CN111553054A - 信息确定的方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
Description
技术领域
本发明属于控制技术领域，尤其涉及一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
不平衡差(MaterialUnaccountedFor，MUF)评价是指在平衡周期期末，用已知的初始的核材料量与最终的实物盘存的核材料量进行比较，结合平衡周期内核材料增加和减少的量，来推断该周期内是否发生了核材料的非法转移和重大缺失，也就是出现MUF的原因。
但是，只通过MUF本身来确定出现MUF的原因的准确性低。
发明内容
本发明实施例提供一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
第一方面，提供了一种信息确定的方法，该方法包括：
确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；
根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，包括：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；
根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，包括：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差；
根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差；
根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，该方法还包括：
获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息；
根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材料平衡结算，确定MUF。
第二方面，提供了一种信息确定的装置，该装置包括：
误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；
方差确定模块，用于根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；
信息确定模块，用于根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，信息确定模块，具体用于：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；
根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，信息确定模块，具体用于：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差；
根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差；
根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，该装置还包括：
获取模块，用于获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息；
结算模块，用于根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材料平衡结算，得到MUF。
第三方面，提供了一种电子设备，该设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；处理器执行计算机程序指令时实现如第一方面或者第一方面的任一可能实现方式中的方法。
第四方面，提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质上存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现如第一方面或者第一方面的任一可能实现方式中的方法。
基于提供的信息确定的方法、装置、设备及存储介质，通过确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，因此，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种信息确定的方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的一种信息确定的装置的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
随着世界范围内核电的复兴和核技术产业的快速发展，核材料和其他放射性物质的应用更加广泛，随之而来核材料扩散和流失的风险也在加大。据统计，从1993年到2013年，全球共发生经确认的核材料或其他放射性材料偷窃、丢失或非授权占有等事件多达2400余起，近几年每年丢失和非法持有核材料和其他放射性物质的事件约150起，一些丢失的材料再未找回。因此，提高对核材料管制问题的重视，确保核材料的安全，已成为世界各国面临的共同任务。
核材料衡算作为发现核材料的丢失或被盗，防止核材料的非法转移和非法使用，保证核材料的安全的重要方法之一，是当前核材料管制工作中采用的主要手段。为了评价核设施在核材料管制方面的工作，各国将核设施的不平衡差，即MUF作为评价该设施核材料控制方面的行为尺度。MUF值经过核查以后，或者在核查基础上经过调整后，成为在定量评价核设施核材料衡算行为的关键数据。
