CN111354287B - 确定像素老化衰减程度、补偿像素的方法、装置、设备 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法、装置、设备。所述方法包括：对于包括多个像素的显示面板中的至少部分像素，确定该像素的电流数据和温度数据；基于所确定的电流数据和温度数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。本公开还提供了一种在显示面板上补偿像素的方法、装置、设备。所述方法，包括：在显示面板上确定补偿参考像素；对于除所述补偿参考像素外的其余像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数；基于所述显示调整参数对该像素进行补偿。

Description

确定像素老化衰减程度、补偿像素的方法、装置、设备
技术领域
本公开涉及显示技术领域，具体的涉及一种确定像素老化衰减程度、补偿像素的方法、装置、设备。
背景技术
目前，消费者对于显示器的尺寸要求越来越大、对显示面板的分辨率的要求也越来越高，由此对于显示面板生产工艺的要求也越来越高。由于在生产制造显示器的过程中的材料、技术等因素，以及在使用过程中显示面板上各个像素显示的像素数据不同等因素的影响，导致显示面板中各个像素的老化衰减程度并不相同。在显示相同灰阶数据时，经受老化衰减的像素的发光亮度低于正常的像素。由此，在经过一段时间的显示应用之后，在显示面板上会出现老化衰减程度不同的像素，在使用这些像素显示相同的灰阶数据时，发出的光的亮度不同，即，出现显示残像，这在降低了显示面板的显示效果的同时，也降低了消费者的使用体验。
发明内容
根据本公开的一方面，提供了一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法，包括：对于包括多个像素的显示面板中的至少部分像素，确定该像素的电流数据和温度数据；基于确定的电流数据和温度数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，确定该像素的电流数据包括：基于该像素的显示数据确定该像素的电流数据。
根据本公开实施例，所述方法还包括确定该像素在显示面板上的位置数据；其中，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据还包括：基于确定的电流数据、温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，确定该像素在显示面板上的位置数据包括：确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
根据本公开的另一方面，提供了一种在显示面板上补偿像素的方法，包括：确定补偿参考像素；对于除所述补偿参考像素外的其余像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数；基于所述显示调整参数对该像素进行补偿。
根据本公开实施例，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数包括：基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
根据本公开实施例，确定补偿参考像素包括：基于显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素。
根据本公开实施例，所述方法还包括，通过对显示面板中每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。
根据本公开实施例，所述方法还包括，基于显示面板的伽马值和该像素的显示调整参数确定该像素的灰阶补偿参数。
根据本公开实施例，所述方法还包括，基于该像素的灰阶数据和所述灰阶补偿参数确定灰阶补偿数据。
根据本公开实施例，所述方法还包括，输出该像素的灰阶补偿数据。
根据本公开的又一方面，提供了一种用于确定显示面板上的像素老化衰减程度的装置，所述显示面板包括多个像素，所述装置包括：确定模块，用于对于所述多个像素中的至少部分像素，确定该像素的电流数据和温度数据；以及老化衰减程度数据计算模块，用于基于确定的电流数据和温度数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，所述确定模块基于该像素的显示数据确定该像素的电流数据。
根据本公开实施例，所述老化衰减程度数据计算模块还用于基于确定的电流数据、温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据，其中，所述确定模块确定该像素在显示面板上的位置数据包括：确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
根据本公开的又一方面，提供了一种在显示面板上补偿像素的装置，包括：确定模块，用于确定补偿参考像素，对于除所述补偿参考像素外的其余像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数；以及补偿模块，用于基于所述显示调整参数对该像素进行补偿。
