CN111412882B - 隔膜平整度检测装置及其工作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于锂电池隔膜技术领域,具体涉及一种隔膜平整度检测装置及其工作方法。本隔膜平整度检测装置包括:测量架、安装在测量架上的多维测量组件、安装在测量架上的放卷机构;所述放卷机构适于将隔膜铺展在测量架上,以通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度。具有结构简易、成本低、使用方便等优点。
Description
技术领域
本发明属于锂电池隔膜技术领域,具体涉及一种隔膜平整度检测装置及其工作方法。
背景技术
在薄膜生产中,因为薄膜本身具有塑性变形特性,膜面情况随时间、环境温度、收卷张力、膜自身厚度等因素变化较快,因此导致隔膜的实际平整度与需求值之间存在一定偏差,如果不能及时进行检测,会降低隔膜的利用率。而膜面平整度的检测是企业的最大问题,一般采用人为经验判定,无法量化描述的膜面情况。因此有必要研发一种结构简易、成本低、使用方便的隔膜平整度检测装置。
发明内容
本发明提供了一种隔膜平整度检测装置及其工作方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种隔膜平整度检测装置,包括:测量架、安装在测量架上的多维测量组件、安装在测量架上的放卷机构;所述放卷机构适于将隔膜铺展在测量架上,以通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度。
第二方面,本发明还提供了一种隔膜平整度检测装置的工作方法,即通过放卷机构将隔膜进行铺展,然后通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度。
本发明的有益效果是,本发明的隔膜平整度检测装置及其工作方法通过放卷机构将隔膜铺展在测量架上,以通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度,具有结构简易、成本低、使用方便等优点。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明的检测装置的主视图;
图2是本发明的检测装置的俯视图;
图3是本发明的检测装置的侧视图;
图中:测量架1,支架11,平行过辊12,调平组件13,底座131,调平垫脚132,移动滚轮133,水平测量仪134,多维测量组件2,X轴刻度尺21,Y轴刻度尺22,Z轴刻度尺23,放卷机构3,放卷气涨轴31,旋转锁扣32,隔膜4,隔膜4铺展面41,固定组件5,配重组件6,固定辊61,配重升降辊62。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
在薄膜生产中,膜面平整度一般采用人为经验判定,无法量化描述的膜面情况,导致隔膜的实际平整度与需求值之间存在一定偏差,降低了隔膜的利用率。见图1,为此,本发明提供了一种隔膜平整度检测装置,包括:测量架1、安装在测量架1上的多维测量组件2、安装在测量架1上的放卷机构3;所述放卷机构3适于将隔膜4铺展在测量架1上,以通过多维测量组件2检测隔膜4铺展面41的平整度。
本发明的隔膜平整度检测装置通过放卷机构将隔膜铺展在测量架上,以通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度,具有结构简易、成本低、使用方便等优点。
作为测量架的一种可选的实施方式。
见图1,所述测量架1包括:支架11、分离设置在支架11两侧的两个平行过辊12;隔膜4依次绕过两个平行过辊12,以在两个平行过辊12之间形成所述铺展面41。具体的,见图2,多维测量组件2位于隔膜4铺展面41的上方,即不会影响隔膜的铺展,又便于从隔膜上方进行检测,即检测隔膜的长宽变形和高度变形。
作为放卷机构的一种可选的实施方式。
见图1,所述放卷机构3包括:用于缠绕隔膜4的放卷气涨轴31;隔膜4由放卷气涨轴31放卷引出后,依次绕过两个平行过辊12,并通过隔膜4端部的固定组件5悬挂铺展。具体的,所述放卷气涨轴安装在支架上,位于隔膜4铺展面41的下方。
可选的,所述放卷气涨轴例如但不限于采用3英寸、6英寸可转换嵌套,可适用3英寸及6英寸内径收卷管。
可选的,见图1,所述放卷机构3还包括:位于放卷气涨轴31上的旋转锁扣32,以防止隔膜4自行放卷,在隔膜检测过程中,保持隔膜的铺展状态不变,提高隔膜的检测准确度。
进一步,见图1,固定组件5与其同侧的平行过辊12之间还设有适于隔膜4绕过的配重组件6。
可选的,所述配重组件6包括上下设置的固定辊61和配重升降辊62,以使隔膜4形成蛇形迂回,可以通过调整配重升降辊62的重量,调节隔膜的铺展状态,可以避免隔膜褶皱,以适应Z轴刻度尺23检测隔膜的高度变形,也可以模拟隔膜拉力,并检测隔膜在该状态下的长宽变形和高度变形。
可选的,见图1,固定辊61固定安装在支架11上且位于配重升降辊62上方,所述配重升降辊62可自由活动,以适于隔膜从配重升降辊62底部托起,并从固定辊61顶部引至固定组件5,形成蛇形迂回。配重升降辊的配重范围可以根据隔膜的宽度、应用条件(隔膜涂覆、电芯装配张力)等参数设定,一般为10-1000g,优选为100-300g。
作为固定组件的一种可选的实施方式。