相关条例中规定核材料许可证持有单位必须建立专职机构或指定专人负责保管核材料，严格交接手续，建立帐目与报告制度，保证帐物相符。许可证持有单位必须建立核材料衡算制度和分析测量系统，应用批准的分析测量方法和标准，达到规定的衡算误差要求，保持核材料收支平衡。相关细则中对核材料衡算工作、测量系统设置、衡算方法和评价等作了进一步明确，并提出了各类核设施核材料不平衡差相对标准偏差的限值规定。对一个核设施而言，只有当其核材料不平衡差相对标准偏差低于规定限值，并且核材料衡算不平衡差不超过其标准误差的2倍时，才能认为其材料达到闭合平衡。以铀加工设施为例，其核材料衡算不平衡差相对标准偏差δ(MUF)<0.3％。
核材料衡算包括核材料平衡计算和衡算不平衡差标准偏差评估。其中关键是确定核设施与衡算直接相关的各测量系统的误差及其每个测量系统测量的物料数量，并采用误差传递方法计算整个衡算周期核材料不平衡差的实际误差。当结果超过规定限值标准时，持证单位必须改进分析测量系统。
MUF是核材料衡算一个重要衡量单位，是核设施在一个衡算周期内核材料的帐面存量与核材料的实际盘存量之间的差值。如果MUF＝0(如件料设施)，设施核材料衡算闭合。但对于一个实际散料设施(如燃料制造厂工厂等)，由于核材料的测量误差，即使不存在非法转移和丢失，MUF也不可能为零。单一的MUF结果还不足以判定核材料是否发生非法转移。如果核设施测量误差过大，导致MUF标准偏差很大，就有可能掩盖可能存在的核材料非法转移，这时候即使MUF＝0，也不能认定核设施达到了闭合衡算。
因此，本发明实施例提供了一种信息确定的方法、装置、设备及存储介质，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
在详细介绍本发明实施例中信息确定的方法之前，先对核材料衡算进行详细介绍。
核材料衡算是指在一定区域内，称平衡区，在指定的周期内，称平衡周期，所存在的核材料存量是否平衡的计算。为了进行核材料衡算，设施要划分材料平衡区，以平衡区为基础进行核材料衡算。在平衡区内，进出该区域的核材料应进行其材料量的测量；平衡区应在平衡周期期末进行实物盘存，核材料实物盘存量也是实际测量值。平衡周期末的核材料的帐面存量和核材料的实物存量之间的差值称为不平衡差，简称MUF。
其中，MUF满足下述公式(1)：
MUF＝PB+X-Y-PE (1)
PB表示初期核材料存量；X表示平衡周期内所有核材料增加量；Y表示平衡周期内所有核材料减少量；PE表示末期实物存量。
公式(1)中各项都是通过测量得到的。由于核材料测量存在测量误差，因此，MUF一般不等于零。在这里，MUF对应的值是MUF的观测值，MUF的观测值具有在MUF测量过程中的随机变量，也就是MUF的真值的估计。MUF的真值应是对MUF的观测值与测量误差之间的差值，也就是MUF的真值表示实际不明的核材料量。应通过统计分析方法，用MUF的观测值和测量误差作统计分析，确定产生MUF的原因，如，测量核材料的系统需要改进；出现核材料非法转移等。
在本发明的一些实施例中，可以基于相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材料平衡结算，得到MUF。其中，预设周期为平衡周期。
为了方便理解本发明实施例，下面对本发明实施例提供的信息确定的方法进行详细阐述。
图1是本发明实施例提供的一种信息确定的方法的流程示意图。
如图1所示，本发明实施例提供的信息确定的方法，包括：
S101：确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差。
第一核材料是指盛装核材料的衡器中所有的核材料。第一核材料的材料信息是指第一核材料的重量等信息。第一核材料的材料信息可以是通过确定第一核材料的毛重和盛装第一核材料的衡器的皮重计算得到的。第一核材料的毛重是通过称量毛重的标准砝码，衡器的皮重是通过称量皮重的标准砝码得到。基于称量毛重的标准砝码对应的毛重平均值和称量皮重的标准砝码对应的皮重平均值，能够得到衡器的净重偏差。
在这里，毛重平均值是将称量毛重的标准砝码进行n次毛重测量，并对n次测量的结果求平均值得到。皮重平均值将称量皮重的标准砝码进行n次皮重测量，并对n此测量的结果求平均值得到。
第一系统误差是指在对核材料进行重量测量的过程中，由标准砝码造成的系统误差。第一随机误差是指在进行第一核材料测量的过程中可能产生的随机误差，可以通过统计分析确定。
基于毛重平均值和皮重平均值，能够得到在确定核材料重量的时候系统出现的第一系统误差以及人为造成的第一随机误差。
其中，第一系统误差
满足下述公式(2)：
其中，μg表示毛重的标准砝码值；
表示毛重标准砝码称量n次的平均值；μt表示皮重的标准砝码值；
表示皮重标准砝码称量n次的平均值。
第一随机误差可以是通过做多测试得到的认为产生的误差。
S102；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料。
在这里，为了提高确定产生MUF的原因的准确性，还可以在确定第一系统误差后，对第一系统误差的方差进行偏差校正。
对第一系统误差的方差进行偏差校正后，第一系统误差的方差S1 2应满足下述公式(3)：
不进行偏差校正，则第一系统误差的方差S2 2应满足下述公式(4)：
其中，σg表示给定的毛重标准砝码的标准偏差σt表示给定的皮重标准砝码的标准偏差；
表示对毛重标准砝码称量n次的方差；
表示对皮重量值点标准砝码称量n次的方差。
其中，无论是否需要对系统做偏差校正，第一随机误差的方差为
第二核材料可以是在第一和材料中进行取样后的核材料。第二系统误差是指在对第二核材料进行重量测量的过程中，由标准砝码造成的系统误差。第二随机误差是指在进行第二核材料测量的过程中可能产生的随机误差，可以通过统计分析确定。通过对盛装第二核材料的衡器进行毛重和皮重的测量，进而得到第二核材料的净重。第二核材料的净重是存在误差的，这个误差是由第二系统误差和第二随机误差引起的。在对第二核材料进行测量的过程中，产生的第二系统误差对应的方差。
在这里，需要在第一核材料中获取多个第二核材料作为标准样本进行测量分析，例如，在给定条件下对第二核材料的量进行测量n次。在测量分析过程中，产生的第二系统误差
