CN111366835A - 电控板测试方法和测试系统 - Google Patents

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CN111366835A CN202010093151.1A CN202010093151A CN111366835A CN 111366835 A CN111366835 A CN 111366835A CN 202010093151 A CN202010093151 A CN 202010093151A CN 111366835 A CN111366835 A CN 111366835A
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Guangdong Yilai Zhike Technology Co ltd
Guangdong Chico Electronic Inc
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Abstract

本申请公开了一种电控板测试方法和测试系统，电控板测试方法包括以下步骤：将电控板放入测试治具中；控制板的功能模块通过测试治具与电控板的检测端口信号连接；控制板的处理器通过测试治具与电控板的MCU通信连接；处理器运行测试程序，MCU运行自检程序；通过人机交互界面向测试程序设置测试项目和测试阈值；按下启动按钮，开始自动测试；测试程序向自检程序发送测试指令，并控制功能模块输出和/或读取测试信号；自检程序解析和执行测试指令，并向测试程序反馈测试结果；人机交互界面显示测试状态和测试结果。基于上述方法的测试系统适用于各种功能组合的电控板产品，能够节省测试系统的开发时间，满足小批量电控板生产需求。

Description

电控板测试方法和测试系统
技术领域
本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种电控板测试方法和测试系统。
背景技术
电控板主要用于控制热泵、空调等电器，在电控板的生产中，通常会使用通用的FCT系统对SMT后的电控板PCBA进行功能测试，避免不良品流向下一个工序。通常一个电控板产品需要开发一套FCT系统，FCT系统的开发和调试时间长，而且对产线工人的培训难度较大，不能满足功能组合多样的电控板生产需求。另外，使用通用FCT系统，生产成本高，不利于小批量的电控板生产。
发明内容
本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种简易的电控板测试方法和测试系统，能够方便生产线换线，可以提高产品转线速度和适用于小批量的电控板生产。
根据本申请第一方面实施例的电控板测试方法，包括以下步骤：
将电控板放入测试治具中；
控制板的功能模块通过所述测试治具和所述电控板的检测端口与所述电控板的监控模块信号连接；
所述控制板的处理器通过所述测试治具与所述电控板的MCU通信连接；
所述处理器运行测试程序，所述MCU运行自检程序；
通过人机交互界面向所述测试程序设置测试项目和测试阈值；
按下启动按钮，开始自动测试；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，并控制所述功能模块输出和/或读取测试信号；
所述自检程序解析和执行所述测试指令，控制所述MCU和所述监控模块执行测试动作，并向所述测试程序反馈测试结果；
人机交互界面显示测试状态和测试结果。
根据本申请第一方面实施例的电控板测试方法，至少具有如下有益效果：
通过采用与电控板匹配的测试治具，可以根据不同的产品更换不同的治具，而不需要更换整套测试设备，便于产品换线；通过设置测试项目和测试阈值，可以根据实际需要选择测试项目，适用于具有不同功能组合的电控板，无需更换测试设备和重新调试测试程序，提高生产效率。通过人机交互界面可以便于设置测试项目和测试阈值，方便用户实时查看测试结果。
根据本申请的一些实施例，所述测试项目包括相序检测、电气特性检测、开关检测、膨胀阀检测、存储芯片检测和通信端口检测，所述功能模块包括相序切换单元、电气特性单元、开关单元和电子膨胀阀单元。
根据本申请的一些实施例，所述相序检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送相序检测指令；
