CN111722655B - 一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，其中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制，且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块的调测效率，同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机，有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。

Description

一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，更具体地说，涉及一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机。

背景技术

光模块(opticalmodule)由光电子器件、功能电路和光接口等模块构成，光模块主要用于将电信号转换成光信号并通过光纤发送，和接收光纤返回的光信号，并将返回的光信号转换为电信号，光模块是光通信领域中的重要器件。

光模块在生产调试时需要分别在“三温”状态下进行，“三温”包括常温(例如25℃)、低温(例如-40℃)和高温(例如85℃)，因此在对光模块进行调测之前，需要大量的时间通过温控设备将光模块的温度调整到标准温度，且一个温控设备只能对一个光模块的温度进行调整，这使得光模块的调测效率低下。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请提供了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，以实现提高光模块的调测效率，降低光模块的调测成本的目的。

为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：

一种光模块调测系统，包括：冷热冲击试验机、上位机、多路输出模块、温度检测仪和调测仪器；其中，

所述冷热冲击试验机，用于根据用户指令喷射标准温度气体；

所述多路输出模块与所述冷热冲击试验机的输出端连接，用于将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输；

所述温度检测仪用于检测所述待测光模块的当前温度，并将所述待测光模块的当前温度传输给所述上位机；

所述上位机，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述多路输出模块包括：共用进气端的多路导气管，所述进气端用于接收所述标准温度气体，多路所述导气管与多个所述待测光模块一一对应，所述导气管的出气端朝向与所述导气管对应的待测光模块。

可选的，所述上位机具体用于，根据多个所述待测光模块的编号的先后顺序，对当前温度满足调测要求的待测光模块进行调测。

可选的，所述上位机具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测。

可选的，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种。

可选的，所述上位机根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测。

可选的，所述上位机还用于，在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述光模块调测系统还包括光开关，所述光开关分别与上位机、调测仪器、各光模块连接，所述上位机还用于控制光开关选择接入调测仪器的光模块。

一种光模块调测方法，基于上述任一项所述的光模块调测系统实现，所述光模块调测方法包括：

利用冷热冲击试验机，喷射标准温度气体，通过多路输出模块将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输；

获取所述待测光模块的当前温度；

根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用调测仪器对所述待测光模块进行调测。

一种上位机，用于控制上述任一项所述的光模块调测系统的冷热冲击试验机和温度检测仪协同工作，所述上位机包括：第一控制模块、第二控制模块和温度读取模块；其中，

所述第一控制模块用于向所述冷热冲击试验机输出用户指令，以控制所述冷热冲击试验机输出预设标准温度的气体；

所述温度读取模块，用于获取所述温度检测仪检测的待测光模块的当前温度；

所述第二控制模块，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述第二控制模块具体用于根据多个所述待测光模块的编号的先后顺序，对当前温度满足调测要求的待测光模块进行调测。

可选的，所述第二控制模块具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测。

可选的，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种；

所述第二控制模块根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测。

可选的，所述第二控制模块还用于在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

从上述技术方案可以看出，本申请实施例提供了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，其中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制，且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块的调测效率，同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机，有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。

此外，所述上位机可根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测，这样可根据实际情况进行预设顺序的确定，有利于充分利用各类调测仪器，实现高效率调测。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请的一个实施例提供的一种光模块调测系统的结构示意图；

图2为本申请的一个实施例提供的一种多路选择模块的示意图；

图3为本申请的一个实施例提供的一种上位机的结构示意图；

图4为本申请的一个实施例提供的一种光模块调测方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例提供了一种光模块调测系统，如图1所示，包括：冷热冲击试验机10、上位机20、多路输出模块70、温度检测仪30和调测仪器50；其中，

所述冷热冲击试验机10，用于根据用户指令喷射标准温度气体；

所述多路输出模块70与所述冷热冲击试验机10的输出端连接，用于将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块40传输；

所述温度检测仪30用于检测所述待测光模块40的当前温度，并将所述待测光模块40的当前温度传输给所述上位机20；从成本角度考虑，温度检测仪30为与各光模块一一对应的点温计，所述光模块调测系统还包括集线器(图中未示出)，用于将各点温计连接至上位机10。

所述上位机20，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块40的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器50对所述待测光模块40进行调测。