满足下述公式(5)：
其中，
表示测量n次第二核材料量的平均值；μ0表示给定的第二核材料的量的标准值。
每一个第二核材料的第二系统误差的方差
满足下述公式(6)：
其中，μi标示第二核材料第i次测量的标称值对应的自然对数值；
表示多个第二核材料的标称值对应的自然对数值的平均值；n为常数，表示第二核材料的测量次数。
每一个第二核材料的随机误差的方差S2满足下述公式(7)：
其中，k＝1，2，……，m，m＝1，2，……，n，m表示第二核材料的个数。
在取样的多个第二核材料中，任一个第二核材料k的权重ωk满足下述公式(8)：
其中，σk表示给定的第二核材料k的相对标准偏差；nk表示第二核材料k的测量次数值。
进行偏差校正后，根据多个第二核材料进行测量分析确定的第二核材料的第二系统误差的方差
满足下述公式(9)：
若未进行偏差校正，则确定总体进行样本分析过程中的系统误差的方差
满足下述公式(10)：
其中，m＝1，2，……，n，表示第二核材料的个数；nk表示第k个第二核材料的测量次数；μk表示第k个第二核材料的标称值；σk表示第k个第二核材料的标准偏差；
表示测量第k个第二核材料的测量平均值。
根据一个第二核材料进行测量分析确定的第二核材料的第二系统误差的方差
满足下述公式(11)：
其中，μi表示第i个第二核材料的标称值，i＝1，2，……，n；n为常数；X表示第i个第二核材料的多次测量的平均值，
满足下述公式(12)：
对公式(11)中的第二系统误差的方差
进行偏差校正后，校正后的系统误差的方差
满足下述公式(13)：
其中，σ0表示给定的第二核材料的标准偏差。
第二随机误差
可以满足下述公式(14)：
在对第一核材料进行取样的过程中还会产生第三随机误差。对每次取样进行统计分析，进而得到第三随机误差。基于第三随机误差，确定第三随机误差的方差。第三随机误差的方差满足下述公式(15)：
其中，S分析表示在取样过程中，由样品分析造成的随机误差的方差；SS为一个中间变量；n表示观测次数；k表示分析次数；m表示某一个取样样品，m＝1，2，3，……，j。
由样品分析造成的随机误差的方差S分析满足下述公式(16)：
其中，SA是一个中间变量，且满足下述公式(17)：
SA＝ST-SI-SS (17)
其中，ST是一个中间变量，且满足下述公式(18)：
SI是一个中间变量，且满足下述公式(19)：
SS是一个中间变量，且满足下述公式(20)：
上述公式(15)至公式(20)中，Xijk表示物项i，第二核材料j，第k次分析时的单次测量值；Ti表示物项i(i＝1，2，…，h)的所有测量值之和，h表示选取物项的总数；N表示总测量次数；Tij表示物项i，第二核材料j所有测量值的和；m表示每个物项被抽取的第二核材料的数量；n表示每个第二核材料的分析次数；Tijk表示物项i，第二核材料j，第k次分析时的所有测量值的和。
分别将第一系统误差的方差，第一随机误差的方差，第二系统误差的方差，第二随机误差的方差和第三随机误差的方差转换为相对偏差。
例如，将第一系统误差的方差通过下述公式将第一系统误差的转化为第一系统误差对应的相对偏差。
其中，相对偏差δ2满足下述公式(21)：
其中，σ2表示第一系统误差的方差，第一随机误差的方差，第二系统误差的方差，第二随机误差的方差和第三随机误差的方差种的任意一个；z表示核材料层的数目；nz表示在材料层z，每批核材料的物项数目；mz表示在材料层z，核材料所属批次的数目。Xz表示采用不同测量方法是材料层z的总量。在这里，可以采用不同的下标表示不同的误差对应的相对偏差。例如，
表示第一系统误差对应的相对偏差；
表示第二随机误差对应的相对偏差；
表示第一系统误差对应的相对偏差；
表示第二随机误差对应的相对偏差；
表示第三随机误差对应的相对偏差；q表示总体测量方法，p表示取样方法，t表示分析第二核材料的方法。
那么，对应z层核材料的总量Xz的随机误差的方差Vr(Xz)满足下述公式(22)：
其中，rz表示在材料层z，每批第一核材料所取的第二核材料的数目，cz在材料层z，每个第二核材料的分析次数。
那么，不平衡差的随机方差Vr(MUF)满足下述公式(23)：
不平衡差的系统方差Vs(MUF)满足下述公式(24)：
其中，Mq表示采用总体测量方法时第一核材料的总量；Mp表示采用取样方法时第一核材料的总量；Mt表示采用分析方法时第一核材料的总量。
Mq，Mp，Mt均满足下述公式(25)：
M表示Mq，Mp，Mt中的任意一个，对于期初存量层和增加层，Az的符号为+1，对于期末存量层和减少层，Az的符号为-1。
S103：根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。
出现MUF的原因可以是核材料出现非法转移，还可以是测量系统出现问题。
检测出现MUF的原因是否是核材料出现非法转移，具体包括：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；
根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息
对MUF和MUF进行比较，当MUF大于MUF的偏差的2倍时，则确定产生MUF的原因信息为核材料出现非法转移。
检测出现MUF的原因是否是测量系统出现问题，具体包括：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的偏差；
根据MUF的方差和MUF的偏差，确定MUF的相对偏差；
根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。
MUF的方差V(MUF)满足下述公式(26)：
V(MUF)＝Vr(MUF)+Vs(MUF) (26)
MUF的偏差σ(MUF)满足下述公式(27)：
MUF的相对偏差δ(MUF)满足下述公式(28)：
其中，总量可以是第一核材料的期末存量。