所述相序切换单元向所述检测端口的相序输入端输出正相相序，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述相序切换单元向所述相序输入端输出反相相序，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述相序切换单元向所述相序输入端输出缺相信号，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
根据本申请的一些实施例，所述电气特性检测包括温度检测、电压检测和电流检测；
所述温度检测包括以下步骤：
所述测试治具在所述监控模块的温度输入端连接特定阻值的电阻；
所述测试程序向所述自检程序发送温度检测指令；
所述自检程序测量所述电阻的阻值，并通过温度和阻值的特性曲线计算出对应的温度值；
所述自检程序将测试结果发送给所述测试程序；
所述电压检测包括以下步骤：
所述电气特性单元与所述检测端口的电压输出端信号连接；
所述测试程序测量所述电压输出端的电压值；
所述电流检测包括以下步骤：
所述电气特性单元向所述检测端口的电流输入端输出模拟电压；
所述测试程序向所述自检程序发送电流检测指令；
所述自检程序测量所述电流输入端的模拟电压，计算出相应的电流值；
所述自检程序将测试结果发送给所述测试程序。
根据本申请的一些实施例，所述开关检测包括拨码开关检测、继电器检测和开关量输入检测；
所述拨码开关检测包括以下步骤：
将所述电控板上的拨码开关设置于特定的位置；
所述测试程序向所述自检程序发送拨码开关检测指令；
所述自检程序读取所述拨码开关的状态并向所述测试程序发送所述拨码开关的状态；
所述继电器检测包括以下步骤：
所述开关单元与所述检测端口的继电器输出端信号连接；
所述测试程序向所述自检程序发送继电器检测指令；
所述自检程序控制所述继电器输出端向所述开关单元输出闭合信号；
测试程序通过所述开关单元读取所述继电器输出端的状态；
所述开关量输入检测包括以下步骤：
所述开关单元的模拟开关与所述检测端口的开关量输入端信号连接；
所述测试程序控制所述模拟开关断开；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，所述自检程序读取所述开关量输入端的状态；
所述测试程序控制所述模拟开关闭合，若所述自检程序检测到所述开关量输入端为闭合状态，则所述电控板的开关量输入功能正常；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
根据本申请的一些实施例，所述电子膨胀阀检测包括以下步骤：
所述电子膨胀阀单元的输入端与所述检测端口的驱动输出端信号连接；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，请求所述驱动输出端输出四相八拍的驱动脉冲；
所述驱动输出端输出所述驱动脉冲；
所述电子膨胀阀单元检测所述驱动脉冲是否为四相八拍的脉冲信号；
所述测试程序读取所述电子膨胀阀单元的测试结果。
根据本申请的一些实施例，所述存储芯片检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送存储芯片测试指令；
所述自检程序向所述电控板的存储芯片写入参考数据；
所述自检程序从所述存储芯片读取读出数据；
所述自检程序比较所述读出数据和所述参考数据是否一致；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
根据本申请的一些实施例，所述通信端口检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送通信端口测试指令；
所述自检程序向所述测试程序发送包含原始数据的协议数据；
所述测试程序按照通信协议从所述协议数据中提取解析数据，若所述解析数据与所述原始数据相同，则判断所述通信协议被正确执行，通信端口功能正常。
根据本申请第二方面实施例的测试系统，包括：
控制板，所述控制板包括处理器、第一存储介质、功能模块、触控屏、第一电源模块、启动按钮和急停按钮，所述处理器与所述第一存储介质、所述功能模块、所述触控屏、所述第一电源模块、所述启动按钮和所述急停按钮信号连接，所述第一电源模块与所述触控屏、所述第一存储介质和所述功能模块连接，上述第一方面实施例的测试程序存储于所述第一存储介质，所述处理器执行所述测试程序；
电控板，所述电控板设置有MCU、第二存储介质、第二电源模块、监控模块和检测端口，所述MCU与所述第二存储介质、所述第二电源模块和所述监控模块连接，所述第二电源模块与所述第二存储介质、所述监控模块和所述检测端口连接，所述监控模块与所述检测端口连接，上述第一方面实施例的自检程序存储于所述第二存储介质，所述MCU执行所述自检程序；
