CN111721745B - 一种荧光粉老化的检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，若干个蓝光芯片阵列排布封装于灯板的第一表面上，金属管的下端嵌接入圆形凹槽内，金属管的内部安装有玻璃片，玻璃片将金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于玻璃片上，本发明提供的检测装置可以模拟极端条件下荧光粉的工作情况及老化程度，同时也可以控制蓝光灯的开关模拟实际工作中荧光粉的工作情况和老化程度。

Description

一种荧光粉老化的检测装置
技术领域
本发明属于光电性能检测技术领域，尤其涉及一种荧光粉老化的检测装置。
背景技术
随着光电技术不断的高速发展，照明技术不断的进步，最近LED日光灯照明慢慢替代节能灯照明，成为最早进入室内的LED灯具之一。但是LED灯具的光电转换效率约为20％，其余大部分转化为热。
影响LED寿命和效率的主要问题来源于LED产生的热聚集于荧光材料而导致的热淬灭和光衰。因此解决这一问题的本质在于提高荧光材料的导热系数和热分布均匀性。研究发现在LED封装中必须根据LED产品的需求，选择不同的荧光粉浓度、形貌和颗粒分布等荧光粉发热是LED光效衰减和可靠性降低的一个重要的原因。不管哪种封装方式，荧光粉的温度均高于LED芯片的温度。然而荧光粉作为典型的光致发光材料，热来源于光而又影响光，微观上看，发光是辐射跃迁，而发热是非辐射跃迁，二者相互竞争又相互影响。而现有的大部分研究均单独研究光与热，忽略了荧光粉光热转化的本质。
同时目前荧光光谱仪可以探究不同温度下荧光体的光谱以及荧光的淬灭方面的信息。但是用于探究荧光粉在极端条件下的光学性能的仪器及检测方法尚未见到。
因此为了研究荧光粉的光热关系，检测荧光粉的老化情况，有必要设计一种用来模拟LED器件中荧光粉在极端条件下的老化情况，同时也可以用来模拟荧光粉在实际应用中的老化情况的检测装置。
发明内容
本发明的目的是提供一种荧光粉老化的检测装置，用于模拟LED器件中荧光粉在极端条件下的老化情况。
为解决上述问题，本发明的技术方案为：
一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；
所述蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，所述灯板包括相对的第一表面和第二表面，若干个蓝光芯片阵列排布封装于所述第一表面上，所述第一表面沿若干个所述蓝光芯片的外周分别对应开设有若干个圆形凹槽；
所述金属管的下端嵌接入所述圆形凹槽内，所述金属管的内部安装有玻璃片，所述玻璃片将所述金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，所述第一内腔沿轴向的长度较所述第二内腔沿轴向的长度小；
所述金属盖盖设于所述灯板的第一表面上方；
所述光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，所述检测仪本体上设置有显示屏及开关，所述检测线路一端与所述检测仪本体相连，另一端伸出于所述检测仪本体的一侧，所述检测线路远离所述检测仪本体的一端连接所述检测探头，所述检测探头的直径与所述第一内腔的内径相等；
当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于所述玻璃片上，所述检测探头插入所述第一内腔内进行检测，当所述检测装置处于不检测状态时，所述检测探头从所述第一内腔内取出，所述金属盖处于盖合状态。
优选地，还包括散热片，所述散热片安装于所述灯板的第二表面下方。
优选地，所述第一内腔内沿轴方向设置有台阶结构，所述第一内腔上端内径与所述检测探头的直径相等，所述第一内腔下端的内径较所述检测探头的直径小。
优选地，所述金属管的材料选用不透明材料。
优选地，所述灯板的材料为铝。
优选地，所述光电检测仪为HASS-2000高精度快速光谱辐射计积分球。
优选地，所述蓝光灯的功率值为50～200W。
优选地，所述金属盖的材料选用不透明材料。
本发明由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：
1)本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，若干个蓝光芯片阵列排布封装于灯板的第一表面上，金属管的下端嵌接入圆形凹槽内，金属管的内部安装有玻璃片，玻璃片将金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于玻璃片上，本发明提供的检测装置可以模拟极端条件下荧光粉的工作情况及老化程度，同时也可以控制蓝光灯的开关模拟实际工作中荧光粉的工作情况和老化程度。同时，本发明灯板上封装多个发光芯片，安装上合适数量的金属管可以一次测量到大量数据，保证了数据的可靠性；在进行检测时，检测探头插入第一内腔内进行检测，便于在收集实验数据时避免了因外界光的因素造成实验误差。
