CN111505534A - 一种显示模组的短路检测电路 - Google Patents

一种显示模组的短路检测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN111505534A
CN111505534A CN202010385760.4A CN202010385760A CN111505534A CN 111505534 A CN111505534 A CN 111505534A CN 202010385760 A CN202010385760 A CN 202010385760A CN 111505534 A CN111505534 A CN 111505534A
Authority
CN
China
Prior art keywords
resistor
display module
module
output contact
selection switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN202010385760.4A
Other languages
English (en)
Inventor
孙添平
戴庆田
戴贵荣
许建超
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maanshan Aixiesheng Technology Co ltd
Original Assignee
Maanshan Aixiesheng Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Maanshan Aixiesheng Technology Co ltd filed Critical Maanshan Aixiesheng Technology Co ltd
Priority to CN202010385760.4A priority Critical patent/CN111505534A/zh
Publication of CN111505534A publication Critical patent/CN111505534A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/56Testing of electric apparatus
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明属于显示技术领域,公开了一种显示模组的短路检测电路,该电路包括:与显示模组输出接触点电连接的测试开关;与所述测试开关电连接的选择开关;与所述选择开关连接的第一电阻、第二电阻和ADC模块,所述第一电阻连接到GND,所述第二电阻连接到VREF,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻与选择开关连接处的电压。本发明,通过测试开关连接输出接触点,选择开关根据测试需要选择连接第一电阻或第二电阻,通过ADC模块的量化结果,判断输出当前检测输出接触点是否短路,采用该短路检测电路可以在显示模组生产过程中,及时且高效地检测出因输出接触点短路产生的不良品,大大节约了生产成本。