根据本公开实施例，所述确定模块基于显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素，以及基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
根据本公开实施例，所述确定模块通过对显示面板中每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。
根据本公开实施例，所述确定模块还用于基于显示面板的伽马值和该像素的显示调整参数确定该像素的灰阶补偿参数，所述补偿模块还用于基于该像素的灰阶数据和所述灰阶补偿参数确定灰阶补偿数据，以及输出该像素的灰阶补偿数据。
根据本公开的又一方面，提供了一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的设备，包括：处理器，以及存储器，其包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备执行如上所述的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法。
根据本公开的又一方面，提供了一种在显示面板上补偿像素的设备，包括：处理器，以及存储器，其包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备执行如上所述的用于在显示面板上补偿像素的方法。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了像素发光亮度随发光时间变化的示意图；
图2示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法的流程图；
图3示出了显示面板上的温度分布的示意图；
图4示出了根据本公开实施例的确定位置数据的流程图；
图5示出了根据本公开实施例的确定位置数据的示意图；
图6示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的方法的流程图；
图7示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的示意图；
图8示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的装置的示意图；
图9示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的装置的示意图；
图10示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的设备的示意图；
图11示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的设备的示意图。
具体实施方式
下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本公开一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
本公开中使用了流程图用来说明根据本公开的实施例的方法的步骤。应当理解的是，前面或后面的步骤不一定按照顺序来精确的进行。相反，可以按照倒序或同时处理各种步骤。同时，也可以将其他操作添加到这些过程中，或从这些过程移除某一步或数步。
诸如有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Display，OLED)等的显示面板逐渐应用于越来越多的应用领域。在使用显示面板的过程中，由于受到像素老化衰减的影响，像素的发光亮度将会随显示时间的增加而降低。
图1示出了显示面板中的像素的发光亮度随发光时间变化的示意图，其中，横坐标表示发光时间，纵坐标表示归一化后的相对亮度，其中，将未受到像素老化影响的像素的发光亮度设为1。从图1中可以看出，红、绿、蓝子像素的发光亮度均随发光时间的增加而降低。此外，由于显示面板中各个像素的老化衰减程度并不相同，使得不同像素之间的发光亮度降低的程度也不相同，出现显示残像的现象，这将降低显示面板的显示效果、缩短显示面板的使用寿命并影响用户体验。
存在一种通过检测流经OLED驱动电路中的驱动薄膜晶体管的电流来检测OLED上的各个像素的驱动薄膜晶体管的阈值电压的方法，所述阈值电压可以指示各个像素的老化衰减程度。然而，在上述通过检测流经驱动薄膜晶体管的电流来确定像素老化衰减程度的方法中，需要额外的测量电路来定期的检测驱动晶体管的电流，并且测量的电流的准确性不高。此外，上述方式中也并未考虑到其他因素对于像素老化的影响，例如温度、像素在显示面板中的位置等。