测试治具，设置有温度模拟电阻，所述处理器通过所述测试治具与所述MCU通信连接，所述功能模块通过所述测试治具与所述检测端口连接。
根据本申请第二方面实施例的测试系统，至少具有如下有益效果：
控制板与电控板互相独立且互相通信，在产品换线时，可以简单更换测试治具，以匹配不同形状和检测端口的电控板，方便易用；对于不同功能组合的电控板，可以通过触控屏设置控制板的测试项目，不需要重新编译测试程序，节省测试系统的开发时间和开发成本，适用于小批量的电控板生产；同时，通过触控屏还可以查看测试结果，便于分析不良原因，提高生产效率。
根据本申请的一些实施例，所述测试系统还包括智能终端设备，所述智能终端设备与所述控制板通信连接，用于对测试结果进行存储、统计并形成报表。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本申请的一个实施例提供的电控板测试方法流程图；
图2为本申请的一个实施例提供的测试系统原理框图；
图3为本申请的一个实施例提供的控制板与电控板连接示意图；
图4为本申请的一个实施例提供的相序检测流程图；
图5为本申请的一个实施例提供的电气特性检测流程图；
图6为本申请的一个实施例提供的开关检测流程图；
图7为本申请的一个实施例提供的膨胀阀检测流程图；
图8为本申请的一个实施例提供的存储芯片检测流程图；
图9为本申请的一个实施例提供的通信端口检测流程图；
图10为本申请的一个实施例提供的人机交互界面中的参数设置界面示意图；
图11为本申请的一个实施例提供的人机交互界面中的测试配置界面示意图；
图12为本申请的一个实施例提供的人机交互界面中的故障查询界面示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
在本申请的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本申请的描述中，除非另有明确的限定，设置、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本申请中的具体含义。
下面结合附图详细描述本申请第一方面实施例的电控板测试方法。
参照图1和图2所示，本申请的一个实施例提供了一种电控板测试方法，包括如下步骤：将电控板300放入测试治具100中；控制板200的功能模块220通过测试治具100和电控板300的检测端口320与电控板300的监控模块340信号连接；控制板200的处理器210通过测试治具100与电控板300的MCU310通信连接；处理器210运行测试程序，MCU310运行自检程序；通过人机交互界面向测试程序设置测试项目和测试阈值；按下启动按钮240，开始自动测试；测试程序向自检程序发送测试指令，并控制功能模块220输出和/或读取测试信号；自检程序解析和执行测试指令，控制MCU310和监控模块340执行测试动作，并向测试程序反馈测试结果；人机交互界面显示测试状态和测试结果。其中，测试治具100起到固定电控板300和连接电控板300与控制板200的作用，控制板200的功能模块220的输入引脚和输出引脚通过排线连接在测试治具100上，测试治具100上设置有与排线信号连接的顶针，顶针与电控板300的检测端口320接触，功能模块220通过排线和顶针向检测端口320输出测试信号和读取检测端口320的输出信号；电控板300的MCU310与控制板200的处理器210之间采用485通信接口进行有线通信，处理器210通过485通信接口向MCU310发送测试指令和测试数据，MCU310通过485通信接口向处理器210发送测试结果；人机交互界面提供了选择测试项目和设置测试阈值的用户接口，控制板200将测试状态和测试结果反馈在人机交互界面上。另外，处理器210执行的测试程序存储在控制板200的第一存储介质230内；MCU310执行的自检程序存储在电控板300的第二存储介质330内。还需要说明的是，在测试前，控制板200连接外部电源500，电控板300通过控制板200和测试治具100连接电源。通过本实施例，在电控板300的生产中，根据不同型号的电控板300更换对应的测试治具100，不需要更换整套测试系统，能够便于产线更换产品；其次，通过人机交互界面设置测试项目和测试阈值，可以根据实际需要选择测试项目，使测试系统适用于具有不同功能的电控板300，节省开发新测试系统的时间；还有的是，人机交互界面可以便于查看测试结果，有助于不良分析。
