CN111487688A - 介质检测装置及介质检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种以简单的构成来设定用于调节传感器的输出值的控制值的介质检测装置。该介质检测装置中，检测部检测发光部发出的光，输出调节部使用控制值调节表示检测结果的输出值的大小，控制部判定输出调节部调节的调节值和预先设定的阈值的大小关系，输出判定结果，在发光部和检测部之间没有介质的状态下，使输出调节部改变控制值，将调节值和阈值之间的大小关系改变时的控制值确定为第一控制值，在发光部和检测部之间有介质的状态下，使输出调节部改变控制值，将调节值和阈值之间的大小关系改变时的控制值确定为第二控制值，在第一控制值和第二控制值之间确定用于检测介质的有无的控制值即检测控制值。

Description

介质检测装置及介质检测方法

技术领域

本发明涉及介质检测装置及介质检测方法。

背景技术

在使用了发光二极管和光传感器的介质检测系统中，由于发光二极管的正向电压的偏差、用作光传感器的光电晶体管中的电流增益的偏差，会导致光传感器的输出产生偏差。在这种情况下，在光传感器上连接电阻器，改变其电阻值来调节光传感器的输出。但是，为了进行这样的调节，所连接的电阻器不仅是固定电阻器，即使是可变电阻器，也很费工夫。于是，可以考虑下述电路：在发光元件上连接两个并联连接的电阻器，通过插入/分离与电流源连接的一个电阻器，调节流过发光元件的电流(例如，参照专利文献1。)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平10-221467号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

在上述的技术中，需要对每个传感器(受光元件)调节其检测基准。存在以下的问题：当传感器的数量增加时，用作处理它们的输出的控制装置的输入端子的模拟-数字转换用的端子的数量有限，因此需要多路复用器，其构成变得复杂。另外，存在由于多路复用器中的多重处理所耗费的时间等而导致响应时间延迟之类的问题。

本发明的目的在于，提供一种介质检测装置及介质检测方法，能够以简单的构成来设定用于调节传感器的输出值的控制值。

解决技术问题所采用的技术方案

为了解决上述技术问题，本发明的介质检测装置的特征在于，具有：发光部；检测部，所述检测部检测所述发光部发出的光，输出表示所检测到的结果的值；输出调节部，所述输出调节部使用控制值调节所述检测部输出的值的大小；以及控制部，所述控制部判定所述输出调节部调节后得到的调节值和预先设定的阈值之间的大小关系，输出该判定的结果，所述控制部在所述发光部和所述检测部之间没有介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第一控制值，在所述发光部和所述检测部之间有所述介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第二控制值，在所述第一控制值和所述第二控制值之间确定用于检测所述介质的有无的控制值即检测控制值。

在本发明的介质检测装置中，在发光部和检测部之间有卡的状态和无卡的状态下，输出调节部调节检测部的输出值，控制部基于调节后的输出值即调节值和阈值的比较结果，确定用于检测卡的有无的检测控制值。因此，在本发明中，能够以简单的构成来设定用于调节传感器的输出值的控制值。

在本发明的介质检测装置中，所述输出调节部将流过所述发光部的电流的电流值用作所述控制值。在这种情况下，只是改变流过发光部的电流值就可以确定用于检测卡的有无的检测控制值。

在本发明的介质检测装置中，所述输出调节部将连接于所述检测部的输出侧的电阻器的电阻值用作所述控制值。在这种情况下，只是改变连接于检测部的输出侧的电阻器的电阻值就可以确定用于检测卡的有无的检测控制值。

在本发明的介质检测装置中，所述控制部在所述第一控制值的M倍(M＞1)和所述第二控制值的N倍(0＜N＜1)之间确定所述检测控制值。在这种情况下，可以在难以影响发光部和检测部之间有无卡的判定的范围内进行设定。

在本发明的介质检测装置中，在所述发光部和所述检测部之间有所述介质的状态下，即使使所述输出调节部改变所述控制值，所述调节值和所述阈值之间的大小关系也不会改变时，所述控制部将所述检测部的输出达到最大值时的所述控制值设为所述第二控制值。在这种情况下，当发光部和检测部之间有卡时，即使没有成为判定为有卡那样的输出，也可以设定第二控制值。