本公开提出了一种确定显示面板中像素老化程度的方法、装置、设备以及补偿像素的方法、装置、设备。根据本公开，基于大量的对于老化程度有影响的数据，诸如温度数据、电流数据、像素在显示面板中的位置等数据来构建像素老化衰减模型。在本公开的确定显示面板中像素老化程度的方法中，利用针对显示面板中各个像素确定的电流数据和温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照构建的老化衰减模型来计算得到该像素随时间变化的老化衰减数据。此外，在本公开中，还可以通过设定采样时间间隔来定时更新像素的老化衰减程度数据，并将所述老化衰减程度数据存储在存储器中以用于实时地补偿像素的显示数据。在本公开的补偿像素的方法中，首先基于显示面板中各个像素的老化衰减程度数据确定补偿参考像素，并基于补偿参考像素的老化衰减程度数据以及当前要补偿的像素的老化衰减程度数据来对该要进行补偿的像素的显示数据进行补偿，从而使得需要显示相同灰阶的各个像素发光亮度一致，避免了显示残像的问题，延长显示面板的使用寿命，并提高了用户体验。
图2示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法的流程图，用于对包括多个像素的显示面板中的至少部分像素确定其老化衰减程度数据。根据本公开实施例，可以根据实际应用需求对显示面板中的部分像素确定其老化衰减程度数据，也可以对显示面板中的每个像素确定其老化衰减程度数据。在本说明书中，以确定显示面板中的每个像素的老化衰减程度数据为例进行说明。
首先，在步骤S101，确定像素的电流数据和温度数据，所述像素可以是显示面板中需要确定其老化衰减程度的任意像素，在本文可以将该像素表示为补偿像素。根据本公开实施例，可以利用所述补偿像素的显示数据，例如显示灰阶数据来计算该补偿像素的电流数据，利用温度传感器等来测量并计算该补偿像素的温度数据。
接着，在步骤S102，基于确定的电流数据和温度数据，按照老化衰减模型计算像素的老化衰减程度数据。所述老化衰减模型可以是表征像素老化衰减程度的函数，例如，根据本公开的一个实施例，老化衰减模型可以是关于温度和电流对于像素老化影响的函数。
根据本公开实施例，可以分别地确定温度和电流对于像素老化影响的函数，例如，Tgain为表征温度对于像素老化程度的影响的函数，Lgain为表征电流对于像素老化程度的影响的函数。
然后，可以将所述老化衰减模型F表示为：
F＝a*Tgain*Lgain (1)
其中，a为常数。
根据本公开实施例，例如，可以按照以下函数来确定温度对于像素老化程度的影响的函数，即温度老化衰减函数Tgain：
Figure BDA0001914404640000061
其中，E为激活能量，k为玻尔兹曼常数，TR为室温(例如，可以将其设置为25℃)，TN为操作温度，即针对补偿像素确定的当前的温度数据。根据本公开实施例，可以通过大量的测量数据来构建上述Tgain函数模型，由此使得，在确定了某个补偿像素的操作温度数据TN后，可以按照上述Tgain函数模型来计算该补偿像素当前的受温度影响的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，例如，可以通过以下函数来确定所述操作温度TN：
TN＝T0+A+B*Cavg (3)
其中，T0为环境温度，例如可以通过设置在显示面板上的温度传感器测量得到，A为温度偏移量，B为特定常数，Cavg为平均电流值，例如，可以通过补偿像素的显示灰阶数据来确定所述平均电流值。
根据本公开实施例，可以基于补偿像素的显示数据确定该像素的当前的电流数据，其中，所述显示数据可以是补偿像素的显示灰阶数据(例如，灰阶范围为0-255)。
流经显示面板中的像素的电流值可以是影响像素老化程度的重要因素。在实际应用中，很难准确、直接地测量得到所述像素的电流值。所述电流值与像素的发光亮度存在线性关系，且像素的发光亮度与像素的显示灰阶数据也存在关联关系。由此，在根据本公开的实施例中，可以利用上述电流值、发光亮度以及灰阶数据之间的关系，通过像素的显示灰阶数据来计算得到与像素的老化衰减程度相关的电流数据。
具体的，在利用显示面板进行显示的过程中，像素的电流数据Current与该像素的发光亮度之间的线性关系可以表示为如下所示：
Current＝k1*Lum (4)
其中，k1为线性系数，Lum为补偿像素的亮度数据。
所述亮度数据与该像素的显示灰阶数据之间具有关联关系，例如，所述关联关系可以表示为：
Lum＝Graygamma (5)
其中，Gray可以为该补偿像素归一化后的显示灰阶数据，gamma为显示面板的伽玛值。例如，在像素的灰阶数据为100的情形下，所述
Figure BDA0001914404640000071
由此，通过以上两个函数(4)-(5)，可以将像素的显示灰阶数据Gray转换成该像素的亮度数据，并依据该像素的亮度数据与电流数据之间的线性关系，来将像素的亮度数据转换成该像素的电流数据Current。
根据本公开实施例，可以通过大量的测量数据来构建像素的电流数据对像素老化程度影响的函数模型，即电流老化衰减函数Lgain。所述电流老化衰减函数Lgain可以是通过实验数据确定的经验数值。例如可以通过实验测量得到具有不同的电流数据的像素随时间的老化衰减程度数据。由此使得，在确定了某个像素的电流数据后，可以按照上述Lgain函数模型来得到该像素当前的受电流影响的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，首先确定像素的老化衰减模型F，所述老化衰减模型F可以是预先通过大量测试而得到的。根据本公开实施例，在显示面板操作过程中，确定各像素的当前的温度数据和电流数据，并按照所述老化衰减模型来确定各像素当前的老化衰减程度数据。由此，根据本公开的确定显示面板中像素老化衰减程度的方法按照依据测量数据建立的模型以及实时获得的补偿像素的温度数据和电流数据来计算得到该补偿像素的当前老化程度数据。