所述冷热冲击试验机10，又可称高低温热流仪，可以根据需求产生不同温度的气体，以对待测光模块40的温度进行调节或控制，实现待测光模块40温度的快速拉升或下降，缩短调测时间，提高调测效率。所述冷热冲击试验机10接收的用户指令可以是用户通过冷热冲击试验机10的输入模块(例如触控屏、控制按钮等)输入的，也可以是通过上位机20输入的。所述用户指令可以包括标准温度气体的温度等参数。在本申请的一个实施例中，所述标准温度气体包括预设常温气体或预设低温气体或预设高温气体，其中，预设常温气体可以是指温度在25℃的气体，预设低温气体可以是指温度在-40℃的气体，所述预设高温气体可以是指温度在85℃的气体。当然地，在本申请的一些实施例中，所述预设常温气体还可以是指温度在25℃±5℃范围内的气体，预设低温气体可以是指温度在-40℃±5℃范围内的气体，所述预设高温气体可以是指温度在85℃±5℃范围内的气体。本申请对此并不做限定，具体视实际情况而定。

但是冷热冲击试验机10只有一个气体传输管(即一个输出端)，如果利用冷热冲击试验机10对待测光模块40进行一对一的温度控制，对于待测光模块40的调测的效率提高有限。

但在本实施例中，所述光模块调测系统还包括多路输出模块70，将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块40传输，以实现同时对多个待测光模块40进行温度控制的目的。所述多路输出模块70具体包括几路输出可以根据实际的需求来定，在保证分路中的标准温度气体满足温度调控需求时，多路输出模块70的输出路数越多，越有利于提高调测效率，但是由于冷热冲击试验机10喷射的标准温度气体的总量有限，不能无休止的增加多路输出模块70的输出路数，因此所述多路输出模块70的输出路数可以根据冷热冲击试验机10喷射的标准温度气体总量和待测光模块40的温度调控需求而定。在本申请的一些实施例中，所述多路输出模块70将所述标准温度气体分为4路、5路、6路或7路，本申请对此并不做限定，具体视实际情况而定。

即在本申请实施例中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机10喷射标准温度气体对待测光模块40进行温度控制，且由于多路输出模块70可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机10配合所述多路输出模块70可以同时对多个待测光模块40进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块40的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块40的调测效率，同时一个冷热冲击试验机10可同时对多个待测光模块40进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机10，有利于降低对待测光模块40进行调测时的调测成本。

此外，所述上位机可根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测，这样可根据实际情况进行预设顺序的确定，有利于充分利用各类调测仪器，实现高效率调测。

下面对本申请实施例提供的光模块调测系统中各个结构的可行工作流程进行说明。

在本申请的一个实施例中，参考图2，所述多路输出模块70包括：共用进气端71的多路导气管72，所述进气端71用于接收所述标准温度气体，多路所述导气管72与多个所述待测光模块40一一对应，所述导气管72的出气端朝向与所述导气管72对应的待测光模块40。

从图2中可以看出，所述多路输出模块70的进气端71的大小与所述冷热冲击试验机10的输出端相匹配，避免漏气的现象出现。所述多路输出模块70的各个支路(即每一路导气管72)的孔径小于所述进气端的孔径，以实现对标准温度气体的分路。在本申请的一个实施例中，为了尽可能地使每一个导气管72中通入的气体的流量大致相同，多个所述多导气管72的输出端的孔径可以不同，距离所述进气端越近的导气管72的孔径可以越小，以避免距离进气端近的导气管72分走大量标准温度气体，而距离进气端远的导气管72分到的标准温度气体较小的情况。

在上述实施例的基础上，在本申请的另一个实施例中，所述上位机20具体用于，根据多个所述待测光模块40的编号的先后顺序，对当前温度满足调测要求的待测光模块40进行调测。

在本实施例中，可以按照调测的惯例对多个所述待测光模块40进行编号，例如有5个待测光模块40，则可以对这5个待测光模块40从1到5进行编号，调测时可以按照从1-5的顺序对待测光模块40进行调测，这样有利于避免对待测光模块40的遗漏。

但可选的，在本申请的又一个实施例中，所述上位机20具体用于，根据多个所述待测光模块40的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块40进行调测。

在本实施例中，所述上位机20按照所述待测光模块40的当前温度满足调测要求的先后顺序对所述待测光模块40进行调测，仍然以5个编号分别为1-5的待测光模块40为例，假设编号为3的待测光模块40的温度最先满足了调测要求，则最先对编号为3的待测光模块40进行调测，然后编号为2的待测光模块40的温度满足了调测要求，则对编号为2的待测光模块40进行调测，后续当前温度满足调测要求的待测光模块40的编号依次为5-1-4，则后续按照5-1-4的顺序对待测光模块40进行调测，这样可以进一步缩减调测时间，提高调测效率。

通常情况下，所述调测仪器50包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种。这些调测仪器50能够完成的调测内容参考表1。

表1

由表1可知，在调测过程中并不是每个步骤都同时需要这三个仪器，因此在本申请的一个实施例中，所述上位机20根据多个所述待测光模块40的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块40进行调测具体用于，利用调测仪器50，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块40进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块40有多个时，根据所述调测仪器50包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块40分别进行相同或不同的调测内容调测。

