CN111736392A - 一种配向摩擦管控方法及摩擦设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种配向摩擦管控方法,包括步骤1:提供如图3所示的摩擦辊,所述摩擦辊具有配向圆周表面和测量圆周表面,所述配向圆周表面上设有第一摩擦毛,所述测量圆周表面上设有第二摩擦毛,所述第一摩擦毛和第二摩擦毛具有不同的摩擦效果;步骤2:采用所述摩擦辊的配向圆周表面摩擦液晶配向层的表面,以在所述液晶配向层表面上形成配向区域;步骤3:若所述液晶配向层表面上不具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,或者,所述液晶配向层表面上具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,且所述测量区域的摩擦角小于管控值,则合格。该配向摩擦管控方法不仅能够缩短检测时间,而且能够节省生产原料浪费,既提高产能,又节省物料及人力资源。本发明还公开了一种摩擦设备。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术,尤其涉及一种配向摩擦管控方法及摩擦设备。
背景技术
如图1所示,液晶面板包括相对成盒的阵列基板1’和彩膜基板2’,以及填充于所述阵列基板1’和彩膜基板2’之间的液晶分子3’;所述阵列基板1’和彩膜基板2’的内侧表面上都设有一液晶配向层11’、21’,所述液晶配向层11’、21’具有定向的沟槽以向所述液晶分子3’提供预倾角;所述液晶配向层11’、21’的沟槽是通过摩擦辊在所述液晶配向层11’、21’上进行定向摩擦形成的,摩擦的好坏直接影响液晶分子的取向,进而影响液晶面板的显示品质。
由于每个摩擦辊之间存在摩擦毛方向、偏芯度等差异,摩擦角与理论值会有差异,从而影响产品的对比度,故每次更换新的摩擦辊后都需要对摩擦角进行测量管控。
在现有的配向摩擦管控方法中,需要采用摩擦辊先对所述阵列基板1’和彩膜基板2’上摩擦出沟槽,然后将所述阵列基板1’和彩膜基板2’对盒并填充液晶分子3’以形成完整的液晶面板,最后将所述液晶面板驱动点亮,通过测量液晶分子3’的扭曲角大小,进而推算出摩擦角大小,只有所述摩擦角在管控值范围内,才能将所述摩擦辊用于进行后续液晶面板的量产。
上述配向摩擦管控方法需要完成整个液晶面板的生产工序,不仅耗费时间巨大,需要等到所述摩擦角的检测结果出来后才能进行量产,导致生产设备的长时间空置和生产人员的长时间等待,而且浪费生产原料,既严重影响产能,又存在物料及人力资源的浪费。
发明内容
为了解决上述现有技术的不足,本发明提供一种配向摩擦管控方法,不仅能够缩短检测时间,而且能够节省生产原料浪费,既提高产能,又节省物料及人力资源。
本发明还提供一种摩擦设备。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现:
一种配向摩擦管控方法,包括如下步骤
步骤1:提供如图3所示的摩擦辊,所述摩擦辊具有配向圆周表面和测量圆周表面,所述配向圆周表面上设有第一摩擦毛,所述测量圆周表面上设有第二摩擦毛,所述第一摩擦毛和第二摩擦毛具有不同的摩擦效果;
步骤2:采用所述摩擦辊的配向圆周表面摩擦液晶配向层的表面,以在所述液晶配向层表面上形成配向区域;
步骤3:若所述液晶配向层表面上不具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,或者,所述液晶配向层表面上具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,且所述测量区域的摩擦角小于管控值,则合格。
进一步地,所述配向圆周表面位于所述摩擦辊的中部,所述测量圆周表面有一处或两处,位于所述摩擦辊的一端或两端。
进一步地,所述第一摩擦毛可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛不同。
进一步地,所述第一摩擦毛在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛要小。
进一步地,所述摩擦角=arctan(a/b),其中,a为所述测量区域对应于所述液晶配向层的第一边的第一边缘的长度,b为所述测量区域对应于所述液晶配向层的第二边的第二边缘的长度,所述液晶配向层的第一边和第二边相垂直。