根据本公开实施例，所述确定显示面板中像素老化衰减程度的方法还可以包括确定该像素在显示面板上的位置数据，然后，基于确定的电流数据、温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。在此实施例中，所述老化衰减模型可以表示为：
F’＝a*Tgain*Lgain*Pgain (6)
其中，Pgain可以为补偿像素在显示面板上所处的位置对于像素老化程度的影响的函数，即位置老化衰减函数Pgain。
由于受到驱动电路板上的无源元件的干扰以及电压降的影响，显示面板上处于不同位置处的像素具有不同的衰减速率，其中，所述电压降是由于电阻器中的能量损失引起的。正是由于受到上述因素的影响，在显示相同的灰阶数据的情况下，显示面板上位于驱动电路附近的像素将比远离驱动电路的像素具有更大的电流值。
此外，对于面积较大的显示面板，由于受到局部热源和显示面板中的自然对流的影响，使得显示面板中处于不同位置处的像素的温度也存在差异。
图3示出了显示面板上的温度分布的示意图，图3中示意性地标出了显示面板中不同位置处的温度数据。
由此，由于受到上述处于不同位置处的温度以及电流的变化的影响，在其他老化影响因素保持一致的情况下，处于显示面板不同位置处的像素的老化衰减程度可以不同。在根据本公开实施例的确定定显示面板中像素老化衰减程度的方法中可以引入像素位置数据对于像素老化衰减程度的影响，例如通过构建包括位置老化衰减函数Pgain的老化衰减模型F’，并根据补偿像素所处的位置数据来计算该补偿像素的老化衰减程度数据。
图4示出了根据本公开实施例的确定位置数据的流程图，图5示出了根据本公开实施例的确定位置数据的示意图。以下，将结合图5和图6来说明根据本公开实施例确定补偿像素的位置数据的过程。
如图4所示，首先，在步骤S201，确定该像素所处的像素区域。根据本公开实施例，例如可以根据所述显示面板的尺寸来将显示面板划分为K个像素区域，其中，K可以是大于一的正整数。例如，如图5所示出的，可以将矩形显示面板划分为M*N个像素区域，每个像素区域可以包括若干个像素，例如，在显示面板具有m1*n1个像素的情况下，每个像素区域包括的像素数目可以为
Figure BDA0001914404640000091
个。
接着，在步骤S202，确定该像素所处的像素区域的位置系数，所述位置系数表征该像素区域位置对于像素老化衰减的影响。例如，可以通过大量的实际测量数据来确定每个像素区域的位置系数，例如，可以为显示面板上靠近驱动电路的像素区域分配较高的位置系数，还可以为显示面板上测得的温度较高的像素区域分配较高的位置系数。根据本公开实施例，可以利用每个像素区域的四个角点来设置所述位置系数。例如，对于像素区域A0，可以为其四个角点P1、P2、P3、P4分配位置系数P1、P2、P3、P4，用来表征该像素区域A0内的像素的位置系数。
然后，在步骤S203，基于该补偿像素所在的像素区域的位置系数以及该补偿像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
例如，对于图5中示出的像素P，x表示像素P距离角点P1、P3之间的连线的垂直距离，y表示像素P距离角点P1、P2之间的连线的垂直距离。例如，在确定了为四个角点P1、P2、P3、P4分配的位置系数P1、P2、P3、P4后，可以采用如下所示的线性插值函数来确定位于像素区域A0内的像素P的位置数据Pmn，
Pm＝P2*x+P1*(1-x) (7)
Pn＝P4*x+P3*(1-x) (8)
Pmn＝Pn*y+Pm*(1-y) (9)
根据本公开实施例，还可以将计算得到的显示面板上的每个像素的老化衰减程度数据存储在存储器中，以用于在需要对像素进行像素补偿时，可以从存储器中读取出该像素的当前的老化衰减程度数据，并对其灰阶数据进行补偿。
此外，根据本公开实施例，还可以设置采样周期，来定时地计算显示面板上的像素的老化衰减程度数据，并利用最新计算得到的老化衰减程度数据来更新存储器中的数据。例如，补偿像素为Pd，并设置采样周期为5秒，显示面板上的像素显示了5秒后，将按照如上所述确定像素老化衰减程度的方法来确定像素Pd的老化衰减程度数据Pd1，并将该数据存储在存储器中。在显示了10秒后，将再次进行上述确定像素老化衰减程度的过程，并得到像素Pd的新的老化衰减程度数据Pd2。此时，可以利用老化衰减程度数据Pd2来更新存储器中的老化衰减程度数据Pd1。例如，可以将该像素Pd的更新后的老化衰减程度数据表示为Pd1+Pd2。
根据本公开实施例，在显示面板中包括较多的像素的情况下，在存储器中为每个像素存储其老化衰减程度数据将面临存储数据量较大的问题。此时，可以采用相邻像素均值化处理的方式来存储显示面板上的像素的老化衰减程度数据。例如，在显示面板上包含的像素数目(即分辨率)为2400*1600时，可以将2400行*1600列像素划分为例如600*800个单元，每个单元中包括4行*2列＝8个像素。对于属于同一单元的8个像素，其老化衰减程度数据用同一个数据表示。例如，可以将上述8个像素的老化衰减程度数据的加权平均值来表示所述8个像素的老化衰减程度数据。由此使得可以将存储数据量降低为原来的1/8。根据本公开的实施例，还可以采用其他的方式来降低所述老化衰减程度数据的存储数据量。