即在本实施例中，当当前温度满足调测要求的待测光模块40有多个时，可以根据调测内容所需使用的调测仪器50情况调整调测步骤，以减少待测光模块40调试所需等待时间。

比如可以对第一个温度达到标准温度的待测光模块40先进行DDM校准调试，对第二个温度达到标准温度的待测光模块40先进行发送接收端灵敏度、饱和调试。由于衰减器价格便宜，一般每个待测光模块40都能连接一衰减器，因此这两个步骤是可以同时执行的。另外，光示波器价格昂贵，一家中小规模光模块生产厂家可能只有1-2台，因此为各待测光模块40设置不同的调测步骤也能实现调测仪器50的充分利用，降低调测成本。

在具体执行时由于调测时间的长短无法预先确定，即便预设了调试步骤也存在调测仪器50被占用的情况，仍然需要耗费等待时间。因此，在本申请的一个实施例中，所述上位机20还用于，在对所述待测光模块40进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器50是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器50对所述待测光模块40进行与空闲的调测仪器50对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器50对所述待测光模块40进行调测。

即在本实施例中，在预设调试步骤时还应该判定当前调测步骤所需调测仪器50是否被占用，若是，则控制空闲调测仪器50对待调测光模块执行可调测步骤，如此进一步减少等待时间，提高调测效率。比如，若当前步骤需要使用光示波器，当光示波器已经被占用，此时发现误码仪有空闲的，则优先执行需要使用误码仪的调测步骤。

另外，在一些实施例中，还存在即便各待测光模块40执行不同调测步骤但仍需要同时接入某调测仪器50的情况。比如，由于光示波器数量有限，多个光模块都需要接入光示波器。此时，可以按预设规则选择接入调测仪器50的待测光模块40，比如有的待测光模块40待调测的步骤较多，则优先安排该待测光模块40接入光示波器。具体的，光模块调测系统还包括光开关，所述光开关分别与上位机10、光示波器、各光模块的发送端连接，所述上位机10还用于控制光开关选择接入光示波器的光模块。上位机10与光开关之间可以通过USB口或者RS232接口连接。

当然，也可以根据实际情况确定合适的预设规则。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个可选实施例中，仍然参考图1，所述光模块调测系统还包括通信板60，所述通信板60用于进行数据信号的转换，以实现上位机20与待测光模块40之间的数据通信，例如可以是实现I²C(Inter－Integrated Circuit，两线式串行总线)信号与USB(UniversalSerialBus，通用串行总线)信号的转换，以使上位机20与待测光模块40之间能够正常通信。

在上述实施例的基础上，在本申请的另一个可选实施例中，参考图3，所述上位机20具体包括：第一控制模块21、第二控制模块22、温度读取模块24和数据存储模块23；其中，

所述第一控制模块21，用于根据用户指令控制所述冷热冲击试验机10喷射标准温度气体。

所述温度读取模块24，用于与对所述待测光模块40进行温度监测的温度检测仪30连接，以得到各个待测光模块40的当前温度。

所述第二控制模块22，与所述温度读取模块24连接，用于控制调测仪器50对当前温度满足调测要求的待测光模块40进行调测。

所述数据存储模块23，与所述调测仪器50连接，用于读取并记录所述待测光模块40的调测结构。

由于待测光模块40的控制器具备获取光模块发射光功率、接收光功率，并将这些参数存储在寄存器中的功能，因此所述数据存储模块23可以直接与待测光模块40连接，得到待测光模块40发送的发送光功率和接收光功率测试值。

下面对本申请实施例提供的光模块调测方法进行描述，下文描述的光模块调测方法可与上文描述的光模块调测系统相互对应参照。

相应的，本申请实施例提供了一种光模块调测方法，如图4所示，基于上述任一实施例所述的光模块调测系统实现，所述光模块调测方法包括：

S101：利用冷热冲击试验机，喷射标准温度气体，通过多路输出模块将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输；

S102：获取所述待测光模块的当前温度；

S103：根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用调测仪器对所述待测光模块进行调测。

下面对本申请实施例提供的上位机，下文描述的上位机可与上文描述的光模块调测系统相互对应参照。

相应的，本申请实施例还提供了一种上位机，用于控制上述任一实施例所述的光模块调测系统的冷热冲击试验机和温度检测仪协同工作，所述上位机包括：第一控制模块、第二控制模块和温度读取模块；其中，

