CN111552101A - 液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统，该方法包括：根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压；液晶显示模组的FPC中的接地端子接地；液晶显示模组点亮；至少一次将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面；观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。通过将电荷释放到液晶显示模组的显示屏表面，利用显示屏的显示变化，判断银浆是否导通，避免了传统方法中需物理接触银浆点进行检测的弊端，不会破坏银浆，且该银浆导通的检测可以与显示屏的其他功能性检测一起完成，大大节约了检测资源。本发明的银浆导通检测系统结构简单、成本低，通用于不同型号的液晶显示模组。

Description

液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统

技术领域

本发明涉及液晶显示模组技术领域，尤其涉及液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统。

背景技术

在液晶显示模组中，一般通过点银浆而把液晶显示屏的上下玻璃导通，释放表面的静电，防止静电损坏液晶显示屏。银浆将液晶显示屏的上玻璃(即CF基板)与下玻璃(即Array基板)的接地线导通，实现静电释放，但如果液晶显示模组银浆阻值偏大或者银浆断开，则银浆失效，无法进行静电的导通及释放，此种情况则需要重新点银浆。目前对银浆导通的检测方法，一般使用万用表或者阻抗仪对银浆进行接触式检测。采用该方法在进行银浆导通检测时，用万用表笔或阻抗仪一端接触CF基板的银浆点，另一端接触到液晶显示模组的FPC(Flexible Printed Circuit)上漏铜处的接地点。通过读取万用表笔或阻抗仪的数值判断银浆是否合格。该方法存在以下弊端：

a)因为接触式检测，在检测时容易造成银浆接触点的损坏。银浆质软，即便用测试架接触银浆位置，也有损坏的可能。该物理接触的检测方法，可能会把原本导通的银浆，在万用表笔或阻抗仪接触后对银浆点造成损坏，而导致银浆失效。

b)接触检测的过程中存在测试笔损坏玻璃边角的可能。

C)需要一个岗位单独进行测试，耗时耗力。

发明内容

为解决以上存在的技术问题，本发明提供一种液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统。

本发明的技术方案如下：本发明提供了一种液晶显示模组的银浆导通检测方法，包括：

根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压；

液晶显示模组的FPC中的接地端子接地；

液晶显示模组点亮；

至少一次将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面；

观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。

进一步地，将电荷发生器的静电释放到液晶显示屏的表面的次数为3-5次，每次静电释放进行0.8-1.2秒。

进一步地，所述静电电压在1-2kv之间。

进一步地，所述电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的中间区域的表面。

进一步地，所述液晶显示模组点亮后显示白色画面或彩色画面。

进一步地，所述显示屏的显示变化包括：

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块消失；

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块未消失或未完全消失。

进一步地，如色块在一定时间内消失，则判定检测结果为银浆导通良好；如色块在一定时间内未消失或未完全消失，则判定为银浆导通不良。

进一步地，所述一定时间为0-2秒。

本发明还提供一种银浆导通检测系统，包括：

一电荷发生器，用于产生静电荷；

一治具，设有一接地端口，液晶显示模组的FPC中的接地端子连接至该接地端口实现接地，该治具还用于点亮所述液晶显示模组；

一测试表笔，一端连接所述电荷发生器，一端接触所述液晶显示模组的显示屏表面，完成静电释放。

进一步地，所述测试表笔的另一端为一圆头测试探针。

采用上述方案，本发明提供一种液晶显示模组的银浆导通检测方法，其通过将电荷释放到液晶显示模组的显示屏表面，利用显示屏的显示变化，判断银浆是否导通，避免了传统方法中需物理接触银浆点进行检测的弊端，不会破坏银浆，且该银浆导通的检测可与显示屏的其他功能性检测一起完成，大大节约了检测资源，提高了显示屏的检测效率。本发明的银浆导通检测系统结构简单、操作方便、成本低，通用于不同型号的液晶显示模组，大大节约了检测成本。

附图说明

图1为本发明的液晶显示模组的银浆导通检测方法的流程框架示意图。

图2为本发明的液晶显示模组的银浆导通检测系统的部件框架示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。