根据本公开的确定显示面板中像素老化衰减程度的方法，可以基于确定的电流数据、温度数据和位置数据，按照老化衰减模型F’计算该像素的老化衰减程度数据。所述老化衰减程度数据表示补偿像素在其寿命周期内的实际的老化衰减程度。
根据本公开的实施例，可以基于计算得到的老化衰减程度数据来补偿像素数据。
图6示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的方法的流程图，首先，在步骤S301，确定补偿参考像素，所述补偿参考像素可以作为对显示面板中其余像素进行像素补偿的参考基准，例如，可以基于补偿参考像素的老化衰减程度数据来确定对其余像素进行补偿的程度。
根据本公开实施例，可以基于显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素。例如，通过对显示面板中每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。
例如，对于显示面板中的所有像素点，可以按照老化衰减程度数据的数值来进行统计排序，并按照具体的实际需求，选择补偿参考像素。例如，在对显示面板的寿命要求较高，而对显示亮度要求较低的情况下，则可以选择老化衰减程度数据较高的像素作为补偿参考像素。或者，在对显示面板的亮度要求较高，而对寿命要求较低的情况下，则可以选择老化衰减程度较低的像素作为补偿参考像素。此外，还可以根据实际需求来选择所述补偿参考像素，在此不作限制。
接着，在步骤S302，对于除所述补偿参考像素外的其余每个像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数。例如，可以基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
例如，确定的补偿参考像素R的老化衰减程度数据表示为F0，显示面板上其余像素的老化衰减程度数据表示为Fij，其中，i＝1,2,3…m1，j＝1,2,3…n1，则，所述显示调整参数可以表示为
Dij＝F0/Fij (10)
接着，在步骤S303，基于所述显示调整参数对该像素进行补偿。例如，可以基于所述显示调整参数来调整像素的显示数据，使得显示面板中的所有像素在显示同一灰阶时发光亮度一致，从而避免显示面板中的像素由于老化衰减程度不同造成的残像现象。
根据本公开实施例，可以基于显示面板的伽马值gamma和补偿像素的显示调整参数Dij来确定该补偿像素的灰阶补偿参数Dij′。然后，基于该补偿像素要显示的灰阶数据和所述灰阶补偿参数Dij′确定灰阶补偿数据。可以按照如下所示函数来计算灰阶补偿参数Dij′：
Figure BDA0001914404640000111
例如，补偿像素要显示的灰阶数据可以表示为Gij，则经过补偿后的灰阶补偿数据Gij’可以表示为：
Gij’＝Gij*Dij′
根据本公开实施例，在计算得到补偿像素的灰阶补偿数据Gij’后，可以输出该灰阶补偿数据，从而实现基于补偿像素以及补偿参考像素来调整该补偿像素的显示灰阶数据。
根据本公开实施例，可以按照如上所述的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法以及在显示面板上补偿像素的方法，来实时地补偿显示面板上的像素的显示数据，从而使得即使在显示面板上的像素老化衰减程度不同的情况下，针对同一灰阶显示的亮度相同。
图7示出了根据本公开实施例的对显示面板上的像素进行像素补偿的示意图，以下将结合图7来描述根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法以及在显示面板上补偿像素的方法。
首先，对于包括多个像素(例如，m1*n1个像素)的显示面板，在进行显示的过程中，可以实时地计算每个像素的老化衰减程度数据，并基于计算得到的老化衰减程度数据来对显示面板中的像素的显示数据进行补偿。
例如，对于显示面板中的某个补偿像素Pij，在接收到其显示灰阶数据Gi后，可以对该显示灰阶数据进行补偿，以消除像素老化衰减对其发光亮度的影响。所述补偿过程可以包括从存储器(例如动态随机存取存储器，DDR)中读取显示面板中各个像素的老化衰减程度数据，还可以对所述各个像素的老化衰减程度数据进行统计排序，用于确定处于不同老化程度的像素的个数，例如，还可以用于确定老化衰减程度最大的像素的老化衰减程度数据。然后，利用上述统计排序结果，结合实际需求来确定补偿参考像素。例如，在对显示面板的寿命要求较高，而对显示亮度要求较低的情况下，可以选择老化衰减程度数据较高的像素作为补偿参考像素P0，并获得补偿参考像素P0的老化衰减程度数据F0。
然后，基于补偿像素Pij的老化衰减程度数据Fij以及所述补偿参考像素P的老化衰减程度数据F0确定该像素的显示调整参数Dij＝F0/Fij。基于显示面板的伽马值gamma和补偿像素的显示调整参数Dij确定该像素的灰阶补偿参数
Figure BDA0001914404640000121