所述第一控制模块用于向所述冷热冲击试验机输出用户指令，以控制所述冷热冲击试验机输出预设标准温度的气体；

所述温度读取模块，用于获取所述温度检测仪检测的待测光模块的当前温度；

所述第二控制模块，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测。

可选的，所述上位机还包括：数据存储模块；

所述数据存储模块还用于保存所述待测光模块的调测结果。

可选的，所述第二控制模块具体用于根据多个所述待测光模块的编号的先后顺序，对当前温度满足调测要求的待测光模块进行调测。

可选的，所述第二控制模块具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测。

可选的，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种；

所述第二控制模块根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测。

可选的，所述第二控制模块还用于在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

综上所述，本申请实施例提供了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机，其中，所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制，且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路，这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制，呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间，有利于提高对待测光模块的调测效率，同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制，在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机，有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。

本说明书中各实施例中记载的特征可以相互替换或者组合，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种光模块调测系统，其特征在于，包括：冷热冲击试验机、上位机、多路输出模块、温度检测仪和调测仪器，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种；其中，

所述冷热冲击试验机，用于根据用户指令喷射标准温度气体；

所述多路输出模块与所述冷热冲击试验机的输出端连接，用于将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输，其中，所述多路输出模块的输出路数根据所述冷热冲击试验机喷射的标准温度气体总量和所述待测光模块的温度调控需求设定；

所述温度检测仪用于检测所述待测光模块的当前温度，并将所述待测光模块的当前温度传输给所述上位机；

所述上位机，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测；

所述上位机具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测；

所述上位机根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测，其中，当所述光示波器的数量小于预设阈值，且，接收到多个待调测光模块发送接入所述光示波器的请求时，按照前后顺序依次将待调测光模块接入所述光示波器，所述前后顺序与所述待调测光模块待调测的步骤数量呈正相关。

2.根据权利要求1所述的光模块调测系统，其特征在于，所述多路输出模块包括：共用进气端的多路导气管，所述进气端用于接收所述标准温度气体，多路所述导气管与多个所述待测光模块一一对应，所述导气管的出气端朝向与所述导气管对应的待测光模块。

3.根据权利要求1所述的光模块调测系统，其特征在于，所述上位机还用于，在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

4.根据权利要求1所述的光模块调测系统，其特征在于，所述光模块调测系统还包括光开关，所述光开关分别与上位机、调测仪器、各光模块连接，所述上位机还用于控制光开关选择接入调测仪器的光模块。

5.一种光模块调测方法，其特征在于，基于权利要求1-4任一项所述的光模块调测系统实现，所述光模块调测方法包括：

利用冷热冲击试验机，喷射标准温度气体，通过多路输出模块将所述标准温度气体分为多路，并分别向多个待测光模块传输，其中，所述多路输出模块的输出路数根据所述冷热冲击试验机喷射的标准温度气体总量和所述待测光模块的温度调控需求设定；

获取每个所述待测光模块的当前温度；

对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测，其中，当所述光示波器的数量小于预设阈值，且，接收到多个待调测光模块发送接入所述光示波器的请求时，按照前后顺序依次将待调测光模块接入所述光示波器，所述前后顺序与所述待调测光模块待调测的步骤数量呈正相关。

6.一种上位机，其特征在于，用于控制权利要求1-4任一项所述的光模块调测系统的冷热冲击试验机和温度检测仪协同工作，所述上位机包括：第一控制模块、第二控制模块和温度读取模块；其中，

所述第一控制模块用于向所述冷热冲击试验机输出用户指令，以控制所述冷热冲击试验机输出预设标准温度的气体；

所述温度读取模块，用于获取所述温度检测仪检测的待测光模块的当前温度；

所述第二控制模块，用于根据预设顺序，在当所述待测光模块的当前温度满足调测要求时，利用所述调测仪器对所述待测光模块进行调测；

所述第二控制模块具体用于，根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测；

其中，所述调测仪器包括光示波器、误码仪和衰减器中的至少一种；

所述第二控制模块根据多个所述待测光模块的当前温度满足调测要求的先后顺序，对多个所述待测光模块进行调测具体用于，利用调测仪器，对当前温度最先满足调测要求的待测光模块进行调测，且在当当前温度满足调测要求的待测光模块有多个时，根据所述调测仪器包括的光示波器、误码仪和衰减器的数量和种类对多个当前满足调测要求的待测光模块分别进行相同或不同的调测内容调测，其中，当所述光示波器的数量小于预设阈值，且，接收到多个待调测光模块发送接入所述光示波器的请求时，按照前后顺序依次将待调测光模块接入所述光示波器，所述前后顺序与所述待调测光模块待调测的步骤数量呈正相关。

7.根据权利要求6所述的上位机，其特征在于，所述第二控制模块还用于在对所述待测光模块进行调测时，判断当前调测步骤所需的调测仪器是否无空闲，如果是，则控制空闲的调测仪器对所述待测光模块进行与空闲的调测仪器对应的调测步骤的调测，如果否，则控制当前调测步骤所需的调测仪器对所述待测光模块进行调测。

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