在本发明的介质检测装置中，所述控制部对于检测有无的每种介质，在所述发光部和所述检测部之间没有该介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为所述第一控制值，在所述发光部和所述检测部之间有该介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为所述第二控制值，在所述第一控制值和所述第二控制值之间确定所述检测控制值。在这种情况下，即使是透射率互不相同的卡，也可以设定用于判定有无卡的控制值。

在本发明的介质检测装置中，所述控制部是CPU，将来自所述输出调节部的输出信号输入到所述CPU的数字信号用端子。在这种情况下，不需要模拟数字转换的处理。

为了解决上述技术问题，本发明的介质检测方法的特征在于，包括：检测发光部发出的光，并输出表示所检测到的结果的值的处理；使用控制值调节输出的所述值的大小的处理；判定调节后得到的所述调节值和预先设定的阈值之间的大小关系的处理；在所述发光部和检测所述光的传感器之间没有介质的状态下，改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第一控制值的处理；在所述发光部和检测所述光的传感器之间没有介质的状态下，改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第二控制值的处理；在所述第一控制值和所述第二控制值之间确定用于检测所述介质的有无的控制值即检测控制值的处理；输出表示使用所述检测控制值进行了调节的调节值和所述阈值之间的大小关系的值的处理。

在本发明的介质检测方法中，在发光部和传感器之间有卡的状态和无卡的状态下，调节传感器的输出值，基于调节后的输出值即调节值和阈值的比较结果，检测卡的有无。因此，在本发明中，能够以简单的构成来设定用于调节传感器的输出值的控制值。

发明效果

如上所述，在本发明中，能够以简单的构成来设定用于调节传感器的输出值的控制值。

附图说明

图1是表示本发明的介质检测装置的第一实施方式的图。

图2是用于说明图1所示的介质检测装置中的介质检测方法的一例的流程图。

图3是表示本发明的介质检测装置的第二实施方式的图。

图4是用于说明图3所示的介质检测装置中的介质检测方法的一例的流程图。

图5是表示流过图3所示的发光二极管的电流的值和从光电晶体管输出的电压的值之间的关系的一例的图表。

图6是表示本发明的介质检测装置的第三实施方式的图。

图7是用于说明图6所示的介质检测装置中的介质检测方法的一例的流程图。

图8是表示图6所示的可变电阻器的电阻值和从光电晶体管输出的电压的值之间的关系的一例的图表。

具体实施方式

下面，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

(第一实施方式)

图1是表示本发明的介质检测装置的第一实施方式的图。如图1所示，本方式中的介质检测装置100具有发光部110、检测部120、输出调节部130以及控制部140。介质检测装置100例如装载于读卡器、发卡机等对卡(介质)进行输送并处理的装置等中来使用。需要说明的是，在图1中仅示出了本发明的介质检测装置100具备的构成要素中与本方式有关的主要要素。

发光部110是LED(Light Emitting Diode：发光二极管)等通过使电流流过而发光的发光元件。

检测部120检测发光部110发出的光。另外，检测部120将表示检测到的结果的值输出到控制部140。

输出调节部130使用控制值调节检测部120输出的值的大小。即，输出调节部130改变控制值，从而改变检测部120输出的值的大小。在此，调节后的输出值成为调节值。

控制部140判定输出调节部130调节后的调节值和预先设定的阈值之间的大小关系。另外，控制部140输出判定的结果。该输出表示向介质检测装置100的外部的输出(通知)，意味着使用显示或声音的输出、用于使振动、印刷、向外部装置的发送、或者开始(继续)/结束(中断)卡处理的触发输出等。在以下的说明中也是一样的。而且，在发光部110和检测部120之间没有卡等介质(以下，称为卡)的状态下，控制部140使输出调节部130改变控制值，并将调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的控制值确定为第一控制值。另外，在发光部110和检测部120之间有卡的状态下，控制部140相对于输出调节部130改变控制值，对调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的控制值确定为第二控制值。另外，控制部140在已经确定的第一控制值和第二控制值之间确定用于检测卡的有无的控制值即检测控制值。

下面，对图1所示的介质检测装置100中的介质检测方法进行说明。图2是用于说明图1所示的介质检测装置100的介质检测方法的一例的流程图。

首先，当发光部110发光时(步骤S1)，检测部120检测该光，并输出检测的结果即测定值(步骤S2)。

其次，在发光部110和检测部120之间没有卡的状态下，输出调节部130改变控制值，控制部140判定调节值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S3)。这时，当调节值根据控制值的改变从较小的值开始改变时，控制部140判定调节值是否已经超过阈值。如果调节值和阈值之间的大小关系改变，控制部140则将这时的控制值确定为第一控制值(步骤S4)。

