。电阻282的另一端在连接节点D1处分支为两路，一方与CPU 21的第一输入端子211电连接，另一方与内螺纹凸台171A电连接。CPU 21与导电体283电连接。CPU 21也可以是GPU、微计算机等。
内螺纹凸台171A与内螺纹凸台171B经由金属板17进行通电，内螺纹凸台171B与导电体283电连接。电阻284的另一端在连接节点D3处分支为两路，一方与CPU 21的第二输入端子212电连接，另一方与内螺纹凸台171C电连接。内螺纹凸台171C经由金属板17来与内螺纹凸台171A及内螺纹凸台171B进行通电。因此，在内螺纹凸台171A和内螺纹凸台171B电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流依次流过连接节点D2、电阻282、连接节点D1、内螺纹凸台171A、金属板17、内螺纹凸台171B以及导电体283。电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压为“0(零)V”。在内螺纹凸台171C(内螺纹凸台171B)电连接于连接节点D3时，来自电源281的电流依次流过连接节点D2、电阻284、连接节点D3、内螺纹凸台171C、金属板17、内螺纹凸台171B以及导电体283。电阻284与内螺纹凸台171C之间的电压即向CPU 21的第二输入端子212输入的第二电压为“0V”。即在移设探测装置20正确地固定于金属板17时，向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压均为“0V”。在内螺纹凸台171A未电连接于连接节点D1时，来自电源281的电流不从连接节点D1流向内螺纹凸台171A侧，电阻282与内螺纹凸台171A之间的电压即向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”。在内螺纹凸台171C未连接于连接节点D3时，来自电源281的电流不从连接节点D3流向内螺纹凸台171C侧，电阻284与内螺纹凸台171C之间的电压即向CPU 21的第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。在从内螺纹凸台171B拆下了移设探测装置20时，来自电源281的电流不从连接节点D1流向内螺纹凸台171A侧，也不从连接节点D3流向内螺纹凸台171C侧。因此，向CPU 21的第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”，向CPU 21的第二输入端子212输入的第二电压也变为“5V”。即在从内螺纹凸台171A或内螺纹凸台171C拆下了移设探测装置20时，向第一输入端子211输入的第一电压或向第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。在从内螺纹凸台171B拆下了移设探测装置20时以及从内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171C全部拆下了移设探测装置20时，向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压变为“5V”。因此，CPU21监视向第一输入端子211输入的第一电压和向第二输入端子212输入的第二电压，能够探测到是否从金属板17拆下了移设探测装置20。
在第一电压和第二电压中的至少一方大于阈值时，CPU 21能够迅速地判定为从金属板17拆下了移设探测装置20。
如以上那样，在判定为从金属板17拆下了移设探测装置20时，CPU 21向控制装置10发送超过信号。接收到超过信号的控制装置10将显示警告的指示信号输出到显示部4a，禁止机床主体2运转。
以上说明了使用内螺纹凸台171将移设探测装置20安装于金属板17的例子，但也可以使用焊接。
以上说明了内螺纹凸台171为导电性的例子，但不限于此。也可以是，使用绝缘性的内螺纹凸台171，利用另外的铜线或电线将移设探测装置20与金属板17电连接。在该情况下，移设探测装置20(CPU 21)监视所述铜线或电线的通电即可。
以上说明了使用内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D来将移设探测装置20安装于金属板17的例子，但不限于此。也可以是，使用内螺纹凸台171A-内螺纹凸台171D中的至少一个来在至少一个部位将移设探测装置20安装于金属板17，在其它部位利用铜线或电线将移设探测装置20与金属板17电连接。
在图6中，也可以是，不分割金属板17地使用一张的金属板17，将内螺纹凸台171C与导电体283电连接。在该情况下，在从内螺纹凸台171A拆下了移设探测装置20时，或者至少从内螺纹凸台171B、内螺纹凸台171C、内螺纹凸台171D拆下了移设探测装置20时，向CPU21的第一输入端子211输入的第一电压变为“5V”。
电源281的电压为5V，但不限于5V。

Claims (11)

1.一种机床，具备用于探测本机的移设的移设探测部(20)，所述机床(100)的特征在于，具备：
通电探测机构(28)，其探测安装所述移设探测部的被安装部(17)与所述移设探测部之间是否通着电；以及
判定部(21)，其基于所述通电探测机构的探测结果，来判定是否拆下了所述移设探测部，
其中，所述通电探测机构具备：
第一电阻(282)，其一端与电源(281)连接，另一端与所述判定部电连接；