请参阅图1的流程框架示意图，本发明为一种液晶显示模组的银浆导通检测方法，包括以下步骤：

(1)根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压，一般该静电电压控制在1-2kv，即是液晶显示模组的安全电压范围内，能保证检测过程中显示屏的安全。

(2)液晶显示模组的FPC接地，即保证释放到液晶显示模组表面的静电通过银浆导通到该接地端而疏导。优选的，该液晶显示模组的的FPC中的接地端子连接一治具的接地端口进行接地。即液晶显示模组表面的静电通过银浆导通后，进入FPC的接地端子实现接地。

(3)液晶显示模组点亮，本实施例中，通过一治具对液晶显示模组进行点亮。该治具可以为液晶显示模组各功能性测试的通用治具，也可以为仅仅具有点亮液晶显示模组功能的一般治具，其上设有一CPU，该液晶显示模组的FPC与该CPU电性连接，所述CPU控制所述液晶显示模组的点亮或熄灭。在进行静电释放前，需先将液晶显示模组点亮，其点亮后的画面可以为白色或彩色画面，优选为一彩色画面，银浆导通的情况下静电释放后显示屏的显示变化较明显，便于观察得出检测结果。

(4)将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面，即所述电荷发生器配套设有一测试表笔，所述测试表笔电性连接至所述电荷发生器的电荷产生端，所述测试表笔接触液晶显示模组的显示屏的表面，将静电释放到显示屏的上玻璃表面(即CF基板表面)。优选的，在进行静电释放时，所述测试表笔接触所述显示屏中间区域的表面，色块产生及消散较明显，容易判断银浆的导通情况。如所述测试表笔与所述显示屏接触点位于显示屏的下方，则可能存在损坏IC的隐患，而如所述表笔与所述显示屏接触点位于显示屏的上方或左右边缘，则静电的产生及消散不够明显，增加了检测的难度。优选的，一般进行静电释放3-5次，每次进行0.8-1.2秒，避免一次释放时间过长而而造成显示屏的损坏。

(5)观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。此检测方法的原理为：静电荷释放(瞬时高电压)将显示屏的液晶扭转过度，使得显示屏以静电荷在其上的释放点为中心发生散射性显示变化，静电的瞬时高电压效果使得相应区域的液晶分子扭转角度增加，使得释放有静电荷的区域显示一色块，该色块根据显示屏的玻璃类型及施加电压不同一般为蓝色或灰黑色，该色块以静电荷在显示屏上的释放点为中心，呈散射状，即一中心颜色较深、边缘变浅的色块。具体的，在进行银浆导通检测时显示屏有两种显示变化，如下：

(a)一种情况下，在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后0-2秒内所述色块消失，则表明显示屏表面的静电通过银浆释放到接地端，银浆导通良好。具体的，静电荷通过测试表笔释放到显示屏的表面(CF基板表面)，静电荷(高电压)将显示屏的液晶扭转过度，使得显示屏以静电荷在其上的释放点为中心产生一色块，在银浆的导通作用下，静电荷沿银浆传输至显示屏的下玻璃(Array基板)，然后通过FPC传输至测试治具的接地端，完成静电荷的疏导，显示屏上的色块完全消失。银浆导通良好的情况下，静电荷的疏导时间一般为2秒以内，故以此作为静电释放后对显示屏的显示变化观察时间。

(b)另一情况下，在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后2秒后，所述色块未消失或未完全消失，则表明显示屏表面的静电未及时释放至接地端，仍聚集在显示屏表面，银浆导通不良，需重新点银浆处理。具体的，静电荷通过测试表笔释放到显示屏的表面(CF基板表面)，静电荷(高电压)将显示屏的液晶扭转过度，使得显示屏以静电荷在其上的释放点为中心产生一色块，在银浆完全不导通的情况下，静电荷无法沿银浆传输至显示屏的下玻璃(Array基板)，仍聚集在显示屏表面，只能通过CF基板本身的静电设计释放静电，故色块长时间不消失，一般情况下超过10分钟以上才会逐渐消失。在银浆部分导通的情况下，静电荷沿银浆传输至显示屏的下玻璃(Array基板)，然后通过FPC的接地端子传输至测试治具的接地端，但这一过程由于银浆的导通不良，形成了高阻抗，造成静电荷的疏导时间延长，即在2秒后色块仍未完全消失。故，如静电释放完成后，显示屏的色块完全不消失或未在2秒内完全消失，则可以判定该液晶显示模组的银浆导通不良，需重新进行点银浆作业。