一种摩擦设备,包括摩擦辊,所述摩擦辊具有配向圆周表面和测量圆周表面,所述配向圆周表面上设有第一摩擦毛,所述测量圆周表面上设有第二摩擦毛,所述第一摩擦毛和第二摩擦毛具有不同的摩擦效果。
进一步地,所述配向圆周表面位于所述摩擦辊的中部,所述测量圆周表面有一处或两处,位于所述摩擦辊的一端或两端。
进一步地,所述第一摩擦毛可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛不同。
进一步地,所述第一摩擦毛在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛要小。
本发明具有如下有益效果:该配向摩擦管控方法无需完成整个液晶面板的生产工序,也能够检测出所述液晶配向层表面上的摩擦角,以在量产前对所述摩擦辊进行管控,不仅能够缩短检测时间,而且能够节省生产原料浪费,既提高产能,又节省物料及人力资源。
附图说明
图1为现有的液晶面板的示意图;
图2为本发明提供的配向摩擦管控方法的步骤框图;
图3为本发明提供的摩擦辊的示意图;
图4为本发明提供的检测基板摩擦后的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。
实施例一
如图2所示,一种配向摩擦管控方法,包括如下步骤
步骤1:提供如图3所示的摩擦辊1,所述摩擦辊1具有配向圆周表面11和测量圆周表面12,所述配向圆周表面11上设有第一摩擦毛13,所述测量圆周表面12上设有第二摩擦毛14,所述第一摩擦毛13和第二摩擦毛14具有不同的摩擦效果。
在该步骤1中,如图4所示,所述配向圆周表面11指的是所述摩擦辊1上用于在所述液晶配向层2表面摩擦出配向区域21的圆周表面,所述配向区域21用于向液晶分子提供预倾角;所述测量圆周表面12指的是所述摩擦辊1上用于在所述液晶配向层2表面摩擦出测试区域的圆周表面,所述测试区域用于测量摩擦角。
其中,所述配向圆周表面11位于所述摩擦辊1的中部,所述测量圆周表面12有一处或两处,位于所述摩擦辊1的一端或两端。
为了达到不同的摩擦效果,所述第一摩擦毛13可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛14不同,本实施例中,所述第一摩擦毛13在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛14要小,优选地,所述第一摩擦毛13在密度和硬度上均比所述第二摩擦毛14要小。
所述摩擦辊1包括辊芯和包裹于所述辊芯圆周表面上的摩擦布,所述第一摩擦毛13和第二摩擦毛14均设于所述摩擦布上。
步骤2:采用所述摩擦辊1的配向圆周表面11摩擦液晶配向层2的表面,以在所述液晶配向层2表面上形成配向区域21。
在该步骤2中,所述液晶配向层2承载于一基板表面上,所述基板可以为液晶面板的阵列基板或彩膜基板,也可以为一空白玻璃;所述液晶配向层2优选采用PI(聚酰亚胺)材质。
步骤3:若所述液晶配向层2表面上不具有由所述摩擦辊1的测量圆周表面12摩擦形成的测量区域22,或者,所述液晶配向层2表面上具有由所述摩擦辊1的测量圆周表面12摩擦形成的测量区域22,且所述测量区域22的摩擦角小于管控值,则合格。
在该步骤3中,由于所述第一摩擦毛13和第二摩擦毛14具有不同的摩擦效果,技术人员可直接通过观察所述液晶配向层2的表面来判断是否存在所述测量区域22,若存在所述测量区域22的话,也可观察到所述测量区域22的范围并计算出所述测量区域22的摩擦角,所述摩擦角=arctan(a/b),其中,a为所述测量区域22对应于所述液晶配向层2的第一边的第一边缘的长度,b为所述测量区域22对应于所述液晶配向层2的第二边的第二边缘的长度,所述液晶配向层2的第一边和第二边相垂直。
优选地,技术人员可采用微观检查机观察所述液晶配向层2的表面,以及测量所述液晶配向层2的第一边缘和第二边缘的长度。
本实施例以与所述摩擦辊1的摩擦方向Z相垂直的一边作为所述液晶配向层2的第一边,以与所述摩擦辊1的摩擦方向Z相平行的一边作为所述液晶配向层2的第二边,所述管控值为0.5°左右。
