CN111476329B - 一种链损测量方法、系统及设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种链损测量方法、系统及设备，涉及通信技术领域，对基于RFID标签的室内分布式天线监控执行更新过程、验证过程及校准过程，在RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率的差值超过预设第一预设阈值时，才对RFID标签重新启动检测并更新最大未激活发射功率和/或最小激活发射功率，缩短了链损测量时延和告警时延；同时，在更新过程的基础上，执行验证过程及校准过程，保证链损检测能够快速得到准确结果。

Description

一种链损测量方法、系统及设备

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域，具体涉及一种链损测量方法、系统及设备。

背景技术

无线通信室内覆盖解决方案主要分为无源方案和有源方案两大类，无源方案以无源分布系统为代表，无线运营商在2G、3G和4G时代广为使用，无源分布系统主要由无源器件组成，包括合路器、功分器、耦合器、射频同轴电缆和室分天线等。为了改善无源分布系统的可监控性，智慧室分系统将RFID(radio frequency identification,射频识别)技术与无源分布系统相融合，从而实现了对无源室分系统故障的监控，对无源室分系统的监控主要是对链损的监控，为了准确测量链损，RFID读卡器需要通过逐步增大功放的发射功率，找出激活RFID标签的临界发射功率，以确定链损大小，这样做的缺点是时延大，为了提高测量精度，需要减小增大功放发射功率的步长，这就导致得到测量结果的时延进一步加大。

此外，为了降低成本，通常一个RFID网关设备需要监控多个馈线，这进一步增大了链损监控的时延。

发明内容

为此，本发明实施例提供一种链损测量方法、系统及设备，以解决现有技术中链损测量时延大的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

根据本发明实施例的第一方面，提供一种链损测量方法，所述方法包括：搜索得到所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率；判断各个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间的差值是否超过第一预设阈值；如果所述差值超过所述第一预设阈值，获取取新检验发射功率，尝试激活所述RFID标签；检测所述RFID标签是否激活；根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；重复上述步骤，直至所有RFID标签的最大未激活发射功率与最小激活发射功率之间的差值小于等于所述第一预设阈值。

进一步地，所述获取新检验发射功率，包括：按照以下计算公式选取参考检验发射功率：Pn＝P0+k(P1-P0)，其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0且小于1，所有同一个网关管理的FRID标签中选取参考检验发射功率公式中的k值是一样的，这样可以有利于于缩短时延；利用第二预设阈值将所述参考检验发射功率调整到功放设置范围内，获取所述检验发射功率。

进一步地，所述根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率，包括：如果所述RFID标签激活，对比所述检验发射功率与所述最小激活发射功率，如果所述最小激活发射功率大于所述检验发射功率，则将该RFID标签对应的最小激活发射功率更新为检验发射功率；如果所述RFID标签未激活，对比所述检验发射功率与所述最大未激活发射功率，如果所述最大未激活发射功率小于所述检验发射功率，则将该RFID标签对应的最大未激活发射功率更新为检验发射功率。

优选地，在搜索得到所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之前，所述方法还包括：记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或将所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别初始设置为功放最小发射功率和功放最大发射功率。

优选地，所述方法还包括：针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第一验证；针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最小激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第二验证；当第一验证结果为所述RFID标签未激活，并第二验证结果为所述RFID标签激活时，所述RFID标签当前的最大未激活发射功率和最小激活发射功率正确。

优选地，所述方法还包括：当两次验证结果均检测到所述RFID标签未激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较大值Pm；依次设置第一校准发射功率为Pm+2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；在预设检测范围内，直到检测到所述RFID标签激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第一校准发射功率的上一设置值和当前设置值；如果达到预设检测范围内的最大值，仍检测到所述RFID标签未激活，发出断路告警。

优选地，所述方法还包括：当两次验证结果均检测到所述RFID标签激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较小值Pi；依次设置第二校准发射功率为Pi-2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；直到检测到所述RFID标签未激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第二校准发射功率的当前设置值和上一设置值。

根据本发明实施例的第二方面，提供一种链损测量系统，所述系统应用于RFID网关，所述系统包括：功放模块，用于通过新检验发射功率尝试激活所述RFID标签；读卡模块，用于读取RFID标签的反馈信号，检测所述RFID标签是否激活；更新模块，用于搜索得到所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率；判断各个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间差值是否超过第一预设阈值；如果所述差值超过所述第一预设阈值，获取新检验发射功率并发送至所述功放模块；根据从所述读卡模块获取的检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；所述更新模块、所述功放模块、所述读卡模块重复上述步骤，直至所有RFID标签的最大未激活发射功率与最小激活发射功率之间的差值小于等于第一预设阈值。