接着，在发光部110和检测部120之间有卡的状态下，输出调节部130改变控制值，控制部140判定调节值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S5)。这时，当调节值根据控制值的改变从较小的值开始改变时，控制部140则判定调节值是否已经超过阈值。如果调节值和阈值的大小关系已经改变，控制部140则将这时的控制值确定为第二控制值(步骤S6)。

需要说明的是，先执行步骤S3～S4的处理和步骤S5～S6的处理中的哪个都可以。

接着，控制部140在已经确定的第一控制值和第二控制值之间，确定用于检测卡的控制值即检测控制值(步骤S7)。然后，控制部140对使用已经确定的检测控制值调节后的调节值和阈值进行比较，并输出它们的大小关系(步骤S8)。这种大小关系成为判定发光部110和检测部120之间有没有卡的判定结果。

在本方式中，在发光部110和检测从发光部110发出的光的检测部120之间有卡的状态和无卡的状态下，输出调节部130调节检测部120的输出值，控制部140基于调节后的输出值即调节值和阈值的比较结果，确定用于检测卡的有无的检测控制值。因此，能够以简单的构成设定用于调节检测部120的输出值的控制值。因此，可以提供廉价的介质检测装置100。另外，由于仅通过调节值和阈值的比较结果来判定卡的有无，所以可以减少用CPU判定卡的有无的处理量。而且，通过构成为在介质检测装置100中对每种要处理的卡设定检测控制值，即使对于使用光的透射率高的卡等的情况，也可以减少误检测卡的有无的概率。

(第二实施方式)

图3是表示本发明的介质检测装置的第二实施方式的图。如图3所示，本方式中的介质检测装置101具有发光二极管111、光电晶体管121、恒流驱动器131、CPU(CentralProcessing Unit)141以及电阻器151。需要说明的是，在图3中仅示出了本发明的介质检测装置101具备的构成要素中与本方式有关的主要要素。

发光二极管111是通过使电流正向流动来输出光的发光部。

光电晶体管121是检测发光二极管111发出的光的检测部。电阻器151连接于光电晶体管121和GND(接地)，具有规定电阻值。光电晶体管121输出与检测的光的强度相应的电流，将通过该电流使电阻器151的两端产生的电压(在以下的记载中，有时也记载为“光电晶体管121的输出电压的值”)作为测定值输入CPU141。

恒流驱动器131是与发光二极管111连接的输出调节部。恒流驱动器131将流过发光二极管111的电流的大小(电流值)调节为控制值。这样，恒流驱动器131通过调节流过发光二极管111的电流的大小，来调节光电晶体管121的输出电压。在此，调节后的光电晶体管121的输出电压成为调节值。

CPU141是根据恒流驱动器131调节后的调节值、即恒流驱动器131调节后的流过发光二极管111的电流值，判定光电晶体管121输出的输出电压的值和预先设定的阈值之间的大小关系的控制部。另外，CPU141输出判定的结果。而且，在发光二极管111和光电晶体管121之间没有卡的状态下，CPU141使恒流驱动器131改变电流值，对调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的电流值确定为第一控制值。另外，在发光二极管111和光电晶体管121之间有卡的状态下，CPU141使恒流驱动器131改变电流值，对调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的电流值确定为第二控制值。另外，CPU141在已经确定的第一控制值和第二控制值之间确定用于检测卡的有无的电流值即检测控制值。需要说明的是，CPU141可以使用通用的CPU，也可以是将光电晶体管121的输出连接于输入数字信号的数字信号用端子1411的设备。如果使用数字信号用端子1411，则上述的阈值成为基准值，该基准值用于基于CPU141的数字信号用端子1411的规格，判定输入信号的电平是“0”还是“1”。

下面，对图3所示的介质检测装置101中的介质检测方法进行说明。图4是用于说明图3所示的介质检测装置101中的介质检测方法的一例的流程图。

首先，使用恒流驱动器131使电流沿着发光二极管111的正向流动，当发光二极管111发光时(步骤S11)，光电晶体管121检测该光，输出与检测到的光的强度相应的电流，由电阻器151输出与该电流相应的电压作为测定值(步骤S12)。