第一连接部(171A)，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；以及
第二连接部(171B)，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，
所述判定部基于所述第一电阻与所述第一连接部之间的第一电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
2.根据权利要求1所述的机床，其特征在于，
所述通电探测机构还具备：
第二电阻(284)，其一端与所述电源连接，另一端与所述判定部连接；以及
第三连接部(171C)，其将所述第二电阻的另一端与所述被安装部电连接，
所述第三连接部与所述第一连接部或所述第二连接部通电，
所述判定部基于所述第一电压以及所述第二电阻与所述第三连接部之间的第二电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
3.根据权利要求1所述的机床，其特征在于，
所述通电探测机构还具备：
第二电阻，其一端与所述电源连接，另一端与所述判定部连接；
第三连接部，其将所述第二电阻的另一端与所述被安装部电连接；以及
第四连接部(171D)，其与所述第三连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，
所述判定部基于所述第一电压以及所述第二电阻与所述第三连接部之间的第二电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
4.根据权利要求2或3所述的机床，其特征在于，
在所述第一电压和所述第二电压中的至少一方为阈值以上时，所述判定部判定为拆下了所述移设探测部。
5.根据权利要求2或3所述的机床，其特征在于，
在所述第一电压和所述第二电压这两方为阈值以上时，所述判定部判定为拆下了所述移设探测部。
6.根据权利要求1所述的机床，其特征在于，
所述第一连接部和所述第二连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
7.根据权利要求3所述的机床，其特征在于，
所述第三连接部和所述第四连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
8.一种机床，具备用于探测本机的移设的移设探测部(20)，所述机床(100)的特征在于，具备：
通电探测机构(28)，其探测安装所述移设探测部的被安装部(17)与所述移设探测部之间是否通着电；以及
判定部(21)，其基于所述通电探测机构的探测结果，来判定是否拆下了所述移设探测部，
其中，所述通电探测机构具备：
第一电阻，其一端与电源连接，另一端与所述判定部电连接；
第一连接部，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；
第二连接部，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接；
第三连接部，其将所述第一电阻的所述另一端与所述被安装部电连接；以及
第四连接部，其与所述第三连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，
所述判定部基于所述第一电阻的所述另一端的电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
9.根据权利要求8所述的机床，其特征在于，
所述第一连接部、所述第二连接部、所述第三连接部以及所述第四连接部中的至少一者是用于将所述移设探测部固定于所述被安装部的固定构件。
10.一种判定方法，在具备用于探测本机的移设的移设探测部以及判定是否拆下了所述移设探测部的判定部的机床中，判定是否拆下了所述移设探测部，在所述判定方法中，
由通电探测机构探测安装所述移设探测部的被安装部与所述移设探测部之间是否通着电，其中，所述通电探测机构具备：第一电阻(282)，其一端与电源(281)连接，另一端与所述判定部电连接；第一连接部(171A)，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；以及第二连接部(171B)，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，
基于所述第一电阻与所述第一连接部之间的第一电压来判定是否拆下了所述移设探测部。
11.一种判定方法，在具备用于探测本机的移设的移设探测部以及判定是否拆下了所述移设探测部的判定部的机床中，判定是否拆下了所述移设探测部，在所述判定方法中，
由通电探测机构探测安装所述移设探测部的被安装部与所述移设探测部之间是否通着电，其中，所述通电探测机构具备：第一电阻，其一端与电源连接，另一端与所述判定部电连接；第一连接部，其将所述第一电阻的另一端与所述被安装部电连接；第二连接部，其与所述第一连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接；第三连接部，其将所述第一电阻的所述另一端与所述被安装部电连接；以及第四连接部，其与所述第三连接部通电，经由固定电位来与所述电源连接，
基于所述第一电阻的所述另一端的电压，来判定是否拆下了所述移设探测部。
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