优选地，在搜索得到所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之前，所述更新模块还用于：记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或将所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别初始设置为功放最小发射功率和功放最大发射功率。

优选地，所述系统还包括验证模块，所述验证模块用于：针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第一验证；针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的的最小激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第二验证；当第一验证结果为所述RFID标签未激活，并第二验证结果为所述RFID标签激活时，所述RFID标签当前的最大未激活发射功率和最小激活发射功率正确。

优选地，所述系统还包括校准模块，所述校准模块用于：当两次验证结果均检测到所述RFID标签未激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较大值Pm；依次设置第一校准发射功率为Pm+2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；在预设检测范围内，直到检测到所述RFID标签激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第一校准发射功率的上一设置值和当前设置值；如果达到预设检测范围内的最大值，仍检测到所述RFID标签未激活，发出断路告警。

优选地，所述校准模块还用于：当两次验证结果均检测到所述RFID标签激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较小值Pi；依次设置第二校准发射功率为Pi-2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；直到检测到所述RFID标签未激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第二校准发射功率的当前设置值和上一设置值。

根据本发明实施例的第三方面，提供一种计算机设备，所述设备包括：处理器和存储器；所述存储器用于存储一个或多个程序指令；所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如上所述任一项所述的方法。

本发明实施例具有如下优点：

本发明实施例对基于RFID标签的室内分布式天线监控执行更新过程、验证过程及校准过程，在RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之间的差值超过第一预设阈值时，才对RFID标签重新启动检测并更新最大未激活发射功率和/或最小激活发射功率，缩短了链损测量时延和告警时延；同时，在更新过程的基础上，执行验证过程及校准过程，保证链损检测能够得到准确结果、。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。

本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明实施例提供的一种链损测量系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种链损测量方法中的更新过程的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种链损测量方法中的验证过程和校准过程的流程示意图。

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

本发明实施例通过智能调配RFID网关设备的链损检测方法，缩短对RFID网关设备所连接的所有天线馈线的链损检测时延，从而实现链损故障及时告警。

具体地，参考图1，本发明实施例提供了一种链损测量系统，该系统应用于RFID网关，包含若干个可以实现特定功能的基础功能模块，每个模块可以完成实现预定的基本支持功能，可以实现在链损测量中更新各个RFID标签的参数，以保证快速得到准确结果，避免延迟过大。该系统的上述基础功能模块具体包括：功放模块1、读卡模块2、更新模块3、验证模块4和校准模块5。

与上述公开的一种链损测量系统相对应，本发明实施例还公开了一种链损测量方法。以下结合上述描述的一种链损测量系统详细介绍本发明实施例中公开的一种链损测量方法。

参考图1和图2，本发明公开的一种链损测量方法包括：更新过程；具体地，更新过程通过如下步骤实现，更新模块3搜索得到RFID网关所连接的所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率；计算各个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间的差值。判断差值是否超出第一预设阈值；本发明实施例中，第一预设阈值为0.5dB，如果两个数值的差值小于或等于第一预设阈值0.5dB，则标记这两个数值为不需要更新，并重新搜索下一个RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率；如果差值超过第一预设阈值，获取新检验发射功率Pa并发送至功放模块1。进一步地，上述获取新检验发射功率Pa包括：按照以下计算公式选取参考检验发射功率：

Pn＝P0+k(P1-P0)，

其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0且小于1，所有同一个RFID网关管理的FRID标签中选取参考检验发射功率公式中的k值是一样的，这样可以有利于于缩短时延；利用第二预设阈值将参考检验发射功率Pn调整到功放设置范围内，获取检验发射功率Pa，第二预设阈值在功放设置范围内保证检验发射功率Pa的大小最接近于参考检验发射功率Pn的大小。功放模块1发出新检验发射功率Pa的信号，尝试激活RFID标签；读卡模块2读取RFID标签的反馈信号，检测RFID标签是否激活；更新模块3根据从读卡模块2获取的检测结果用新检验发射功率Pa更新RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率。

进一步地，更新模块3根据检测结果用新检验发射功率Pa更新RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率，具体包括：如果RFID标签激活，对比新检验发射功率Pa与最小激活发射功率，如果所述最小激活发射功率大于检验发射功率Pa，则将该RFID标签对应的最小激活发射功率更新为新检验发射功率Pa；如果RFID标签未激活，对比检验发射功率Pa与最大未激活发射功率，如果最大未激活发射功率小于检验发射功率Pa，则将该RFID标签对应的最大未激活发射功率更新为新检验发射功率Pa。