其次，在发光二极管111和光电晶体管121之间没有卡的状态下，恒流驱动器131改变流过发光二极管111的电流的值，CPU141判定这时来自光电晶体管121的输出电压的值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S13)。此时，当恒流驱动器131根据流过发光二极管111的电流的值的改变使来自光电晶体管121的输出电压的值从较小的值开始改变时，CPU141判定该输出电压的值是否已经超过阈值。如果输出电压的值和阈值之间的大小关系已经改变，则CPU141将这时的电流的值确定为第一控制值(步骤S14)。

接着，在发光二极管111和光电晶体管121之间有卡的状态下，恒流驱动器131改变流过发光二极管111的电流的值，CPU141判定这时来自光电晶体管121的输出电压的值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S15)。此时，当恒流驱动器131根据流过发光二极管111的电流的值的改变使来自光电晶体管121的输出电压的值从较小的值开始改变时，CPU141判定该输出电压的值是否已经超过阈值。如果输出电压的值和阈值之间的大小关系已经改变，则CPU141将这时的电流的值确定为第二控制值(步骤S16)。

需要说明的是，先进行步骤S13～S14的处理和步骤S15～S16的处理中的哪一个处理都可以。

接着，CPU141在已经确定的第一控制值和第二控制值之间确定用于检测卡的电流值即检测控制值(步骤S17)。而且，CPU141对使用已经确定的检测控制值调节后的调节值(光电晶体管121的输出电压的值)和阈值进行比较，并输出它们的大小关系(步骤S18)。这种大小关系成为判定发光二极管111和光电晶体管121之间有没有卡的判定结果。

图5是表示图3所示的流过发光二极管111的电流的值和从光电晶体管121输出的电压的值的关系的一例的图表。

图5的虚线所示的关系是在发光二极管111和光电晶体管121之间没有卡时的电流值和输出电压值(传感器电压值)之间的关系。如图5所示，例如，当输出电压值为VIH时，在该输出电压值超过阈值的情况下，CPU141将这时的电流值If_h设为第一控制值。另外，图5的单点划线所示的关系是在发光二极管111和光电晶体管121之间有卡时的电流值和输出电压值的关系。如图5所示，例如，当输出电压值为VIL时，在该输出电压值超过阈值的情况下，CPU141将这时的电流值If_l设为第二控制值。需要说明的是，存在下述情况：当电流值大到某种程度时，即使向更大的值变化，输出电压值也为恒定值，而不会变为更大的值。在这种情况下，CPU141将光电晶体管121的输出达到最大值时的电流值设为第二控制值。而且，CPU141将作为第一控制值的If_h和作为第二控制值的If_l之间的电流值确定为检测控制值。将检测控制值设为IF，它们的关系用公式表示为：

If_h×M＜IF＜If_l×N…(公式1)

其中，M＞1，0＜N＜1。另外，使用像这样确定的检测控制值IF进行检测的过程中，当If_h和If_l的差变小时，也可以作为进行发光二极管111和光电晶体管121的清洁的判断指标。

需要说明的是，在如图5所示的图表中，VIH是高于VIL的电压值，但通常，除非发光二极管111的输出饱和，否则VIH和VIL是彼此相同的值。但是，VIL也可以高于VIH。

在本方式中，在发光二极管111和检测从发光二极管111发出的光的光电晶体管121之间有卡的状态和无卡的状态下，恒流驱动器131调节光电晶体管121的输出值，CPU141基于调节后的输出值即调节值和阈值的比较结果，确定用于检测卡的有无的检测控制值。因此，仅调节流过光电晶体管121的电流，就能够以简单的构成来设定用于调节光电晶体管121的输出值的控制值。

(第三实施方式)

图6是表示本发明的介质检测装置的第三实施方式的图。如图6所示，本方式中的介质检测装置102具有发光二极管112、光电晶体管122、可变电阻器132、CPU142以及电流源152。需要说明的是，在图6中仅示出了本发明的介质检测装置102具备的构成要素中与本方式有关的主要要素。

发光二极管112是通过使电流正向流动来输出光的发光部。

光电晶体管122是检测发光二极管112发出的光的检测部。光电晶体管122输出与检测到的光的强度相应的电压作为测定值。

可变电阻器132是连接于光电晶体管122的输出侧的输出调节部。可变电阻器132基于从光电晶体管122输出的电流，将用于调节向CPU142输出的电压值的电阻值调节为控制值。在此调节后的输出电压成为调节值。

