CN111595438A - 一种模组awb的烧录光源稳定性检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置，其中所述方法包括：将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；基于测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取测试值相对于标准值的误差量；判断误差量是否小于预设的误差阈值；若是，则确定被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定被测试的烧录光源不符合生产要求。本发明方法可及时的对模组AWB的烧录光源进行检测，及时发现衰弱和异变的烧录光源，保证了烧录光源的稳定性。

Description

一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置

技术领域

本发明涉及摄像头模组制造技术领域，尤其涉及一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置。

背景技术

目前摄像头模组的产线会根据软件中的环境要求，现有的检测手段是采用照度计对摄像头模组进行烧录的光源进行检测。而该种检测方案一般只能在产线启动、停止或软件更换的时候进行检测。

但是目前的测试光源只能使用照度计进行确认照度和色温，来满足使用光源的要求，但是光源在长时间使用过程中，可能会出现光源衰弱和异变。使用照度计来确认光源的照度和色温会和标准光源(母光源)存在很大差异。无法保证在此光源测试下的模组烧录的AWB(Auto White Balance，自动白平衡)的数据是否正确和满足烧录要求。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出了一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置，可及时的对模组AWB的烧录光源进行检测，及时发现衰弱和异变的烧录光源，保证了烧录光源的稳定性。

第一方面，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：

一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法，包括：

将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

优选地，所述基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值之前，还包括：

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；

将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

优选地，所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

优选地，所述若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求之后，还包括：

每隔预设时长对所述被测试的烧录光源的稳定性进行检测；其中，所述预设时长小于等于12小时。

优选地，所述预设的误差阈值的范围为小于等于5％。

优选地，所述将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值之前，还包括：获取所述典型模组；所述获取所述典型模组包括：

在标准的烧录光源下对M个摄像头模组曝光，获得N组AWB四通道的值；其中，N为正整数，所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应；

获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值；

基于每个所述R/G值和所述B/G值，以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值，从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组。

第二方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：

一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置，包括：

检测曝光模块，用于将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

误差计算模块，用于基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

误差判断模块，用于判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

稳定性确定模块，用于若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

优选地，还包括：标准值获取模块，用于在所述基于所述测试值在数据库中匹配对应的标准值之前，

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

优选地，所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

第三方面，基于同一发明构思，本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述方法的步骤。

本发明实施例中的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置，通过将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值，该测试值能够反应被测试的烧录光源的状态；进一步的，基于测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取测试值相对于标准值的误差量，误差量的大小可反映烧录光源与标准光源之间的偏差；通过判断误差量是否小于预设的误差阈值来确定烧录光源是否符合生产要求，若误差量小于预设的误差阈值则确定被测试的烧录光源符合生产要求，若误差量大于预设的误差阈值则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求，上述对烧录光源的检测过程不受产线启停的影响，并且可以随时对烧录光源进行检测，可及时的发现烧录光源的衰弱和异变，保证了产线烧录光源的稳定性，确保在被测试的烧录光源下模组烧录的AWB的数据准确性。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1示出了本发明第一实施例提供的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法的流程图；

图2示出了本发明第一实施中标准的烧录光源下曝光图片与抓框大小的示意图；

图3示出了本发明第一实施中筛选典型模组时的散点图；

图4示出了本发明第二实施例提供的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置的功能模块框图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

第一实施例

请参见图1，示出了本发明第一实施例提供的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法的方法流程图。该模组AWB的烧录光源稳定性检测方法具体包括如下步骤：

步骤S10：将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

步骤S20：基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

步骤S30：判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

步骤S40：若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

本实施例中采用在采用典型模组在被测试的烧录光源下进行曝光得到AWB四通道的测试值，然后使用测试值与标准值进行比较计算得到误差量，最后进行误差的范围判断进行判断即可获知被测试的烧录光源是否符合生产要求，该种通过AWB的数值进行测试方式不受生产线的启停限制，可以更加快速方便的进行烧录光源的检测，保证烧录光源的稳定性。