参考图10、图11和图12，本申请的另一个实施例提供了一种人机交互界面，包括参数设置界面，测试配置界面和故障查询界面。通过参数设置界面可以设置测试项目的测试阈值，当测试结果在测试阈值范围内时测试程序判断测试结果为正常，当测试结果不在测试阈值的范围内时，测试程序判断测试结果为异常。测试配置界面用于选择需要测试的项目，测试程序可以根据电控板的功能执行相应的测试项目。故障查询界面用于查看测试结果中电控板出现不良的模块。
参考图2和图3，本申请的另一个实施例提供了一种电控板测试方法，其测试项目包括相序检测、电气特性检测、开关检测、膨胀阀检测、存储芯片检测和通信端口检测，对应的，在控制板200上的功能模块220设置有相序切换单元221、电气特性单元222、开关单元223和电子膨胀阀单元224。通过本实施例，可以根据电控板的实际情况选择相应的测试项目，避免由于产品的功能不同而需要开发新的测试系统，节省新产品的开发时间和开发成本。
参考图2、图3和图4，本申请的另一个实施例提供了一种相序检测方法，包括以下步骤：测试程序向自检程序发送相序检测指令；相序切换单元221向检测端口320的相序输入端321输出正相相序，自检程序检测相序输入端321的信号；相序切换单元221向检测端口320的相序输入端321输出反相相序，自检程序检测相序输入端321的信号；相序切换单元221向检测端口320的相序输入端321输出缺相信号，自检程序检测相序输入端321的信号；自检程序向测试程序发送测试结果。其中，相序切换单元221的输入端与市电三相电源连接，三相电源经过正相交流接触器在相序切换单元221的输出端输出正相相序，三相电源经过错相交流接触器在相序切换单元221的输出端输出反相相序，三相电源经过缺相交流接触器在相序切换单元221的输出端输出缺相相序。通过本实施例可以判断电控板300是否具备检测正相相序、反相相序和缺相相序的能力。
参考图2、图3和图5，本申请的另一个实施例提供了一种电气特性检测方法，其中，电气特性检测包括温度检测、电压检测和电流检测。
温度检测包括以下步骤：测试治具100在监控模块340的温度输入端连接特定阻值的电阻；测试程序向自检程序发送温度检测指令；自检程序测量电阻的阻值，并通过温度和阻值的特性曲线计算出对应的温度值；自检程序将测试结果发送给测试程序。其中，温度模拟电阻110用于模拟热敏电阻在特定温度下的阻值，例如热敏电阻的阻值在25℃的时候阻值为5.1K欧姆，若向监控模块340的温度输入端连接一个5.1K欧姆的温度模拟电阻110，则自检程序计算出温度为25℃。通过本实施例可以判断电控板300的温度检测功能是否正常。
电压检测包括以下步骤：电气特性单元222与检测端口320的电压输出端323信号连接；测试程序测量电压输出端323的电压值。其中，测试程序将电压的测试值与测试阈值进行比较，当电压的测试值在阈值范围内，则判断电控板300的工作电压正常。通过本实施例可以检测电控板300的工作电压是否正常。
电流检测包括以下步骤：电气特性单元222向检测端口320的电流输入端324输出模拟电压；测试程序向自检程序发送电流检测指令；自检程序测量电流输入端324的模拟电压，计算出相应的电流值；自检程序将测试结果发送给测试程序。其中，测试程序将电流的测试值与测试阈值进行比较，当电流的测试值在阈值范围内，则判断电控板300的电流检测功能正常。通过本实施例可以检测电控板300的电流检测功能是否正常。
参考图2、图3和图6，本申请的另一个实施例提供一种开关检测方法，其中，开关检测包括拨码开关检测、继电器检测和开关量输入检测。
拨码开关检测包括以下步骤：将电控板300上的拨码开关设置于特定的位置；测试程序向自检程序发送拨码开关检测指令；自检程序读取拨码开关的状态并向测试程序发送拨码开关的状态。其中，当拨码开关的键值处于on状态时，自检程序读出的状态值应为1，当拨码开关的键值处于off状态时，自检程序读出的状态值为0；在测试程序中设定拨码开关的状态值，如10101010，并使拨码开关的各键按照测试程序中预设的状态值设置为on、off、on、off、on、off、on、off状态，当自检程序读取拨码开关的状态值与测试程序中的预设值相同时，判断拨码开关功能正常。通过本实施例可以检测电控板300的拨码开关是否正常工作。
继电器检测包括以下步骤：开关单元223与检测端口320的继电器输出端325信号连接；测试程序向自检程序发送继电器检测指令；自检程序控制继电器输出端325向开关单元223输出闭合信号；测试程序通过开关单元223读取继电器输出端325的状态。通过本实施例可以检测电控板300的继电器能否正常工作。