CPU142是判定可变电阻器132调节后的调节值、即可变电阻器132调节后的从光电晶体管122输出的电压值和预先设定的阈值之间的大小关系的控制部。另外，CPU142输出判定的结果。而且，CPU142在发光二极管112和光电晶体管122之间没有卡的状态下，使可变电阻器132改变电阻值，对调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的电阻值确定为第一控制值。另外，CPU142在发光二极管112和光电晶体管122之间有卡的状态下，使可变电阻器132改变电阻值，对调节值和阈值进行比较，将它们的大小关系改变时的电阻值确定为第二控制值。另外，CPU142在已经确定的第一控制值和第二控制值之间确定作为用于检测卡的有无的电阻值的检测控制值。需要说明的是，CPU142可以使用通用的CPU，也可以是将光电晶体管122的输出连接于输入数字信号的数字信号用端子1421的设备。如果使用数字信号用端子1421，则上述的阈值成为基准值，该基准值用于基于CPU142的数字信号用端子1421的规格，判定输入信号的电平是“0”还是“1”。

电流源152与发光二极管111连接，使规定大小的电流沿发光二极管111的正向流动。

下面，对图6所示的介质检测装置102中的介质检测方法进行说明。图7是用于说明图6所示的介质检测装置102中的介质检测方法的一例的流程图。

首先，使用电流源152使电流沿发光二极管112的正向流动，当发光二极管112发光时(步骤S21)，光电晶体管122检测该光并且输出与检测到的光的强度相应的电压作为测定值(步骤S22)。

其次，在发光二极管112和光电晶体管122之间没有卡的状态下，可变电阻器132通过改变电阻值使从光电晶体管122输出到CPU142的数字信号用端子1421的信号的输出电压的电压值改变，CPU142判定这时输入数字信号用端子1421的电压的值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S23)。此时，当从光电晶体管122输入数字信号用端子1421的电压的值根据可变电阻器132的电阻值的改变而从较小的值开始改变时，CPU142判定该电压的值是否已经超过阈值。如果电压的值和阈值之间的大小关系已经改变，则CPU142将这时的可变电阻器132的电阻值确定为第一控制值(步骤S24)。

接着，在发光二极管111和光电晶体管121之间有卡的状态下，可变电阻器132通过改变电阻值使从光电晶体管122输出到CPU142的数字信号用端子1421的信号的输出电压的电压值改变，CPU142判定这时输入数字信号用端子1421的电压的值和预先设定的阈值之间的大小关系是否已经改变(步骤S25)。这时，当从光电晶体管122输入数字信号用端子1421的电压的值根据可变电阻器132的电阻值的改变而从较小的值开始改变时，CPU142判定该电压的值是否已经超过阈值。如果电压的值和阈值之间的大小关系已经改变，则CPU142将这时的可变电阻器132的电阻值确定为第二控制值(步骤S26)。

需要说明的是，先进行步骤S23～S24的处理和步骤S25～S26的处理中的哪一个处理都可以。

接着，CPU142在已经确定的第一控制值和第二控制值之间确定用于检测卡的电阻值即检测控制值(步骤S27)。而且，CPU142对使用已经确定的检测控制值调节后的调节值(光电晶体管122的输出电压的值)和阈值比较，并输出它们的大小关系(步骤S28)。这种大小关系成为判定在发光二极管112和光电晶体管122之间有没有卡的判定结果。

图8是表示图6所示的可变电阻器132的电阻值和从光电晶体管122输出的电压的值的关系的一例的图表。

图8中的虚线所示的关系是在发光二极管112和光电晶体管122之间没有卡时的电阻值和输出电压值(传感器电压值)的关系。如图8所示，例如，当输出电压值为VIH时，在该输出电压值超过阈值的情况下，CPU142将这时的电阻值R_h设为第一控制值。另外，图8中的单点划线所示的关系是在发光二极管112和光电晶体管122之间有卡时的电阻值和输出电压值之间的关系。如图8所示，例如，当输出电压值为VIL时，在该输出电压值超过阈值的情况下，CPU142将这时的电阻值R_l设为第二控制值。需要说明的是，存在下述情况，当电阻值为大到某个程度的值时，即使向更大的值改变，输出电压值也是恒定值，不会变成更大的值。在这种情况下，CPU142将光电晶体管122的输出达到最大值时的电阻值设为第二控制值。而且，CPU142将作为第一控制值的R_h和作为第二控制值的R_l之间的电阻值确定为检测控制值。将检测控制值设为R，它们的关系用公式表示为：