基于该像素的显示灰阶数据Gij和所述灰阶补偿参数Dij′确定灰阶补偿数据Gij’＝Gij*Dij′。然后输出针对该补偿像素Pij的经过像素老化补偿处理后的灰阶补偿数据Gij’。
根据本公开实施例，可以实时地或者周期性地更新显示面板上的像素的老化衰减程度数据。例如，可以通过设定采样周期的方式来周期性地计算像素的老化衰减程度数据。采样周期可以设置为每显示300帧计算一次，在帧刷新频率为60Hz的情况下，即相当于每5秒采样一次。
如图7所示，在对补偿像素的灰阶数据进行像素补偿后，可以判断是否到达采样时间。如果确定未到达采样时间，例如，当前显示帧数为200帧，则不进行老化衰减程度数据的计算过程。如果确定到达采样时间，例如，当前显示帧数为300帧，则进行老化衰减程度数据的计算过程。
具体的，对于当前的补偿像素Pij，计算该补偿像素的老化衰减程度数据可以包括以下步骤。首先，可以基于经过像素补偿处理得到的补偿数据Gij’确定电流数据，所述确定电流数据的过程可以参考以上关于公式(4)-(5)的描述，在此不再赘述。然后，可以确定该补偿像素的位置数据，所述确定位置数据的过程可以参考以上关于公式(7)-(9)的描述，在此不再赘述。接着，可以基于设置在显示面板上的温度传感器来获得环境温度T0，并按照以上关于公式(2)-(3)的描述来确定该补偿像素的温度数据。
接着，基于获得的针对于补偿像素的电流数据、温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型来确定该补偿像素的老化衰减程度数据Fij。所述老化衰减模型可以是通过大量的实验数据获得的关于电流、温度以及在显示面板上的位置对于像素老化衰减的影响的函数。由此可以获得，在显示了300帧显示画面，即显示5秒后，该补偿像素的老化衰减程度数据。
还可以采用相邻像素均值化处理的方式来对显示面板中的像素的老化衰减程度数据进行数据处理，以用于减少存储的数据量。
然后，可以利用计算得到的补偿像素的老化衰减程度数据Fij来更新存储器中的该补偿像素的老化衰减程度数据
Figure BDA0001914404640000132
例如可以将该像素的更新后的老化衰减程度数据表示为
Figure BDA0001914404640000131
此外，在对像素进行像素补偿的过程中，需要不断的读取存储器中存储的老化衰减程度数据，在计算得到像素的老化衰减程度数据后也需要将其存储到存储器中。例如，在读写DDR时，可以出现数据传输错误的情况。根据本公开实施例，在每读写一次DDR时，可以采用例如循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check,CRC)算法对存储器中的数据进行校验，从而避免数据错误。
根据本公开实施例，为了避免DDR中存储数据的丢失，还可以将DDR中存储的数据存储到闪存(Flash EEPROM Memory，Flash)中。考虑到异常断电的情况，可以每隔30分钟或者1个小时，利用DDR中的数据更新Flash中的数据，上述更新时间间隔可以根据实际情况自行设定，在此不作限制。此外，还可以利用CRC算法对Flash中的数据进行数据校验，以防数据传输错误。
根据本公开的实施例，还提供了一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的装置，其中，所述显示面板上包括多个像素。图8示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的装置100的示意图。
如图8所示，所述用于确定显示面板中像素老化衰减程度的装置100包括确定模块101和老化衰减程度数据计算模块102。所述确定模块101用于对于所述多个像素中的每个像素，确定该像素的电流数据和温度数据。所述老化衰减程度数据计算模块102用于基于确定的电流数据和温度数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，所述确定模块101基于该像素的显示数据确定该像素的电流数据。所述确定模块还用于确定该像素在显示面板上的位置数据；所述老化衰减程度数据计算模块还用于基于确定的电流数据、温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据。
根据本公开实施例，其中，所述确定模块101确定该像素在显示面板上的位置数据可以包括：确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。上述装置100进行确定显示面板中像素老化衰减程度的过程与如上所述的确定显示面板中像素老化衰减程度的方法的流程类似，在此不再赘述。
根据本公开的另一方面，还提供了一种在显示面板上补偿像素的装置，图9示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的装置200的示意图。
如图9所示，所述在显示面板上补偿像素的装置200包括确定模块201,以及补偿模块202。所述确定模块201可以用于确定补偿参考像素，对于除所述补偿参考像素外的其余每个像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定对该像素的显示调整参数。所述补偿模块202可以用于基于所述显示调整参数对该像素进行补偿。