开关量输入检测包括以下步骤：开关单元223的模拟开关与检测端口320的开关量输入端326信号连接；测试程序控制模拟开关断开；测试程序向自检程序发送测试指令，自检程序读取开关量输入端326的状态；测试程序控制模拟开关闭合，若自检程序检测到开关量输入端326为闭合状态，则电控板的开关量输入功能正常。通过本实施例可以检查电控板300能否检测开关量信号。
参考图2、图3和图7，本申请的另一个实施例提供了一种电子膨胀阀检测方法，电子膨胀阀检测方法包括以下步骤：电子膨胀阀单元224的输入端与检测端口320的驱动输出端327信号连接；测试程序向自检程序发送测试指令，请求驱动输出端327输出四相八拍的驱动脉冲；驱动输出端327输出驱动脉冲；电子膨胀阀单元224检测驱动脉冲是否为四相八拍的脉冲信号；测试程序读取电子膨胀阀单元224的测试结果。通过本实施例可以检测电控板300是否具有驱动电子膨胀阀的驱动能力。
参考图2和图8，本申请的另一个实施例提供了一种存储芯片检测方法，存储芯片检测方法包括以下步骤：测试程序向自检程序发送存储芯片测试指令；自检程序向电控板300的第二存储介质330写入参考数据；自检程序从第二存储介质330读取读出数据；自检程序比较读出数据和参考数据是否一致；自检程序向测试程序发送测试结果。通过本实施例可以检测电控板300的存储芯片能否正常工作。
参考图2和图9，本申请的另一个实施例提供了一种通信端口检测方法，通信端口检测包括以下步骤：测试程序向自检程序发送通信端口测试指令；自检程序向测试程序发送包含原始数据的协议数据；测试程序按照通信协议从协议数据中提取解析数据，若解析数据与原始数据相同，则判断通信协议被正确执行，通信端口功能正常。通过本实施例可以检测电控板300的通信端口功能是否正常。
下面结合附图详细描述本申请第二方面实施例的测试系统。
参考图2，本申请的一个实施例提供了一种测试系统，包括测试治具100、控制板200和电控板300。其中，测试治具100用于固定电控板300，并且用于连接控制板200和电控板300，测试治具100上设置有用于检测电控板300温度测试功能是否正常的温度模拟电阻110，温度模拟电阻110与电控板300的监控模块340信号连接。
控制板200包括处理器210、第一存储介质230、第一电源模块270、功能模块220、启动按钮240、触控屏250和急停按钮260，电控板300包括MCU310、第二存储介质330、检测端口320、监控模块340和第二电源模块350。
控制板200的处理器210与功能模块220信号连接，处理器210控制功能模块220完成对电控板300的测试动作；处理器210与启动按钮240信号连接，启动按钮240用于启动自动测试；处理器210与MCU310之间通过测试治具100通信连接，通信接口采用485通信接口，处理器210通过485通信接口向MCU310发送测试指令和接收MCU310发送的测试结果；第一电源模块270为处理器210、第一存储介质230、功能模块220和触控屏250提供工作电压；功能模块220和第一电源模块270通过测试治具100与检测端口320信号连接，第一电源模块270的输出端和功能模块220的输入/输出引脚通过排线连接在测试治具100上，测试治具100上设置有与排线信号连接的顶针，顶针与电控板300的检测端口320接触，功能模块220在处理器210的控制下通过排线和顶针向检测端口320输出测试信号或读取测试信号，第一电源模块270通过检测端口320为电控板300的监控模块340提供测试电压；第一存储介质230与处理器210连接并集成于处理器210内部，测试程序存储于第一存储介质230中，处理器210运行测试程序并控制功能模块220执行测试任务；触控屏250与处理器210信号连接，触控屏250用于实现人机交互界面，通过人机交互界面可以设置控制板200的测试项目和测试阈值，通过人机交互界面还可以查看各测试项目的测试结果和测试状态。
电控板300的第二电源模块350与MCU310、监控模块340、和第二存储介质330电连接，为MCU310、监控模块340、和第二存储介质330提供工作电压；第二存储介质330与MCU310信号连接，自检程序存储于第二存储介质330中，MCU310运行第二存储介质330中的自检程序并根据处理器210发送过来的测试指令执行测试动作；MCU310与监控模块340信号连接，监控模块340在MCU310的控制下用于对空调或热泵等受控设备进行控制和监测，可以实现相序监测、电流监测、温度监测、继电器控制、开关检测和膨胀阀驱动的功能；监控模块340的输入/输出端口与检测端口320信号连接，第二电源模块350的输出端与检测端口320信号连接，因此可以通过检测端口320检测电控板300的工作电压和监控模块340的功能是否正常。