见图1,所述固定组件5包括:固定在测量架1上的固定磁条、活动设置在固定磁条上的夹持磁条;所述夹持磁条与固定磁条产生磁吸附,以夹紧隔膜端部。采用固定磁条、夹持磁条组合,既方便隔膜夹持,调整固定组件与配重组件之间的隔膜,用于张紧隔膜,使其铺展在两个平行过辊12之间,形成铺展面。
可选的,固定磁条与夹持磁条外表面均采用胶垫包裹,以增加隔膜的摩擦力,提高固定组件对隔膜端部的夹紧力,同时也不会损伤隔膜。
作为多维测量组件的一种可选的实施方式。
见图2,所述多维测量组件2包括:互相垂直设置的X轴刻度尺21、Y轴刻度尺22、Z轴刻度尺23;其中X轴刻度尺21与Y轴刻度尺22形成水平面,以用于检测隔膜4的长宽变形;Z轴刻度尺23垂直水平面,以用于检测隔膜4的高度变形。
具体的, X轴刻度尺21、Y轴刻度尺22例如但不限于采用带有刻度值的直线导轨;其中X轴刻度尺21为两根且平行设置,用于检测隔膜4铺展面41的长度变形,其长度为1.0-10m,优选2-3m,以适于Y轴刻度尺滑动;Y轴刻度尺22用于检测隔膜4铺展面41的宽度变形,其长度为0.5-3.0m,优选0.8-1.2m,以适于Z轴刻度尺滑动;Z轴刻度尺23安装在Y轴刻度尺22上,其测量范围可调,一般为10-150mm,优选50-100mm,以用于检测隔膜4铺展面41的高度变形。
作为调平组件的一种可选的实施方式。
见图3,所述检测装置还包括位于测量架1底部的调平组件13;所述调平组件13包括:位于测量架1底部的底座131、分布在底座131底部的若干调平垫脚132。具体的,结合图2和图3,调节调平垫脚132,并通过底座131上的水平测量仪134观察使测量架保持水平,以便于铺展隔膜,提高测量精度。
当然,为了方便安装和操作检测装置,所述底座131的底部还设有若干移动滚轮133,在安装完成后或检测过程中,移动滚轮可以处于锁止状态,以避免检测装置出现移动,影响检测效果。
此外,为了保证测量效果,本案中需要保持两个平行过辊的中心与底座平面的水平度偏差<2.0mm,以及两辊平行度、二者与配重升降辊之间的平行度<3mm。
进一步,见图2,两个平行过辊12、配重升降辊62、放卷气涨轴31均为一端固定,另一端处于自由状态,留有安装或操作空间,以便于更换隔膜卷或调整隔膜的水平位置。
实施例2
在实施例1的基础上,本实施例2提供了一种隔膜平整度检测装置的工作方法,即通过放卷机构将隔膜进行铺展,然后通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度。
关于检测装置的具体结构和实施过程参见实施例1的相关论述,在此不再赘述。
综上所述,本发明的隔膜平整度检测装置及其工作方法通过气涨放卷轴、两个平行过辊、X/Y/Z三轴向可移动的刻度尺测量隔膜在设定配重情况下,膜面(铺展面)在三个轴向上的变形差异值,从而判断膜面在长度方向、宽度方向、高度方向的变形情况,具有结构简单、性能稳定、检测准确度高等优点。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (7)
1.一种隔膜平整度检测装置,其特征在于,包括:
测量架、安装在测量架上的多维测量组件、安装在测量架上的放卷机构;
所述放卷机构适于将隔膜铺展在测量架上,以通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度;
所述多维测量组件包括:互相垂直设置的X轴刻度尺、Y轴刻度尺、Z轴刻度尺和配重组件;其中
X轴刻度尺与Y轴刻度尺形成水平面,以用于检测隔膜的长宽变形;
Z轴刻度尺垂直水平面,以用于检测隔膜的高度变形;
X轴刻度尺为两根且平行设置,用于检测隔膜铺展面的长度变形,以适于Y轴刻度尺滑动;Y轴刻度尺用于检测隔膜铺展面的宽度变形,以适于Z轴刻度尺滑动;
Z轴刻度尺安装在Y轴刻度尺上;
所述配重组件包括上下设置的固定辊和配重升降辊,以使隔膜形成蛇形迂回,可以通过调整配重升降辊的重量,调节隔膜的铺展状态,可以避免隔膜褶皱,以适应Z轴刻度尺检测隔膜的高度变形,也可以模拟隔膜拉力,并检测隔膜在该状态下的长宽变形和高度变形。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述测量架包括:支架、分离设置在支架两侧的两个平行过辊;
隔膜依次绕过两个平行过辊,以在两个平行过辊之间形成所述铺展面。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,
所述放卷机构包括:用于缠绕隔膜的放卷气涨轴;
隔膜由放卷气涨轴放卷引出后,依次绕过两个平行过辊,并通过隔膜端部的固定组件悬挂铺展。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,
所述放卷机构还包括:位于放卷气涨轴上的旋转锁扣,以防止隔膜自行放卷。
5.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,
所述固定组件包括:固定在测量架上的固定磁条、活动设置在固定磁条上的夹持磁条;
所述夹持磁条与固定磁条产生磁吸附,以夹紧隔膜端部。
6.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述检测装置还包括位于测量架底部的调平组件;
所述调平组件包括:位于测量架底部的底座、分布在底座底部的若干调平垫脚。
7.一种如权利要求1所述的检测装置的工作方法,其特征在于,
通过放卷机构将隔膜进行铺展,然后通过多维测量组件检测隔膜铺展面的平整度。
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