CN214384608U - 一种模拟键盘按键测试电路 - Google Patents

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CN214384608U CN202023003124.5U CN202023003124U CN214384608U CN 214384608 U CN214384608 U CN 214384608U CN 202023003124 U CN202023003124 U CN 202023003124U CN 214384608 U CN214384608 U CN 214384608U
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刘孟辉
田慧敏
冯磊
张吉明
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Intelligent Automation Equipment Zhuhai Co Ltd
Intelligent Automation Zhuhai Co Ltd
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本实用新型旨在提供一种体积小、器件数量小、无物理触点的模拟键盘按键测试电路。本实用新型包括矩阵电路和逻辑控制电路,所述矩阵电路包括第一多路复用器、第二多路复用器以及继电器,所述第一多路复用器的S端的若干端子对应与待测键盘主板的行信号端连接,所述第二多路复用器的S端的若干端子对应与待测键盘主板的列信号端连接,所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的D端均与所述继电器连接,所述继电器进行所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的D端的导通及断开的切换,所述逻辑控制电路与所述第一多路复用器以及所述第二多路复用器的控制端连接,进而控制待测键盘主板的任一行信号和任一列信号导通。本实用新型应用于测试电路的技术领域。

Description

一种模拟键盘按键测试电路
技术领域
本实用新型应用于测试电路的技术领域,特别涉及一种模拟键盘按键测试电路。
背景技术
当今时代,电子科学技术迅猛发展,电子产品得到了广泛的生产应用,诸如计算机、平板、手机、汽车类消费电子产品等越来越成为了各行各业必不可少的重要部分,人机交互的模块也愈加成为使用中最为频繁且关键的设备,键盘,按键模组,电阻屏,电容屏等已是我们非常熟悉的单元,极大的简化了操作的繁琐程度,为电子产品的使用带来了便利。
面对如此广泛使用的前景,对键盘等设备的测试成了一道必不可少的工序。键盘电路主要为一个矩阵电路,由不同的行阵与列阵构成一个N*M的矩阵电路,各节点坐标对应键盘的每一个独立的按键,计算机通过中断或者扫描的方式用以检测任一时刻某一坐标下对应的键位被按下,处理器随即做出相应的响应。
针对键盘的按键测试,一种方式是直接通过标准接口连接一个真实的键盘外设,测试人员可以直接操作键盘,来测试待测产品的按键功能是否良好,但是,其弊端也显而易见,依赖人力的操作,不仅难以管控人工操作的失误,也极大增加了测试的周期和成本,无法应用于批量生产的测试工序中;另一种方式是通过多个继电器组成矩阵开关电路,再由单片机控制相应的继电器开断完成对应按键的功能测试,然而,继电器模拟的方式存在着触点接触不稳定,触点老化,寿命短等弊端,所以,仍需一种更加便捷可靠的方案来优化。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种体积小、器件数量小、无物理触点的模拟键盘按键测试电路。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括矩阵电路和逻辑控制电路,所述矩阵电路包括第一多路复用器、第二多路复用器以及继电器,所述第一多路复用器的S端的若干端子对应与待测键盘主板的行信号端连接,所述第二多路复用器的S端的若干端子对应与待测键盘主板的列信号端连接,所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的D端均与所述继电器连接,所述继电器进行所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的D端的导通及断开的切换,所述逻辑控制电路与所述第一多路复用器以及所述第二多路复用器的控制端连接,进而控制待测键盘主板的任一行信号和任一列信号导通。
由上述方案可见,通过两个多路复用器分别连接待测产品的行信号端和列信号端,组成矩阵,由所述继电器进行两个多路复用器之间的导通和断开。导通时通过所述逻辑控制电路与两个所述多路复用器的控制端连接,进而实现控制待测键盘主板的行信号和列信号导通,实现模拟按压按键时对应的触发信号,待测产品反馈相应的信号给上位机。通过采用两个多路复用器替代传统通过继电器构成的矩阵电路,大幅降低设计的复杂程度和电路器件数量,同时还降低了成本,提高集成性、稳定性以及使用寿命,减小体积小,节省空间,另外电子开关导通阻抗极低,响应时间极短使得测试速度大大提高,能够有效的提高自动测试时的工作效率。
一个优选方案是,所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的型号均为ADG1406BRUZ。
一个优选方案是,所述逻辑控制电路包括相连接的型号为STM32F103RCT6的微控制器和型号为CAT9555YI-T2的GPIO扩展器。
由上述方案可见,使所述微控制器通过可配置的IIC总线实现对外围器件的编程逻辑控制,所述GPIO扩展器可达16路GPIO的扩展,可直接连接至电子开关的控制管脚,实现对多通道电子开关的控制。
附图说明
图1是本实用新型的系统框图;
图2是所述矩阵电路的电路原理图;
图3是所述逻辑控制电路的电路原理图。
具体实施方式
如图1至图3所示,在本实施例中,本实用新型包括矩阵电路1和逻辑控制电路2,所述矩阵电路1包括第一多路复用器1a、第二多路复用器1b以及继电器1c,所述第一多路复用器1a的S端的若干端子对应与待测键盘主板的行信号端连接,所述第二多路复用器1b的S端的若干端子对应与待测键盘主板的列信号端连接,所述第一多路复用器1a和所述第二多路复用器1b的D端均与所述继电器1c连接,所述继电器1c进行所述第一多路复用器1a和所述第二多路复用器1b的D端的导通及断开的切换,所述逻辑控制电路2与所述第一多路复用器1a以及所述第二多路复用器1b的控制端连接,进而控制待测键盘主板的任一行信号和任一列信号导通。
在本实施例中,所述第一多路复用器1a和所述第二多路复用器1b的型号均为ADG1406BRUZ。
在本实施例中,所述逻辑控制电路2包括相连接的型号为STM32F103RCT6的微控制器2a和型号为CAT9555YI-T2的GPIO扩展器2b。

Claims (3)

1.一种模拟键盘按键测试电路,其特征在于:它包括矩阵电路(1)和逻辑控制电路(2),所述矩阵电路(1)包括第一多路复用器(1a)、第二多路复用器(1b)以及继电器(1c),所述第一多路复用器(1a)的S端的若干端子对应与待测键盘主板的行信号端连接,所述第二多路复用器(1b)的S端的若干端子对应与待测键盘主板的列信号端连接,所述第一多路复用器(1a)和所述第二多路复用器(1b)的D端均与所述继电器(1c)连接,所述继电器(1c)进行所述第一多路复用器(1a)和所述第二多路复用器(1b)的D端的导通及断开的切换,所述逻辑控制电路(2)与所述第一多路复用器(1a)以及所述第二多路复用器(1b)的控制端连接,进而控制待测键盘主板的任一行信号和任一列信号导通。
2.根据权利要求1所述的一种模拟键盘按键测试电路,其特征在于:所述第一多路复用器(1a)和所述第二多路复用器(1b)的型号均为ADG1406BRUZ。
3.根据权利要求1所述的一种模拟键盘按键测试电路,其特征在于:所述逻辑控制电路(2)包括相连接的型号为STM32F103RCT6的微控制器(2a)和型号为CAT9555YI-T2的GPIO扩展器(2b)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114113871A (zh) * 2021-11-24 2022-03-01 深圳市海谱纳米光学科技有限公司 一种fpi批量测试系统及其测试方法

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