具体的，对上述各个步骤进行详细的解释：

在步骤S10中，被测试的烧录光源为产线上使用过的烧录光源。典型模组是在标准的烧录光源下挑选出的较好或最好的模组，本领域技术人员称之为“AWB golden模组”，标准的烧录光源为被认证和用于作为参照的基础光源。本实施例中烧录光源可为G4C烧录光源、G2C烧录光源。为了保证能够筛选得到最优的典型模组，在本实施例中提供如下的典型模组测试和筛选的实施方式：

步骤S501：在标准的烧录光源下对M个摄像头模组曝光，获得N组AWB四通道的值；其中，N为正整数，所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应；

步骤S502：获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值；

步骤S503：基于每个所述R/G值和所述B/G值，以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值，从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组。

在步骤S501中，AWB四通道分别为R、Gr、Gb、B。曝光后获取图片，然后通过抓框计算摄像头模组的AWB四通道的值，并保存。曝光的范围和抓框大小需要满足预设的烧录规范标准，与产线上对应的标准相同；例如，曝光范围为190-210G值，抓框大小为1/16*1/16，如图2所示。在本实施例中，需要获得大批量的模组数据，例如数量可为700-2000PCS的模组数据。为了保证效率与质量，优选的可将数量确定为1000PCS。对上述模组曝光后获得的M组AWB四通道的值数据进行整理，确定N组有效数据，即N个AWB四通道的值。

在步骤S502中，R/G值和B/G值计算具体如下：

R/G＝R/(Gr+Gb)*2；

B/G＝B/(Gr+Gb)*2。

在步骤S503中，具体可基于△D＝((R/G–R/G_average)^2+(B/G–B/G_average)^2))^0.5来获取典型模组；其中，R/G_average表示N个R/G值的平均值；B/G_average表示N个B/G的平均值。△D表示数据点距离平均值的距离。这样就可将R/G和B/G数据转化为散点图，如图3所示，其中均值点average date由R/G_average与B/G_average确定，其他模组数据点(samples data)由每个模组的R/G与B/G确定；从而挑选出散点图中最中心的模组，位于散点图最中心的模组即为最优的模组(典型模组)，也即△D的最小值对应的模组。

在步骤S20中，标准值为预先获取保存的，具体实施方式包括步骤：

步骤S21：将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；

步骤S22：将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

通过步骤S21-S22，当产线进行烧录光源的测试时可以通过标识信息和/或机种名进行标准值的查找匹配，然后求取误差量。在步骤S21中，AWB四通道的标准值的获取方式可参照步骤S501的说明。在步骤S22中，预设的数据库可以是包含数据存储功能的服务器，也可以是数据服务器；机种名可为摄像头模组的名称，标识信息可为对摄像头模组的编号、代号、识别码等。

在步骤S20中，误差量为测试值与标准值的差异比例，误差量越大也即误差越大。通过误差量可衡量出当前被测试的烧录光源与标准的烧录光源之间的差异大小。

进一步的，通过步骤S30对误差量进行判断来确定被测试的烧录光源是否合格。为了控制烧录光源的准确性，确保烧录AWB数据的正确性，在本实施例中预设的误差阈值最优选的为小于等于5％，例如为2％、3％、4％、等等；另外，在容差较大的时候也可将误差阈值调整为5％-7％之间的任意值，例如5％、6％、7％。在本实施例中，通过大量的生产积累和测试，在保证供货要求的情况下(此时，客户的建议或投诉量较少)，同时维持产线具备较好的良品率，可将误差阈值调整为5％(±0.4％)作为最优的生产参数。

在步骤S40中，若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；也即若误差量小于预设的误差阈值，就确定所述被测试的烧录光源符合生产要求。若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求；也即若误差量大于预设的误差阈值，就确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

在被测试的烧录光源不符合生产要求的时候就应当对光源进行调整(例如，对不符合生产要求的烧录光源进行照度和色温的微调)或更换，然后在调整或更换烧录光源后再次对调整后或更换后的烧录光源执行检测，即再次执行步骤S10-S40直至烧录光源符合生产要求为止。