2)本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，还包括散热片，散热片安装于灯板的第二表面下方，保证蓝光灯长时间的稳定工作，同时避免金属盖内的温度过高造成荧光粉老化速度加快。
3)本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，其第一内腔内沿轴方向设置有台阶结构，第一内腔上端内径与检测探头的直径相等，第一内腔下端的内径较检测探头的直径小，方便检测探头固定在金属管内进行数据的收集，同时还可以防止检测探头接触到荧光粉，避免了因失误造成改变了荧光粉原有分布和状态。
4)本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，金属管的材料选用不透明材料，保证了每一个金属管内的荧光粉受到的照射情况是相同的，同时不会受到其他发光芯片发出的光的影响。
5)本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，金属盖的材料选用不透明材料，阻止蓝光向外界照射，同时保护了内部的环境与外界隔绝，防止了外界干扰。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种荧光粉老化的检测装置的结构示意图；
图2为图1中蓝光灯的结构示意图；
图3为图1中金属管的结构示意图；
图4为图1中金属盖的结构示意图；
图5为本发明实施例提供的光电检测仪的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的散热片的结构示意图。
附图标记说明：
1：蓝光灯；11：灯板；111：圆形凹槽；12：蓝光芯片；2：金属管；21：第一内腔；211：台阶结构；22：第二内腔；3：金属盖；4：光电检测仪；41：检测仪本体；411：显示屏；412：开关；42：检测线路；43：检测探头；5：玻璃片；6：散热片。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种荧光粉老化的检测装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。
参看图1至图5所示，本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯1、金属管2、金属盖3及光电检测仪4；
参看图2所示，蓝光灯1包括灯板11及若干个蓝光芯片12，灯板11包括相对的第一表面和第二表面，灯板11可以有不同的形状，在本实施例中对灯板11的形状不加限制，并且灯板11的材料选为铝，防止生锈，经久耐用；若干个蓝光芯片12阵列排布封装于第一表面上，本实施例中，蓝光芯片12采用垂直封装结构；灯板11上封装多个发光芯片，安装上合适数量的金属管2可以一次测量到大量数据，保证了数据的可靠性；第一表面沿若干个蓝光芯片12的外周分别开设有若干个圆形凹槽111；
蓝光灯的功率值可选为50～200W之间的任意瓦数，但是瓦数较低的蓝光灯照射荧光粉，需要更长的时间才能到达与瓦数较高的蓝光灯照射较短时间相同的老化效果，故为了提供检测效率，在本实施例中，蓝光灯的功率值选为150W。
参看图1所示，金属管2的下端嵌接入圆形凹槽111内，可以方便金属管2安装于蓝光灯1上以及从蓝光灯1上取下，参看图3所示，金属管2的内部安装有玻璃片5，玻璃片5将金属管2的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔21和第二内腔22，第一内腔21沿轴向的长度较第二内腔22沿轴向的长度小，玻璃片5上用于放置待检测的荧光粉，金属管2垂直放置于蓝光芯片12的上方，从而使得蓝光芯片12发出的蓝光直射到金属管内的荧光粉上；
在本实施例中，第一内腔21内沿轴方向设置有台阶结构211，第一内腔21上端内径与检测探头43的直径相等，第一内腔21下端的内径较检测探头43的直径小，方便检测探头43固定在金属管2内进行数据的收集，同时还可以防止检测探头43接触到荧光粉，避免了因失误造成改变了荧光粉原有分布和状态；
在本实施例中，金属管2的材料选用不透明材料，保证了每一个金属管2内的荧光粉受到的照射情况是相同的，同时不会受到其他发光芯片发出的光的影响。
参看图1所示，金属盖3盖设于灯板11的第一表面上方，参看图4所示，图4为金属盖的结构示意图，其为一侧开口的长方体形状，金属盖3主要用户保护检测装置，将实验环境与外界隔开，维持实验状态，使实验效果更佳。在本实施例中，金属盖3的材料选用不透明材料，阻止蓝光向外界照射，同时保护了内部的环境与外界隔绝，防止了外界干扰。
参看图5所示，光电检测仪4包括检测仪本体41、检测线路42及检测探头43，检测仪本体41的左上方设置有显示屏411，检测仪本体41的右侧设置有开关412，检测线路42一端与检测仪本体41相连，另一端伸出于检测仪本体41的一侧，在本实施例中，检测线路42外部包裹有软管，检测线路42远离检测仪本体41的一端连接检测探头43，检测探头43的直径与第一内腔21的内径相等；