R_h×M＜R＜R_l×N…(公式2)

其中，M＞1，0＜N＜1。另外，当使用像这样确定的检测控制值R进行检测的过程中，当R_h和R_l的差变小时，也可以用作进行发光二极管112和光电晶体管122的清洁的判断指标。

需要说明的是，在图8所示的图表中，VIH是高于VIL的电压值，但不限于此。

在本方式中，在发光二极管112和检测从发光二极管112发出的光的光电晶体管122之间有卡的状态和无卡的状态下，连接于光电晶体管122的输出侧的可变电阻器132调节光电晶体管122的输出值，CPU142基于作为调节后的输出值的调节值和阈值的比较结果，确定用于检测卡的有无的检测控制值。因此，仅调节可变电阻器132的电阻值，就能够以简单的构成设定用于调节光电晶体管122的输出值的控制值。

以上，使各构成要素分别分担各个功能(处理)进行了说明，但该分配不限定于上述分配。另外，关于构成要素的构成，上述的方式严格意义上只是示例，本发明不限于此。另外，也可以是将各实施方式组合而成的构成。

标号说明

100、101、102介质检测装置

110发光部

111、112发光二极管

120检测部

121、122光电晶体管

130输出调节部

131恒流驱动器

132可变电阻器

140控制部

141、142CPU

151电阻器

152电流源

1411、1421数字信号用端子

Claims (8)

1.一种介质检测装置，其特征在于，具有：

发光部；

检测部，所述检测部检测所述发光部发出的光，输出表示所检测到的结果的值；

输出调节部，所述输出调节部使用控制值调节所述检测部输出的值的大小；以及

控制部，所述控制部判定所述输出调节部调节后得到的调节值和预先设定的阈值之间的大小关系，输出该判定的结果，

所述控制部在所述发光部和所述检测部之间没有介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第一控制值，在所述发光部和所述检测部之间有所述介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第二控制值，在所述第一控制值和所述第二控制值之间确定用于检测所述介质的有无的控制值即检测控制值。

2.根据权利要求1所述的介质检测装置，其特征在于，

所述输出调节部将流过所述发光部的电流的电流值用作所述控制值。

3.根据权利要求1所述的介质检测装置，其特征在于，

所述输出调节部将连接于所述检测部的输出侧的电阻器的电阻值用作所述控制值。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的介质检测装置，其特征在于，

所述控制部在所述第一控制值的M倍和所述第二控制值的N倍之间确定所述检测控制值，其中，M＞1，0＜N＜1。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的介质检测装置，其特征在于，

在所述发光部和所述检测部之间有所述介质的状态下，即使使所述输出调节部改变所述控制值，所述调节值和所述阈值之间的大小关系也不会改变时，所述控制部将所述检测部的输出达到最大值时的所述控制值设为所述第二控制值。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的介质检测装置，其特征在于，

所述控制部对于检测有无的每种介质，在所述发光部和所述检测部之间没有该介质的状态下，使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为所述第一控制值；在所述发光部和所述检测部之间有该介质的状态下，所述控制部使所述输出调节部改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为所述第二控制值，在所述第一控制值和所述第二控制值之间确定所述检测控制值。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的介质检测装置，其特征在于，

所述控制部是CPU(Central Processing Unit：中央处理器)，将来自所述输出调节部的输出信号输入到所述CPU的数字信号用端子。

8.一种介质检测方法，其特征在于，包括：

检测发光部发出的光，输出表示所检测到的结果的值的处理；

使用控制值调节所述输出的值的大小的处理；

判定所述调节后得到的调节值和预先设定的阈值之间的大小关系的处理；

在所述发光部和检测所述光的传感器之间没有介质的状态下，改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第一控制值的处理；

在所述发光部和检测所述光的传感器之间没有介质的状态下，改变所述控制值，将所述调节值和所述阈值之间的大小关系改变时的所述控制值确定为第二控制值的处理；

在所述第一控制值和所述第二控制值之间，确定用于检测所述介质的有无的控制值即检测控制值的处理；

输出表示使用所述检测控制值进行了调节的调节值和所述阈值之间的大小关系的值的处理。

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