其中，所述确定模块201可以基于显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素，以及基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
根据本公开实施例，所述确定模块201通过对显示面板中每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。此外，所述确定模块201还可以用于基于显示面板的伽马值和该像素的显示调整参数确定该像素的灰阶补偿参数，所述补偿模块还用于基于该像素的灰阶数据和所述灰阶补偿参数确定灰阶补偿数据，以及输出该像素的灰阶补偿数据。
根据本公开实施例的上述装置200进行在显示面板上补偿像素的过程与上述在显示面板上补偿像素的方法的流程类似，在此不再赘述。
根据本公开的又一方面，还提供了一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的设备，图10示出了根据本公开实施例的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的设备300的示意图。所述设备300包括处理器301以及存储器302。所述存储器302中包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备300执行如上所述的用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法。
根据本公开的又一方面，还提供了一种在显示面板上补偿像素的设备，图11示出了根据本公开实施例的在显示面板上补偿像素的设备400的示意图。所述设备400包括处理器401以及存储器402。所述存储器402中包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备400执行如上所述的用于在显示面板上补偿像素的方法。
本公开提出了一种确定显示面板中像素老化程度的方法、装置、设备以及补偿像素的方法、装置、设备。根据本公开的所述确定显示面板中像素老化程度的方法、装置、设备，可以基于大量的对于老化程度有影响的数据，诸如温度数据、电流数据、像素在显示面板中的位置等数据来构建像素老化衰减模型，然后利用针对显示面板中各个像素确定的电流数据和温度数据以及在显示面板上的位置数据，按照构建的老化衰减模型来计算得到该像素随时间变化的老化衰减数据，此外，还可以通过设定采样时间间隔来定时更新每个像素的老化衰减数据，并将所述老化衰减数据存储在存储器中以用于实时地补偿像素的显示数据。根据本公开的所述补偿像素的方法、装置、设备，首先基于显示面板中各个像素的老化衰减程度数据确定补偿参考像素，并基于补偿参考像素老化衰减程度数据以及当前要补偿的像素的老化衰减程度数据来对该要进行补偿的像素的显示数据进行补偿，从而使得需要显示相同灰阶的各个像素发光亮度一致，避免了显示残像的问题，延长显示面板的使用寿命，并提高了用户体验。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分的步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本公开并不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
除非另有定义，这里使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本公开所属领域的普通技术人员共同理解的相同含义。还应当理解，诸如在通常字典里定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。
以上是对本公开的说明，而不应被认为是对其的限制。尽管描述了本公开的若干示例性实施例，但本领域技术人员将容易地理解，在不背离本公开的新颖教学和优点的前提下可以对示例性实施例进行许多修改。因此，所有这些修改都意图包含在权利要求书所限定的本公开范围内。应当理解，上面是对本公开的说明，而不应被认为是限于所公开的特定实施例，并且对所公开的实施例以及其他实施例的修改意图包含在所附权利要求书的范围内。本公开由权利要求书及其等效物限定。

Claims (16)

1.一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的方法，包括：对于包括多个像素的显示面板中的至少部分像素，
确定该像素的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据；
基于所确定的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据，其中，
确定该像素在所述显示面板上的所述位置数据包括：
确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；
确定该像素区域的位置系数；以及
基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，确定该像素的电流数据包括：