在本实施例中，为了提高防止烧录光源在长时间使用过程中出现衰弱或异变，在步骤S40之后若烧录光源符合生产要求，则还应当每隔预设时长对被测试的烧录光源进行稳定性检测。为了避免点检对生产的影响，在本实施例中预设时长可为12小时，从而使得产线上的烧录光源至少每隔12小时均会被点检一次，可将点检的时间节点置于白夜班换班时，以将产生线的效率最优化；同时点检时不受产线的启停影响，避免了烧录光源长时间未被点检到，产生了衰弱或异变。另外，在本实施例中根据光源的变化特点，针对不同的烧录光源设置不同的点检时间，具体如下：

针对48M，64M，128M等高像素，高清晰，烧录内容要求高的产品，被测试的烧录光源为G4C烧录光源时，设置的点检时间可为8H；被测试的烧录光源为G2C烧录光源时，点检的时间可为12H；针对2M，5M，8M等低像素，烧录内容要求不高的产品，被测试的烧录光源为G4C烧录光源时，点检时间可为16H，被测试的烧录光源为G2C烧录光源时，点检时间可为24H。由于G4C烧录光源衰弱的程度比G2C烧录光源衰弱的程度小，所以通过上述针对不同烧录光源和不同的产品进行点检时间的设置，可保证在特定的时间段内进行点检可及时的发现不合格的烧录光源，避免产生易客诉的不良品，同时避免产线进行反复点检影响成产的UPH值(units per hour，单位小时产能)。

综上所述，本实施例中的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法，通过将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值，该测试值能够反应被测试的烧录光源的状态；进一步的，基于测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取测试值相对于标准值的误差量，误差量的大小可反映烧录光源与标准光源之间的偏差；通过判断误差量是否小于预设的误差阈值来确定烧录光源是否符合生产要求，若误差量小于预设的误差阈值则确定被测试的烧录光源符合生产要求，若误差量大于预设的误差阈值则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求，上述对烧录光源的检测过程不受产线启停的影响，并且可以随时对烧录光源进行检测，可及时的发现烧录光源的衰弱和异变，保证了产线烧录光源的稳定性，确保在被测试的烧录光源下模组烧录的AWB的数据准确性。

第二实施例

基于同一发明构思，本发明第二实施例提供了一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置300。图4示出了本发明第二实施例提供的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置300的功能模块框图。

所述模组AWB的烧录光源稳定性检测装置300，其特征在于，包括：

检测曝光模块301，用于将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

误差计算模块302，用于基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

误差判断模块303，用于判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

稳定性确定模块304，用于若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

作为一种可选的实施方式，还包括：标准值获取模块，用于在所述基于所述测试值在数据库中匹配对应的标准值之前，

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

作为一种可选的实施方式，所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

需要说明的是，本发明实施例所提供的一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置300，其具体实现及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。

本发明提供的装置集成的功能模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。

在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims (10)

1.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法，其特征在于，包括：

将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值之前，还包括：

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；

将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求之后，还包括：

每隔预设时长对所述被测试的烧录光源的稳定性进行检测；其中，所述预设时长小于等于12小时。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的误差阈值的范围为小于等于5％。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值之前，还包括：获取所述典型模组；所述获取所述典型模组包括：

在标准的烧录光源下对N个摄像头模组曝光，获得N组AWB四通道的值；其中，N为正整数，所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应；

获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值；

基于每个所述R/G值和所述B/G值，以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值，从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组。

7.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置，其特征在于，包括：

检测曝光模块，用于将典型模组在被测试的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的测试值；

误差计算模块，用于基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值，并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量；

误差判断模块，用于判断所述误差量是否小于预设的误差阈值；

稳定性确定模块，用于若是，则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求；若否，则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：标准值获取模块，用于在所述基于所述测试值在数据库中匹配对应的标准值之前，

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光，获得AWB四通道的标准值；将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联，并存储到所述预设的数据库中。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。

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