本发明实施例提供的信息确定的方法，通过确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，因此，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
图2是本发明实施例提供的一种信息确定的装置的结构示意图。
如图2所示，本发明实施例提供的一种信息确定的装置，可以包括：误差确定模块201，方差确定模块202，信息确定模块203。
误差确定模块201，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；
方差确定模块202，用于根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；
信息确定模块203，用于根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，信息确定模块203，具体用于：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的偏差；
根据MUF的偏差和MUF，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，信息确定模块203，具体用于：
根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的方差和MUF的误差；
根据MUF的方差和MUF的误差，确定MUF的相对偏差；
根据MUF的相对偏差，确定MUF的原因信息。
在一种可能的实现方式中，该装置还包括：
获取模块，用于获取不同预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息；
结算模块，用于根据相邻的预设周期内核材料在每个材料平衡区的核材料信息，对核材料进行材料平衡结算，得到MUF。
本发明实施例提供的信息确定的装置，误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；方差确定模块，用于根据第一系统误差、第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定MUF的随机方差和MUF的系统方差；第一核材料和第二核材料是相同的核材料；信息确定模块，用于根据MUF的随机方差和MUF的系统方差，确定MUF的原因信息，提高了确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性。
本发明实施例提供的信息确定的装置执行图1所示的方法中的各个步骤，并能够达到提高确定核材料出现不平衡偏差原因的准确性的技术效果，为简洁描述，再此不在详细赘述。
图3示出了本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。
在电子设备可以包括处理器301以及存储有计算机程序指令的存储器302。
具体地，上述处理器301可以包括中央处理器(CPU)，或者特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，或者可以被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。
存储器302可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器302可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive，HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，存储器302可包括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下，存储器302可在综合网关容灾设备的内部或外部。在特定实施例中，存储器302是非易失性固态存储器。在特定实施例中，存储器302包括只读存储器(ROM)。在合适的情况下，该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM(EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可改写ROM(EAROM)或闪存或者两个或更多个以上这些的组合。
处理器301通过读取并执行存储器302中存储的计算机程序指令，以实现图1所示实施例中的任意一种信息确定的方法。
在一个示例中，电子设备还可包括通信接口303和总线310。其中，如图3所示，处理器301、存储器302、通信接口303通过总线310连接并完成相互间的通信。
通信接口303，主要用于实现本发明实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。
总线310包括硬件、软件或两者，将电子设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制，总线可包括加速图形端口(AGP)或其他图形总线、增强工业标准架构(EISA)总线、前端总线(FSB)、超传输(HT)互连、工业标准架构(ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储器总线、微信道架构(MCA)总线、外围组件互连(PCI)总线、PCI-Express(PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部(VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线310可包括一个或多个总线。尽管本发明实施例描述和示出了特定的总线，但本发明考虑任何合适的总线或互连。
该电子设备可以执行本发明实施例中的信息确定的方法，从而实现结合图1描述的信息确定的方法。
另外，结合上述实施例中的信息确定的方法，本发明实施例可提供一种计算机存储介质来实现。该计算机存储介质上存储有计算机程序指令；该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种信息确定的方法。
