CN111350490A - 一种基于测井资料的地层真参数求取方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于测井资料的地层真参数求取方法，以实际岩心为基础，在实验室模拟地层条件，得到各种地层参数与其测量影响因素之间的响应规律，建立转化模型，再结合实际测井资料，建立校准模型，对工程测井曲线进行校准，最终求取地层真参数。本发明地层真参数求取方法与现有技术相比，在工程测井受影响井段进行实验室模拟研究，建立模型消除各种异常因素导致的测量结果失真，对测井曲线进行校准，能够获取地层真参数；避免了地层含有特殊矿物时，工程测井结果异常、泥浆侵入带工程测井结果失真而导致的测井曲线无法使用等一系列问题，使工程测井在石油勘探开发过程中发挥更大作用。

Description

一种基于测井资料的地层真参数求取方法

技术领域

本发明属于石油测井技术领域，具体涉及一种基于测井资料的地层真参数求取方法。

背景技术

目前，获取地层参数的方法主要有两种，一是利用钻井取心得到4英寸(102毫米左右)的全直径圆柱形柱塞岩心，然后再加工为1英寸(25.4毫米)的圆柱形柱塞岩心，在实验室内利用精密的实验仪器测量其地层参数，此方法可消除外部因素对岩心的影响，得到岩心的真参数，但其存在明显缺点：(1)钻井取心成本较高，不可能全井段连续取心，(2)实验室测量的结果仅代表了1英寸的岩心柱塞岩心，不能完全代表真实地层情况；二是利用工程测井，将测井仪器放入井下直接测量地层参数，但由于地层信息未知，而测量又容易受泥浆侵入、井眼环境改变、探测深度不足、地层含有特殊矿物或地层本身性质改变等多种因素影响，测量结果代表了多种因素的综合反映，不能得到地层的真参数。

发明内容

本发明提供了一种基于测井资料的地层真参数求取方法，以解决现有技术中，实验室测量的地层参数局限性较大、工程测井得到的地层参数易受多种因素干扰，而无法准确获得地层真参数的难题。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种基于测井资料的地层真参数求取方法，包括以下步骤：

S1，对地层进行工程测井，得到未校准之前的原始测井曲线；

S2，根据原始测井曲线，确定需要求取地层参数的目标深度段，并获取目标深度段的地层信息；

S3，在目标深度段内进行取心，得到目标深度段原始岩心；

S4，在实验室中分析目标深度段岩心的基本信息；

S5，在实验室条件与模拟的真实地层条件下，对需要求取的地层参数开展模拟实验，得到地层参数与影响因素之间的响应规律；

S6，建立实验室条件下地层参数与影响因素之间的转化模型；

S7，建立实验室条件下的地层参数与真实地层条件的地层参数之间的校准模型；

S8，利用步骤S6中得到的转化模型和步骤S7中得到的校准模型进行工程测井曲线进行补偿或校正，求得地层真参数。

进一步的，S2中，目标深度段的地层信息包括温度、压力、流体。

进一步的，S4中，所述基本信息为目标深度段岩心的骨架组成、流体性质。

进一步的，S5中，所述影响因素包括岩石骨架、孔隙流体、孔隙、温度、压力。

进一步的，S6中，所述转化模型为：

Y＝f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。

进一步的，S7中，所述校准模型为：

Y′＝f(Y)+f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

Y′为井下真实情况的地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。

本发明的有益效果如下：

1、本发明地层真参数求取方法与现有技术相比，在工程测井受影响井段进行实验室模拟研究，建立模型消除各种异常因素导致的测量结果失真，对测井曲线进行校准，能够获取地层真参数；

2、本发明地层真参数求取方法与现有技术相比避免了地层含有特殊矿物时，工程测井结果异常、泥浆侵入带工程测井结果失真而导致的测井曲线无法使用等一系列问题，使工程测井在石油勘探开发过程中发挥更大作用。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明地层真参数求取方法的实施例的流程图。

具体实施方式

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

以下详细说明均是示例性的说明，旨在对本发明提供进一步的详细说明。除非另有指明，本发明所采用的所有技术术语与本申请所属领域的一般技术人员的通常理解的含义相同。本发明所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而并非意图限制根据本发明的示例性实施方式。

本发明提供了一种基于测井资料的地层真参数(包括但不仅限于孔隙度、渗透率、电阻率、含油饱和度、孔隙结构、矿物组成等参数)求取方法，将实验室柱塞岩心测量与井下实际测量相结合，在实验室内获得地层参数与岩石骨架、孔隙流体、测量温度、测量压力等各种测量条件的响应关系，建立考虑各种参数影响的转化模型，然后建立实验室内测量值与井下测量值的校准模型，将井下测量的测井曲线进行校准(补偿、校正)，最终准确求取地层的真参数。利用本专利求取地层真参数可消除外部因素对地层参数测量的影响，亦可对地层参数进行补偿，使测量结果更接近地层的真值，具体为：利用取心资料在实验室内进行模拟实验，形成目标参数与各种影响因素之间的转化模型，再将实验室的测量结果与工程测井曲线结合，形成测井曲线校准模型，对测井曲线进行校准，利用校准后的新测井曲线求取相应的、更准确的地层参数。

具体实施例

如图1所示，S1，用常规方法进行工程测井，验收测量结果，得到原始测井曲线；

S2，选取需要求取的目标层段，获取目标层段地层信息；

S3，在目标层段加工1英寸柱塞岩心；

S4，获取1英寸柱塞岩心基本资料(骨架信息、孔隙流体信息、温度、压力等信息)；

S5，利用柱塞岩心在实验室条件和地层条件下，获取目标层段地层参数与各种影响因素之间的响应规律；

S6，建立实验室条件下目标参数与各种影响因素之间的测井转化模型；

S7，建立实验室条件下目标参数与真实地层中目标参数测量的校准模型；

S8，进行工程测井曲线校准(包括补偿、校正等)，得到校准后的测井曲线，利用校准后的测井曲线获取地层真参数

由技术常识可知，本发明可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本发明范围内或在等同于本发明的范围内的改变均被本发明包含。

Claims (6)

1.一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，对地层进行工程测井，得到未校准之前的原始测井曲线；

S2，根据原始测井曲线，确定需要求取地层参数的目标深度段，并获取目标深度段的地层信息；

S3，在目标深度段内进行取心，得到目标深度段原始岩心；

S4，在实验室中分析目标深度段岩心的基本信息；

S5，在实验室条件与模拟的真实地层条件下，对需要求取的地层参数开展模拟实验，得到地层参数与影响因素之间的响应规律；

S6，建立实验室条件下地层参数与影响因素之间的转化模型；

S7，建立实验室条件下的地层参数与真实地层条件的地层参数之间的校准模型；

S8，利用步骤S6中得到的转化模型和步骤S7中得到的校准模型进行工程测井曲线进行补偿或校正，求得地层真参数。

2.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S2中，目标深度段的地层信息包括温度、压力、流体。

3.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S4中，所述基本信息为目标深度段岩心的骨架组成、流体性质。

4.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S5中，所述影响因素包括岩石骨架、孔隙流体、孔隙、温度、压力。

5.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S6中，所述转化模型为：

Y＝f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。

6.根据权利要求1所述的一种基于测井资料的地层真参数求取方法，其特征在于，S7中，所述校准模型为：

Y′＝f(Y)+f(X₁，X₂，X₃，X₄…X_n)

式中：

Y为实验室条件下地层参数；

Y′为井下真实情况的地层参数；

X₁，X₂，X₃，X₄…X_n为影响地层参数测量的各种影响因素。

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