Description

一种显示模组的短路检测电路
技术领域
本发明属于显示技术领域,尤其涉及一种显示模组的短路检测电路。
背景技术
当前,随着内嵌式触摸屏技术的成熟,现在TFT-LCD玻璃已经全面转向内嵌式方案。在手机行业,全球每年生产10亿只以上的手机,其中一半左右的手机都会采用内嵌触摸屏技术的玻璃;在工控、家电、汽车等行业,内嵌触摸屏技术的方案也越来越广泛地接受。可以说,现在的中小尺寸显示技术,纯LCD显示的技术已经在慢慢被淘汰,各行各业使用的TFT-LCD玻璃都将逐渐过渡到内嵌触摸屏技术。
内嵌触摸屏技术现在及今后几年的市场中应用极其广泛,然而内嵌触摸屏技术在生产中存在的一些问题也越来越难以接受,例如,在显示模组的生产过程中,将内嵌触摸屏技术的芯片通过COG(chip on glass,玻璃上芯片压合)方式到玻璃时,容易产生短路,导致产品不良。
同样地,对于非内嵌触摸屏技术的显示模组,特别是AMOLED显示模组(ActiveMatrix Organic Light Emitting Diode,有源矩阵有机发光二极管面板),如果输出PAD数量达到一定数量,就会使PAD的间隔变小,容易使PAD与走线产生短路,PAD是显示基板与显示驱动芯片或者显示触摸控制芯片的接触点。
如果不能在当前工序检查出问题产品,那么最终做成成品再检查出来的话,要么使显示模组报废,要么重新返工,都会产生不小的浪费。
综上所述,亟需在显示模组生产过程中及时、高效地检测出因短路而产生的不良品,防止之后工序中才发现解决此问题产生高成本。
发明内容
本发明提供了一种显示模组的短路检测电路,旨在解决现有的显示模组在生产过程中不易及时且高效地检测到因短路产生更多不良品,而之后的工序中再发现解决成本会很高的问题。
本发明是这样实现的,一种显示模组的短路检测电路,包括:与显示模组输出接触点电连接的测试开关;与所述测试开关电连接的选择开关;与所述选择开关连接的第一电阻、第二电阻和ADC模块,所述第一电阻连接到GND,所述第二电阻连接到VREF,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻与选择开关连接处的电压,短路检测时,所述测试开关处于闭合状态,当前检测输出接触点对接的所述选择开关的部分子开关闭合连接到所述第二电阻,其它剩余输出接触点对接的所述选择开关的其它组子开关闭合连接到所述第一电阻,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻与选择开关连接处的电压是否与VREF处相近,进而获得显示模组的当前检测输出接触点是否短路。
进一步地,所述当前检测输出接触点为显示模组对应排列的一排输出接触点或单个输出接触点。
进一步地,所述选择开关和测试开关为多组开关。
进一步地,所述选择开关或/和测试开关断开,所述显示模组的短路检测电路处于非检测状态下,所述显示模组正常工作。
进一步地,所述显示模组包括:纯显示LCD模组、纯显示AMOLED模组、内嵌触摸LCD模组或内嵌触摸AMOLED模组。
本发明实施例通过测试开关连接输出接触点,选择开关根据测试需要选择连接第一电阻或第二电阻,通过ADC模块的量化结果,判断输出当前检测输出接触点是否短路,采用该短路检测电路,可以在显示模组生产过程中,及时且高效地检测出因输出接触点短路产生的不良品,大大节约了生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术发明,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的显示模组的模块结构图;
图2为本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路的结构图;
图3为本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路在检测状态下的等效电路图;
图4为本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路检测过程中未短路时的等效电路图;
图5为本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路检测过程中短路时的等效电路图;
图6为本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路在非检测状态下的等效电路图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
图1示出了本发明实施例检测的显示模组的结构,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
该显示模组包括:显示驱动芯片200或者显示触摸控制芯片200;其通过压合工艺压合到显示基板100上,输出接触点PAD101是显示基板100与显示驱动芯片200的接触点,连线102是连接到显示区域300的走线。所述显示模组包括:纯显示LCD模组、纯显示AMOLED模组、内嵌触摸LCD模组或内嵌触摸AMOLED模组。
图2示出了本发明实施例提供的显示模组的短路检测电路的结构,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
所述显示模组的短路检测电路包括:与显示模组输出接触点101电连接的测试开关202;与所述测试开关202电连接的选择开关201;与所述选择开关201连接的第一电阻203、第二电阻204和ADC模块205,所述第一电阻203连接到GND,所述第二电阻204连接到VREF,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻204与选择开关201连接处的电压,所述选择开关201和测试开关202为多组开关短路检测时,所述测试开关202处于闭合状态,,当前检测输出接触点对接的所述选择开关201的部分子开关闭合连接到所述第二电阻204,其它剩余输出接触点对接的所述选择开关201的其它组子开关闭合连接到所述第一电阻203,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻204与选择开关201连接处的电压是否与VREF处相近,进而获得显示模组的当前检测输出接触点是否短路,图3示出了显示模组的短路检测电路在检测状态下的等效电路,进行短路检测时,测试开关202都处于闭合状态,选择开关201的4组子开关,有一组子开关将第一排显示模组输出接触点101通过第二电阻203连接到VREF,另外三组子开关将剩下的三排显示模组输出接触点101连接通过第一电阻203连接到GND,然后ADC模块205采集并量化R2与开关连接处的电压。如果没有短路,此时等效电路如图4所示,如果有短路,此时等效电路如图5所示。由此,通过判断ADC模块205的量化结果,就可以判断是否有短路。如果ADC模块205的量化值在VREF的量化值附近,则没有短路,否则有短路现象产生。此外,还可以根据ADC模块205的量化值,判断短路的严重程度。
进一步地,所述当前检测输出接触点为显示模组对应排列的一排输出接触点或单个输出接触点,其中,一排为4个。如图3所示,可以检测不同排的输出接触点101,相互之间是否有短路,只要检测4次就可以完成检测。如果要检测每个输出接触点101的短路情况,例如第一排的输出接触点101的短路情况,可以将第一排的输出接触点101对应的选择开关201依次闭合,每闭合一次检测一次即可。
如图6所示,非检测状态下,所述选择开关201或/和测试开关202断开,显示模组输出接触点101未与所述显示模组的短路检测电路连接,不影响显示驱动芯片200或者显示触摸控制芯片200正常控制显示模组。
本发明实施例通过测试开关连接输出接触点,选择开关根据测试需要选择连接第一电阻或第二电阻,通过ADC模块的量化结果,判断输出当前检测输出接触点是否短路,采用该短路检测电路,可以在显示模组生产过程中,及时且高效地检测出因输出接触点短路产生的不良品,大大节约了生产成本。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种显示模组的短路检测电路,其特征在于,所述显示模组的短路检测电路包括:与显示模组输出接触点101电连接的测试开关202;与所述测试开关202电连接的选择开关201;与所述选择开关201连接的第一电阻203、第二电阻204和ADC模块205,所述第一电阻203连接到GND,所述第二电阻204连接到VREF,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻204与选择开关201连接处的电压,短路检测时,所述测试开关202处于闭合状态,当前检测输出接触点对接的所述选择开关201的部分子开关闭合连接到所述第二电阻204,其它剩余输出接触点对接的所述选择开关201的其它组子开关闭合连接到所述第一电阻203,所述ADC模块用于采集并量化第二电阻204与选择开关201连接处的电压是否与VREF处相近,进而获得显示模组的当前检测输出接触点是否短路。
2.根据权利要求1所述的显示模组的短路检测电路,其特征在于,所述当前检测输出接触点为显示模组对应排列的一排输出接触点或单个输出接触点。
3.根据权利要求1所述的显示模组的短路检测电路,其特征在于,所述选择开关201和测试开关202为多组开关。
4.根据权利要求1所述的显示模组的短路检测电路,其特征在于,所述选择开关201或/和测试开关202断开,所述显示模组的短路检测电路处于非检测状态下,所述显示模组正常工作。
5.根据权利要求1所述的显示模组的短路检测电路,其特征在于,所述显示模组包括:纯显示LCD模组、纯显示AMOLED模组、内嵌触摸LCD模组或内嵌触摸AMOLED模组。
CN202010385760.4A 2020-05-09 2020-05-09 一种显示模组的短路检测电路 Withdrawn CN111505534A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010385760.4A CN111505534A (zh) 2020-05-09 2020-05-09 一种显示模组的短路检测电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010385760.4A CN111505534A (zh) 2020-05-09 2020-05-09 一种显示模组的短路检测电路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN111505534A true CN111505534A (zh) 2020-08-07