需要明确的是，本发明并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见，这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中，描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是，本发明的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤，本领域的技术人员可以在领会本发明的精神后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。
以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时，其可以例如是电子电路、专用集成电路(ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时，本发明的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中，或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RF)链路，等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
还需要说明的是，本发明中提及的示例性实施例，基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是，本发明不局限于上述步骤的顺序，也就是说，可以按照实施例中提及的顺序执行步骤，也可以不同于实施例中的顺序，或者若干步骤同时执行。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。应理解，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种信息确定的方法，其特征在于，所述方法包括：
确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差和第一随机误差；
根据所述第一系统误差、所述第一随机误差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差、第二随机误差和第三随机误差，确定所述MUF的随机方差和MUF的系统方差；所述第一核材料和所述第二核材料是相同的核材料；
根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息，包括：
根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的偏差；
根据所述MUF的偏差和所述MUF，确定所述MUF的原因信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息，包括：
根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的方差和所述MUF的偏差；
根据所述MUF的方差和所述MUF的偏差，确定所述MUF的相对偏差；
根据所述MUF的相对偏差，确定所述MUF的原因信息。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取不同预设周期内所述核材料在每个材料平衡区的核材料信息；
根据相邻的预设周期内所述核材料在所述每个材料平衡区的核材料信息，对所述核材料进行材料平衡结算，得到所述MUF。
5.一种信息确定的装置，其特征在于，所述装置包括：
误差确定模块，用于确定计算第一核材料的材料信息时的第一系统误差的方差和第一随机误差的方差；
方差确定模块，用于根据所述第一系统误差的方差、所述第一随机误差的方差、计算第二核材料的材料信息时的第二系统误差的方差、第二随机误差的方差和第三随机误差的方差，确定所述MUF的随机方差和MUF的系统方差；所述第一核材料和所述第二核材料是相同的核材料；
信息确定模块，用于根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的原因信息。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述信息确定模块，具体用于：
根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的偏差；
根据所述MUF的偏差和所述MUF，确定所述MUF的原因信息。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述信息确定模块，具体用于：
根据所述MUF的随机方差和所述MUF的系统方差，确定所述MUF的方差和所述MUF的误差；
根据所述MUF的方差和所述MUF的误差，确定所述MUF的相对偏差；
根据所述MUF的相对偏差，确定所述MUF的原因信息。
8.根据权利要求5-7任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
获取模块，用于获取不同预设周期内所述核材料在每个材料平衡区的核材料信息；
结算模块，用于根据相邻的预设周期内所述核材料在所述每个材料平衡区的核材料信息，对所述核材料进行材料平衡结算，得到所述MUF。
9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如权利要求1-4任意一项所述的信息确定的方法。
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-4任意一项所述的信息确定的方法。
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