还有的是，控制板200的第一电源模块270与外部电源500电连接，电控板300的第二电源模块350通过控制板200和测试治具100与电源连接。控制板200上设置有急停按钮260，急停按钮260与处理器210信号连接，当发生紧急情况时，按下急停按钮260，触发处理器210停止执行测试程序并切断电控板300的电源。
本实施例的测试系统，电控板300通过测试治具100与控制板200连接，当需要生产新产品时，可以通过更换测试治具100来匹配不同形状和检测端口320的电控板300。对于具有不同功能的电控板300，可以通过触控屏250设置控制板200的测试项目。由此可见，本实施例便于应用在不同种类的电控板300生产，可以节省测试系统的开发时间和成本。同时，通过触控屏250可以查看测试结果，便于分析不良原因，提高生产效率。
参考图2，本申请的另一个实施例提供了一种测试系统，还包括智能终端设备400，智能终端设备400与控制板200的处理器210通过UART通信接口通信连接，智能终端设备400和处理器210之间能通过UART通信接口收发数据，智能终端设备400用于对测试结果进行存储、统计，并且可以导出Excel报表。通过本实施例可以利用控制板200以外的存储介质存储测试结果，并利用智能设备400的运算能力对不良情况进行统计和生成直观的生产情况报表，在易于分析的同时减轻控制板200的工作负担。
上面结合附图对本申请实施例作了详细说明，但是本申请不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本申请宗旨的前提下做出各种变化。

Claims (10)

1.一种电控板测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
将电控板放入测试治具中；
控制板的功能模块通过所述测试治具和所述电控板的检测端口与所述电控板的监控模块信号连接；
所述控制板的处理器通过所述测试治具与所述电控板的MCU通信连接；
所述处理器运行测试程序，所述MCU运行自检程序；
通过人机交互界面向所述测试程序设置测试项目和测试阈值；
按下启动按钮，开始自动测试；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，并控制所述功能模块输出和/或读取测试信号；
所述自检程序解析和执行所述测试指令，控制所述MCU和所述监控模块执行测试动作，并向所述测试程序反馈测试结果；
人机交互界面显示测试状态和测试结果。
2.根据权利要求1所述的电控板测试方法，其特征在于，所述测试项目包括相序检测、电气特性检测、开关检测、膨胀阀检测、存储芯片检测和通信端口检测，所述功能模块包括相序切换单元、电气特性单元、开关单元和电子膨胀阀单元。
3.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述相序检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送相序检测指令；
所述相序切换单元向所述检测端口的相序输入端输出正相相序，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述相序切换单元向所述相序输入端输出反相相序，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述相序切换单元向所述相序输入端输出缺相信号，所述自检程序检测所述相序输入端的信号；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
4.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述电气特性检测包括温度检测、电压检测和电流检测；
所述温度检测包括以下步骤：
所述测试治具在所述监控模块的温度输入端连接特定阻值的电阻；
所述测试程序向所述自检程序发送温度检测指令；
所述自检程序测量所述电阻的阻值，并通过温度和阻值的特性曲线计算出对应的温度值；
所述自检程序将测试结果发送给所述测试程序；
