CN111522158A - 一种液晶屏宏观缺陷检查设备 - Google Patents
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Abstract
本发明属于液晶屏检测设备技术领域，尤其为一种液晶屏宏观缺陷检查设备，包括设备底架，所述设备底架的顶面固定安装有第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的顶端通过导轨副活动连接有矩形框架，所述矩形框架的内槽固定安装有第一纵向移动机构，矩形框架的两端对称固定有第一支撑柱和第二支撑柱，第一支撑柱和第二支撑柱同心的位置均通过轴承转动连接有短轴，两根短轴之间固定连接有翻转框架，翻转框架的内框通过夹具固定连接有玻璃承载板，第一支撑柱的一侧固定安装有翻转电机。本发明通过显微摄像机在工作区域内任意可控移动，对准放置于玻璃承载板上的待测液晶屏，对液晶屏的每一个区域或像素进行拍摄，从而实现对其精确的检测。
Description
技术领域
本发明涉及液晶屏检测设备技术领域，具体为一种液晶屏宏观缺陷检查设备。
背景技术
现在的社会对液晶屏的使用要求非常高，尤其是在手机，电脑和电视上，但是国内很少有针对液晶屏质量管控的设备，尤其是对液晶屏的宏观缺陷的检查，在平时的环境和灯光下是不易发现液晶屏的细小缺陷，LCD 和 LED背光模组的漏光和亮度不均匀性会导致装配好的平板显示器表现出低劣的性能，而通过人眼检测这些缺陷并不够精确且无法重复；漏光是显示器模组缺陷中的一种常见问题，原因可能是来自于生产制造流程，也可能是原材料本身有问题， 系统可以在产品出厂前检测出漏光问题并对其进行分类；所以我们对液晶屏长久的研究，通过各种光和角度来检查液晶屏的细小的缺陷，来对液晶屏质量上的提高；目前的液晶屏检测装置多数采用人工手动进行。
目前的液晶屏宏观缺陷检查设备存在下列问题：
1、目前的液晶屏宏观缺陷检查设备多采用人工观测，效率低下且检测效果不可控。
2、目前的液晶屏宏观缺陷检查设备的周边环境粉尘较多，影响检测的真实性和准确性。
发明内容
（一）解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种液晶屏宏观缺陷检查设备，解决了目前的液晶屏宏观缺陷检查设备多采用人工观测，效率低下且检测效果不可控，以及检查设备的周边环境粉尘较多，影响检测的真实性和准确性的问题。
（二）技术方案
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种液晶屏宏观缺陷检查设备，包括设备底架，所述设备底架的顶面固定安装有第一横向移动机构，所述第一横向移动机构的顶端通过导轨副活动连接有矩形框架，所述矩形框架的内槽固定安装有第一纵向移动机构，所述矩形框架的两端对称固定有第一支撑柱和第二支撑柱，所述第一支撑柱和第二支撑柱同心的位置均通过轴承转动连接有短轴，两根所述短轴之间固定连接有翻转框架，所述翻转框架的内框通过夹具固定连接有玻璃承载板，所述第一支撑柱的一侧固定安装有翻转电机，所述翻转电机通过减速齿轮组连接所述短轴，所述翻转框架的一侧固定安装有第二纵向移动机构，所述第二纵向移动机构的顶端固定连接有第二横向移动机构，所述第二横向移动机构的顶端活动嵌合有显微摄像机。
作为本发明的一种优选技术方案，所述设备底架的边侧环绕有矩形护罩，所述矩形护罩顶端的中部固定安装有灯箱，所述灯箱内腔中固定安装有钠灯和折光板，所述灯箱的边侧固定安装有FUU设备 ，所述FUU设备连通所述灯箱的内腔。
作为本发明的一种优选技术方案，所述矩形护罩的一侧固定有电脑操控台，所述矩形护罩的另一侧固定安装有电控柜。
作为本发明的一种优选技术方案，所述第一横向移动机构包括双导轨副，所述双导轨副之间固定安装平行设置有第一Y轴丝杆，所述第一Y轴丝杆的中部螺合连接有横向移动板，所述第一Y轴丝杆的端部固定安装有伺服电机。
作为本发明的一种优选技术方案，所述横向移动板的一侧固定安装有气缸，所述气缸的伸缩轴固定连接所述矩形框架的边侧。
作为本发明的一种优选技术方案，所述第一支撑柱上固定有角度传感器，所述短轴上固定有磁感片，所述角度传感器的缺口对应所述磁感片设置。
作为本发明的一种优选技术方案，所述第二纵向移动机构和第二横向移动机构均为同步带轮传动副。
（三）有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种液晶屏宏观缺陷检查设备，具备以下有益效果：
1、该液晶屏宏观缺陷检查设备，通过显微摄像机在工作区域内任意可控移动，对准放置于玻璃承载板上的待测液晶屏，对液晶屏的每一个区域或像素进行拍摄，从而实现对其精确的检测。
2、该液晶屏宏观缺陷检查设备，通过设置钠灯发射检测所需的光线，光线经过折光板折射至放置于玻璃承载板上的液晶屏，于此同时开启FUU设备吸附设备内部的细小灰尘，使产品表面无灰尘，以便人工更好的检查产品。
附图说明
图1为本发明内部结构一端示意图；
图2为本发明内部结构另一端示意图；
图3为本发明主体结构外观示意图；
图4为本发明主体结构侧剖示意图；