该配向摩擦管控方法无需完成整个液晶面板的生产工序,也能够检测出所述液晶配向层2表面上的摩擦角,以在量产前对所述摩擦辊1进行管控,不仅能够缩短检测时间,而且能够节省生产原料浪费,既提高产能,又节省物料及人力资源。
实施例二
一种摩擦设备,包括如图3所示的摩擦辊1,所述摩擦辊1具有配向圆周表面11和测量圆周表面12,所述配向圆周表面11上设有第一摩擦毛13,所述测量圆周表面12上设有第二摩擦毛14,所述第一摩擦毛13和第二摩擦毛14具有不同的摩擦效果。
所述配向圆周表面11指的是所述摩擦辊1上用于在所述液晶配向层2表面摩擦出配向区域21的圆周表面,所述配向区域21用于向液晶分子提供预倾角;所述测量圆周表面12指的是所述摩擦辊1上用于在所述液晶配向层2表面摩擦出测试区域的圆周表面,所述测试区域用于测量摩擦角。
其中,所述配向圆周表面11位于所述摩擦辊1的中部,所述测量圆周表面12有一处或两处,位于所述摩擦辊1的一端或两端。
为了达到不同的摩擦效果,所述第一摩擦毛13可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛14不同,本实施例中,所述第一摩擦毛13在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛14要小,优选地,所述第一摩擦毛13在密度和硬度上均比所述第二摩擦毛14要小。
所述摩擦辊1包括辊芯和包裹于所述辊芯圆周表面上的摩擦布,所述第一摩擦毛13和第二摩擦毛14均设于所述摩擦布上。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制,但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案,均应落在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种配向摩擦管控方法,其特征在于,包括如下步骤
步骤1:提供如图3所示的摩擦辊,所述摩擦辊具有配向圆周表面和测量圆周表面,所述配向圆周表面上设有第一摩擦毛,所述测量圆周表面上设有第二摩擦毛,所述第一摩擦毛和第二摩擦毛具有不同的摩擦效果;
步骤2:采用所述摩擦辊的配向圆周表面摩擦液晶配向层的表面,以在所述液晶配向层表面上形成配向区域;
步骤3:若所述液晶配向层表面上不具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,或者,所述液晶配向层表面上具有由所述摩擦辊的测量圆周表面摩擦形成的测量区域,且所述测量区域的摩擦角小于管控值,则合格。
2.根据权利要求1所述配向摩擦管控方法,其特征在于,所述配向圆周表面位于所述摩擦辊的中部,所述测量圆周表面有一处或两处,位于所述摩擦辊的一端或两端。
3.根据权利要求1所述配向摩擦管控方法,其特征在于,所述第一摩擦毛可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛不同。
4.根据权利要求3所述配向摩擦管控方法,其特征在于,所述第一摩擦毛在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛要小。
5.根据权利要求1所述配向摩擦管控方法,其特征在于,在步骤3中,所述摩擦角=arctan(a/b),其中,a为所述测量区域对应于所述液晶配向层的第一边的第一边缘的长度,b为所述测量区域对应于所述液晶配向层的第二边的第二边缘的长度,所述液晶配向层的第一边和第二边相垂直。
6.一种摩擦设备,包括摩擦辊,其特征在于,所述摩擦辊具有配向圆周表面和测量圆周表面,所述配向圆周表面上设有第一摩擦毛,所述测量圆周表面上设有第二摩擦毛,所述第一摩擦毛和第二摩擦毛具有不同的摩擦效果。
7.根据权利要求6所述摩擦设备,其特征在于,所述配向圆周表面位于所述摩擦辊的中部,所述测量圆周表面有一处或两处,位于所述摩擦辊的一端或两端。
8.根据权利要求6所述摩擦设备,其特征在于,所述第一摩擦毛可以在密度和硬度中的至少一项上与所述第二摩擦毛不同。
9.根据权利要求8所述摩擦设备,其特征在于,所述第一摩擦毛在密度和硬度中的至少一项上比所述第二摩擦毛要小。
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