所述电压检测包括以下步骤：
所述电气特性单元与所述检测端口的电压输出端信号连接；
所述测试程序测量所述电压输出端的电压值；
所述电流检测包括以下步骤：
所述电气特性单元向所述检测端口的电流输入端输出模拟电压；
所述测试程序向所述自检程序发送电流检测指令；
所述自检程序测量所述电流输入端的模拟电压，计算出相应的电流值；
所述自检程序将测试结果发送给所述测试程序。
5.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述开关检测包括拨码开关检测、继电器检测和开关量输入检测；
所述拨码开关检测包括以下步骤：
将所述电控板上的拨码开关设置于特定的位置；
所述测试程序向所述自检程序发送拨码开关检测指令；
所述自检程序读取所述拨码开关的状态并向所述测试程序发送所述拨码开关的状态；
所述继电器检测包括以下步骤：
所述开关单元与所述检测端口的继电器输出端信号连接；
所述测试程序向所述自检程序发送继电器检测指令；
所述自检程序控制所述继电器输出端向所述开关单元输出闭合信号；
测试程序通过所述开关单元读取所述继电器输出端的状态；
所述开关量输入检测包括以下步骤：
所述开关单元的模拟开关与所述检测端口的开关量输入端信号连接；
所述测试程序控制所述模拟开关断开；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，所述自检程序读取所述开关量输入端的状态；
所述测试程序控制所述模拟开关闭合，若所述自检程序检测到所述开关量输入端为闭合状态，则所述电控板的开关量输入功能正常；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
6.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述电子膨胀阀检测包括以下步骤：
所述电子膨胀阀单元的输入端与所述检测端口的驱动输出端信号连接；
所述测试程序向所述自检程序发送测试指令，请求所述驱动输出端输出四相八拍的驱动脉冲；
所述驱动输出端输出所述驱动脉冲；
所述电子膨胀阀单元检测所述驱动脉冲是否为四相八拍的脉冲信号；
所述测试程序读取所述电子膨胀阀单元的测试结果。
7.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述存储芯片检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送存储芯片测试指令；
所述自检程序向所述电控板的存储芯片写入参考数据；
所述自检程序从所述存储芯片读取读出数据；
所述自检程序比较所述读出数据和所述参考数据是否一致；
所述自检程序向所述测试程序发送测试结果。
8.根据权利要求2所述的电控板测试方法，其特征在于，
所述通信端口检测包括以下步骤：
所述测试程序向所述自检程序发送通信端口测试指令；
所述自检程序向所述测试程序发送包含原始数据的协议数据；
所述测试程序按照通信协议从所述协议数据中提取解析数据，若所述解析数据与所述原始数据相同，则判断所述通信协议被正确执行，通信端口功能正常。
9.一种测试系统，其特征在于，包括：
控制板，所述控制板包括处理器、第一存储介质、功能模块、触控屏、第一电源模块、启动按钮和急停按钮，所述处理器与所述第一存储介质、所述功能模块、所述触控屏、所述第一电源模块、所述启动按钮和所述急停按钮信号连接，所述第一电源模块与所述触控屏、所述第一存储介质和所述功能模块连接，如权利要求1至8任一所述的测试程序存储于所述第一存储介质，所述处理器执行所述测试程序；
电控板，所述电控板设置有MCU、第二存储介质、第二电源模块、监控模块和检测端口，所述MCU与所述第二存储介质、所述第二电源模块和所述监控模块连接，所述第二电源模块与所述第二存储介质、所述监控模块和所述检测端口连接，所述监控模块与所述检测端口连接，如权利要求1至8任一所述的自检程序存储于所述第二存储介质，所述MCU执行所述自检程序；
测试治具，设置有温度模拟电阻，所述处理器通过所述测试治具与所述MCU通信连接，所述功能模块通过所述测试治具与所述检测端口连接。
10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，还包括智能终端设备，所述智能终端设备与所述控制板通信连接，用于对测试结果进行存储、统计和形成报表。
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