Family

ID=71864414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010385760.4A Withdrawn CN111505534A (zh) 2020-05-09 2020-05-09 一种显示模组的短路检测电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111505534A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104459400B (zh) 用于自容式触摸屏的检测电路和检测方法
CN101881810B (zh) 新型按键板自动测试装置及其测试电路
CN111048022A (zh) 显示面板、驱动电路板、显示装置及其裂纹检测方法
CN103364709B (zh) 一种实装电路板的功能测试系统及方法
CN102723311B (zh) 阵列基板制作方法
CN101854176A (zh) 鬼键检测电路及其相关方法
CN101847357A (zh) 显示面板、显示装置及其测试方法
CN212379544U (zh) 一种显示模组的短路检测电路
CN112305454A (zh) 显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法
CN111986597A (zh) 显示面板、显示面板的检测方法和显示装置
CN111505534A (zh) 一种显示模组的短路检测电路
CN206387869U (zh) 测试治具
CN214384608U (zh) 一种模拟键盘按键测试电路
CN100337119C (zh) 集成电路的检测方法
CN101806871B (zh) 一种在线检测方法
CN112327222A (zh) 连接状态检测电路、方法及显示面板
CN102298224B (zh) 压接检测装置
CN112885275B (zh) 显示面板的检测电路及方法
CN2804938Y (zh) 键盘测试电路
CN101894965A (zh) 电池组的制造方法及制造系统
CN114871118A (zh) 一种pcba板多项目测试设备的项目参数显示方法
CN202841104U (zh) 一种按键检测电路
CN100516906C (zh) 阵列基板检测装置和检测方法
CN103823151A (zh) 自动识别式车用电磁继电器的短路测试仪及其测试方法
CN101271854A (zh) 整合基本电性及系统功能检测的装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20200807