CN108711393A - 一种incell产品银浆导通测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种incell产品银浆导通测试方法，通过在显示模组上设置银浆点并测量所述银浆点与FPC上的GND之间的电阻来测试银浆是否导通。本发明的方法可以确切测试银浆是否导通，提升了良品率，避免了不良品流入客户端。

Description

一种incell产品银浆导通测试方法

技术领域

本发明涉及液晶显示模组测试技术领域，尤其涉及一种incell产品银浆导通测试方法。

背景技术

现有检测银浆是否导通的技术分两种，第一种是针对非incell的IPS产品或者是镀高阻膜的incell产品，使用万用表直接测量ITO到FPC上的GND来判断导通性；第二种是针对没有镀高阻膜而使用导电偏光片的incell产品，通过外观检查其点银浆的效果进行判定。第一种方法只适用于非incell产品或者是带高阻膜的incell产品，第二种方法只能通过外观检查来进行电性能的导通性判断，存在漏检的可能，而银浆未良好导通将导致产品装在整机上后出现电荷聚集，影响显示和触控效果。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种incell产品银浆导通测试方法。

本发明的技术方案如下：本发明提供一种incell产品银浆导通测试方法，该方法包括以下步骤：

步骤1，提供一显示模组，所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆，所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT上的导电区域，所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上；

步骤2，提供一用于测量电阻的测量设备，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触；

步骤3，读取测量设备的测试结果，如果测量设备的显示屏上显示有电阻值，发出“滴滴”的声音，则判断为银浆导通，产品OK；如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音，则银浆未导通，产品NG。

进一步地，所述第一银浆的数量为2个，所述第二银浆的数量为1个。

进一步地，2个第一银浆对称设于所述显示模组的侧面上。

进一步地，所述偏光片为带有导电功能的偏光片。

进一步地，所述第一银浆呈“L”型，所述第二银浆呈“一”字型。

进一步地，所述第一银浆分别与偏光片、彩色滤光片和TFT基板接触。

进一步地，所述测量设备为电阻测量仪。

进一步地，所述步骤2包括：

步骤2.1，提供一用于测量电阻的测量设备；

步骤2.2，测量设备进行自检；将测量设备的一根表笔与另一根表笔相互接触，显示测量的电阻为0并发出警报声音时，说明测量设备正常工作；

步骤2.3，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触。

采用上述方案，本发明的方法可以确切测试银浆是否导通，提升了良品率，避免了不良品流入客户端。

附图说明

图1为本发明的显示模组结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。

请参阅图1，本发明提供一种incell产品银浆导通测试方法，该方法包括以下步骤：

步骤1，提供一显示模组，所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆2，所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT上的导电区域，所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上，所述第一银浆1的数量为2个，所述第二银浆2的数量为1个，所述第一银浆1呈“L”型，所述第二银浆2呈“一”字型，2个第一银浆1对称设于所述显示模组的侧面上。

其中，所述偏光片为带有导电功能的偏光片，因此，第一银浆1与第二银浆2是电性导通的，将测量设备的表笔抵触至所述第二银浆2上时，表笔相当于与第一银浆1导通，因此，通过设置第二银浆2就可以增强测量的便利性。所述第一银浆1分别与偏光片、彩色滤光片和TFT基板接触，以实现传输电荷的目的。

步骤2，提供一用于测量电阻的测量设备，所述测量设备为电阻测量仪，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆2接触。

为了确保检测结果的正确性，在检测之前进行设备自检，保证设备能够正常工作。具体的，步骤2包括：

步骤2.1，提供一用于测量电阻的测量设备；

步骤2.2，测量设备进行自检；将测量设备的一根表笔与另一根表笔相互接触，显示测量的电阻为0并发出警报声音时，说明测量设备正常工作；

步骤2.3，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆2接触。

步骤3，读取测量设备的测试结果，如果测量设备的显示屏上显示有电阻值，发出“滴滴”的声音，则判断为银浆导通，产品OK；如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音，则银浆未导通，产品NG。

当银浆导通时，在用电阻测试仪测试电阻时电流经过的电阻依次为电阻测试仪表笔电阻、第二银浆电阻、POL电阻、第二银浆电阻、TFT基板上ITO电阻、FOG电阻、FPC电阻和电阻测试仪另一表笔电阻。

综上所述，本发明的方法可以确切测试银浆是否导通，提升了良品率，避免了不良品流入客户端。

以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤1，提供一显示模组，所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆，所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT基板上的导电区域，所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上；

步骤2，提供一用于测量电阻的测量设备，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触；

步骤3，读取测量设备的测试结果，如果测量设备的显示屏上显示有电阻值，发出“滴滴”的声音，则判断为银浆导通，产品OK；如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音，则银浆未导通，产品NG。

2.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述第一银浆的数量为2个，所述第二银浆的数量为1个。

3.根据权利要求2所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，2个第一银浆对称设于所述显示模组的侧面上。

4.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述偏光片为带有导电功能的偏光片。

5.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述第一银浆呈“L”型，所述第二银浆呈“一”字型。

6.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述第一银浆分别与偏光片、彩色滤光片和TFT基板接触。

7.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述测量设备为电阻测量仪。

8.根据权利要求1所述的incell产品银浆导通测试方法，其特征在于，所述步骤2包括：

步骤2.1，提供一用于测量电阻的测量设备；

步骤2.2，测量设备进行自检；将测量设备的一根表笔与另一根表笔相互接触，显示测量的电阻为0并发出警报声音时，说明测量设备正常工作；

步骤2.3，将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触，将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触。