图5为本发明移动机构和翻转机构示意图；
图6为本发明承载平台结构示意图。
图中：1、设备底架；2、第一横向移动机构；3、矩形框架；4、第一纵向移动机构；5、第一支撑柱；6、第二支撑柱；7、短轴；8、翻转框架；9、玻璃承载板；10、翻转电机；11、减速齿轮组；12、第二纵向移动机构；13、第二横向移动机构；14、显微摄像机；15、矩形护罩；16、灯箱；17、钠灯；18、折光板；19、FUU设备；20、电脑操控台；21、电控柜；22、双导轨副；23、第一Y轴丝杆；24、横向移动板；25、伺服电机；26、气缸；27、角度传感器；28、磁感片。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例
请参阅图1-6，本发明提供以下技术方案：一种液晶屏宏观缺陷检查设备，包括设备底架1，设备底架1的顶面固定安装有第一横向移动机构2，第一横向移动机构2的顶端通过导轨副活动连接有矩形框架3，矩形框架3的内槽固定安装有第一纵向移动机构4，矩形框架3的两端对称固定有第一支撑柱5和第二支撑柱6，第一支撑柱5和第二支撑柱6同心的位置均通过轴承转动连接有短轴7，两根短轴7之间固定连接有翻转框架8，翻转框架8的内框通过夹具固定连接有玻璃承载板9，第一支撑柱5的一侧固定安装有翻转电机10，翻转电机10通过减速齿轮组11连接短轴7，翻转框架8的一侧固定安装有第二纵向移动机构12，第二纵向移动机构12的顶端固定连接有第二横向移动机构13，第二横向移动机构13的顶端活动嵌合有显微摄像机14。
本实施例中，将液晶屏通过机械臂或机械吸盘放置于玻璃承载板9上，然后通过气动元件进行定位和固定，其工作时，第一横向移动机构2在设备底架1上带动第一纵向移动机构4、翻转框架8、第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行横向移动，第一纵向移动机构4带动翻转框架8、第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行纵向移动；翻转框架8在翻转电机10的驱动下带动第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行翻转，第二横向移动机构13在第二纵向移动机构12上带动显微摄像机14移动，对准放置于玻璃承载板9上的待测液晶屏，对液晶屏的每一个区域或像素进行拍摄，从而实现对其精确的检测；其中，显微摄像机14采用ZW-H3000型测量专用高清显微镜，能够精确的拍摄出液晶屏的品质状态。
具体的，设备底架1的边侧环绕有矩形护罩15，矩形护罩15顶端的中部固定安装有灯箱16，灯箱16内腔中固定安装有钠灯17和折光板18，灯箱16的边侧固定安装有FUU设备19，FUU设备19连通灯箱16的内腔。
本实施例中，钠灯17发射检测所需的光线，光线经过折光板18的折射后投射放置于玻璃承载板9上的液晶屏，此时显微摄像机14在第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13的带动下移动，拍摄液晶屏上的状态信息，并将拍摄的液晶屏状态传输至专业的监控电脑进行显示和对比，从而快速、自动的对液晶屏进行检测；于此同时开启FUU设备19，FUU设备19吸附设备内部的细小灰尘，使产品表面无灰尘，以便人工更好的检查产品；检测过程中，有时人工会根据实际情况控制不同的颜色和钠灯17是否屏蔽来对产品进行其它的缺陷检查，检查完过后，通过操控按钮使工作平台返回到原点，最后通过外部机械手臂把产品移出本发明设备，然后循环操作实现高效的检测。
具体的，矩形护罩15的一侧固定有电脑操控台20，矩形护罩15的另一侧固定安装有电控柜21。
本实施例中，电脑操控台20电性连接电控柜21中的多组伺服驱动单元，从而根据设定的检测程序驱动，第一横向移动机构2、第一纵向移动机构4、第二纵向移动机构12、第二横向移动机构13和翻转电机10进行工作，令显微摄像机14在工作区域内根据检测程序任意移动，对放置于玻璃承载板9上的液晶屏进行检测，然后由人工在电脑操控台20上对产品进行信息的整理，归纳。
具体的，第一横向移动机构2包括双导轨副22，双导轨副22之间固定安装平行设置有第一Y轴丝杆23，第一Y轴丝杆23的中部螺合连接有横向移动板24，第一Y轴丝杆23的端部固定安装有伺服电机25。
本实施例中，伺服电机25通电转动时，通过第一Y轴丝杆23带动横向移动板24沿着双导轨副22移动，对第一纵向移动机构4、第一支撑柱5、第二支撑柱6和翻转框架8整体进行横向移动。
具体的，横向移动板24的一侧固定安装有气缸26，气缸26的伸缩轴固定连接矩形框架3的边侧。
本实施例中，气缸26充气时通过其伸缩杆带动矩形框架3在横向移动板24上移动，实现矩形框架3的纵向移动。
具体的，第一支撑柱5上固定有角度传感器27，短轴7上固定有磁感片28，角度传感器27的缺口对应磁感片28设置。
本实施例中，角度传感器27采用霍尔传感器或光电编码器，能够对跟随短轴7转动的磁感片28进行磁性感应或光电感应，当磁感片28靠近角度传感器27的缺口时，角度传感器27就感应到了当前短轴7和翻转框架8的翻转是否到位，并且将检测信号传输至电脑操控台20中。