更新模块3、功放模块1、读卡模块2重复上述步骤，直至所有RFID标签的最大未激活发射功率与最小激活发射功率之间的差值位小于等于第一预设阈值。

本发明实施例通过执行上述更新过程，设置预设精度范围，获取每个RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率的差值，仅在上述两个数值超过第一预设阈值时，对RFID标签重新启动检测并更新该RFID标签的参数，并且，新检验发射功率同时也在检验其它最大未激活发射功率和最小激活发射功率之间的差值超过第一预设阈值的RFID标签所对应的链损，新检验发射功率适用于多个RFID标签的检测，因此有利于缩短时延，也就是说，在监控链损时，不用每次对每个RFID标签通过步长逐步增大功放发射功率检测最大未激活发射功率和最小激活发射功率，这样，缩短了链损测量时延，避免延迟过大，也减小了告警时延。

优选地，本发明实施例中，更新模块3在搜索得到RFID网关所连接的所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之前，一种链损测量方法还包括：通过执行同步操作记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码(Electronic ProductCode，EPC)信息，同步操作将事先输入或者现场记录的RFID网关与哪些RFID标签相连接的信息存入RFID网关，从而确保RFID网关需检测的RFID标签的信息。同步操作也可以通过RFID网关自动获取RFID标签信息完成同步，由现场施工人员对网关自动检测的结果进行确认，以确保同步信息的准确性。这样，便于对所有需要检测最大未激活发射功率和最小激活发射功率的RFID标签进行识别和标记；和/或将所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别初始设置为功放最小发射功率(如0dBm)和功放最大发射功率(如30dBm)，在链损检测的全过程中，最小激活发射功率的数值都要大于最大未激活发射功率的数值。

优选地，参考图1和图3，本发明实施例公开的一种链损测量方法在执行完成更新过程的基础上，还包括：验证过程；具体地，验证过程通过如下步骤实现：验证模块4针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号，对RFID标签进行第一验证；针对每一个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最小激活发射功率发射信号，对RFID标签进行第二验证；当第一验证结果为所述RFID标签未激活，并第二验证结果为所述RFID标签激活时，RFID标签当前的最大未激活发射功率和最小激活发射功率正确。

优选地，参考图1和图3，本发明实施例公开的一种链损测量方法在执行完成验证过程的基础上，还包括：校准过程；具体地，校准过程通过如下步骤实现：当两次验证结果均检测到RFID标签未激活时，校准模块5选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较大值Pm；依次设置第一校准发射功率为Pm+2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；在预设检测范围内，直到检测到所述RFID标签激活，将RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第一校准发射功率的上一设置值和当前设置值；如果达到预设检测范围内的最大值(如30dBm)，仍检测到所述RFID标签未激活，发出断路告警。

进一步地，本发明实施例中，一种链损测量方法还包括：当两次验证结果均检测到RFID标签激活时，校准模块5选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较小值Pi；依次设置第二校准发射功率为Pi-2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；直到检测到RFID标签未激活，将RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为第二校准发射功率的当前设置值和上一设置值。

本发明实施例，对基于RFID标签的室内分布式天线监控执行完成更新过程后，通过验证过程验证按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号和最小激活发射功率对RFID网关所连接的每个RFID标签进行验证，验证每个RFID标签最大未激活发射功率发射信号和最小激活发射功率是否正确，根据验证结果通过校准过程对RFID标签的最大未激活发射功率或最小激活发射功率及时校准，在缩短链损测量时延的前提下，还能保证链损检测能够快速得到准确结果。

另外，本发明还提供了一种计算机设备，所述设备包括：处理器和存储器；所述存储器用于存储一个或多个程序指令；所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如上所述任一项所述的方法。

在本发明实施例中，处理器可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，简称DSP)、专用集成电路(Application Specific工ntegrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。处理器读取存储介质中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。

存储介质可以是存储器，例如可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。

其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，简称PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，简称EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，简称EEPROM)或闪存。

易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，简称SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，简称DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，简称SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data RateSDRAM，简称DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(EnhancedSDRAM，简称ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，简称SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(DirectRambus RAM，简称DRRAM)。

本发明实施例描述的存储介质旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。

本领域技术人员应该可以意识到，在上述一个或多个示例中，本发明所描述的功能可以用硬件与软件组合来实现。当应用软件时，可以将相应功能存储在计算机可读介质中或者作为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。

虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。

Claims (9)

1.一种链损测量方法，其特征在于，所述方法包括：

搜索得到所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率；

判断每个RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之间的差值是否超过第一预设阈值；

如果所述差值超过所述第一预设阈值，获取新检验发射功率，尝试激活所述RFID标签；

检测所述RFID标签是否激活；

根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；

重复上述步骤，直至所有 RFID 标签的最小激活发射功率与最大未激活发射功率之间的差值小于等于所述第一预设阈值；

根据每个RFID标签的最小激活发射功率，计算每个馈线链损；

所述获取新检验发射功率，包括：

按照以下计算公式选取参考检验发射功率：

Pn=P0+k（P1-P0），

其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0小于1；

利用第二预设阈值将所述参考检验发射功率调整到功放设置范围内，获取所述新检验发射功率。

2.根据权利要求1所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述根据检测结果用所述检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率，包括：

如果所述RFID标签激活，则将该RFID标签对应的最小激活发射功率更新为检验发射功率；

如果所述RFID标签未激活，则将该RFID标签对应的最大未激活发射功率更新为检验发射功率。

3.根据权利要求1所述的一种链损测量方法，其特征在于，在搜索得到RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率之前，所述方法还包括：

记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或

将所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率分别初始设置为功放最大发射功率和功放最小发射功率。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最大未激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第一验证；

针对每个RFID标签，按照满足第一预设阈值的最小激活发射功率发射信号，对所述RFID标签进行第二验证；

当第一验证结果为所述RFID标签未激活，并第二验证结果为所述RFID标签激活时，所述RFID标签当前的最大未激活发射功率和最小激活发射功率正确。

5.根据权利要求4所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

当两次验证结果均检测到所述 RFID 标签未激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较大值Pm；

依次设置第一校准发射功率为Pm+2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；

在预设检测范围内，直到检测到所述RFID标签激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第一校准发射功率的上一设置值和当前设置值；

如果达到预设检测范围内的最大值，仍检测到所述RFID标签未激活，发出断路告警。

6.根据权利要求4所述的一种链损测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

当两次验证结果均检测到所述 RFID 标签激活时，选取当前最大未激活发射功率和最小激活发射功率中的较小值Pi；

依次设置第二校准发射功率为Pi-2ⁿΔ，尝试激活所述RFID标签，其中，Δ为第一预设阈值，n为整数；

直到检测到所述RFID标签未激活，将所述RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别校准为所述第二校准发射功率的当前设置值和上一设置值。

7.一种链损测量系统，其特征在于，所述系统应用于RFID网关，所述系统包括：

功放模块，用于通过新检验发射功率尝试激活RFID标签；

读卡模块，用于读取RFID标签的反馈信号，检测所述RFID标签是否激活；

更新模块，用于搜索得到所有RFID标签的最小激活发射功率和最大未激活发射功率；判断各个RFID标签的最小激活发射功率的差值和最大未激活发射功率之间的差值是否在预设精度范围内；如果所述差值超过所述预设精度范围，在所述最大未激活发射功率和所述最小激活发射功率之间，选取新检验发射功率并发送至所述功放模块；根据从所述读卡模块获取的检测结果用所述新检验发射功率更新所述RFID标签对应的最大未激活发射功率或最小激活发射功率；

所述更新模块、所述功放模块、所述读卡模块重复上述步骤，直至所有 RFID 标签的最大未激活发射功率与最小激活发射功率之间的差值小于等于第一预设阈值，根据每个RFID标签的最小激活发射功率，计算每个馈线链损；

获取新检验发射功率，包括：

按照以下计算公式选取参考检验发射功率：

Pn=P0+k（P1-P0），

其中，Pn为参考检验发射功率，P0为最大未激活发射功率，P1为最小激活发射功率，k为固定值且大于0小于1；

利用第二预设阈值将所述参考检验发射功率调整到功放设置范围内，获取所述新检验发射功率。

8.根据权利要求7所述的一种链损测量系统，其特征在于，在搜索得到所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率之前，所述更新模块还用于：

通过执行同步操作记录所有RFID标签信息，所述RFID标签信息包括电子产品码信息；和/或

将所有RFID标签的最大未激活发射功率和最小激活发射功率分别初始设置为功放最小发射功率和功放最大发射功率。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述设备包括：处理器和存储器；

所述存储器用于存储一个或多个程序指令；

所述处理器，用于运行一个或多个程序指令，用以执行如权利要求1至6任一项所述的方法。

Images