其中，对显示屏的观察时间可通过检测人员根据经验进行判断，也可设定一自动或手动计时工具，如在治具上设定一自动计时器，释放静电时CPU触发该计时器开始计时，释放结束后2秒CPU触发该计时器停止计时，如计时结束后色块消失则说明银浆导通良好，如计时结束后色块未消失或未完全消失则说明银浆导通不良。

请参阅图2的部件框架示意图，本发明还提供一种液晶显示模组的银浆导通检测系统，该检测系统包括：

一电荷发生器，用于产生静电荷，本发明中所用电荷发生器型号为ESD2005Q，可用于绝大多数电气与电子设备的静电放电试验，而且可以保证试验的可比性和再现性，其放电稳定、精准，很好地满足对于液晶显示模组的显示屏的静电释放的要求。

一治具，设有一接地端口，液晶显示模组的FPC中的接地端子连接至该接地端口实现接地，该治具还用于点亮所述液晶显示模组，优选的，所述治具上安装有一CPU，所述液晶显示模组的FPC电性连接至所述CPU，所述CPU控制所述液晶显示模组的IC工作，对其点亮或熄灭。该治具为对液晶显示模组功能性测试的通用治具，也可以为一仅能实现对液晶显示模组接地和点亮的治具。

一测试表笔，一端连接所述电荷发生器，另一端接触所述液晶显示模组的显示屏表面，完成静电释放。该测试表笔另一端的笔头为圆头测试探针，在接触显示屏表面时防止将其划伤。

该液晶显示模组的银浆导通检测系统，结构简单，治具可以为液晶显示模组进行功能性测试的通用治具，无需另外购置，而仅需额外准备一电荷发生器和测试表笔即可完成对银浆导通的检测，且该检测系统可通用于不同型号的液晶显示模组，大大节约了检测成本。

综上所述，本发明提供一种液晶显示模组的银浆导通检测方法，该方法通过将一定量的静电荷释放到液晶显示模组的表面，通过观察静电释放后显示屏的显示变化来判断银浆导通情况。该检测方法简单快捷，无需物理接触银浆点，避免了物理检测过程中银浆点损坏的弊端，且该银浆导通检测可以跟液晶显示模组的其他功能性检测一起进行，无需另设一检测工位，大大节约了检测资源，提高了检测效率。本发明的液晶显示模组的银浆导通检测系统，治具可以为液晶显示模组的通用治具，仅需要额外准备一电荷发生器和一测试表笔，即可完成对银浆导通的检测，结构简单，成本低，值得大力推广使用。

以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.液晶显示模组的银浆导通检测方法，其特征在于，包括：

根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压；

液晶显示模组的FPC中的接地端子接地；

液晶显示模组点亮；

至少一次将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面；

观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，将电荷发生器的静电释放到显示屏的表面的次数为3-5次，每次静电释放进行0.8-1.2秒。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述静电电压在1-2kv之间。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的中间区域的表面。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述液晶显示模组点亮后显示白色画面或彩色画面。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述显示屏的显示变化包括：

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块消失；或

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块未消失或未完全消失。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，如色块在一定时间内消失，则判定检测结果为银浆导通良好；如色块在一定时间内未消失或未完全消失，则判定为银浆导通不良。

8.根据权利要求6或7所述的检测方法，其特征在于，所述一定时间为0-2秒。

9.一种银浆导通检测系统，其特征在于，包括：

一电荷发生器，用于产生静电荷；

一治具，设有一接地端口，液晶显示模组的FPC中的接地端子连接至该接地端口实现接地，该治具还用于点亮所述液晶显示模组；

一测试表笔，一端连接所述电荷发生器，另一端接触所述液晶显示模组的显示屏表面，完成静电释放。

10.根据权利要求9所述的银浆导通检测系统，其特征在于，所述测试表笔的另一端为一圆头测试探针。

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