具体的，第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13均为同步带轮传动副。
本实施例中，第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13均为同步带轮传动副，同步带轮传动副具有传动精确、相应速度快的优点，因此能够携载着显微摄像机14在翻转框架8上按照设定的路径移动，对放置于玻璃承载板9上的显示屏进行拍摄式检测。
本实施例中显微摄像机14和角度传感器27为已经公开的广泛运用于工业生产和日常生活的已知技术。
本发明的工作原理及使用流程：将液晶屏通过机械臂或机械吸盘放置于玻璃承载板9上，然后通过气动元件进行定位和固定，其工作时，第一横向移动机构2在设备底架1上带动第一纵向移动机构4、翻转框架8、第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行横向移动，第一纵向移动机构4带动翻转框架8、第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行纵向移动；翻转框架8在翻转电机10的驱动下带动第二纵向移动机构12和第二横向移动机构13进行翻转，第二横向移动机构13在第二纵向移动机构12上带动显微摄像机14移动，对准放置于玻璃承载板9上的待测液晶屏，对液晶屏的每一个区域或像素进行拍摄，从而实现对其精确的检测；检测过程中，有时人工会根据实际情况控制不同的颜色和钠灯17是否屏蔽来对产品进行其它的缺陷检查，检查完过后，通过操控按钮使工作平台返回到原点，最后通过外部机械手臂把产品移出本发明设备，然后循环操作实现高效的检测。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种液晶屏宏观缺陷检查设备，包括设备底架（1），其特征在于：所述设备底架（1）的顶面固定安装有第一横向移动机构（2），所述第一横向移动机构（2）的顶端通过导轨副活动连接有矩形框架（3），所述矩形框架（3）的内槽固定安装有第一纵向移动机构（4），所述矩形框架（3）的两端对称固定有第一支撑柱（5）和第二支撑柱（6），所述第一支撑柱（5）和第二支撑柱（6）同心的位置均通过轴承转动连接有短轴（7），两根所述短轴（7）之间固定连接有翻转框架（8），所述翻转框架（8）的内框通过夹具固定连接有玻璃承载板（9），所述第一支撑柱（5）的一侧固定安装有翻转电机（10），所述翻转电机（10）通过减速齿轮组（11）连接所述短轴（7），所述翻转框架（8）的一侧固定安装有第二纵向移动机构（12），所述第二纵向移动机构（12）的顶端固定连接有第二横向移动机构（13），所述第二横向移动机构（13）的顶端活动嵌合有显微摄像机（14）。
2.根据权利要求1所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述设备底架（1）的边侧环绕有矩形护罩（15），所述矩形护罩（15）顶端的中部固定安装有灯箱（16），所述灯箱（16）内腔中固定安装有钠灯（17）和折光板（18），所述灯箱（16）的边侧固定安装有FUU设备 （19），所述FUU设备（19）连通所述灯箱（16）的内腔。
3.根据权利要求2所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述矩形护罩（15）的一侧固定有电脑操控台（20），所述矩形护罩（15）的另一侧固定安装有电控柜（21）。
4.根据权利要求1所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述第一横向移动机构（2）包括双导轨副（22），所述双导轨副（22）之间固定安装平行设置有第一Y轴丝杆（23），所述第一Y轴丝杆（23）的中部螺合连接有横向移动板（24），所述第一Y轴丝杆（23）的端部固定安装有伺服电机（25）。
5.根据权利要求4所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述横向移动板（24）的一侧固定安装有气缸（26），所述气缸（26）的伸缩轴固定连接所述矩形框架（3）的边侧。
6.根据权利要求1所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述第一支撑柱（5）上固定有角度传感器（27），所述短轴（7）上固定有磁感片（28），所述角度传感器（27）的缺口对应所述磁感片（28）设置。
7.根据权利要求1所述的一种液晶屏宏观缺陷检查设备，其特征在于：所述第二纵向移动机构（12）和第二横向移动机构（13）均为同步带轮传动副。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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