基于该像素的显示数据确定该像素的电流数据。
3.一种在显示面板上补偿像素的方法，包括：
在显示面板上确定补偿参考像素；
对于除所述补偿参考像素外的其余像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数；
基于所述显示调整参数对该像素进行补偿，其中，
所述确定所述补偿参考像素包括：基于所述显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素，其中，所述像素的老化衰减程度数据是按照以下步骤确定的：
确定该像素的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据；
基于所确定的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据，其中，
确定该像素在显示面板上的所述位置数据包括：确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；以及基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数包括：
基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
5.根据权利要求3所述的方法，还包括，通过对显示面板中每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。
6.根据权利要求3所述的方法，还包括，基于显示面板的伽马值和该像素的显示调整参数确定该像素的灰阶补偿参数。
7.根据权利要求6所述的方法，还包括：基于该像素的灰阶数据和所述灰阶补偿参数确定灰阶补偿数据。
8.根据权利要求7所述的方法，还包括输出该像素的灰阶补偿数据。
9.一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的装置，所述显示面板上包括多个像素，所述装置包括：
确定模块，用于对于所述多个像素中的至少部分像素，确定该像素的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据；以及
老化衰减程度数据计算模块，用于基于所确定的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据，其中，
所述确定模块用于确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；以及基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
10.根据权利要求9所述的装置，其中所述确定模块基于该像素的显示数据确定该像素的电流数据。
11.一种在显示面板上补偿像素的装置，包括：
确定模块，用于在显示面板上确定补偿参考像素，对于除所述补偿参考像素外的其余像素，基于该像素以及所述补偿参考像素确定该像素的显示调整参数；以及
补偿模块，用于基于所述显示调整参数对该像素进行补偿，其中，
所述确定模块用于：基于所述显示面板中每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素，其中，所述像素的老化衰减程度数据是按照以下步骤确定的：
确定该像素的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据；
基于所确定的电流数据、温度数据以及在所述显示面板上的位置数据，按照老化衰减模型计算该像素的老化衰减程度数据，其中，
确定该像素在显示面板上的所述位置数据包括：确定该像素所处的像素区域，其中，所述显示面板被划分为多个像素区域；确定该像素区域的位置系数；以及基于该像素区域的位置系数、以及该像素在该像素区域内的位置确定该像素在显示面板上的位置数据。
12.根据权利要求11所述的装置，其中，所述确定模块基于显示面板上每个像素的老化衰减程度数据确定所述补偿参考像素，以及
基于该像素的老化衰减程度数据以及所述补偿参考像素的老化衰减程度数据确定该像素的显示调整参数。
13.根据权利要求12所述的装置，其中，所述确定模块通过对显示面板上每个像素的老化衰减程度数据进行统计排序来确定所述补偿参考像素。
14.根据权利要求11所述的装置，其中，所述确定模块还用于基于显示面板的伽马值和该像素的显示调整参数确定该像素的灰阶补偿参数，
所述补偿模块还用于基于该像素的灰阶数据和所述灰阶补偿参数确定灰阶补偿数据，以及输出该像素的灰阶补偿数据。
15.一种用于确定显示面板中像素老化衰减程度的设备，包括：
处理器，以及
存储器，其包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备执行如权利要求1-2中任一项所述的方法。
16.一种在显示面板上补偿像素的设备，包括：
处理器，以及
存储器，其包含一组处理器可执行指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述设备执行如权利要求3-8中任一项所述的方法。
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