当进行荧光粉的老化检测时，首先将金属盖3打开，将荧光粉平铺于玻璃片5上，检测探头43插入第一内腔21内，再将金属盖3合上进行检测，将检测探头43包入金属管2内，便于收集实验数据，也避免了因外界光的因素造成实验误差；当检测装置处于不检测状态时，检测探头43从第一内腔21内取出，且金属盖3处于盖合状态；
在本实施例中，光电检测仪4选用为型号为HASS-2000高精度快速光谱辐射计积分球。
优选地，参看图6所示，本发明提供的一种荧光粉老化的检测装置还包括散热片6，散热片6安装于灯板11的第二表面下方，保证蓝光灯长时间的稳定工作，同时避免金属盖内的温度过高造成荧光粉老化速度加快。
本发明提供的一种荧光粉老化的检测装置，其工作过程为，工作时，首先将蓝光灯1打开，将荧光粉平铺到金属管2内的玻璃片5上，然后将金属管2卡入圆形凹槽111内，并保持金属管2的垂直固定，使得蓝光直射到玻璃片5上的荧光粉上，最后将金属盖3盖合到蓝光灯1上，使实验环境与外界隔开，保证实验条件的稳定，当荧光粉被照射了一段时间后，打开金属盖3，保持金属管2的稳定，将光电检测仪4的检测探头43插到金属管2的上端，打开光电检测仪4的开关412，进行数据采集，采集到的数据显示在显示屏411上，收集后取下插头，盖上金属盖3，将实验环境与外界隔开，实验过程中要保持实验装置处于空旷处，散热片6良好工作。
本发明提供了一种荧光粉老化的检测装置，包括蓝光灯1、金属管2、金属盖3及光电检测仪4；蓝光灯1包括灯板11及若干个蓝光芯片12，若干个蓝光芯片12阵列排布封装于灯板11的第一表面上，金属管2的下端嵌接入圆形凹槽111内，金属管2的内部安装有玻璃片5，玻璃片5将金属管2的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔21和第二内腔22，光电检测仪4包括检测仪本体41、检测线路42及检测探头43，当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于玻璃片5上，本发明提供的检测装置可以模拟极端条件下荧光粉的工作情况及老化程度，同时也可以控制蓝光灯的开关模拟实际工作中荧光粉的工作情况和老化程度。
上面结合附图对本发明的实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施方式。即使对本发明作出各种变化，倘若这些变化属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则仍落入在本发明的保护范围之中。

Claims (7)

1.一种荧光粉老化的检测装置，其特征在于，包括蓝光灯、金属管、金属盖及光电检测仪；
所述蓝光灯包括灯板及若干个蓝光芯片，所述灯板包括相对的第一表面和第二表面，若干个蓝光芯片阵列排布封装于所述第一表面上，所述第一表面沿若干个所述蓝光芯片的外周分别对应开设有若干个圆形凹槽；
所述金属管的下端嵌接入所述圆形凹槽内，所述金属管的内部安装有玻璃片，所述玻璃片将所述金属管的内腔沿轴向分为上下设置的第一内腔和第二内腔，所述第一内腔沿轴向的长度较所述第二内腔沿轴向的长度小；
所述金属盖盖设于所述灯板的第一表面上方；
所述光电检测仪包括检测仪本体、检测线路及检测探头，所述检测仪本体上设置有显示屏及开关，所述检测线路一端与所述检测仪本体相连，另一端伸出于所述检测仪本体的一侧，所述检测线路远离所述检测仪本体的一端连接所述检测探头，所述检测探头的直径与所述第一内腔的内径相等；
所述第一内腔内沿轴方向设置有台阶结构，所述第一内腔上端内径与所述检测探头的直径相等，所述第一内腔下端的内径较所述检测探头的直径小；
当进行荧光粉的老化检测时，将荧光粉平铺于所述玻璃片上，所述检测探头插入所述第一内腔内进行检测，当所述检测装置处于不检测状态时，所述检测探头从所述第一内腔内取出，所述金属盖处于盖合状态。
2.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，还包括散热片，所述散热片安装于所述灯板的第二表面下方。
3.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，所述金属管的材料选用不透明材料。
4.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，所述灯板的材料为铝。
5.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，所述光电检测仪为HASS-2000高精度快速光谱辐射计积分球。
6.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，所述蓝光灯的功率值为50～200W。
7.根据权利要求1所述的荧光粉老化的检测装置，其特征在于，所述金属盖的材料选用不透明材料。
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